この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
この文書の目的のために、ISO 25178-600 および以下に示されている用語と定義が適用されます。
ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。
3.1
色収差
〈共焦点クロマチックプローブ〉 波長に応じて異なる長さに光を集光するレンズの光学効果
注記 1:色収差は、軸上 (光軸上) または横方向 (光軸から外れた) にあります。 ISO 10934:2020, 3.1.4.2 でも定義されています。
3.2
有色対物レンズ
軸上 色収差のある対物レンズ (3.1)
3.3
共焦点クロマチックプローブ
共焦点セットアップに取り付けられた 有色対物レンズ (3.2) を使用して表面の高さを感知するデバイス
注記 1: さまざまな光学構成については、付録 A で説明されています。
3.4
共焦点色彩顕微鏡
表面トポグラフィー測定方法。分光計と統合された 有色対物レンズ (3.2) を備えた共焦点顕微鏡から構成され、単一点での表面の高さが表面から反射される光の波長によって検出されます。
[出典:ISO 25178-6:2010, 3.3.7, 修正 - 「検出装置 (分光計など)」は「分光計」に置き換えられました。注記 1 は削除されました。]
3.5
光源
<共焦点色プローブ> 事前定義されたスペクトル領域内の連続波長を含む光源
注記 1:光源から放出されるスペクトル領域は、光学システムおよび検出器のスペクトル帯域幅と互換性がある必要があります。
注記 2:通常、このスペクトル領域は可視光内で、波長値 0.4 μm から 0.8 μm の間に広がります。
3.6
光源ピンホール
光源 (3.5) に続いて小さな穴を配置し、点光源にします。
注記 1: システムには2 つのピンホールがあります。 1つ目は光源ピンホールです。これは、機器の点光源として機能する小さな光点を定義します。 2 つ目は 識別ピンホール (3.7) です。これにより、透過ビームがサンプル表面の焦点が合った部分に制限され、光軸に沿って反射されます (図 A.1 を参照)
注記 2: 実際には、ピンホールは、空間識別を提供する光ファイバーを使用して得られ、光電子コントローラーから離れた場所で光学ヘッドを使用できるようになります。
3.7
差別ピンホール
検出器の前に配置された小さな穴。焦点のぼけた光を遮断することにより、サンプル表面から反射されたビームの深さを識別します。
注記 1: 3.6 の注記 1 および 2 は、識別ピンホールにも適用されます。
3.8
垂直範囲
〈共焦点クロマティックプローブ〉分光器で検出した最短波長の焦点と最長波長の焦点の間で測定した距離
注記 1:垂直範囲は被写界深度および分光計のスペクトル範囲によって異なります。
3.9
光学ペン
色彩対物レンズ (3.2) を含み、測定中に表面近くに配置される共焦点色彩プローブ (3.3) の 一部。
注記 1:光学ペンは通常、光ファイバーを介して光電子ボックスに接続されます。
3.10
迷光
信号は、サンプルが存在しないときに検出器によって感知される 識別ピンホール (3.7) に入る迷光と、検出器自体によって生成される内部信号で構成されます。
注記 1:迷光信号は通常、校正手順中に捕捉され、その後の測定値から差し引かれます。
参考文献
| 1 | ISO 8015, 幾何製品仕様 (GPS) — 基礎 — 概念、原則および規則 |
| 2 | ISO 10934:2020, 顕微鏡 — 光学顕微鏡の用語集 |
| 3 | ISO 14253-1, 幾何学的製品仕様書 (GPS) — ワークおよび測定機器の測定による検査 — 第 1 Part: 仕様への適合または不適合を検証するための決定ルール |
| 4 | ISO 14638, 幾何製品仕様 (GPS) — マトリックス モデル |
| 5 | ISO 25178-2, 幾何製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: 面積 — Part 2: 用語、定義、および表面テクスチャパラメータ |
| 6 | ISO 25178-6:2010, 幾何製品仕様 (GPS) — 表面性状: 面積 — Part 6: 表面性状の測定方法の分類 |
| 7 | ISO 25178-605, 幾何製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: エリア — Part 605: 非接触 (ポイント オートフォーカス プローブ) 機器の設計と特性 |
| 8 | ISO 25178-700:2022, 幾何製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: エリア — Part 700: 面地形測定機器の校正、調整および検証 |
| 9 | Blunt, L. および Jiang, X.表面トポグラフィーを評価するための高度な技術 — 3D 表面テクスチャ標準「SURFSTAND」の基礎の開発。コーガン ページ サイエンス、ISBN 1903996112, 2003 |
| 10 | Molesini, G.、Pedrini, G.、Poggi, P.、および Quercioli, F.焦点波長エンコード光学式形状計。光通信、49, 1984, pp. 229-233 |
| 11 | Picard B.顕微鏡の光学共焦点とバレイヤージュのプロフォンデール・デ・シャンペテンデュの手順。フランス特許 FR 880093, CEA, 1988 年 |
| 12 | Sandoz P.照明多色性と顕微鏡共焦点のプロフィロメトリ、博士論文、フランシュ コンテ大学、ブザンソン、フランス、1993 |
| 13 | ティツィアーニ、HJ およびウーデ、H.-M.色彩共焦点顕微鏡による三次元画像センシング。応用オプション、33, 1994, 1838-1843 ページ |
| 14 | Cohen - Sabban J. et al. Dispositif de tomographie optique en champ coloré 、フランス特許 FR 940248, 1994 |
| 15 | ブラテロン。 F.共焦点色顕微鏡、第 5 章、表面組織の光学測定、Springer, ISBN 978‑3‑642-12011-4, 2011 |
| 16 | リーチ、RK工学ナノメトロロジーの基本原理。エルゼビア、アムステルダム、2009 |
| 17 | Jeong D. 他、掃引光源ベースの色彩共焦点顕微鏡、センサー、2020 |
| 18 | ISO 12179, 幾何製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャー: プロファイル法 — 接触 (スタイラス) 機器の校正 |
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 25178-600 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:
3.1
chromatic aberration
<confocal chromatic probe> optical effect of a lens that focuses light at different lengths depending on the wavelength
Note 1 to entry: Chromatic aberration can be axial (on the optical axis) or lateral (off the optical axis). It is also defined in ISO 10934:2020, 3.1.4.2.
3.2
chromatic objective
objective with axial chromatic aberration (3.1)
3.3
confocal chromatic probe
device that senses surface heights using a chromatic objective (3.2) mounted into a confocal setup
Note 1 to entry: Various optical configurations are discussed in Annex A.
3.4
confocal chromatic microscopy
surface topography measurement method consisting of a confocal microscope with chromatic objective (3.2) integrated with a spectrometer whereby the surface height at a single point is sensed by the wavelength of light reflected from the surface
[SOURCE:ISO 25178-6:2010, 3.3.7, modified — “a detection device (e.g. spectrometer)” has been replaced by “a spectrometer”. Note 1 to entry has been deleted.]
3.5
light source
<confocal chromatic probe> source of light containing a continuum of wavelengths in a predefined spectral region
Note 1 to entry: The spectral region emitted by the source should be compatible with the spectral bandwidth of the optical system and the detector.
Note 2 to entry: Usually, this spectral region extends within the visible light, between wavelength values 0,4 µm to 0,8 µm.
3.6
light source pinhole
small hole placed following the light source (3.5) , to make it a point light source
Note 1 to entry: The system contains two pinholes. The first one is the light source pinhole. It defines a small spot of light that acts as the point light source for the instrument. The second one is the discrimination pinhole (3.7) . It limits the transmitted beam to the part that is in focus on the sample surface and is reflected by it along the optical axis (see Figure A.1).
Note 2 to entry: In practice, the pinholes are obtained by using a fibre optic which provides spatial discrimination and allows the optical head to be used away from the optoelectronic controller.
3.7
discrimination pinhole
small hole placed in front of the detector, providing depth discrimination on a beam reflected from the sample surface by blocking defocused light
Note 1 to entry: Notes 1 and 2 to entry in 3.6 also apply to the discrimination pinhole.
3.8
vertical range
<confocal chromatic probe> distance measured between the focal point of the shortest wavelength and the focal point of the longest wavelength detected on the spectrometer
Note 1 to entry: The vertical range depends on the depth of field and on the spectral range of the spectrometer.
3.9
optical pen
part of a confocal chromatic probe (3.3) that contains a chromatic objective (3.2) and that is located close to the surface during the measurement
Note 1 to entry: The optical pen is usually connected to an opto-electronic box through a fibre optic.
3.10
stray light
signal composed of the stray light entering the discrimination pinhole (3.7) , sensed by the detector when no sample is present, and the internal signal produced by the detector itself
Note 1 to entry: The stray light signal is generally captured during a calibration procedure and subtracted to subsequent measurements.
Bibliography
| 1 | ISO 8015, Geometrical product specifications (GPS) — Fundamentals — Concepts, principles and rules |
| 2 | ISO 10934:2020, Microscopes — Vocabulary for light microscopy |
| 3 | ISO 14253-1, Geometrical product specifications (GPS) — Inspection by measurement of workpieces and measuring equipment — Part 1: Decision rules for verifying conformity or nonconformity with specifications |
| 4 | ISO 14638, Geometrical product specifications (GPS) — Matrix model |
| 5 | ISO 25178-2, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters |
| 6 | ISO 25178-6:2010, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 6: Classification of methods for measuring surface texture |
| 7 | ISO 25178-605, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 605: Design and characteristics of non-contact (point autofocus probe) instruments |
| 8 | ISO 25178-700:2022, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 700: Calibration, adjustment and verification of areal topography measuring instruments |
| 9 | Blunt, L. and Jiang, X. Advanced techniques for assessment surface topography — Development of a basis for the 3D Surface Texture Standards “SURFSTAND”. Kogan Page Science, ISBN 1903996112, 2003 |
| 10 | Molesini, G., Pedrini, G., Poggi, P. and Quercioli, F. Focus-wavelength encoded optical profilometer. Optics Communications, 49, 1984, pp. 229-233 |
| 11 | Picard B. Procédé de microscopie optique confocale à balayage et en profondeur de champ étendue. French Patent FR 8800934 (Publication 0327425), CEA, 1988 |
| 12 | Sandoz P. Profilométrie en lumière polychromatique et par microscopie confocale, PhD Thesis, Université de Franche-Comté, Besançon, France, 1993 |
| 13 | Tiziani, H.J. and Uhde, H.-M. Three-dimensional image sensing by chromatic confocal microscopy. Appl. Opt., 33, 1994, pp. 1838-1843 |
| 14 | Cohen-Sabban J. et al. Dispositif de tomographie optique en champ coloré, French Patent FR 9402489 (Publication 2716727), 1994 |
| 15 | Blateyron; F. Confocal chromatic microscopy, Chap 5 in Optical measurement of surface texture, Springer, ISBN 978‑3‑642-12011-4, 2011 |
| 16 | Leach, R.K. Fundamental principles of engineering nanometrology. Elsevier, Amsterdam, 2009 |
| 17 | Jeong D. et al., Swept-source-based chromatic confocal microscopy, Sensors, 2020 |
| 18 | ISO 12179, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Calibration of contact (stylus) instruments |