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ISO/IEC 10373-1:2006の概要
ISO/IEC10373-1:2006の規格概要
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Identification cards — Test methods — Part 1: General characteristics
ISO/IEC 10373-1:2006は、基本的な特性がISO/IEC 7810で定義されている基本(要件)規格へのIDカードの適合性を確立するために必要な非技術固有のテスト方法を指定しています。
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
ISO/IEC10373-1:2006 国際規格 情報
- ISO 国際規格番号
- ISO/IEC 10373-1:2006
- ISO 国際規格名称
- Identification cards — Test methods — Part 1: General characteristics
- ISO 規格名称 日本語訳
- 識別カード — テスト方法 — Part 1: 一般的な特性
- 発行日 (Publication date)
- 2006-05
- 廃止日:撤回日 (Abolition date,Withdrawal date)
- 2020-10-22
- 状態 (Status)
- 撤回されました (Withdrawn)
- 改訂 (Edition)
- 2
- PDF ページ数 (Number of pages)
- 23
- TC(専門委員会):Technical Committee
- ISO/IEC JTC 1/SC 17 個人識別用のカードとセキュリティデバイス:(Cards and security devices for personal identification)
- ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
- 35.240.15:Identification cards. Chip cards. Biometrics,
- ISO 対応 JIS 規格
- 識別カード ― 試験方法, 識別カードの試験方法―第1部:一般的特性, 識別カードの試験方法―第2部:磁気ストライプ付きカード, 識別カードの試験方法―第2部:磁気ストライプ付きカード, 識別カードの試験方法―第3部:外部端子付きICカード及び接続装置, 識別カードの試験方法―第5部:光メモリカード, 識別カードの試験方法―第6部:非接触(外部端子なし)ICカード―近接型, 識別カードの試験方法―第7部:非接触(外部端子なし)ICカード―近傍型,
- ICS 対応 JIS 規格
- 35.240.15
ISO/IEC 10373-1:2006 関連規格 履歴一覧
- ISO/IEC 10373-1:1998
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 1: 一般的な特性テスト
- ISO/IEC 10373-1:2020
個人識別用のカードとセキュリティデバイス—テスト方法—パート1:一般的な特性
- ISO/IEC 10373-2:1998
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 2: 磁気ストライプ付きのカード
- ISO/IEC 10373-2:2006
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 2: 磁気ストライプ付きのカード
- ISO/IEC 10373-2:2015
識別カード—テスト方法—パート2:磁気ストライプのあるカード
- ISO/IEC 10373-3:2001
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 3: 接点および関連するインターフェースデバイスを備えた集積回路カード
- ISO/IEC 10373-3:2010
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 3: 接点および関連するインターフェースデバイスを備えた集積回路カード
- ISO/IEC 10373-3:2018
識別カード—テスト方法—パート3:接点および関連するインターフェイスデバイスを備えた集積回路カード
- ISO/IEC 10373-5:1998
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 5: 光メモリカード
- ISO/IEC 10373-5:2006
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 5: 光メモリカード
- ISO/IEC 10373-5:2014
識別カード—テスト方法—パート5:光メモリカード
- ISO/IEC 10373-6:2001
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード
- ISO/IEC 10373-6:2011
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード
- ISO/IEC 10373-6:2016
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード
- ISO/IEC 10373-6:2020
個人識別用のカードとセキュリティデバイス—テスト方法—パート6:非接触型近接オブジェクト
- ISO/IEC 10373-7:2001
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 7: 周辺カード
- ISO/IEC 10373-7:2008
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 7: 周辺カード
- ISO/IEC 10373-7:2019
個人識別用のカードとセキュリティデバイス—テスト方法—パート7:非接触型周辺オブジェクト
- ISO/IEC 10373-8:2011
識別カード—テスト方法—パート8:USB-ICC
- ISO/IEC 10373-9:2011
識別カード—テスト方法—パート9:光メモリカード—ホログラフィック記録方法
- ISO/IEC 10373:1993
(W) 身分証明書 — テスト方法
ISO/IEC10373-1:2006 対応 JIS 規格一覧
- JIS X 6305:1995:識別カード ― 試験方法
- JIS X 6305-1:2010:識別カードの試験方法―第1部:一般的特性
- JIS X 6305-2:2010:識別カードの試験方法―第2部:磁気ストライプ付きカード
- JIS X 6305-2:2020:識別カードの試験方法―第2部:磁気ストライプ付きカード
- JIS X 6305-3:2012:識別カードの試験方法―第3部:外部端子付きICカード及び接続装置
- JIS X 6305-5:2003:識別カードの試験方法―第5部:光メモリカード
- JIS X 6305-6:2013:識別カードの試験方法―第6部:非接触(外部端子なし)ICカード―近接型
- JIS X 6305-7:2010:識別カードの試験方法―第7部:非接触(外部端子なし)ICカード―近傍型
ISO/IEC10373-1:2006 ICS 対応 JIS 規格
ICS > 35:情報技術.事務機械 > 35.240:情報技術(IT)の応用 > 35.240.15:IDカード及び関連装備
ISO/IEC 10373-1:2006 修正 一覧 (Amendments)
- ISO/IEC 10373-1:2006/Amd 1:2012
(W) 身分証明書 — テスト方法 — Part 1: 一般的な特徴 — Amendment1(修正1)
- ISO/IEC 10373-1:2020/Amd 1:2023
個人識別用カードおよびセキュリティデバイス — 試験方法 — Part 1: 一般特性 — 修正 1:ISO/IEC 7810 適合性試験に使用される剥離強度試験方法の明確化
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 1:2007
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment1(修正1) :近接カードのプロトコルテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 2:2003
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment2(修正2) :改良されたRFテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 3:2006
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment3(修正3) :近接結合デバイスのプロトコルテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 4:2006
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment4(修正4) :PCDRFインターフェースおよびPICC交互フィールド露光用の追加のテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 5:2007
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment5(修正5) :fc/64、fc/32、およびfc/16のビットレート
- ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 7:2010
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment7(修正7) :ePassportのテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 1:2012
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment1(修正1) :追加のPICCクラス
- ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 2:2012
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment2(修正2) :電磁妨害のテスト方法
- ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 3:2012
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment3(修正3) :追加パラメーターの交換、ブロック番号付け、比類のないAFIおよびTR2
- ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 4:2012
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment4(修正4) :fc/8、fc/4、およびfc/2のビットレートと512〜4096バイトのフレームサイズ
- ISO/IEC 10373-6:2016/Amd 3:2018
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — Amendment3(修正3) :PICCローディング効果
- ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 1:2021
個人識別用のカードとセキュリティデバイス—テスト方法—パート6:非接触近接オブジェクト—修正1:動的電力レベル管理
- ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 2:2020
個人識別用のカードとセキュリティデバイス—テスト方法—パート6:非接触近接オブジェクト—修正2:調和のための機能強化
ISO/IEC 10373-1:2006 正誤表 一覧 (Corrigenda)
- ISO/IEC 10373-1:1998/Cor 1:2002
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 1: 一般的な特性テスト — 技術正誤表1
- ISO/IEC 10373-2:2006/Cor 1:2010
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 2: 磁気ストライプ付きカード — 技術正誤表1
- ISO/IEC 10373-3:2010/Cor 1:2013
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 3: 接点および関連するインターフェースデバイスを備えた集積回路カード — 技術正誤表1
- ISO/IEC 10373-6:2011/Cor 1:2013
(W) 識別カード — テスト方法 — Part 6: 近接カード — 技術正誤表1:R2値の範囲、PICC送信の開始、およびEMDレベル測定のプログラム
ISO/IEC 10373-1:2006 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 95) 撤回、削除
サブステージコード 95.99 国際規格の撤回 (Withdrawal of International Standard)
ISO/IEC 10373-1:2006 持続可能な開発目標 SDGS
この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。
- 目標 9 産業、イノベーション、インフラストラクチャ (Industry, Innovation and Infrastructure)
- 17の目標 : [Sustainable Development Goal]
SDGsとは、「Sustainable Development Goals(持続可能な開発目標)」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。