この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
このドキュメントの目的のために、ISO 2859-1, ISO 3534-1, および ISO 3534-2 に記載されている用語と定義、および以下が適用されます。
3.1
変数による検査
アイテムの特性の大きさを測定する検査
[出典: ISO 3534‑2]
3.2
抜き取り検査
検討中のグループ内の選択された項目の検査
[出典: ISO 3534‑2]
3.3
受入抜き取り検査
受け入れサンプリング
製品、材料、またはサービスのロットまたはその他の量を受け入れるかどうかを決定するための サンプリング検査 (3.2)
[出典: ISO 3534‑2]
3.4
変数別抜取検査
ロットからのサンプルの各項目の指定された品質特性に関する測定値からプロセスの合否を統計的に決定する 抜取検査(3.3) 。
3.5
プロセス フラクション不適合
プロセスによって不適合アイテムが生成される割合
注記 1比率で表す。
3.6
受け入れ品質限界
AQL
連続する一連のロットが サンプリング（3.3） のために提出された場合の最悪の許容 プロセス不適合（3.5 ）
注記1:箇条5を参照。
3.7
品質レベル
不適合ユニットの発生率として表される品質
3.8
品質の制限
LQ
品質レベル (3.7) ロットが分離されたものと見なされる場合。これは、 受け入れサンプリング検査 (3.3) の目的で、低い受け入れ確率に限定されます。
[出典: ISO 3534‑2]
注記14.1 参照。
注記 2: ISO 3951 のこの部分: 10%。
3.9
不適合
要件の不履行
3.10
不適合ユニット
1 つ以上の不適合があるユニット
[出典: ISO 3534‑2]
3.11
s — メソッド受け入れサンプリング計画
サンプル標準偏差を使用した変数による 受け入れサンプリング (3.3) 計画
[出典: ISO 3534‑2]
グレード 1 からエントリー:レイク クロース 1
3.12
σ — メソッドの受け入れサンプリング計画
工程標準偏差の推定値を用いた変数による 検収（3.3） 計画
[出典: ISO 3534‑2]
グレード 1 からエントリー:レイク クロース 1
3.13
仕様限界
特性に指定された適合境界
[出典: ISO 3534‑2]
3.14
下側規格限界
L
適合性の下限を定義する 仕様限界（3.13） 。
[出典: ISO 3534‑2]
3.15
仕様上限
U
適合性の上限を定義する 仕様限界（3.13） 。
[出典: ISO 3534‑2]
3.16
複合制御
品質特性に対して上限と下限の両方が指定され、2 つの制限を超えた合計不適合率に適用される AQL (3.6) が指定されている場合の要件
注記5.3 参照。
注記2複合管理の使用は，いずれか の規格限界（3.13） を超える不適合が，製品の完全性の欠如と同等か，少なくともほぼ同等の重要性を有すると考えられることを意味する。
3.17
許容定数
k
変数による 受入サンプリング（3.3） 計画でロットを受け入れるための基準で使用される、 受入品質限界（3.6） の指定された値とサンプルサイズに依存する定数。
[出典: ISO 3534‑2]
注記16.2 及び 17.2 参照。
3.18
品質統計
Q
規格限界（3.13） ，サンプル平均，及びロットの許容性を評価する際に使用されるサンプル又は工程の標準偏差の関数。
[出典: ISO 3534‑2]
注記 1 規格限界 (3.13) が 1 つの場合は， Qを 許容定数 (3.17) kと比較した結果に基づいてロットを決定することができる。
注記2 16.2及び17.2参照。
3.19
低品質の統計
QL
下側規格限界（3.14） 、サンプル平均、サンプルまたはプロセスの標準偏差の関数
注記1単一 の規格下限 (3.14) については，ロットはQLを 許容定数 (3.17) kと比較した結果に基づいて宣告される。
[出典: ISO 3534‑2]
注記2:箇条4，16.2及び17.2を参照。
3.20
高品質の統計
QU
上側規格限界（3.15） 、サンプル平均、サンプルまたはプロセスの標準偏差の関数
注記1単一 の上限規格限界 (3.15) については，ロットはQUを 許容定数 (3.17) kと比較した結果に基づいて宣告される。
[出典: ISO 3534‑2]
注記2:箇条4，16.2及び17.2を参照。
3.21
最大サンプル標準偏差
MSSD
最大s
プロセスの変動性が不明な場合に、二重 規格限界（3.13） を組み合わせた管理の許容基準を満たすことができる、特定のサンプルサイズのコード文字、検査の厳しさ、および 許容品質限界（3.6） の最大サンプル標準偏差。
注記16.4 参照。
3.22
最大工程標準偏差
MPSD
σmax_
所定のサンプルサイズのコード文字と 受け入れ品質限界 (3.6) に対する最大のプロセス標準偏差であり、既知のプロセス変動性を伴う厳格な検査の下で、 AQL (3.6) 要件を組み合わせた二重規格限界の受け入れ基準を満たすことが可能です。
[出典: ISO 3534‑2]
注記17.3 参照。
3.23
切り替えルール
実証された品質履歴に基づいて、ある 受入サンプリング（3.3） 計画から重大度の高いまたは低い別の計画に変更するための 受入サンプリング（3.3） スキーム内の指示。
[出典: ISO 3534‑2]
注記 1:通常の検査、強化された検査、縮小された検査、または検査の中止は、「重大性」の例です。
注記 2:湖条項 2
3.24
測定値
ある量の値を決定する一連の演算
[出典: ISO 3534‑2]
参考文献
| [1] | Bowker AH, Goode HP, 変数によるサンプリング検査。マグロウヒル、1952 |
| [2] | Bowker AH, Lieberman GJ, 工学統計。プレンティス・ホール、1972年 |
| [3] | Burr IW, 工学統計および品質管理。マグロウヒル、1953年 |
| [4] | Duncan AJ, 品質管理および産業統計。リチャード D, アーウィン社、1965 年 |
| [5] | Göb R., 2001), Methodological Foundations of Statistical Lot Inspection, pp. 3-24, In: Lenz, HJ and Wilrich, P.-Th. [編集者], Statistical Quality Control 6 のフロンティア、Physica-Verlag, ハイデルベルク。ニューヨーク |
| [6] | Grant EL, レブンワース RS, 統計的品質管理。マグロウヒル、1972 |
| [7] | Hahn GH, Shapiro SS, 工学における統計モデル。ジョン・ワイリー、1967 |
| [8] | ISO 31-11, 物理科学および技術で使用する数学記号および記号 |
| [9] | ISO 2854, データの統計的解釈 - 平均と分散に関連する推定と検定の技法 |
| [10] | ISO 2859-0, 属性による検査のためのサンプリング手順 – 0: ISO 2859 属性サンプリング システムの概要 |
| [11] | ISO 5479:1997, データの統計的解釈 — 正規分布からの逸脱の検定 |
| [12] | ISO 16269-3, データの統計的解釈のガイド – 3: 正規分布からの逸脱のテスト (開発中) |
| [13] | ISO 16269-4, データの統計的解釈 — 4: 外れ値の検出と処理 |
| [14] | ISO 5725-2, 測定方法と結果の正確さ (真実性と精度) — 2：標準的な測定方法の再現性と再現性を決定するための基本的な方法 |
| [15] | ISO 7870, 管理図 — 一般的なガイドと紹介 |
| [16] | ISO 8258, シューハート管理図 |
| [17] | ISO 10576-1:2003, 統計的方法 — 指定された要件への適合性の評価に関するガイドライン — 1: 一般原則 |
| [18] | Kendall MG, Buckland WR, 統計用語の辞書。オリバーとボイド、1971 |
| [19] | ミリタリー スタンダード 414 の基礎となる数学的および統計的原則、国防次官補のオフィス、ワシントン DC |
| [20] | Melgaard H., Thyregod P., 2001), 測定の不確実性の下での変数による受け入れサンプリング, pp. 47-57, In: Lenz, H,J, and Wilrich, P,-Th, [Editors], Frontiers in Statistical Quality Control 6, Physica Verlag, ハイデルベルグ。ニューヨーク |
| [21] | Pearson ES, Hartley HO, 統計学者のための Biometrika テーブル。ケンブリッジ大学出版局、第 1 巻および第 2 巻、1966 年 |
| [22] | Resnikoff GJ, Liberman GJ, 非中心 t 分布のテーブル。スタンフォード大学出版局、1966 年 |
| [23] | 統計分析技術、統計研究グループ、コロンビア大学。マグロウヒル、1947年 |
| [24] | Wilrich P.-Th.、測定誤差がある場合の変数による検査のための単一サンプリング計画。アレス。統計Arch. 2000, pp. 239-250 |
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 2859-1, ISO 3534-1, and ISO 3534-2 and the following apply.
3.1
inspection by variables
inspection by measuring the magnitude of a characteristic of an item
[SOURCE: ISO 3534‑2]
3.2
sampling inspection
inspection of selected items in the group under consideration
[SOURCE: ISO 3534‑2]
3.3
acceptance sampling inspection
acceptance sampling
sampling inspection (3.2) to determine whether or not to accept a lot or other amount of product, material, or service
[SOURCE: ISO 3534‑2]
3.4
acceptance sampling inspection by variables
acceptance sampling inspection (3.3) in which the acceptability of the process is determined statistically from measurements on specified quality characteristics of each item in a sample from a lot
3.5
process fraction nonconforming
rate at which nonconforming items are generated by a process
Note 1 to entry: It is expressed as a proportion.
3.6
acceptance quality limit
AQL
worst tolerable process fraction nonconforming (3.5) when a continuing series of lots is submitted for acceptance sampling (3.3)
Note 1 to entry: See Clause 5.
3.7
quality level
quality expressed as a rate of occurrence of nonconforming units
3.8
limiting quality
LQ
quality level (3.7) , when a lot is considered in isolation, which, for the purposes of acceptance sampling inspection (3.3) , is limited to a low probability of acceptance
[SOURCE: ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: See 14.1.
Note 2 to entry: In this part of ISO 3951: 10 %.
3.9
nonconformity
non-fulfilment of a requirement
3.10
nonconforming unit
unit with one or more nonconformities
[SOURCE: ISO 3534‑2]
3.11
s–method acceptance sampling plan
acceptance sampling (3.3) plan by variables using the sample standard deviation
[SOURCE: ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: See Clause 16.
3.12
σ–method acceptance sampling plan
acceptance sampling (3.3) plan by variables using the presumed value of the process standard deviation
[SOURCE: ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: See Clause 17.
3.13
specification limit
conformance boundary specified for a characteristic
[SOURCE: ISO 3534‑2]
3.14
lower specification limit
L
specification limit (3.13) that defines the lower conformance boundary
[SOURCE: ISO 3534‑2]
3.15
upper specification limit
U
specification limit (3.13) that defines the upper conformance boundary
[SOURCE: ISO 3534‑2]
3.16
combined control
requirement when both upper and lower limits are specified for the quality characteristic and an AQL (3.6) that applies to the combined percent nonconforming beyond the two limits is given
Note 1 to entry: See 5.3.
Note 2 to entry: The use of combined control implies that nonconformity beyond either specification limit (3.13) is believed to be of equal, or at least roughly equal, importance to the lack of integrity of the product.
3.17
acceptability constant
k
constant depending on the specified value of the acceptance quality limit (3.6) and the sample size, used in the criteria for accepting the lot in an acceptance sampling (3.3) plan by variables
[SOURCE: ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: See 16.2 and 17.2.
3.18
quality statistic
Q
function of the specification limit (3.13) , the sample mean, and the sample or process standard deviation used in assessing the acceptability of a lot
[SOURCE: ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: For the case of a single specification limit (3.13) , the lot may be sentenced on the result of comparing Q with the acceptability constant (3.17) k.
Note 2 to entry: See 16.2 and 17.2.
3.19
lower quality statistic
QL
function of the lower specification limit (3.14) , the sample mean, and the sample or process standard deviation
Note 1 to entry: For a single lower specification limit (3.14) , the lot is sentenced on the result of comparing QL with the acceptability constant (3.17) k.
[SOURCE: ISO 3534‑2]
Note 2 to entry: See Clause 4, 16.2, and 17.2.
3.20
upper quality statistic
QU
function of the upper specification limit (3.15) , the sample mean, and the sample or process standard deviation
Note 1 to entry: For a single upper specification limit (3.15) , the lot is sentenced on the result of comparing QU with the acceptability constant (3.17) k.
[SOURCE: ISO 3534‑2]
Note 2 to entry: See Clause 4, 16.2, and 17.2.
3.21
maximum sample standard deviation
MSSD
smax
largest sample standard deviation for a given sample size code letter, inspection severity, and acceptance quality limit (3.6) for which it is possible to satisfy the acceptance criteria for the combined control of double specification limits (3.13) when the process variability is unknown
Note 1 to entry: See 16.4.
3.22
maximum process standard deviation
MPSD
σmax
largest process standard deviation for a given sample size code letter and acceptance quality limit (3.6) for which it is possible to satisfy the acceptance criterion for double specification limits with a combined AQL (3.6) requirement under tightened inspection with known process variability
[SOURCE: ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: See 17.3.
3.23
switching rule
instruction within an acceptance sampling (3.3) scheme for changing from one acceptance sampling (3.3) plan to another of greater or lesser severity based on demonstrated quality history
[SOURCE: ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: Normal, tightened, or reduced inspection or discontinuation of inspection are examples of ‘severity’.
Note 2 to entry: See Clause 21.
3.24
measurement
set of operations to determine the value of some quantity
[SOURCE: ISO 3534‑2]
Bibliography
| [1] | Bowker A.H., Goode H.P., Sampling Inspection by Variables. McGraw-Hill, 1952 |
| [2] | Bowker A.H., Lieberman G.J., Engineering Statistics. Prentice-Hall, 1972 |
| [3] | Burr I.W., Engineering Statistics and Quality Control. McGraw-Hill, 1953 |
| [4] | Duncan A.J., Quality Control and Industrial Statistics. Richard D, Irwin, Inc, 1965 |
| [5] | Göb R., 2001), Methodological Foundations of Statistical Lot Inspection, pp. 3-24, In: Lenz, H.J. and Wilrich, P.-Th. [Editors], Frontiers in Statistical Quality Control 6, Physica-Verlag, Heidelberg; New York |
| [6] | Grant E.L., Leavenworth R.S., Statistical Quality Control. McGraw-Hill, 1972 |
| [7] | Hahn G.H., Shapiro S.S., Statistical Models in Engineering. John Wiley, 1967 |
| [8] | ISO 31-11, Mathematical signs and symbols for use in the physical sciences and technology |
| [9] | ISO 2854, Statistical interpretation of data — Techniques of estimation and tests relating to means and variances |
| [10] | ISO 2859-0, Sampling procedures for inspection by attributes – 0: Introduction to the ISO 2859 attribute sampling system |
| [11] | ISO 5479:1997, Statistical interpretation of data — Tests for departure from the normal distribution |
| [12] | ISO 16269-3, Guide to statistical interpretation of data – 3: Tests for departure from the normal distribution (in development) |
| [13] | ISO 16269-4, Statistical interpretation of data — 4: Detection and treatment of outliers |
| [14] | ISO 5725-2, Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results — 2: Basic method for the determination of repeatability and reproducibility of a standard measurement method |
| [15] | ISO 7870, Control charts — General guide and introduction |
| [16] | ISO 8258, Shewhart control charts |
| [17] | ISO 10576-1:2003, Statistical methods — Guidelines for the evaluation of conformity with specified requirements — 1: General principles |
| [18] | Kendall M.G., Buckland W.R., A Dictionary of Statistical Terms. Oliver and Boyd, 1971 |
| [19] | Mathematical and Statistical Principles Underlying Military Standard 414, Office of the Assistant Secretary of Defense, Washington D.C. |
| [20] | Melgaard H., Thyregod P., 2001), Acceptance sampling by variables under measurement uncertainty, pp. 47-57, In: Lenz, H,J, and Wilrich, P,-Th, [Editors], Frontiers in Statistical Quality Control 6, Physica-Verlag, Heidelberg; New York |
| [21] | Pearson E.S., Hartley H.O., Biometrika Tables for Statisticians. Cambridge University Press, Vol. 1 and 2, 1966 |
| [22] | Resnikoff G.J., Liberman G.J., Tables of the Non-Central t-Distribution. Stanford University Press, 1966 |
| [23] | Techniques of Statistical Analysis, Statistical Research Group, Columbia University. McGraw-Hill, 1947 |
| [24] | Wilrich P.-Th., Single sampling plans for inspection by variables in the presence of measurement error. All. Stat. Arch. 2000, pp. 239–250 |