この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
この文書の目的上、ISO 2859-1, ISO 3534-1, ISO 3534-2 および以下に示されている用語と定義が適用されます。
3.1
変数による検査
物品の特性の大きさを測定することによる検査
[出典:ISO 3534‑2]
3.2
抜き取り検査
検討中のグループ内の選択された項目の検査
[出典:ISO 3534‑2]
3.3
受入抜き取り検査
受け入れサンプリング
ロットまたはその他の量の製品、材料、またはサービスを受け入れるかどうかを決定するための 抜き取り検査 (3.2)
[出典:ISO 3534‑2]
3.4
変数による受入抜き取り検査
受入抜き取り検査 (3.3) ロットからのサンプル中の各項目の指定された品質特性の測定から、プロセスの合否が統計的に決定されます。
3.5
プロセス部分の不適合
プロセスによって不適合品が生成される割合
注1:比率で表します。
3.6
受け入れ品質限界
AQL
連続する一連のロットが受け入れ サンプリング (3.3) に提出される場合の最悪の許容 プロセス不適合率 (3.5)
注記 1: 第 5 項を参照。
3.7
品質レベル
品質を不適合品発生率で表す
3.8
消費者のリスクの質
CRQ
受け入れサンプリング計画において、特定の消費者のリスクに対応するプロセスの 品質レベル (3.7)
注記 1: ISO 3951 のこの部分では、 品質レベル (3.7) はプロセス不適合部分です。
注記 2: ISO 3951 のこの部分では、消費者のリスクの質は 10% の消費者のリスクに相当します。
3.9
生産者のリスク
PR
品質レベルが計画で許容可能と示された値である場合に不承認になる確率
注記 1:品質レベルは プロセス不適合部分 (3.5) に関係し、合格は 合格品質限界 (3.6) に関係します。
3.10
不適合
要件の不履行
- クラス A. 製品またはサービスにとって最も懸念されると考えられるタイプの不適合。このようなタイプの不適合には通常、非常に小さな AQL 値が割り当てられます。
- クラス B. 次に懸念度が低いと考えられる種類の不適合。これには通常、クラス A の AQL 値よりも大きい AQL 値が割り当てられ、3 番目のクラスが存在する場合にはクラス C の AQL 値よりも小さい AQL 値が割り当てられます。
3.11
不適合ユニット
1 つ以上の不適合があるユニット
[出典:ISO 3534‑2]
3.12
s -メソッド 受け入れサンプリング計画
受け入れサンプリング (3.3) サンプル標準偏差を使用した変数による計画
[出典:ISO 3534‑2]
注記 1: 第 15 条を参照。
3.13
σ法受入サンプリング計画
受け入れサンプリング (3.3) プロセス標準偏差の推定値を使用した変数による計画
[出典:ISO 3534‑2]
注記 1: 第 16 条を参照。
3.14
仕様限界
特性に指定された適合境界
[出典:ISO 3534‑2]
3.15
下側規格限界
L
適合の下限を定義する 規格限界 (3.14)
[出典:ISO 3534‑2]
3.16
規格上限値
U
適合性の上限を定義する 規格限界 (3.14)
[出典:ISO 3534‑2]
3.17
複合制御
品質特性 の下側規格限界(3.15) と 上側規格限界(3.16) の両方を超える不適合が同じクラスに属し、単一の AQL(3.6) が適用される場合の要件
注記 1: 5.3, 16.3.2, 18.3 を参照。
注記 2: 合格品質限界 (3.6) 要件を組み合わせて使用することは、いずれかの 仕様限界 (3.14) を超える不適合が、製品の完全性の欠如と同等、または少なくともほぼ同等の重要性を持つと考えられることを意味します。
3.18
個別のコントロール
品質特性 の下側規格限界 (3.15) と 上側規格限界 (3.16) を 超える不適合が異なるクラスに属し、個別の 合格品質限界 (3.6) が適用される場合の要件
注記 1: 5.3, 16.3.3, 17.2 を参照。
3.19
複雑な制御
品質特性の 下側規格限界 (3.15) と 上側規格限界 (3.16) を超える不適合が 1 つのクラスに属し 、上側規格限界 (3.16) または 下側規格限界 (3.15) を超える不適合が別のクラスに属する場合の要件2 つのクラスに個別の 受け入れ品質制限 (3.6) が適用されるクラス
注記 1: 5.3, 16.3.4, 18.3 を参照。
3.20
許容定数
k 、 p*
合格品質制限 (3.6) の指定値とサンプル サイズに応じた定数。変数による 合格サンプリング (3.3) 計画でロットを合格するための基準に使用されます。
[出典:ISO 3534‑2]
注記 1: 16.2 および 16.3 を参照。
3.21
品質統計
Q
規格限界 (3.14) 、サンプル平均、ロットの合格性の評価に使用されるサンプルまたはプロセスの標準偏差の関数
[出典:ISO 3534‑2]
注記 1:単一の 規格限界 (3.14) の場合、ロットはQ と 許容定数 (3.20) k を比較した結果に基づいて判定される可能性があります。
注記 2: 16.2 および 16.3 を参照。
3.22
質の低い統計
Q
下側規格限界 (3.15) 、サンプル平均、およびサンプルまたはプロセスの標準偏差の関数
注記 1:単一の 下側規格限界 (3.15) の場合、ロットはQ L と 許容定数 (3.20) k を比較した結果に基づいて判定されます。
注記 2: [出典: ISO 3534-2
注記 3:第 4 条、16.2 および 16.3 を参照。
3.23
より質の高い統計
Q U
上限規格限界 (3.16) 、サンプル平均、およびサンプルまたはプロセスの標準偏差の関数
注記 1:単一の 規格上限値 (3.16) の場合、ロットはQ U と 許容定数 (3.20) k を比較した結果に基づいて判定されます。
注記 2: [出典: ISO 3534-2
注記 3:第 4 条、16.2 および 18.3 を参照。
3.24
最大サンプル標準偏差
MSSD
s
指定されたサンプル サイズのコード文字と 許容品質限界 (3.6) の最大のサンプル標準偏差。 許容品質限界 (3.6) 要件と未知のプロセス変動を組み合わせた、二重規格限界 ( 3.14) の合格基準を満たすことが可能です。
[出典:ISO 3534‑2]
注記 1: 16.3.2.1 および付録 F を参照。
3.25
最大プロセス標準偏差
MPSD
σmax
所定のサンプルサイズのコード文字と 合格品質限界 (3.6) の最大のプロセス標準偏差であり、既知の検査との厳格な検査の下で、 合格品質限界 (3.6) 要件を組み合わせた二重規格限界 (3.14 ) の合格基準を満たすことが可能です。プロセスの変動性
[出典:ISO 3534‑2]
注記 1: 17.2, 17.3 を参照。
3.26
切り替えルール
実証された品質履歴に基づいて、ある受け入れ サンプリング (3.3) 計画から、より重大度の高いまたは低い別の 受け入れサンプリング (3.3) 計画に変更するための、受け入れサンプリング (3.3) スキーム内の指示
[出典:ISO 3534‑2]
注記 1: 第 23 条を参照。
注記 2:通常の検査、強化された検査、軽減された検査、または検査の中止は、厳しさの程度の例です。
3.27
測定
ある数量の値を決定するための一連の操作
[出典:ISO 3534‑2]
参考文献
| 1 | Baillie DH 多変量許容サンプリング。参照: 統計的品質管理のフロンティア 3 (Lenz et al., eds.) Physica-Verlag, ハイデルベルク、1987 年、83–115 ページ |
| 2 | Baillie DH 対称ベータ分布の分布関数の正規近似。参照: 統計的品質管理のフロンティア 5 (Lenz et al., eds.) Physica-Verlag, ハイデルベルク、1997 年、52 ~ 65 ページ |
| 3 | Bowker AH, Goode HP, 変数によるサンプリング検査。マグロウ ヒル、1952 年 |
| 4 | Bowker AH, Lieberman GJ, 工学統計学。プレンティス・ホール、1972年 |
| 5 | ISO 2859-2, 属性別検査のサンプリング手順 — Part 2: 隔離ロット検査の品質制限 (LQ) によって索引付けされたサンプリング計画 |
| 6 | ISO 2859-10, 属性による検査のためのサンプリング手順 — Part 10: 属性による検査のためのサンプリングに関する ISO 2859 シリーズ規格の紹介 |
| 7 | ISO 5725-2, 測定方法と結果の精度 (真性と精度) - Part 2: 標準測定方法の再現性と再現性を決定するための基本方法 |
| 8 | ISO 7870, 管理図 |
| 9 | ISO 10576-1:2003, 統計的方法 — 指定された要件への適合性評価のガイドライン — Part 1 部: 一般原則 |
| 10 | ISO 16269-4, データの統計的解釈 - Part 4: 外れ値の検出と処理 |
| 11 | ISO 16269-6, データの統計的解釈 - Part 6: 統計的許容範囲の決定 |
| 12 | ISO 80000-2, 数量と単位 - Part 2: 自然科学と技術で使用される数学的記号と記号 |
| 13 | Burr IW, 工学統計および品質管理。マグロウ ヒル、1953 年 |
| 14 | ダンカン AJ, 品質管理および工業統計。リチャード・D・アーウィン社、1965年 |
| 15 | Göb R.、統計的ロット検査の方法論的基礎。掲載: 統計的品質管理のフロンティア 6 (Lenz et al., eds.)フィジカ・フェルラーク、ハイデルベルク;ニューヨーク、2001 年、3-24 ページ |
| 16 | Grant EL, Leavenworth RS, 統計的品質管理。マグロウ ヒル、1972 年 |
| 17 | Hahn GH, Shapiro SS, 工学における統計モデル。ジョン・ワイリー、1967年 |
| 18 | Kendall MG, Buckland WR, 統計用語辞典。オリバーとボイド、1971 年 |
| 19 | MIL-STD-414, 欠陥率の変数による検査のためのサンプリング手順と表。米国政府印刷局、ワシントン、1957 年 |
| 20 | 軍事規格 414 の基礎となる数学的および統計的原則、ワシントン DC 国防次官補室 |
| 21 | Melgaard H.、Thyregod P.、「測定の不確実性の下での変数による受け入れサンプリング」、In: Frontiers in Statistical Quality Control 6, (Lenz et al.、編)フィジカ・フェルラーク、ハイデルベルク;ニューヨーク、2001 年、47-60 ページ |
| 22 | Pearson ES, Hartley HO, 統計学者のための Biometrika テーブル。ケンブリッジ大学出版局、第 1 巻および第 2 巻、1966 年 |
| 23 | ピアソン K.、不完全ベータ関数の表。ケンブリッジ大学出版局、第 2 版、1968 年 |
| 24 | レスニコフ GJ, リーバーマン GJ, 非心 t 分布の表。スタンフォード大学出版局、1966 年 |
| 25 | 統計分析の技術コロンビア大学統計研究グループ。マグロウ ヒル、1947 年 |
| 26 | ISO 2854, データの統計的解釈 — 平均と分散に関連する推定とテストの手法 |
| 27 | ISO 5479, データの統計的解釈 — 正規分布からの逸脱のテスト |
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 2859-1, ISO 3534-1, and ISO 3534-2 and the following apply.
3.1
inspection by variables
inspection by measuring the magnitude of a characteristic of an item
[SOURCE:ISO 3534‑2]
3.2
sampling inspection
inspection of selected items in the group under consideration
[SOURCE:ISO 3534‑2]
3.3
acceptance sampling inspection
acceptance sampling
sampling inspection (3.2) to determine whether or not to accept a lot or other amount of product, material, or service
[SOURCE:ISO 3534‑2]
3.4
acceptance sampling inspection by variables
acceptance sampling inspection (3.3) in which the acceptability of the process is determined statistically from measurements on specified quality characteristics of each item in a sample from a lot
3.5
process fraction nonconforming
rate at which nonconforming items are generated by a process
Note 1 to entry: It is expressed as a proportion.
3.6
acceptance quality limit
AQL
worst tolerable process fraction nonconforming (3.5) when a continuing series of lots is submitted for acceptance sampling (3.3)
Note 1 to entry: See Clause 5.
3.7
quality level
quality expressed as a rate of occurrence of nonconforming items
3.8
consumer’s risk quality
CRQ
quality level (3.7) of a process which, in the acceptance sampling plan, corresponds to a specified consumer’s risk
Note 1 to entry: In this part of ISO 3951, the quality level (3.7) is the process fraction nonconforming.
Note 2 to entry: In this part of ISO 3951, the consumer’s risk quality corresponds to a consumer’s risk of 10 %.
3.9
producer’s risk
PR
probability of non-acceptance when the quality level has a value stated by the plan as acceptable
Note 1 to entry: Quality level relates to the process fraction nonconforming (3.5) and acceptable relates to the acceptance quality limit (3.6) .
3.10
nonconformity
non-fulfilment of a requirement
- Class A. Nonconformity of a type considered to be of the highest concern for the product or service. Such types of nonconformity will typically be assigned very small AQL values;
- Class B. Nonconformity of a type considered to have the next lower degree of concern; this is typically assigned a larger AQL value than that in class A and smaller than that in class C if a third class exists and so on.
3.11
nonconforming unit
unit with one or more nonconformities
[SOURCE:ISO 3534‑2]
3.12
s -method acceptance sampling plan
acceptance sampling (3.3) plan by variables using the sample standard deviation(s)
[SOURCE:ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: See Clause 15.
3.13
σ-method acceptance sampling plan
acceptance sampling (3.3) plan by variables using the presumed value(s) of the process standard deviation(s)
[SOURCE:ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: See Clause 16.
3.14
specification limit
conformance boundary specified for a characteristic
[SOURCE:ISO 3534‑2]
3.15
lower specification limit
L
specification limit (3.14) that defines the lower conformance boundary
[SOURCE:ISO 3534‑2]
3.16
upper specification limit
U
specification limit (3.14) that defines the upper conformance boundary
[SOURCE:ISO 3534‑2]
3.17
combined control
requirement when nonconformance beyond both the lower specification limit (3.15) and the upper specification limit (3.16) of a quality characteristic belongs to the same class, to which a single AQL (3.6) applies
Note 1 to entry: See 5.3, 16.3.2, 18.3.
Note 2 to entry: The use of a combined acceptance quality limit (3.6) requirement implies that nonconformance beyond either specification limit (3.14) is believed to be of equal, or at least roughly equal, importance to the lack of integrity of the product.
3.18
separate control
requirement when nonconformance beyond the lower specification limit (3.15) and the upper specification limit (3.16) of a quality characteristic belong to different classes, to which separate acceptance quality limits (3.6) are applied
Note 1 to entry: See 5.3, 16.3.3, 17.2.
3.19
complex control
requirement when nonconformance beyond the lower specification limit (3.15) and the upper specification limit (3.16) of a quality characteristic belongs to one class and nonconformance beyond either the upper specification limit (3.16) or the lower specification limit (3.15) belongs to a different class, with separate acceptance quality limits (3.6) being applied to the two classes
Note 1 to entry: See 5.3, 16.3.4, 18.3.
3.20
acceptability constant
k, p*
constant depending on the specified value of the acceptance quality limit (3.6) and the sample size, used in the criteria for accepting the lot in an acceptance sampling (3.3) plan by variables
[SOURCE:ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: See 16.2 and 16.3.
3.21
quality statistic
Q
function of the specification limit (3.14) , the sample mean, and the sample or process standard deviation used in assessing the acceptability of a lot
[SOURCE:ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: For the case of a single specification limit (3.14) , the lot may be sentenced on the result of comparing Q with the acceptability constant (3.20) k.
Note 2 to entry: See 16.2 and 16.3.
3.22
lower quality statistic
QL
function of the lower specification limit (3.15) , the sample mean, and the sample or process standard deviation
Note 1 to entry: For a single lower specification limit (3.15) , the lot is sentenced on the result of comparing QL with the acceptability constant (3.20) k.
Note 2 to entry: [SOURCE: ISO 3534-2].
Note 3 to entry: See Clause 4, 16.2 and 16.3.
3.23
upper quality statistic
QU
function of the upper specification limit (3.16) , the sample mean, and the sample or process standard deviation
Note 1 to entry: For a single upper specification limit (3.16) , the lot is sentenced on the result of comparing QU with the acceptability constant (3.20) k.
Note 2 to entry: [SOURCE: ISO 3534-2].
Note 3 to entry: See Clause 4, 16.2, and 18.3.
3.24
maximum sample standard deviation
MSSD
smax
largest sample standard deviation for a given sample size code letter and acceptance quality limit (3.6) for which it is possible to satisfy the acceptance criterion for double specification limits (3.14) with a combined acceptance quality limit (3.6) requirement and unknown process variability
[SOURCE:ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: See 16.3.2.1 and Annex F.
3.25
maximum process standard deviation
MPSD
σmax
largest process standard deviation for a given sample size code letter and acceptance quality limit (3.6) for which it is possible to satisfy the acceptance criterion for double specification limits (3.14) with a combined acceptance quality limit (3.6) requirement under tightened inspection with known process variability
[SOURCE:ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: See 17.2, 17.3.
3.26
switching rule
instruction within an acceptance sampling (3.3) scheme for changing from one acceptance sampling (3.3) plan to another of greater or lesser severity based on demonstrated quality history
[SOURCE:ISO 3534‑2]
Note 1 to entry: See Clause 23.
Note 2 to entry: Normal, tightened, or reduced inspection or discontinuation of inspection are examples of greater or lesser severity.
3.27
measurement
set of operations to determine the value of some quantity
[SOURCE:ISO 3534‑2]
Bibliography
| 1 | Baillie D.H. Multivariate acceptance sampling. In: Frontiers in Statistical Quality Control 3, (Lenz et al., eds.). Physica-Verlag, Heidelberg, 1987, pp. 83–115 |
| 2 | Baillie D.H. Normal approximations to the distribution function of the symmetric beta distribution. In: Frontiers in Statistical Quality Control 5, (Lenz et al., eds.). Physica-Verlag, Heidelberg, 1997, pp. 52–65 |
| 3 | Bowker A.H., Goode H.P., Sampling Inspection by Variables. McGraw-Hill, 1952 |
| 4 | Bowker A.H., Lieberman G.J., Engineering Statistics. Prentice-Hall, 1972 |
| 5 | ISO 2859-2, Sampling procedures for inspection by attributes — Part 2: Sampling plans indexed by limiting quality (LQ) for isolated lot inspection |
| 6 | ISO 2859-10, Sampling procedures for inspection by attributes — Part 10: Introduction to the ISO 2859 series of standards for sampling for inspection by attributes |
| 7 | ISO 5725-2, Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results — Part 2: Basic method for the determination of repeatability and reproducibility of a standard measurement method |
| 8 | ISO 7870, Control charts |
| 9 | ISO 10576-1:2003, Statistical methods — Guidelines for the evaluation of conformity with specified requirements — Part 1: General principles |
| 10 | ISO 16269-4, Statistical interpretation of data — Part 4: Detection and treatment of outliers |
| 11 | ISO 16269-6, Statistical interpretation of data — Part 6: Determination of statistical tolerance intervals |
| 12 | ISO 80000-2, Quantities and units — Part 2: Mathematical signs and symbols to be used in the natural sciences and technology |
| 13 | Burr I.W., Engineering Statistics and Quality Control. McGraw-Hill, 1953 |
| 14 | Duncan A.J., Quality Control and Industrial Statistics. Richard D. Irwin, Inc, 1965 |
| 15 | Göb R., Methodological Foundations of Statistical Lot Inspection. In: Frontiers in Statistical Quality Control 6, (Lenz et al., eds.). Physica-Verlag, Heidelberg; New York, 2001, pp. 3-24 |
| 16 | Grant E.L., Leavenworth R.S., Statistical Quality Control. McGraw-Hill, 1972 |
| 17 | Hahn G.H., Shapiro S.S., Statistical Models in Engineering. John Wiley, 1967 |
| 18 | Kendall M.G., Buckland W.R., A Dictionary of Statistical Terms. Oliver and Boyd, 1971 |
| 19 | MIL-STD-414, Sampling procedures and tables for inspection by variables for percent defective. US Government Printing Office, Washington, 1957 |
| 20 | Mathematical and Statistical Principles Underlying Military Standard 414, Office of the Assistant Secretary of Defense, Washington D. C. |
| 21 | Melgaard H., Thyregod P., Acceptance sampling by variables under measurement uncertainty, In: Frontiers in Statistical Quality Control 6, (Lenz et al., eds.). Physica-Verlag, Heidelberg; New York, 2001, pp. 47-60 |
| 22 | Pearson E.S., Hartley H.O., Biometrika Tables for Statisticians. Cambridge University Press, Vol. 1 and 2, 1966 |
| 23 | Pearson K., Tables of the Incomplete Beta Function. Cambridge University Press, Second Edition, 1968 |
| 24 | Resnikoff G.J., Lieberman G.J., Tables of the Non-Central t-Distribution. Stanford University Press, 1966 |
| 25 | Techniques of Statistical Analysis Statistical Research Group, Columbia University. McGraw-Hill, 1947 |
| 26 | ISO 2854, Statistical interpretation of data — Techniques of estimation and tests relating to means and variances |
| 27 | ISO 5479, Statistical interpretation of data — Tests for departure from the normal distribution |