※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の開発に使用された手順と、今後の維持のために意図された手順は、ISO/IEC 指令で説明されています。 1. 特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令の編集規則に従って作成されました。 2. www.iso.org/directives
このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。ドキュメントの開発中に特定された特許権の詳細は、序文および/または受け取った特許宣言の ISO リストに記載されます。 www.iso.org/patents
このドキュメントで使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、保証を構成するものではありません。
適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味に関する説明、および技術的貿易障壁 (TBT) における WTO 原則への ISO の準拠に関する情報については、次の URL を参照して ください 。
この文書を担当する委員会は、ISO/TC 213, 寸法および幾何学的製品の仕様と検証です。
ISO 25178 は、次の部分で構成されており、一般的なタイトルは「幾何学的製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: 面」です。
- Part １：面性状の描画指示
- Part 2: 用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ
- Part 3: 指定演算子
- Part 6部：表面性状の測定方法の分類
- Part 70：重要な措置
- Part 71: ソフトウェア測定基準
- Part 601: 接触 (スタイラス) 器具の公称特性
- Part 602：非接触（共焦点クロマティックプローブ）機器の公称特性
- Part 603: 非接触 (位相シフト干渉顕微鏡) 機器の公称特性
- Part 604: 非接触 (コヒーレンス走査型干渉顕微鏡) 機器の公称特性
- Part 605：非接触（ポイントオートフォーカスプローブ）機器の公称特性
- Part 606: 非接触 (焦点変動顕微鏡) 機器の公称特性
- Part 701: 接触 (スタイラス) 機器の校正および測定基準
- Part 702 非接触（共焦点クロマティックプローブ）機器の校正
- Part 703: 非接触 (干渉計) 機器の校正および測定基準
次の部分は準備中です: Part 72 部: XML ファイル形式 x3p
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, 1. In particular the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, 2. www.iso.org/directives
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received. www.iso.org/patents
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
For an explanation on the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the WTO principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see the following URL: Foreword - Supplementary information
The committee responsible for this document is ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product specifications and verification.
ISO 25178 consists of the following parts, under the general title Geometrical product specification (GPS) — Surface texture: Areal:
- Part 1: Areal surface texture drawing indication
- Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters
- Part 3: Specification operators
- Part 6: Classification of methods for measuring surface texture
- Part 70: Material measures
- Part 71: Software measurement standards
- Part 601: Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
- Part 602: Nominal characteristics of non-contact (confocal chromatic probe) instruments
- Part 603: Nominal characteristics of non-contact (phase-shifting interferometric microscopy) instruments
- Part 604: Nominal characteristics of non-contact (coherence scanning interferometric microscopy) instruments
- Part 605: Nominal characteristics of non-contact (point autofocus probe) instruments
- Part 606: Nominal characteristics of non-contact (focus variation microscopy) instruments
- Part 701: Calibration and measurement standards for contact (stylus) instruments
- Part 702 Calibration of non-contact (confocal chromatic probe) instruments
- Part 703: Calibration and measurement standards for non-contact (interferometric) instruments
The following part is under preparation: Part 72: XML file format x3p