この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語、定義、記号
3.1 用語と定義
文書の目的上、ISO 9000, ISO 3534-1, ISO 3534-2, および以下に示されている用語と定義が適用されます。
ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。
3.1.1
受け入れ
顧客が自身のために、または他人の代理人として、入札された既存の識別された製品の所有権を引き継ぐ、または契約の部分的または完全な履行として提供される特定のサービスを承認する、顧客の権限のある代表者の行為。
3.1.2
平均的な送信品質
AOQ
入荷する製品の品質の特定の値に対する、出荷される製品の期待される平均品質レベル
注記 1: ISO 3534-2:2006, 定義 4.7.1 から適応。
3.1.3
平均送信品質制限
AOQL
別段の指定がない限り、特定の受け入れサンプリング計画に対する入荷製品の品質レベルのすべての可能な値に対する最大 AOQ, およびすべての不受け入れロットの修正
[出典:ISO 3534‑2:2006, 定義 4.7.2]
3.1.4
受け入れ品質限界
AQL
連続する一連のロットが受け入れサンプリングに提出される場合の、プロセスの許容可能な最悪の平均品質である品質レベル。
3.1.5
契約の品質要件
製品またはサービスの品質に関する契約内の技術要件、および製品またはサービスが契約要件に適合していることを確認するための検査およびサプライヤーに義務付けられているその他の品質管理手順を規定する契約条項
3.1.6
重要な特性
製品を使用、保守、または製品に依存する個人にとって危険または危険な状態を回避するには、判断と経験が満たさなければならない特性。または、主要な製品またはサービスの戦術的機能のパフォーマンスを保証するために満たさなければならない判断と経験が示すもの
3.1.7
重大な不適合品
1 つ以上の重要な特性について指定された要件に適合していない製品の品目
3.1.8
検査
必要に応じて測定、試験、またはゲージを伴う観察および判断による適合性評価
[出典:ISO 3534‑2:2006, 定義 4.1.2]
3.1.9
工程能力指数が低い
下側規格限界に関連した工程記述能力のインデックス
注記 1:多くの場合、より低い工程能力指数が指定されます。 そして、下側規格限界L を、統計的制御状態にあるプロセスの下側基準間隔の長さで割ったものです。つまり、次のようになります。
>where X 0.001 35 は、品質特性の分布の下位 0.001 35 のフラクタイルです。
注記 3: ISO 3534-2:2006, 定義 2.7.3 から適応。
3.1.10
下限基準間隔
X 0.001 35
注記 1:正規分布の場合、下限の基準区間は − X 0.001 35 = μ − ( μ − 3 σ ) = 3 σ。
注記 2: ISO 3534-2:2006, 定義 2.5.8 から適応。
3.1.11
大きな特徴
クリティカル以外の、製品の意図された目的に対する故障や有用性の大幅な低下を避けるために満たさなければならない特性
3.1.12
重大な不適合品
1 つ以上の主要な特性について指定された要件に適合していないが、すべての重要な特性には適合している製品品目
3.1.13
最小工程能力指数
C パック
上部工程能力指数と下部工程能力指数の小さい方
注記 1:したがって、 C pk = min ( )。
注記 2: ISO 3534-2:2006, 定義 2.7.5 から適応。
3.1.14
小さな特徴
クリティカルまたはメジャー以外の特性で、仕様要件からの逸脱によって製品の意図された目的に対する有用性が大幅に低下する可能性が低い、または確立された基準からの逸脱がアイテムの効果的な使用または操作にほとんど影響を与えない特性
3.1.15
軽微な不適合品
1 つ以上の軽微な特性の指定された要件に適合していないが、すべての重要な特性と主要な特性には適合している製品の品目
3.1.16
不適合
要件の不履行
[出典:ISO 9000:2015, 定義 3.6.9]
3.1.17
不適合品
1 つ以上の不適合がある品目
[出典:ISO 3534‑2:2006, 定義 1.2.12]
3.1.18
工程能力
統計的制御状態にあることが実証されたプロセスからの特性の結果の統計的推定
注記 1: ISO 3534-2:2006, 定義 2.7.1 から適応。
3.1.19
工程能力指数
C p
指定された許容誤差に関連した能力を説明するインデックスプロセス
>where X 0.001 35とX 0.998 65は、それぞれ品質特性の分布の下限と上限の 0.001 35 フラクタイルです。
C p =
注記 3: ISO 3534-2:2006, 定義 2.7.2 から適応。
3.1.20
生産間隔
本質的に均質な品質を示すと想定される、継続的なサンプリングの下での生産期間
注記 1:生産間隔は通常、1 つのシフトです。シフト変更が製品の品質に影響を及ぼさないことが確実である場合には、1 日でも構いませんが、1 日を超えることはできません。
3.1.21
品質
一連の固有の特性が要件を満たす程度
注記 1: 「品質」という用語は、悪い、良い、または優れたなどの形容詞とともに使用できます。
注記 2: 「固有」とは、「割り当てられた」とは対照的に、何かの中に、特に永続的な特性として存在することを意味します。
[出典:ISO 9000:2015, 定義 3.6.2]
3.1.22
品質保証
品質要件が満たされるという確信を与えることに重点を置いた品質管理の一部
[出典:ISO 9000:2015, 定義 3.3.6]
3.1.23
品質監査
品質プログラムの運用要件または製品またはサービスの仕様または契約要件を独立して検証または評価するための、品質に関する行為および決定の体系的な検査
3.1.24
品質プログラム
コンセプトから検証、本格的な開発、生産、展開、廃棄に至るまで、材料とサービスの品質に影響を与えるすべての取り組みをコスト効率よく実行するために開発、計画、管理されるプログラム
3.1.25
基準間隔
0.998 65 フラクタイルX 0.998 65X 0.00135X で囲まれた区間X
注記1 :正規X の場合、X 区間は
注記 2: ISO 3534-2:2006, 定義 2.5.7 から適応。
3.1.26
サンプリング計画
使用するサンプルサイズと関連するロットの許容基準の組み合わせ
注記 1: サンプリング計画には、サンプルの採取方法に関する規則は含まれていません。
注記 2:この国際規格の目的上、 サンプリング計画 (3.1.26) 、 サンプリング計画 (3.1.27) および サンプリングシステム (3.1.28) という用語を区別する必要がある。
3.1.27
サンプリング方式
サンプリング計画と、ある計画から別の計画に変更するためのルールの組み合わせ
3.1.28
サンプリングシステム
サンプリング計画またはサンプリング計画の収集。それぞれに計画変更のための独自のルールがあり、適切な計画または計画を選択するための基準を含むサンプリング手順も含まれます。
注記 1: この国際規格には、検証レベル、ロットサイズまたは生産間隔サイズの範囲によってそれぞれ索引付けされた一連のサンプリングシステムが含まれています。
3.1.29
スクリーニング検査
全数検査で不適合と判明したすべての品目または部分を排除
注記 1:スクリーニング検査は、特定の 1 種類の不適合のみに関係する場合があります。
[出典:ISO 3534‑2:2006, 定義 4.1.7]
3.1.30
トレーサビリティ
検討中のものの履歴、用途、または場所を追跡する能力
- 素材や部品の産地、
- 処理履歴、および
- 納品後の製品の流通と場所。
注記 2:計測学の分野では、ISO/IEC Guide 99 の定義が受け入れられた定義である。
[出典:ISO 9000:2015, 定義 3.6.13]
3.1.31
上流工程能力指数
規格上限に関連した工程記述能力のインデックス
注記 1:多くの場合、上部の工程能力指数が指定されます。 統計的制御状態にあるプロセスの上限基準間隔の長さで割った値、つまり次のようになります。
>where X 0.998 65 は、品質特性の分布の上限 0.001 35-フラクタイルです。
注記 3: ISO 3534-2:2006, 定義 2.7.4 から適応。
3.1.32
上限基準間隔
0.998 65-フラクタイル、 X 0.998 65 、およびプロセス中央値によって境界付けられる間隔、
注記 1:正規分布の場合、上限基準区間X 0.998 65 − = ( μ + 3σ ) − μ = 3σ。
注記 2: ISO 3534-2:2006, 定義 2.5.9 から適応。
3.1.33
検証レベル
VL
ユーザーにとっての特性の重要性または有用性のレベル
注記 1:適合性を保証するための労力は、ユーザーにとっての重要性に基づいて割り当てることができます。 (メジャーな特性はマイナーな特性よりも多くの検証作業を必要とします。) VL-7 は最高レベルの作業を必要とし、VL が最低レベルの VL-1 まで減少するにつれて作業は減少します。検証レベル T および R は、VL-7 の厳格な検査と VL-1 の緩和された検査を可能にするために含まれています。
3.2 記号
| c | サンプル中の不適合品目の数 |
| C p | 工程能力指数 (3.1.19 を参照) |
| C パック | 最小工程能力指数 (3.1.13 を参照) |
| 低い工程能力指数 (3.1.9 を参照) | |
| 上部工程能力指数 (3.1.31 を参照) | |
| F | 標準化されたサンプル標準偏差の許容定数、 |
| 標準化されたサンプル標準偏差、つまり | |
| f | 連続サンプリングにおけるサンプリング周波数 (D.2.4 を参照) |
| f | を決定する際の補正係数 (D.2.2 および D.2.3 を参照) |
| i | 連続サンプリングにおけるクリアランス番号 (D.2.4 を参照) |
| k | 品質指標の許容定数 |
| L | 下側規格限界 |
| 属性によるサンプリングのサンプルサイズ | |
| 通常検査における属性ごとのサンプリングのサンプルサイズ | |
| 検査強化中の属性ごとに抽出するサンプルサイズ | |
| 変数によるサンプリングのサンプルサイズ | |
| 合格の確率 | |
| プロセス部分の不適合 | |
| 品質指数 | |
| 下側規格限界の品質指数 (D.2.2 および D.2.3 を参照) | |
| 規格上限の品質指数 (D.2.2 および D.2.3 を参照) | |
| プロセス不適合部分の単一性に関する補数 (すなわち、 | |
| 修正二乗和 (D.2.2 および D.2.3 を参照) | |
| サンプル標準偏差 (D.2.2 および D.2.3 を参照) | |
| s2 | サンプル分散 (D.2.2 および D.2.3 を参照) |
| U | 規格上限値 |
| サンプル平均 (D.2.2 および D.2.3 を参照) | |
| プロセス中央値 | |
| プロセス 0.001 35 フラクタイル | |
| プロセス 0.998 65 フラクタイル | |
| μ | プロセス手段 |
| σ | プロセス標準偏差 |
参考文献
| 1 | ISO 5479:1997, データの統計的解釈 — 正規分布からの逸脱のテスト |
| 2 | ISO 7873:1993 1 、警告限界を含む算術平均の管理図 |
| 3 | ISO 7870-2:2013, 管理図 - Part 2: シューハート管理図 |
| 4 | ISO 9001, 品質マネジメントシステム — 要件 |
| 5 | ISO 9004:2009, 組織の持続的な成功のための管理 - 品質管理 |
| 6 | ISO 10012:2003, 測定管理システム - 測定プロセスおよび測定機器の要件 |
| 7 | ISO 11462-1:2001, 統計的プロセス管理 (SPC) の実装に関するガイドライン — Part 1: SPC の要素 |
3 Terms, definitions and symbols
3.1 Terms and definitions
For the purposes of document, the terms and definitions given in ISO 9000, ISO 3534-1, ISO 3534-2 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
3.1.1
acceptance
act of an authorized representative of the customer by which the customer, for itself or as agent of another, assumes ownership of existing identified products tendered or approves specific services rendered as partial or complete performance of the contract
3.1.2
average outgoing quality
AOQ
expected average quality level of outgoing product for a given value of incoming product quality
Note 1 to entry: Adapted from ISO 3534-2:2006, definition 4.7.1.
3.1.3
average outgoing quality limit
AOQL
maximum AOQ over all possible values of incoming product quality level for a given acceptance sampling plan and rectification of all non‑accepted lots unless specified otherwise
[SOURCE:ISO 3534‑2:2006, definition 4.7.2]
3.1.4
acceptance quality limit
AQL
quality level that is the worst tolerable average quality of a process, when a continuing series of lots is submitted for acceptance sampling
3.1.5
contract quality requirements
technical requirements in the contract relating to the quality of the product or service and those contract clauses prescribing inspection, and other quality control procedures incumbent on the supplier, to assure that the product or service conforms to the contractual requirements
3.1.6
critical characteristic
characteristic that judgment and experience indicate must be met to avoid hazardous or unsafe conditions for individuals using, maintaining, or depending upon the product; or that judgment and experience indicate must be met to assure performance of the tactical function of a major product or service
3.1.7
critical nonconforming item
item of product that fails to conform to specified requirements for one or more critical characteristics
3.1.8
inspection
conformity evaluation by observation and judgement accompanied as appropriate by measurement, testing or gauging
[SOURCE:ISO 3534‑2:2006, definition 4.1.2]
3.1.9
lower process capability index
index describing process capability in relation to the lower specification limit
>where X0,001 35 is the lower 0,001 35‑fractile of the distribution of the quality characteristic.
Note 3 to entry: Adapted from ISO 3534-2:2006, definition 2.7.3.
3.1.10
lower reference interval
− X0,001 35
Note 1 to entry: For a normal distribution, the lower reference interval − X0,001 35 = μ − (μ − 3σ) = 3σ.
Note 2 to entry: Adapted from ISO 3534-2:2006, definition 2.5.8.
3.1.11
major characteristic
characteristic, other than critical, that must be met to avoid failure or material reduction of usability of the item of product for intended purpose
3.1.12
major nonconforming item
item of product that fails to conform to specified requirements for one or more major characteristics, but conforms to all critical characteristics
3.1.13
minimum process capability index
Cpk
smaller of upper process capability index and lower process capability index
Note 1 to entry: Hence Cpk = min. ( ).
Note 2 to entry: Adapted from ISO 3534-2:2006, definition 2.7.5.
3.1.14
minor characteristic
characteristic, other than critical or major, whose departure from its specification requirement is not likely to reduce materially the usability of the item of product for its intended purpose or whose departure from established standards has little bearing on the effective use or operation of the item
3.1.15
minor nonconforming item
item of product that fails to conform to specified requirements of one or more minor characteristics, but conforms to all critical and major characteristics
3.1.16
nonconformity
non‑fulfilment of a requirement
[SOURCE:ISO 9000:2015, definition 3.6.9]
3.1.17
nonconforming item
item with one or more nonconformities
[SOURCE:ISO 3534‑2:2006, definition 1.2.12]
3.1.18
process capability
statistical estimate of the outcome of a characteristic from a process which has been demonstrated to be in a state of statistical control
Note 1 to entry: Adapted from ISO 3534-2:2006, definition 2.7.1.
3.1.19
process capability index
Cp
index describing process capability in relation to specified tolerance
>where X0,001 35 and X0,998 65 are respectively the lower and upper 0,001 35‑fractiles of the distribution of the quality characteristic.
Cp =
Note 3 to entry: Adapted from ISO 3534-2:2006, definition 2.7.2.
3.1.20
production interval
period of production under continuous sampling, assumed to exhibit essentially homogeneous quality
Note 1 to entry: A production interval is normally a single shift. It can be a day if it is reasonably certain that shift changes do not affect quality of product, but not longer than a day.
3.1.21
quality
degree to which a set of inherent characteristics fulfils requirements
Note 1 to entry: The term “quality” can be used with adjectives such as poor, good or excellent.
Note 2 to entry: “Inherent”, as opposed to “assigned”, means existing in something, especially as a permanent characteristic.
[SOURCE:ISO 9000:2015, definition 3.6.2]
3.1.22
quality assurance
part of quality management focused on providing confidence that quality requirements will be fulfilled
[SOURCE:ISO 9000:2015, definition 3.3.6]
3.1.23
quality audit
systematic examination of the acts and decisions with respect to quality in order to independently verify or evaluate the operational requirements of the quality program or the specification or contract requirements of the product or service
3.1.24
quality program
program that is developed, planned, and managed to carry out cost effectively all efforts to effect the quality of materials and services from concept to validation, full‑scale development, production, deployment, and disposal
3.1.25
reference interval
interval bounded by the 0,998 65-fractile, X0,998 65, and the 0,001 35‑fractile, X0,001 35, expressed by the difference X0,998 65 − X0,001 35
Note 1 to entry: For a normal distribution, the reference interval X0,998 65 − X0,001 35 = (μ + 3σ) − (μ − 3σ) = 6σ.
Note 2 to entry: Adapted from ISO 3534-2:2006, definition 2.5.7.
3.1.26
sampling plan
combination of sample size to be used and associated lot acceptability criteria
Note 1 to entry: A sampling plan does not contain the rules on how to draw the sample.
Note 2 to entry: For the purposes of this International Standard, a distinction should be made between the terms sampling plan (3.1.26) , sampling scheme (3.1.27) and sampling system (3.1.28) .
3.1.27
sampling scheme
combination of sampling plans with rules for changing from one plan to another
3.1.28
sampling system
collection of sampling plans, or of sampling schemes, each with its own rules for changing plans, together with sampling procedures including criteria by which appropriate plans or schemes may be chosen
Note 1 to entry: This International Standard contains a set of sampling systems each indexed by verification levels, and either lot size or production interval size ranges.
3.1.29
screening inspection
100 % inspection with rejection of all items or portions found nonconforming
Note 1 to entry: Screening inspection may be concerned only with one particular kind of nonconformity.
[SOURCE:ISO 3534‑2:2006, definition 4.1.7]
3.1.30
traceability
ability to trace the history, application or location of that which is under consideration
- the origin of materials and parts,
- the processing history, and
- the distribution and location of the product after delivery.
Note 2 to entry: In the field of metrology, the definition in ISO/IEC Guide 99 is the accepted definition.
[SOURCE:ISO 9000:2015, definition 3.6.13]
3.1.31
upper process capability index
index describing process capability in relation to the upper specification limit
>where X0,998 65 is the upper 0,001 35‑fractile of the distribution of the quality characteristic.
Note 3 to entry: Adapted from ISO 3534-2:2006, definition 2.7.4.
3.1.32
upper reference interval
interval bounded by the 0,998 65‑fractile, X0,998 65 and the process median,
Note 1 to entry: For a normal distribution, the upper reference interval X0,998 65 − = (μ + 3σ) − μ = 3σ .
Note 2 to entry: Adapted from ISO 3534-2:2006, definition 2.5.9.
3.1.33
verification level
VL
level of importance or utility of a characteristic to the user
Note 1 to entry: The amount of effort to assure conformance can be allocated on the basis of importance to the user. (Major characteristics require more verification effort than minor characteristics.) VL‑7 requires the highest level of effort, and the effort decreases as the VL decreases to the lowest level, VL‑1. Verification levels T and R have been included to allow for tightened inspection for VL‑7 and for reduced inspection for VL‑1.
3.2 Symbols
| c | number of nonconforming items in sample |
| Cp | process capability index (see 3.1.19) |
| Cpk | minimum process capability index (see 3.1.13) |
| lower process capability index (see 3.1.9) | |
| upper process capability index (see 3.1.31) | |
| F | acceptability constant for standardized sample standard deviation, |
| standardized sample standard deviation, i.e. | |
| f | sampling frequency in continuous sampling (see D.2.4) |
| fc | correction factor in determining (see D.2.2 and D.2.3) |
| i | clearance number in continuous sampling (see D.2.4) |
| k | acceptability constant for quality index |
| L | lower specification limit |
| sample size for sampling by attributes | |
| sample size for sampling by attributes under normal inspection | |
| sample size for sampling by attributes under tightened inspection | |
| sample size for sampling by variables | |
| probability of acceptance | |
| process fraction nonconforming | |
| quality index | |
| quality index for lower specification limit (see D.2.2 and D.2.3) | |
| quality index for upper specification limit (see D.2.2 and D.2.3) | |
| complement with respect to unity of process fraction nonconforming (i.e. | |
| corrected sum of squares (see D.2.2 and D.2.3) | |
| sample standard deviation (see D.2.2 and D.2.3) | |
| s2 | sample variance (see D.2.2 and D.2.3) |
| U | upper specification limit |
| sample mean (see D.2.2 and D.2.3) | |
| process median | |
| process 0,001 35‑fractile | |
| process 0,998 65‑fractile | |
| μ | process mean |
| σ | process standard deviation |
Bibliography
| 1 | ISO 5479:1997, Statistical interpretation of data — Tests for departure from the normal distribution |
| 2 | ISO 7873:1993 1 , Control charts for arithmetic average with warning limits |
| 3 | ISO 7870-2:2013, Control charts —Part2: Shewhart control charts |
| 4 | ISO 9001, Quality management systems — Requirements |
| 5 | ISO 9004:2009, Managing for the sustained success of an organization — A quality management |
| 6 | ISO 10012:2003, Measurement management systems — Requirements for measurement processes and measuring equipment |
| 7 | ISO 11462-1:2001, Guidelines for implementation of statistical process control (SPC) — Part 1: Elements of SPC |