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ISO/IEC 10373-7:2019の概要
ISO/IEC10373-7:2019の規格概要
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Cards and security devices for personal identification — Test methods — Part 7: Contactless vicinity objects
ISO/IEC 10373 シリーズは、ISO/IEC 7810 で与えられた定義に従って ID カードの特性のテスト方法を定義します。各テスト方法は 1 つ以上の基本規格と相互参照されており、これは ISO/IEC 7810 または ID カード アプリケーションで使用される情報ストレージ技術を定義する 1 つ以上の補足規格である場合があります。
注 1 許容基準は ISO/IEC 10373 シリーズの一部ではありませんが、上記の国際規格に記載されています。
注 2 ISO/IEC 10373 シリーズで定義された試験方法は、個別に実行されることを目的としています。特定のカードがすべてのテストを順番に通過する必要はありません。
この文書では、非接触集積回路カード (ビシニティ カード) テクノロジに特有のテスト方法について説明します。 ISO/IEC 10373-1 は 1 つ以上の ICC テクノロジーに共通のテスト方法を扱い、ISO/IEC 10373 シリーズの他の部分は他のテクノロジー固有のテストを扱います。
特に指定のない限り、この文書のテストは ISO/IEC 15693‑1、ISO/IEC 15693-2、および ISO/IEC 15693-3 で定義された近接カードにのみ適用されます。
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
ISO/IEC10373-7:2019 国際規格 情報
- ISO 国際規格番号
- ISO/IEC 10373-7:2019
- ISO 国際規格名称
- Cards and security devices for personal identification — Test methods — Part 7: Contactless vicinity objects
- ISO 規格名称 日本語訳
- 個人識別用のカードおよびセキュリティ デバイス — テスト方法 — Part 7:非接触近接物体
- 発行日 (Publication date)
- 2019-10
- 更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
- 2025-03-05
- 状態 (Status)
- 公開済み (Published)
- 改訂 (Edition)
- 3
- PDF ページ数 (Number of pages)
- 51
- TC(専門委員会):Technical Committee
- ISO/IEC JTC 1/SC 17 個人識別用のカードとセキュリティデバイス:(Cards and security devices for personal identification)
- ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
- 35.240.15:Identification cards. Chip cards. Biometrics,
- ISO 対応 JIS 規格
- 識別カードの試験方法―第7部:非接触(外部端子なし)ICカード―近傍型,
- ICS 対応 JIS 規格
- 35.240.15
ISO/IEC 10373-7:2019 関連規格 履歴一覧
- ISO/IEC 10373-1:1998
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 1: 一般的な特性テスト
- ISO/IEC 10373-1:2006
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 1: 一般的な特性
- ISO/IEC 10373-1:2020
個人識別用のカードとセキュリティデバイス—テスト方法—パート1:一般的な特性
- ISO/IEC 10373-2:1998
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 2: 磁気ストライプ付きのカード
- ISO/IEC 10373-2:2006
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 2: 磁気ストライプ付きのカード
- ISO/IEC 10373-2:2015
識別カード—テスト方法—パート2:磁気ストライプのあるカード
- ISO/IEC 10373-3:2001
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 3: 接点および関連するインターフェースデバイスを備えた集積回路カード
- ISO/IEC 10373-3:2010
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 3: 接点および関連するインターフェースデバイスを備えた集積回路カード
- ISO/IEC 10373-3:2018
識別カード—テスト方法—パート3:接点および関連するインターフェイスデバイスを備えた集積回路カード
- ISO/IEC 10373-5:1998
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 5: 光メモリカード
- ISO/IEC 10373-5:2006
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 5: 光メモリカード
- ISO/IEC 10373-5:2014
識別カード—テスト方法—パート5:光メモリカード
- ISO/IEC 10373-6:2001
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード
- ISO/IEC 10373-6:2011
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード
- ISO/IEC 10373-6:2016
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード
- ISO/IEC 10373-6:2020
個人識別用のカードとセキュリティデバイス—テスト方法—パート6:非接触型近接オブジェクト
- ISO/IEC 10373-6:2025
個人識別用のカードおよびセキュリティ デバイス — テスト方法 — Part 6:非接触近接物体
- ISO/IEC 10373-7:2001
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 7: 周辺カード
- ISO/IEC 10373-7:2008
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 7: 周辺カード
- ISO/IEC 10373-8:2011
識別カード—テスト方法—パート8:USB-ICC
- ISO/IEC 10373-9:2011
識別カード—テスト方法—パート9:光メモリカード—ホログラフィック記録方法
- ISO/IEC 10373:1993
(W) 身分証明書 — テスト方法
ISO/IEC10373-7:2019 対応 JIS 規格一覧
ISO/IEC10373-7:2019 ICS 対応 JIS 規格
ICS > 35:情報技術.事務機械 > 35.240:情報技術(IT)の応用 > 35.240.15:IDカード及び関連装備
ISO/IEC 10373-7:2019 修正 一覧 (Amendments)
- ISO/IEC 10373-1:2006/Amd 1:2012
(W) 身分証明書 — テスト方法 — Part 1: 一般的な特徴 — Amendment1(修正1)
- ISO/IEC 10373-1:2020/Amd 1:2023
個人識別用カードおよびセキュリティデバイス — 試験方法 — Part 1: 一般特性 — 修正 1:ISO/IEC 7810 適合性試験に使用される剥離強度試験方法の明確化
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 1:2007
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment1(修正1) :近接カードのプロトコルテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 2:2003
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment2(修正2) :改良されたRFテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 3:2006
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment3(修正3) :近接結合デバイスのプロトコルテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 4:2006
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment4(修正4) :PCDRFインターフェースおよびPICC交互フィールド露光用の追加のテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 5:2007
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment5(修正5) :fc/64、fc/32、およびfc/16のビットレート
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 7:2010
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment7(修正7) :ePassportのテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 1:2012
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment1(修正1) :追加のPICCクラス
- ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 2:2012
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment2(修正2) :電磁妨害のテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 3:2012
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment3(修正3) :追加パラメーターの交換、ブロック番号付け、比類のないAFIおよびTR2
- ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 4:2012
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment4(修正4) :fc/8、fc/4、およびfc/2のビットレートと512〜4096バイトのフレームサイズ
- ISO/IEC 10373-6:2016/Amd 3:2018
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment3(修正3) :PICCローディング効果
- ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 1:2021
個人識別用のカードとセキュリティデバイス—テスト方法—パート6:非接触近接オブジェクト—修正1:動的電力レベル管理
- ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 2:2020
個人識別用のカードとセキュリティデバイス—テスト方法—パート6:非接触近接オブジェクト—修正2:調和のための機能強化
ISO/IEC 10373-7:2019 正誤表 一覧 (Corrigenda)
- ISO/IEC 10373-1:1998/Cor 1:2002
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 1: 一般的な特性テスト — 技術正誤表1
- ISO/IEC 10373-2:2006/Cor 1:2010
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 2: 磁気ストライプ付きカード — 技術正誤表1
- ISO/IEC 10373-3:2010/Cor 1:2013
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 3: 接点および関連するインターフェースデバイスを備えた集積回路カード — 技術正誤表1
- ISO/IEC 10373-6:2011/Cor 1:2013
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — 技術正誤表1:R2値の範囲、PICC送信の開始、およびEMDレベル測定のプログラム
ISO/IEC 10373-7:2019 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 90) 見直
サブステージコード 90.60 レビュー終了 (Close of review)
ISO/IEC 10373-7:2019 持続可能な開発目標 SDGS
この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。
- 目標 9 産業、イノベーション、インフラストラクチャ (Industry, Innovation and Infrastructure)
- 17の目標 : [Sustainable Development Goal]
SDGsとは、「Sustainable Development Goals(持続可能な開発目標)」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。