ISO 25498:2018 マイクロビーム分析—分析電子顕微鏡法—透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析

ISO 25498:2018の概要

ISO25498:2018の規格概要

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Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

ISO 25498:2018は、透過型電子顕微鏡 (TEM) を使用して薄い結晶試料を分析する制限視野電子回折 (SAED) 分析の方法を指定しています。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO25498:2018 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 25498:2018
ISO 国際規格名称
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
ISO 規格名称 日本語訳
マイクロビーム分析 — 分析電子顕微鏡 — 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
発行日 (Publication date)
2018-03-16
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2018-03-16
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
2
PDF ページ数 (Number of pages)
38
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 202/SC 3:分析電子顕微法 (Analytical electron microscopy)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
71.040.50:物理化学的分析方法 (Physicochemical methods of analysis)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.50

ISO 25498:2018 関連規格 履歴一覧

ISO25498:2018 対応 JIS 規格一覧

ISO25498:2018 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71:化学技術  > 71.040:分析化学  > 71.040.50:物理化学的分析方法

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。