ISO/IEC 10373-3:2010 (W) 識別カード — テスト方法 — Part 3: 接点および関連するインターフェースデバイスを備えた集積回路カード

(W) 身分証明書 — テスト方法 — Part 1: 一般的な特徴 — Amendment1（修正1）

個人識別用カードおよびセキュリティデバイス — 試験方法 — Part 1: 一般特性 — 修正 1:ISO/IEC 7810 適合性試験に使用される剥離強度試験方法の明確化

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment1（修正1） :近接カードのプロトコルテスト方法

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment2（修正2） :改良されたRFテスト方法

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment3（修正3） :近接結合デバイスのプロトコルテスト方法

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment4（修正4） :PCDRFインターフェースおよびPICC交互フィールド露光用の追加のテスト方法

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment5（修正5） :fc/64、fc/32、およびfc/16のビットレート

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment7（修正7） :ePassportのテスト方法

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment1（修正1） :追加のPICCクラス

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment2（修正2） :電磁妨害のテスト方法

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment3（修正3） :追加パラメーターの交換、ブロック番号付け、比類のないAFIおよびTR2

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment4（修正4） :fc/8、fc/4、およびfc/2のビットレートと512〜4096バイトのフレームサイズ

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment3（修正3） :PICCローディング効果

個人識別用のカードとセキュリティデバイス—テスト方法—パート6：非接触近接オブジェクト—修正1：動的電力レベル管理

個人識別用のカードとセキュリティデバイス—テスト方法—パート6：非接触近接オブジェクト—修正2：調和のための機能強化

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 1: 一般的な特性テスト — 技術正誤表1

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 2: 磁気ストライプ付きカード — 技術正誤表1

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 3: 接点および関連するインターフェースデバイスを備えた集積回路カード — 技術正誤表1

(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — 技術正誤表1:R2値の範囲、PICC送信の開始、およびEMDレベル測定のプログラム