ISO/TS 6084:2022 鉄鋼および鉄鋼製品—化学分析に関連する用語、語彙 | ページ 6

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

3 用語と定義

ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。

3.1 鋼および鋳鉄に関する一般用語

3.1.1

合金鋼

ステンレス鋼以外の 鋼(3.1.17) 。以下の元素の 1 つ以上を質量パーセントで最小含有量以上にする必要がある仕様に適合するもの。アルミニウムの場合は 0.30, アルミニウムの場合は 0.3ホウ素の場合は 0.000 8, クロムの場合は 0.3コバルトの場合は0.3銅の場合は 0.4鉛の場合は 0.4マンガンの場合は 1.6モリブデンの場合は 0.08, ニッケルの場合は 0.3ニオブ (コロンビウム) の場合は 0.0シリコンの場合は 0.6チタンの場合は 0.0タングステン (タングステン) の場合は 0.3バナジウムの場合は 0.10, ジルコニウムの場合は 0.05, 硫黄、リン、炭素、窒素を除くその他の合金元素の場合は 0.10

[出典:ASTM A941:2018]

3.1.2

オーステナイト鋼

周囲温度で組織が オーステナイト (3.1.3) からwhere 鋼 (3.1.17)

注記 1: 鋳造オーステナイト鋼には、最大約 20% の フェライトが含まれることがあります (3.1.8) 。

3.1.3

オーステナイト

ガンマ鉄中の 1 つ以上の元素の固溶体 (3.1.19)

3.1.4

うんざりする

ワークピースの表面をホウ素で富化するためのワークピースの熱化学的処理

注記 1:ホウ化処理が行われる媒体を指定する必要があります (例: パックホウ化処理、ペーストホウ化処理など)

3.1.5

鋳造・熱解析

鉄鋼の比熱を表すものとして鉄鋼生産者によって決定された化学分析 (3.1.17)

注記 1:鉄鋼製造者によって報告された分析が、完全に評価すべき該当する製品仕様の 熱分析 (3.1.5) 要件への適合性を十分に評価するには不十分である場合、製造者は、 製品分析 (3.1.16 ) の許容差が適用されず、熱分析 が適用されないことを条件として、鉄鋼生産者によって報告されていない特定の元素についての製品分析 (3.1.16) を使用することによって、かかる 熱 分析 (3.1.5) 要件へ の適合性の評価を完了することができる。 (3.1.5) は変更されません

[出典:ASTM A941:2018]

3.1.6

鋳鉄

鉄、炭素、シリコンの合金where 炭素含有量が約 2% 以上

3.1.7

ダクタイル鋳鉄

球状鋳鉄

溶融中に黒鉛を球状化する元素(通常はマグネシウムまたはセリウム)で処理された 鋳鉄(3.1.6)

[出典:ISO 15156-2:2020, 3.5.4]

3.1.8

フェライト

鉄または 鋼の体心立方格子構造 (3.1.17)

3.1.9

鍛造鋼

鋼 (3.1.17) 鍛造によって得られ、その後の熱間変換を受けない製品

注記 1:これらの製品は、主に円形または四角形の形状をしています。

3.1.10

ねずみ鋳鉄

鋳造材料、主に鉄と炭素をベースとし、炭素は主にフレーク (層状) グラファイト粒子の形で存在します。

注記 1:ねずみ鋳鉄は、片状黒鉛鋳鉄としても知られていますが、あまり一般的ではありませんが層状黒鉛鋳鉄としても知られています。

注記 2:黒鉛の形状、分布、およびサイズは ISO 945-1 で指定されています。

[出典:EN 1561:2011, 3.1]

3.1.11

殺された鋼

凝固中に炭素と酸素の間で反応が本質的に起こらないレベルまで脱酸された 鋼(3.1.17)

[出典:ASTM A941:2018]

3.1.12

可鍛鉄

熱処理してセメンタイトの大部分またはすべてを黒鉛 (焼き戻し炭素) に変換した 白鋳鉄 (3.1.18)

[出典:ISO 15156-2:2020, 3.5.3]

3.1.13

マルテンサイト

オーステナイト (3.1.3) が非常に高速で冷却されることによって炭素含有 鋼 (3.1.17) 内に形成される (相) ため、炭素原子が結晶構造から十分な量で拡散してセメンタイト (Fe 3 C) を形成する時間がない。

3.1.14

窒化

金属材料(最も一般的には鉄合金)の表面に窒素を導入する肌硬化プロセス

例:

液体窒化、ガス窒化、イオン窒化、 プラズマ(3.6.32) 窒化。

[出典:ISO 15156-2:2020, 3.11]

3.1.15

非合金鋼

各元素の割合が特定の制限値未満である鋼

注記 1: ISO 4948-1:1982, 3.1.2 の表を参照。

3.1.16

製品分析

最終熱間圧延操作後に採取された製品サンプルに対して行われる化学分析

3.1.17

鋼鉄

鉄を主成分とし、炭素含有量が質量の2%以下の鉄材料

注記 1:炭化物形成元素が大量に存在すると、炭素含有量の上限が変更される可能性があります。

注記 2:熱処理に適した非合金鋼および合金鋼の命名法は、ISO 4948-1 および ISO 4948-2 で与えられています。

注記 3:非合金鋼に少量の合金元素が添加されると、その製品は微量合金鋼として定義される可能性があります。

3.1.18

白鋳鉄

セメンタイトの存在により白い破面を示す 鋳鉄 (3.1.6)

[出典:ISO 15156-2:2020, 3.5.2]

3.1.19

ガンマ鉄

面心立方格子構造の純鉄

3.2 鋼および鋳鉄の製造に関する一般用語

3.2.1

研削

試験サンプル (3.3.15) の表面を研磨砥石を使用して研磨する、物理的分析方法のために金属サンプルを準備する方法

3.2.2

裏地

研磨物質でコーティングされた柔軟な回転ディスクまたは連続ベルトを使用して 試験サンプル (3.3.15) の表面を研磨する、物理的分析方法用に金属サンプルを準備する方法。

3.2.3

フライス加工

回転する多刃の切削工具を使用してサンプルの表面を機械加工する、物理的分析方法のためにサンプルチップまたはサンプルの表面を準備する方法

3.3 サンプリングとサンプリングに関する一般用語

3.3.1

アリコート

既知量の均質材料。サンプリング誤差が無視できる程度に採取されたものと想定されます。

注記 1: 「アリコート」という用語は、通常、液体に適用されます。

注記 2: 「アリコート」という用語は、通常、小数部が全体の正確な約数である場合に使用されます。 「アリカント」という用語は、小数部分が全体の正確な約数ではない場合に使用されます(たとえば、15 ml の部分は 100 ml のアリカントです)。

注記 3: 実験室サンプル (3.3.7) または 検査サンプル (3.3.15) が「等分される」、またはその他の方法で小分けされる場合、その部分は分割サンプルと呼ばれます。

3.3.2

検体

分析対象のシステムのコンポーネント

[出典:PAC, 1989, 61, 1657 (自動化および機械化された分析の命名法 (勧告 1989))]

3.3.3

分析サンプル

実験室サンプル (3.3.7) から調製され、そこから分析部分を採取できるサンプル

注記 1:分析サンプルは、分析部分が採取される前にさまざまな処理を受けることができます。

注記 2:均質化または細分化が必要ない場合、 実験室サンプル (3.3.7) 、 試験サンプル (3.3.15) 、および後者がさらなる化学的または物理的処理を必要としない場合、分析サンプルは同一である。水や油などの一部の均質な物質では、 実験室サンプル (3.3.7) を サンプルユニットから直接採取することができ、さらに細分化または均質化を行わない場合、 実験室サンプル (3.3.7) が 試験サンプル (3.3.15) となります。同様に、フィルター上に収集された大気粒子の場合、サンプル単位は 実験室サンプル (3.3.7) であり、さらに細分化または均質化が実行されない場合は 試験サンプル (3.3.15) でもあります。

[出典:ISO 15193:2009, 3.3, 修正 — エントリへの注記を追加。]

3.3.4

委託品

一度に納品される金属の量

3.3.5

重複したサンプル

サンプルを複製する

同等の条件下で採取された複数(または 2 つ)のサンプル

注記 1:この選択は、時間または空間において隣接するユニットを取ることによって達成できます。複製されたサンプルは同一であることが期待されますが、多くの場合、複製されるのは物理的なサンプルを採取する行為だけです。複製サンプルは、2 つの部分からなる複製サンプルです。審判のサンプルは通常、紛争を解決するために使用されます。通常、反復サンプルはサンプルの変動性を推定するために使用されます。

[出典:PAC, 1990, 62, 1193 (分析化学におけるサンプリングの命名法 (勧告 1990))]

3.3.6

インクリメント

委託品から一度にサンプリングして得られる金属の量(3.3.4)

3.3.7

実験室サンプル

研究所に送受信されるサンプルまたは サブサンプル(3.3.13)

注記 1:実験室サンプルが小分け、混合、 粉砕 (3.2.1) 、またはこれらの操作の組み合わせによってさらに調製 (縮小) されると、その結果が 試験サンプル (3.3.15) となる。実験室サンプルの調製が必要ない場合、実験室サンプルは 試験サンプルである(3.3.15) 。 試験部分(3.3.14)は、 試験の実施または分析のために 試験サンプル(3.3.15) から除去される。

注記 2:実験室サンプルは、サンプル収集の観点からは最終サンプルですが、実験室の観点からは最初のサンプルです。

注記 3:異なる目的のために、複数の検査室サンプルを調製し、異なる検査室または同じ検査室に送ることができます。同じ検査室に送られる場合、そのセットは通常、単一の検査室サンプルとみなされ、単一のサンプルとして文書化されます。

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 18.3.6, サンプリング段階]

3.3.8

多く

サンプリング目的で単一母集団であると想定される物質の量

[出典:PAC, 1990, 62, 1193 (分析化学におけるサンプリングの命名法 (勧告 1990))]

3.3.9

マトリックス

検体以外のサンプルの成分 (3.3.2)

エントリへの注記 1:エントリへ。分析中。

[出典:PAC, 1989, 61, 1657 (自動化および機械化された分析の命名法 (勧告 1989))]

3.3.10

一次サンプル

1 つ以上の 増分 (3.3.6) または母集団から最初に取得された単位の集合

注記 1:各部分は、組み合わせることができる (複合サンプルまたはバルクサンプル) か、または別々に保持する (総サンプル) ことができます。均一になるまで組み合わせて混合すると、混合されたバルクサンプルになります。

注記 2: 「バルクサンプル」という用語は、サンプリング文献では、 増分を組み合わせて形成されるサンプルとして一般に使用されます (3.3.6) 。 「バルクサンプル」という用語は、バルク ロット(3.3.8) からのサンプルを意味することもあり、 増分(3.3.6) または保持されるユニットが個別であるか結合されているかを示すものではないため、曖昧です。利用できるあいまいな代替表現 (複合サンプル、集計サンプル) が少ないため、このような使用は推奨されません。

注記 3: 「ロットサンプル」および「バッチサンプル」もこの概念に使用されていますが、これらは自己限定的な用語です。

注記 4:この意味での「一次」の使用は、多段階サンプリングの必要性を示唆するものではありません。

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 18.3.6, サンプリング段階]

3.3.11

代表的なサンプル

定義された材料のバッチと同じ特性を持ち、定義された信頼限界内でバルク材料を表すサンプル

[出典:ISO 14488:2007, 3.7]

3.3.12

検体

テストピースを作成する目的で、サンプル内の各製品から採取された 1 つまたは複数のピース

[出典:ISO 6361-1:2011, 3.7]

3.3.13

サブサンプル

対象となるアイテムが同じサイズまたは異なるサイズの部分にランダムに分散される手順によって得られるサンプル

注記 1:サブサンプルは次のいずれかになります。
  • a)選択または分割によって得られたサンプルの一部。
  • b)サンプルの一部として採取された ロット (3.3.8) の個々の単位。
  • c)多段階サンプリングの最終ユニット。

注記 2: 「サブサンプル」という用語は、「サンプルのサンプル」の意味で、または「ユニット」の同義語として使用されます。実際には、意味は通常、文脈から明らかになるか、定義されます。

[出典:ISO 11074:2015, 4.1.34]

3.3.14

テスト部分

試験サンプルの一部、または溶融物から採取されたサンプルの一部で分析に供されます。場合によっては、試験部分はサンプル製品自体から選択できます。

注記 1:サンプルサンプルから得られる固体塊の形態の以下の特別なタイプの試験部分は区別される。
  • OES または XRF に使用される、溶融金属のサンプリング (特別なサンプラーまたは小さなインゴットから) から生じるディスク
  • 打ち抜きによって得られる、一般にスラグと呼ばれる小さなディスクの形状の試験部分、
  • 一般にラグと呼ばれる小さな付属物の形をしたテスト部分、
  • 切断によって得られる、一般にピンと呼ばれる小径のロッドの形の試験部分。

注2:試験試料がチップ状又は粉末状である場合、又は固体塊状の試料を熱法により分析する場合には、秤量することにより 試験部分(3.3.14) を得る。物理的な分析方法の場合、実際に分析される部品は試験サンプルのほんの小さな質量にすぎません。発光分光分析法では、放電 (3.6.14) で消費される金属の質量は約 0.5 mg ~ 1 mg で、蛍光 X 線分光分析法では、特徴的な放射線がサンプルの非常に薄い表層から生成されます。

3.3.15

テストサンプル

研削(3.2.1) 、穴あけ、 粉砕(3.2.3) またはふるい分けなどの物理的または機械的処理を使用した均質化を含むプロセスによって、 実験室サンプル(3.3.7) から採取または形成されたサンプル。

注記 1:試験サンプルは、分析目的でのサブサンプリング、将来の分析のために保存、または分析以外の試験目的での使用に適した形式になります。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.9]

3.3.16

試験溶液

分析ソリューション

反応の有無にかかわらず、 試験部分(3.3.14) を液体に溶解して調製した溶液

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 18.3.6 サンプリング段階]

3.3.17

微量元素

約100原子百万分率(ppm)未満または0.01重量%未満の平均濃度を有する元素

[出典:PAC, 1979, 51, 2243 (微量分析法の一般的側面 - IV. 表面分析技術の命名法、標準手順および実験データの報告に関する推奨事項)]

3.4 分析標準に関する一般用語

3.4.1

ブランク試験液

測定対象の元素を除くすべての化学物質を、その元素の 参照標準溶液 (3.4.17) の調製に必要な濃度と同じ濃度で含む溶液。

[出典:OIML R 100-1:2013, 3.3.2]

3.4.2

ブランク標準溶液

分光計 (3.5.22) で吸光度をゼロに設定するために使用され、通常は脱イオン水などの純粋な溶媒からなる溶液

[出典:OIML R 100-1:2013, 3.3.1]

3.4.3

空白の値

マトリックス (3.3.9) 、試薬、および測定装置またはプロセスにおける残留 バイアス (3.8.5) に由来する読み取り値または結果。これは、分析手順での量について得られる値に寄与します。

[出典:PAC, 1989, 61, 1657 (自動化および機械化された分析の命名法 (勧告 1989))]

3.4.4

ブラケットテクニック

最適作業範囲内で隣接する濃度の 校正溶液 (3.4.8) で行われた 2 つの測定値の間で、サンプルの測定された吸収または機械読み取り値をひとまとめにすることからなる分析方法

[出典:ISO 6486-2:1999, 3.3]

3.4.5

較正

指定された条件下で、第 1 ステップで 数量値 (3.4.16) と測定規格によって提供される測定不確かさおよび対応する表示と関連する 測定不確かさ (3.8.20) との関係を確立し、第 2 ステップでこの情報を使用して表示から測定結果を取得するための関係を確立する操作。

注記 1:校正は、ステートメント、校正関数、校正図、 校正曲線 (3.4.7) 、または校正テーブルによって表現できます。場合によっては、関連する 測定の不確実性を伴う指標の加算または乗算補正で構成される場合があります (3.8.20) 。

注記 2:校正は、しばしば誤って「自己校正」と呼ばれる測定システムの調整や、校正の 検証 (3.8.47) と混同されるべきではありません。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.39]

3.4.6

校正ブランク溶液

キャリブレーション溶液 (3.4.8) と同じ方法で調製された溶液ですが、 検体 (3.3.2) は省略されており、 キャリブレーション (3.4.5) シリーズの「ゼロメンバー」とも呼ばれます。

[出典:ISO 21400:2018, 3.8, 修正済み]

3.4.7

検量線

指示と対応する 測定量値との関係の式 (3.4.16.2)

注記 1:校正曲線は 1 対 1 の関係を表しており、 測定の不確かさ (3.8.20) に関する情報が含まれていないため、測定結果は得られません。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 4.31]

3.4.8

校正液

機器の校正に使用される溶液。 原液 (3.4.21) または認定標準液に酸、 緩衝液 (3.6.5) 、 参照元素 (3.7.7) および必要に応じて塩を加えて調製されます。

[出典:ISO 21400:2018, 3.9]

3.4.9

認定標準物質

CRM

1 つまたは複数の指定された特性について計量学的に有効な手順によって特徴付けられる標準物質 (RM)指定された特性の値、それに関連する 不確実性 (3.8.20) 、および計量学的トレーサビリティの声明を提供する RM 証明書が添付されます。

注記 1: 価値の概念には、名目上の特性、または同一性や配列などの質的属性が含まれます。このような属性の不確実性は、確率または信頼度として表現できます。

[出典: ISO Guide 30:2015, 2.1.2, 修正 - エントリの注 2, 3, 4 を削除。]

3.4.10

内部標準

ターゲット 分析物 (3.3.2) と同様の特性 (スペクトル、物理的、等圧など) を持つ一定量サンプルに添加される化合物。機器の ドリフト (3.6.15) および マトリックス干渉 (3.7.11) を補正するために使用されます。

[出典:ISO/TS 20593:2017, 3.6, 修正済み]

3.4.11

内部標準ライン

分析線の放射エネルギーが比較される 内部標準 (3.4.10) の スペクトル線 (3.6.40)

[出典:ASTM E135:2021]

3.4.12

マトリックスソリューション

溶媒から構成され、可能であれば 分析物 ( 3.3.2) を除く分析サンプル ( 3.3.3) のすべての成分を含む合成溶液

3.4.13

一次参考資料

プライマリRM

分析物 (3.3.2) の高純度材料。材料中の 分析物 (3.3.2) の質量/モル分率が認証されており、対象 分析物 (3.3.2) の国際単位系 (SI) の実現を構成します。

注記 1:一次標準物質は、一次 RMP によって直接的に、または適切な分析法 (例えば、物質収支法) によって物質の不純物を測定することによって間接的にその価値が割り当てられます。

[出典:ISO 17511:2020, 3.35]

3.4.14

参考資料

rm

1 つ以上の特定の特性に関して十分に均質かつ安定した材料であり、測定プロセスでの使用目的に適合することが確立されている

注記 1: RM は一般的な用語です。

注記 2:特性は、定量的または定性的である場合があります (例えば、物質または種の同一性など)

注記 3: 用途には、測定システムの 校正 (3.4.5) 、測定手順の評価、他の材料への値の割り当て、および 品質管理 (3.8.26) が含まれます。

注記 4: ISO/IEC Guide 99:2007, 5.13 にも同様の定義があるが、「測定」という用語の適用を定量的な値に限定している。ただし、ISO/IEC Guide 99:2007 の注 3, 5.13 には、特に「公称特性」と呼ばれる定性的特性が含まれています。

[出典:ISO/ガイド 30:2015, 2.1.1]

3.4.15

参照方法

参考測定手順

同じ種類の量についての他の測定手順から得られた 測定量値 (3.4.16.2) の 測定真正性の評価 (3.8.46 )、 校正 (3.4.5) 、または 標準物質の特性評価 (3.4.14) において、その意図された用途に適した測定結果を提供するものとして認められた測定手順

注記 1:参照メソッドの 精度 (3.8.1) は、決定的なメソッドまたは 一次標準物質 (3.4.13) との直接比較を通じて実証されなければなりません。

[出典: ISO/IEC Guide 99:2007, 2.7, 修正 — 新しい優先用語を追加、項目への注記を追加。]

3.4.16

数量値

数値と参照を組み合わせて量の大きさを表現する

[出典:JCGM 200:2012 1.19]

3.4.16.1

基準数量値

基準値

同種の数量の値との比較の基礎として使用される 数量の値(3.4.16)

注記 1:基準量値は、測定対象の 真の量値 (3.8.45) の場合があり、その場合は未知であるか、または従来の量値の場合は既知である。

注記 2:関連する 測定不確かさを伴う基準数量値 (3.8.20) は、通常、以下を参照して提供されます。
  • a)材料、例えば 認証された標準物質(3.4.9) 。
  • b)デバイス、例えば安定化レーザー。
  • c) 基準測定手順 (3.4.15) 。
  • d)測定標準の比較。

[出典:JCGM 200:2012, 5.18]

3.4.16.2

測定数量値

測定された量の値

測定値

測定結果を表す 数量値(3.4.16)

[出典:JCGM 200:2012, 2.10]

3.4.17

基準標準液

正確に既知の濃度のサンプル元素または対象元素を含む溶液で、機器のテストと校正に使用されます。

[出典:OIML R 100-1:2013, 3.4]

3.4.18

スパイク

通常、回復演習によって分析システムの 系統誤差 (3.8.44) を 推定する目的で、サンプルに追加される既知の量の決定因子。

注記 1: 「スパイク」は、配合と分析の組み合わせによって値が割り当てられる 制御物質 (3.8.8) を作成する方法です。この方法は 、分析物 (3.3.2) を本質的に含まない試験材料が利用可能な場合に実行可能です。バックグラウンドレベルが十分に低いことを確認するために徹底的な分析チェックを行った後、材料に既知量の 分析物を添加します (3.3.2) 。したがって、この方法で調製された参照サンプルは、分析される試験材料と同じ マトリックス (3.3.9) であり、既知の 分析物 (3.3.2) レベルのものです。割り当てられた濃度の 不確実性 (3.8.20) は、添加されていない測定で起こり得る 誤差 (3.8.11) によってのみ制限されます。ただし、追加された 分析物 (3.3.2) の種分化、結合、物理的形態がネイティブ 分析物 (3.3.2) と同じであること、および混合が適切であることを保証するのは困難な場合があります。

[出典:ISO 5667-14:2014, 3.7, 修正 — エントリへの注記を追加。]

3.4.19

標準化

機器の出力を以前に確立された 校正(3.4.5) に調整するプロセス(つまり、 ドリフト補正(3.6.16) )。試薬溶液の濃度の実験的確立

[出典:ASTM E135:2021]

3.4.20

標準液

正確に既知の濃度の元素、イオン、化合物、またはその調製に使用された物質に由来する基の溶液

注記 1:標準溶液は、いくつかの方法のうちの 1 つで標準物質を使用して調製されます。一次標準は、既知の高純度の物質であり、既知の体積の溶媒に溶解して一次標準溶液を得ることができます。滴定液の強度を確立するために化学量論が使用される場合、それは二次標準溶液と呼ばれます。二次標準という用語は、一次標準との比較によって有効成分の含有量が判明している物質にも適用できます。

[出典:ISO 78-2:1999, 3.6, 修正 — エントリへの注記を追加。]

3.4.21

原液

一次標準などの純粋な化学物質から調製された、正確に既知の 分析物 (3.3.2) 濃度の溶液

[出典:ISO 21400:2018, 3.11]

3.4.22

滴定曲線

関連する濃度 (活性) に関連する変数を縦軸とし、滴定剤の量の何らかの尺度、通常は滴定量 (力価) を横軸としてプロットしたもの

注記 1:電気伝導度や測光吸光度など、変数が濃度に直線的に関係する場合、「直線滴定曲線」という表現が使用されます。 pH, pM, またはmV単位の電位など、濃度または活性の対数表現が使用される場合、その曲線は対数滴定曲線と呼ばれます。

[出典:IUPAC オレンジブック:2002]

3.4.23

実用的な参考資料

標準物質 (3.4.14) は日常的な分析管理に使用され、適切な規格が利用可能な場合には NIST 規格およびその他の認知された規格に追跡可能です。

[出典:ASTM A751:2020, 3.2.6]

3.4.24

実用的な標準溶液

標準原液の希釈によって調製され、標準原液中の分析物( 3.3.2)の濃度よりも校正溶液 (3.4.8 )の調製に適した濃度で対象の 分析物(3.3.2) を含む溶液。

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.2.13]

3.5 分析方法および分析機器の定義

3.5.1

原子吸光分析

AAS

元素濃度の定性的決定および定量的評価のための分光分析法。この技術では、自由原子の原子吸光を測定することによってこれらの濃度が決定されます。

注記 1: AAS による分析技術は、原子化の方法に応じて、 フレーム原子吸光分析法 (FAAS) (3.5.6) と 電熱原子吸光法 (ETAAS) (3.5.5) [黒鉛炉原子吸光分析法 (GFAAS) とも呼ばれる] という 2 つの主要なカテゴリーに分類されます。

[出典:ISO 6486-1:2019, 3.2, 修正済み — エントリへの注記を追加。]

3.5.2

原子発光分析

AES

電磁スペクトルの紫外、可視、または 赤外 (3.5.16) 波長領域における発光分光分析に関するもの

注記 1:原子発光 分光法 (3.5.26) は、主にスペクトルの紫外および可視領域、すなわち光学範囲で考慮され、炎、 プラズマ (3.6.32) 、グロー放電、スパーク、直流アーク 発光分光法 (3.5.20) を含む、発光 分光法 (OES) (3.5.20) のさまざまなカテゴリーを生み出すさまざまなサンプリング源を利用します 。

[出典:ASTM E135:2021, 修正 — 記載事項への注記を追加。]

3.5.3

原子蛍光分析

AFS

蒸気相での放射線の吸収に続く、原子による特徴的な電磁放射線の再放出の測定に基づいて化学元素を決定する方法

注記 1:吸収された放射線と再放出された放射線の波長は、同一であっても (原子共鳴蛍光分光分析)、異なっていてもよい。

3.5.4

化学蒸気発生システム

分析物 (3.3.2) は、 化学反応の結果としてガス種が生成されることによってサンプル マトリックス (3.3.9) から分離されます。

注記 1:この技術は 、原子吸光分析法 (AAS) (3.5.1) において、ガス状共有結合水素化物 (As, Bi, Ge, In, Pb, Sb, Se, Sn および Te) を形成する元素の水銀および水素化物生成 AAS (HGAAS) の定量のための冷蒸気 AAS (CVAAS) の形で最も広く応用されている。化学蒸気の発生は 、発光 (3.5.20) および 原子蛍光分光法 (3.5.3) と組み合わせて使用​​することもできます。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.6]

3.5.4.1

冷蒸気原子吸光分析法

CVAAS

原子吸光分析のwhere (3.5.1) サンプルは室温で蒸気である水銀などの揮発性重金属であるため、蒸発ステップが必要ありません。

3.5.4.2

水素化物生成原子吸光分析

HGAAS

原子吸光分析法 (3.5.1) の一種where As, Sb, Se などの金属サンプルを揮発性水素化物に変換することで蒸発させます。

3.5.5

電熱原子吸光分析法

ETAAS

グラファイトでコーティングされた炉を使用してサンプルを蒸発させるタイプの分光分析

注記 1:この技術は主に 原子吸光分析 (3.5.1) で使用するために開発されました。また、電熱 原子発光分光分析法 (ETAES) や電熱原子蛍光分光分析法 (ETAFS) など、適切な類似の表現で、 原子発光 (3.5.2 ) および原子蛍光分光分析 (3.5.3) にも適用されています。

3.5.6

フレーム原子吸光分析法

基底状態にある同じ元素の原子で形成された吸収媒体 (炎) による、特定の波長で元素によって放射される電磁放射線の吸収の測定

注記 1:各元素は特定の波長の放射線を吸収し、吸収された放射線の強度は当該元素の濃度に比例します。

[出典:ISO 3750:2006, 3.1]

3.5.7

火炎放射分光分析

フェス

ランベルト・ベールの法則に従って、火炎中で霧化されたサンプルから発せられる所定の波長範囲の光の測定に基づく化学分析方法

注記 1:分析炎炎分析計の機能は一般に次のとおりです。
  • a)分析対象の溶液が火炎内で分析 対象物の遊離原子または分子化合物を含む蒸気に変化する (3.3.2) 。
  • b) 分析物(3.3.2) の種類および濃度に関する情報を伝える光信号( 分析物(3.3.2) 蒸気から生じる)の選択および検出。
  • c)電気信号の増幅と読み出し。

[出典:ISO 9555-3:1992, 3.1.6, 修正 - エントリへの注記を追加。]

3.5.8

フーリエ変換赤外分光分析

FT-IR分光分析

インターフェログラムが得られる赤外分光法の一種。次に、これをフーリエ変換して振幅波数 (または波長) スペクトルを取得します。

注記 1: FTIR という略語は推奨されません。

注記 2: FT-IR 分光計が他の機器と接続されている場合、そのインターフェースを示すためにスラッシュを使用する必要があります。たとえば、GC/FT-I HPLC/FT-IR, および FT-IR の使用は明示的である必要があります。つまり、IR ではなく FT-IR です。

[出典:ASTM E131:2010]

3.5.9

グロー放電分光分析

GDS

分光計(3.5.22) を使用して、表面で発生したグロー放電から放出される関連強度を測定する方法

注記 1:これは、GDOES と GDMS を含む一般的な用語です。

[出典:ISO 18115-1:2013, 3.10]

3.5.10

グロー放電発光分光分析

GDOES

発光分光計を使用して、表面で発生するグロー 放電(3.6.14) から放出される光の波長と強度を測定する方法

注記 1:この方法は、金属およびその他の非金属固体を定量分析するための分光法です。金属サンプルは直流 プラズマの陰極として使用されます (3.6.32) 。アルゴンイオンによるスパッタリングにより、表面からサンプルを層状に除去します。除去された原子は拡散によって プラズマ (3.6.32) に入ります。光子は励起波とともに放出され、特有の波長を持ち、下流の分光計によって記録され、その後定量化されます。 グロー放電分光法 (3.5.9) は、 鋼 (3.1.17) およびワニスの特性評価のための確立された方法です。

[出典:ISO 18115-1:2013, 3.9, 修正済み — エントリへの注記を追加。]

3.5.11

重量測定

分析化学において、質量に基づいて 分析物 (3.3.2) を定量するために使用される一連の方法

注記 1:この分析方法の主なタイプは、沈殿法、揮発法、電気分析法、およびその他の物理的方法の 4 つです。この方法には 、検体の相を変化させて元の混合物から純粋な形で分離する方法 (3.3.2) が含まれており、定量的な測定となります。

3.5.12

誘導結合プラズマ

ICP

ガスを運ぶチューブを取り囲む高周波 (RF) 負荷コイルによって誘発される交流磁場によってアルゴンの流れの中で生成される高温 放電 (3.6.14)

注記 1:誘導結合プラズマ (誘導結合 RF プラズマまたは誘導結合アルゴンプラズマ) では、ガスへのエネルギー伝達は、誘導コイルまたはインダクターの助けを借りて実現されます (コイル、負荷コイル、作業コイルという用語は使用しないでください)ソースが動作する周波数 (例: 27 または 12 MHz) を指定する必要があり、ガスの種類を定義する必要があります。 プラズマ(3.6.32) は、誘導コイルと同軸に配置された一組の耐火管内および/またはその上に形成され、全体がプラズマトーチを形成する。

[出典:ISO 30011:2010, 3.3.5, 修正 - エントリへの注記を追加。]

3.5.13

誘導結合プラズマ発光分光分析

ICP-OES

プラズマによって励起されたときにサンプルの成分によって放射される電磁放射の強度の測定 (3.6.32)

注1: ​​プラズマに入るサンプル原子は光放射を放射し、その特徴的な波長と強度はそれぞれ元素の識別と濃度の決定に使用される。サンプルは通常、溶液の形で 血漿 (3.6.32) に供給されます。

[出典:ISO 3815-2:2005, 3.1]

3.5.14

誘導結合プラズマ質量分析法

ICP-MS

サンプル導入システム、分析物( 3.3.2)のイオン化のための誘導結合プラズマ (3.5.12) 源、プラズマ/真空インターフェース、およびイオン集束、分離および検出システムを含む質量分析計からなる分析技術

[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 5.23]

3.5.15

イオン選択性電極

伊勢

電位差測定プローブ。適切な参照電極に対して測定したときの出力電位は、試験中の溶液中の選択されたイオンの活性に比例します。

注記 1:これは、認識要素として薄い選択膜またはフィルムに基づく電気化学センサーであり、第 0 種 (酸化還元電解質中の不活性金属)、第 1 種、第 2 種、および第 3 種の他の半電池と同等の電気化学的半電池である。これらのデバイスは、電極酸化還元反応 (第 0, 第 1, 第 2, および第 3 種の電極) を伴うハーフセルとは異なりますが、多くの場合、「内部」または「内部」参照電極として第 2 種電極が含まれています。電位差は、相境界を横切るイオンの選択透過性物質移動(例えば、イオン交換、溶媒抽出、またはその他のメカニズムによる)に関連するギブズエネルギー変化の主成分としての応答(つまり、ISE 対外部参照電極電位の応答)です。 ISE は、完全な電気化学セルを形成するために参照電極 (つまり、「外側」または「外部」参照電極) と組み合わせて使用​​されます。測定された電位差 (ISE 対外部参照電極電位) は、溶液中の特定のイオンの活性の対数に直線的に依存します。 「イオン特異的電極」という表現は推奨されません。「特異的」とは、電極が追加のイオンに反応しないことを意味します。 1 つのイオンに真に特異的な電極はないため、「イオン選択性」の方が適切であると推奨されます。「選択的イオン感受性電極」がイオン選択性電極を説明するために使用されることはほとんどありません。「主」または「一次」イオンは、どの電極が設計されているかを決定するためのイオンです。 ISE が、硝酸塩 ISE などの干渉よりも「主」イオンに対してより敏感であるかどうかは、決して確実ではありません。

[出典:8.3.2.1, IUPAC オレンジブック:2002]

3.5.16

赤外線

IR

赤外線

可視光よりも波長が長い光放射

注記 1:赤外線の場合、780 nm から 1 mm までの範囲は一般に次のように細分されます。
  • IR-A:780nm~1,400nm,
  • IR-B: 1.4 μm ~ 3 μm, および
  • IR-C:3μm~1m

注記 2:赤外線吸収材料の設計では、光源から放射されレンズに到達する赤外線の範囲を考慮する必要があります。

[出典:IEC 60050-845:2020, 845-21-004, 修正 - 項目への注記を削除、項目への新しい注記 2 を追加、「赤外線」を優先用語として追加。]

3.5.16.1

赤外分光法

赤外線 (3.5.16) 振動スペクトルは、分子の離散的な振動エネルギー レベル間の遷移に由来し、エネルギーはこれらの遷移によって入射 赤外線 (3.5.16) ビームから吸収されます。

注記 1:したがって、吸収帯は、吸収物質が存在しない場合に伝達されるエネルギーの減少として現れます。吸収帯の周波数は、振動する分子の原子質量と力定数に関連している可能性があります。

3.5.17

レーザーアブレーション誘導結合プラズマ

レーザーアブレーションICP

レーザービームをサンプル表面に焦点を合わせて材料を侵食し、微粒子を生成する技術

注記 1:アブレーションされた粒子は、その後、サンプリングされた質量の消化とイオン化のために 、誘導結合プラズマ質量分析 (ICP-MS) (3.5.14) 装置の二次励起源に輸送されます。プラズマ トーチ内の励起イオンは、その後、元素分析と同位体分析の両方のために質量分析計検出器に導入されます。

2018 年 5 月 3 日

溶融抽出

溶融金属を回転する熱抽出ディスクの周囲に接触させる急速急冷プロセス

注記 1:急冷速度は 1,000,000 K/秒を超えるか、回転冷却ブロックの短いセグメントを溶融金属合金の浴に挿入することによって「急速に凝固」し、リボン状の合金製品を抽出する処理です。

2019 年 5 月 3 日

分子吸光光度法

気体、液体、または固体を通過する放射線の測定された吸収に関係する領域

注記 1: 190 nm から約 1000 nm の範囲の波長に対応するエネルギーの光子を吸収する分子は、UV/VIS 吸収スペクトルを示します。

注記 2:分子種の UV/VIS 吸収スペクトルは、通常、波長の関数として吸収される放射線に関する何らかの特性のグラフとして表されます。グラフはその種、溶媒、濃度、温度を表しています。

[出典:IUPAC 記号と用語マニュアル、 Part VII: 分子吸収分光法、紫外および可視光 (UV/VIS) (勧告 1988)]

2020年5月3日

発光分光分析

励起時にサンプルの成分によって放射される電磁放射の強度の測定

注記 1:各元素は、明確に定義された特定の波長の放射線を放出し、その強度はその濃度に関連付けられています。

[出典:ISO 3815-1:2005, 3.1]

3.5.20.1

アーク発光分光分析

分光分析 (3.5.26) サンプルは導電性でwhere 、電極 (自己電極) の一方 (または両方) として直接使用できます。

注記 1:非導電性サンプル、粉末または液体の場合、サンプルは通常グラファイトまたはアモルファスカーボン製のサンプル電極内のさまざまなタイプの 放電 (3.6.14) に導入されます。サンプルを運ばない電極は 対極 (3.6.11) と呼ばれ、カーボン、グラファイト、または金属でできています。グラファイト電極とカーボン電極は、電気伝導率と熱伝導率が異なります。アークの特性と動作は、電極の材質と形状、分析ギャップ (アーク ギャップ)、およびサンプル電極の極性に依存します。サンプル電極がプラスの場合、陽極蒸発が起こります。サンプル電極が負の場合、陰極蒸発が発生します。陰極近くの薄い層のみからの放射線が利用される場合、この技術は陰極層アークとして知られています。

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 10.3.4.1]

3.5.20.2

スパーク発光分光分析

分光分析(3.5.26)。 スパーク源where 、比較的高い 精度(3.8.22) と 正確さ(3.8.1) により、生産管理目的などの金属の日常分析に適した源です。

注記 1:金属は、同じ材質の 2 つのサンプル電極 (自己電極) を使用するポイントツーポイント構成で分析できます。最も一般的な手法は、ポイントツープレーン構成、つまり、サンプル材料で作られた平面電極と、分析元素を含まない別の材料で作られた尖った 対向電極 (3.6.11) を使用します。支持電極(銅スパークおよびグラファイトスパーク支持電極技術など)、キャリア電極、回転ディスクまたは回転プラットフォーム電極、真空カップまたは多孔質カップ電極を利用して、さまざまな種類のサンプルを溶液の形で分析できます。

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 10.3.4.2]

3.5.21

電位差測定

溶液中の指示電極と参照電極 (または別の指示電極) の間の電位差の測定。ファラデー電流は流れないため、電流はゼロに保たれます。電位は通常、システムの熱力学特性によって制御されます。

注記 1: 「ゼロ電流ポテンショメトリー」および「ゼロ電流ポテンショメトリー」という表現は推奨されません。 pH および同様の量の測定に推奨される特別な用語はありません。

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 8.5]

3.5.22

分光計

スペクトル変数の関数として 1 つまたは複数のスペクトル帯域の強度を測定するスペクトル装置

3.5.23

シーケンシャル分光計

放射線のいくつかのスペクトル帯域の強度を時間内に次々に、つまり連続的に測定できるようにする 分光計(3.5.22)

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 10.3.2.1.2]

3.5.24

同時分光計

複数のスペクトル帯域の強度を同時に測定できる複数の検出器を備えた 分光計 (3.5.22)

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 10.3.2.1.2]

3.5.25

分光化学分析

サンプルがその成分が放射線を放出または吸収する手順にさらされるプロセス

注記 1:放射線は放射線源によって発生します。サンプル内で探索または決定される元素は 分析物です (3.3.2) 。それは、サンプル中のその量または濃度に関連する特定の吸収または放出によって特徴付けられます。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.2]

3.5.26

分光法

物理システムが相互作用する、または生成する電磁放射による物理システムの研究

注記 1:あるタイプの光学分光法では、放射線は外部源から発生し、システムによって変更されますが、他のタイプでは、放射線はシステム自体の内部で発生します。

[出典:PAC, 1986, 58, 1737 (臨床化学における量と単位: 火炎発光および吸収分光分析におけるネブライザーと火炎の特性 (勧告 1986))]

3.5.27

分光光度計

分光透過率または反射率を測定する光学機器

注記 1:この機器は、光源、モノクロメーター、サンプルチャンバー、光検出器、信号プロセッサー、データプロセッサー、およびインターフェースで構成されます。

3.5.28

熱伝導率測定

サンプルガスの測定は、2つのガス成分間の熱伝導率の違いを利用して、2成分混合物のガス濃度を測定する方法です。

注記 1:現在の伝統的なカタロメータ技術は、熱伝導率だけでなくガスの熱質量も測定するため、測定に歪みが生じます。

3.5.29

滴定

同定された 分析物の濃度を決定するための定量的化学分析 (3.3.2)

注記 1:物質 A の量を決定するプロセス。これは、反応する物質 B の測定 増分 (3.3.6) を加算することにより行われ (ほとんどの場合、滴定剤と呼ばれる標準溶液として、しかし電量滴定のような電解生成によっても)、本質的に A のすべてが反応した終点である点を認識する (示す) ための何らかの手段を提供する。

3.5.30

蛍光X線

電磁放射線とその軌道電子との相互作用の結果として原子が放出する特性 X 線

[出典:PAC, 1994, 66, 2513 (放射分析化学の命名法 (IUPAC 勧告 1994))]

3.5.31

蛍光X線分析

特性波長よりも短い波長の X 線の照射中に 試験部分 (3.3.14) から放出される特性 X 線のエネルギーと強度の測定に基づく分析方法

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 16]

3.5.31.1

エネルギー分散型蛍光X線分析

蛍光 X 線分析法 (3.5.31) 元素の特異性where 、誘導された X 線のエネルギースペクトルを測定することによって得られます。

[出典:PAC, 1982, 54, 1533 (核分析化学で使用される用語集 (暫定))]

3.6 機器の特性および特性に関する定義

3.6.1

吸収路長

吸収媒体を通る放射線経路の長さは、放射線の垂直入射におけるシングルパスセルの場合のセル経路長l に等しい

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002]

3.6.2

吸光度の一致

吸光度が参照セル内の既知濃度の 分析物 (3.3.2) の吸光度と一致するまでサンプルを溶媒で希釈することwhere 、既知 分析物 (3.3.2) の濃度を測定する手順

注記 1:この方法は、ランベルト・ベールの法則が成り立たない場合に特に役立ちます。

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 10.3.5.2.7]

3.6.3

軸方向プラズマ

エンドオンプラズマ

光学検出システムによって真正面から観察される プラズマ (3.6.32)

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.3.1]

3.6.4

バックグラウンド放射線

検出または測定が望まれる線源以外の線源からの放射線

[出典:PAC, 1994, 66, 2513 (放射分析化学の命名法 (IUPAC 勧告 1994)) オレンジブック]

3.6.5

バッファ.バッファ

1つまたは複数の元素が他の元素の放出に及ぼす影響を最小限に抑える傾向がある物質

[出典:ASTM E135:2021, 修正 — エントリに注 1 を追加。]

3.6.6

特徴的な濃度

特徴的な質量

使用した吸収線の波長で ブランク試験溶液 (3.4.1) から 0.004 4 吸光度単位 (1% 吸収) の変化を引き起こす元素の濃度または質量

[出典:OIML R 100-1:2013]

3.6.7

特徴線

気相中の火炎原子発光、吸収または蛍光による 分析物(3.3.2) 濃度の測定に使用されるライン

注記 1: 特性線には、共振線およびその他の線が含まれます。

3.6.8

電荷結合素子検出器

CCD

光子を電気信号に変換する固体検出器技術の一種

注記 1:通常、誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP-OES) に適用されます。

3.6.9

電荷注入デバイス検出器

CID

光子を電気信号に変換する固体検出器技術の一種

注記 1:通常、誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP-OES) に適用されます。

3.6.10

コリメータ

鉛やタングステンなどの放射線吸収材料で作られ、放射線ビームの方向と領域を制限および定義するように設計された装置

[出典:ISO 5576:1997, 2.21]

3.6.11

対極

補助電極

作用電極に流れる電流のバランスをとるために分極を適用する際に一般的に使用される電極

注記 1:通常、非腐食性の材料で作られます。

[出典:ISO 8044:2020, 7.1.39]

3.6.12

直噴バーナー

ネブライザー(3.6.30) とバーナーの機能を組み合わせたもの

注記 1:ここでは、酸化剤と燃料が別々のポートから出てきて、バーナーオリフィスの上で混合されて乱流炎を生成します。最も一般的には、酸化剤はサンプルの吸引と噴霧にも使用されます。ただし、この用途に燃料を使用する場合には、「逆直噴バーナー」という表現が適用される。いずれの場合も、ミストの液滴は スプレーチャンバー (3.6.41) を通らずに直接炎に入ります。

注記 2:よく使用される「総消費量バーナー」という表現は推奨されません。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.3]

3.6.13

D2ランプ

二水素の代わりに重水素を充填した水素(放電)ランプ

注記 1:この置換により、同じ消費電力で強度が 3 倍から 5 倍に増加し、連続体の上限がさらに可視範囲に拡張されます。

3.6.14

放電

トリガーコンデンサ

コンデンサからの一連の放電は別の手段によって開始され、分析ギャップ間の電圧がそれを維持するのに十分ではない値に低下すると消滅します。

[出典:ASTM E135:2021]

3.6.15

ドリフト

測定器の計量特性のゆっくりとした変化

3.6.16

ドリフト補正

機器の 校正(3.4.5) で並進シフトまたは回転シフト、またはその両方を調整するプロセス

[出典:ASTM E135:2021]

3.6.17

噴霧の効率

n

炎に入る 分析物 (3.3.2) の量と吸引された 分析物 (3.3.2) の量の比

注記 1:ɛn は溶媒の量ではなく 分析物の量に関係します (3.3.2) 。その値は 、スプレーチャンバー (3.6.41) から 1 秒あたりに排出される溶液の量と吸引速度を単純に比較するだけでは明確に決定できません。通常、補正は、壁に付着したミスト液滴からの溶媒の部分蒸発による、排出溶液と吸引溶液それぞれの 検体 (3.3.2) 濃度の差に対して行われます。量ɛn は、単に ネブライザ (3.6.30) の動作の特徴ではなく、ネブライザ - バーナー システム全体の特徴です。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.3]

3.6.18

電熱噴霧器

本体に電流を流すことにより、 分析物(3.3.2)の 噴霧に必要な温度まで加熱される装置

注記 1:この技術は主に 原子吸光分析 (3.5.1) で使用するために開発されました。また 、原子発光 (3.5.2) および 原子蛍光分光法 (3.5.3) にも応用されています。 電熱原子吸光分析法 (3.5.5) を参照してください。

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 10.3.4.5]

3.6.19

無電極放電ランプ

EDL

励起性物質が充填され、減圧または希ガス下で密封されたガラス管では、高周波電磁場 (高周波または MW, 300 MHz ~ 3 000 MHz) がガス 放電 (3.6.14) を引き起こし、電磁放射線の放出を引き起こす可能性があります。

注記 1:この現象は長年研究されており、1960 年代にはすでに十分に理解されていました。 EDL は通常、 ホローカソード ランプ (3.6.24) よりも発光強度が高く、電極がないため汚染が少なく、寿命が長いという特徴があります。 EDL は、MW 電界エネルギーによって加速される充填内の自由電子によって動作します。それらはガス原子と衝突し、イオン化してより多くの電子を放出します (「なだれ」効果)エネルギーのある電子は、 プラズマ (3.6.32) 内に存在する重原子粒子と衝突し、その結果、重原子粒子が基底状態からより高いエネルギー レベルに励起されます。次に、 励起エネルギー (3.6.20) が、充填物の組成に応じたスペクトル特性を持つ電磁放射線として放出されます。

3.6.20

励起エネルギー

システムを指定されたより高いエネルギー レベルにするために必要な最小エネルギー

[出典:IUPAC オレンジブック、223]

3.6.21

燃料の少ない炎

内燃機関内で燃料を過剰な空気とともに燃焼させること

注記 1:希薄燃焼エンジンでは、空気と燃料の比率は 65:1 (質量比) まで希薄になる可能性があります。

3.6.22

燃料豊富な炎

燃料と空気の混合物。燃料含有量が理論混合気よりも多い。

注記 1:火炎中の蒸気相で酸化物を容易に形成する元素の微粒化を促進するために、燃料豊富な火炎が選択されることが多くここで, 還元条件は金属酸化物の解離に有利です。

3.6.23

高電圧スパーク

分析ギャップまたは制御ギャップの破壊電圧を超える初期コンデンサ電圧を特徴とする自己点火火花 放電 (3.6.14)

注記 1:一般的なコンデンサの電圧範囲は 10 ~ 20 kV です。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.1.3]

3.6.24

ホローカソード源

ホローカソードランプ

HCL

原子吸光(AA) 分光計(3.5.22) を備えた スペクトル線(3.6.40) 源として使用するために設計された放電ランプ

注記 1: AA 手法を使用して各元素を決定するには、単一素子または複数素子のホローカソードランプが必要です。

注記 2:ホローカソードランプの重要な要件は、測定対象の元素に対して狭い輝線を生成することです。輝線は、低ノイズで良好な キャリブレーション (3.4.5) (できれば線形) を達成するのに十分なスペクトル純度と強度を備えている必要があります。

3.6.25

赤外線検出器

吸収された 赤外線 (3.5.16) を 電気信号に変換するセンサー

注記 1:検出器の主なタイプは、熱検出器と光検出器 (光検出器) の 2 つです。

[出典:ISO 10878:2013, 1.51, 修正 — エントリへの注記を追加。]

3.6.26

インストゥルメンタルドリフト

測定器の計量特性の変化による、時間の経過とともに表示が連続的または段階的に変化すること

注記 1:機器ドリフトは、測定される量の変化にも、物理的干渉による認識された影響量の変化にも関係しません。

[出典:JCGM 200:2012, 4.21]

3.6.27

イオン化効率

イオン化プロセスで使用される電子、イオン、または光子の数に対する、形成されたイオンの数の比率

[出典:ISO 18115-1:2013, 4.273]

3.6.28

誘導結合プラズマトーチ

ICPトーチ

サンプルを支持し、ICP 放電に導入するために使用される装置

注記 1: ICP トーチは通常 3 本の同心の管で構成されており、外側の 2 つは通常石英で作られています。

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.3.6]

3.6.29

線形分散

導関数、d x /d λここで, x は出口スリットの面内のスペクトルに沿った距離、 λは波長です

[出典:ASTM E131:2010]

3.6.30

ネブライザー

原子吸光、発光​​、蛍光、または質量分析のためにサンプル溶液を気液エアロゾルに変換するための装置

[出典:ASTM E135:2021]

3.6.30.1

空気圧ネブライザー

高速ガス流を使用して液体からエアロゾルを生成する ネブライザー (3.6.30)

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.3.19]

3.6.30.2

超音波ネブライザー

超音波周波数で振動している表面に液体を流すことによってエアロゾルが生成される ネブライザー (3.6.30)

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.3.24]

3.6.31

光電子増倍管

光パルスを増幅して測定可能な電気信号に変換する電子装置

注記 1:電子増倍による追加増幅を備えた真空光電管。これは、光電陰極、二次電子増倍プロセスが発生するダイノード チェーンと呼ばれる一連のダイノード、およびアノードで構成されます。所望の応答時間、通過時間、時間広がり、利得、または低暗電流に応じて、円形ケージ構造、線形集束構造、ベネチアンブラインド構造、ボックスアンドグリッド構造など、さまざまなタイプのダイノード構造が開発されています。一部の特殊なダイノード構造では、追加の電界または磁界との組み合わせが可能です。ストリップダイノード光電子増倍管は、光電陰極と、それに続く絶縁基板上の薄いダイノード材料で構成されています。連続ストリップ光電子増倍管では、2 つのストリップ ダイノードが並列に配置されます。 2 つのストリップの端に印加される電位により、連続したストリップのダイノード全体に電界が生成され、ダイノードに沿って電子の増倍が発生します。抵抗ストリップ磁気光電子増倍管では、電子が交差する電場と磁場の中を移動できるように、均一な磁場がストリップの面に適用されます。チャネル光電子増倍管光電陰極は、光電子用のチャネル電子増倍管 (CEM) システムと、最終的な電子流を収集するアノードで構成されます。 CEM の基本部分は、半導体内面を備えたチューブです。一般に、光電面に向かう陽イオンの加速を抑制するために湾曲しています。イメージング用途では、マイクロ チャネルと呼ばれる多数の小さなチャネルをアレイとして構築できます。

[出典:PAC, 1995, 67, 1745 (分光化学分析における命名法、記号、単位およびそれらの使用法 - XI. 放射線の検出 (IUPAC 勧告 1995))]

3.6.32

プラズマ

少なくとも部分的にイオン化されており、さまざまな種類の粒子、つまり電子、原子、イオン、分子を含む気体

注記 1:プラズマは全体として電気的に中性です

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 10.3.1.1.1]

3.6.33

燃焼前の期間

放電開始後の時間間隔 (3.6.14)、 放出された放射線エネルギーが分析目的で記録されない期間

[出典:ASTM E135:2021]

3.6.34

プレミックスバーナー

燃料ガスが燃焼ゾーンに到達する前に酸化ガスと混合されるバーナー

[出典:ASTM E135:2021]

3.6.35

一次X線

X線源からの射出ビーム

[出典:ASTM E135:2021]

3.6.36

放射状プラズマ

光学検出システムによって側面から観察された プラズマ (3.6.32)

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.3.20]

3.6.37

逆線形分散

微分値 d λ/d x where λは波長、 x スペクトルに沿った距離です。

[出典:ASTM E135:2021]

3.6.38

二次蛍光

サンプル内の他の元素からの特性放射線によるサンプル内の 分析物 (3.3.2) 元素のイオン化。その結果、測定信号が増強されます。

[出典:PAC, 1980, 52, 2541 (分光化学分析における命名法、記号、単位およびそれらの使用法 - IV X 線発光分光法)]

3.6.39

スペクトルスリット幅

出口スリットの機械的幅を出口スリット面火花の 線形分散 (3.6.29) で割った値

[出典:ASTM E131:2010]

3.6.40

スペクトル線

原子およびイオンのスペクトル線は、それぞれ原子とイオンのエネルギー準位間の特定の電子遷移に由来します。

注記 1:過去には、原子線をアーク線、イオン線をスパーク線と表すことが一般的でした。この用法は現在では間違っていると考えられています。線が原子またはイオンの遷移によるものであることを示す正しい方法は次のとおりです。元素記号 I の波長、たとえば Cu I 324.7 n元素記号 II の波長、たとえば Cu II 213.6 n同様に、より高いイオン化状態の場合、線の種類は III, IV などで表されます。

[出典:IUPAC オレンジブック、118]

3.6.41

スプレーチャンバー

ネブライザー (3.6.30) と 誘導結合プラズマ (ICP) トーチ (3.6.28) の間に配置される装置。その機能は、サイズに応じてエアロゾル液滴を分離することで、非常に細かい液滴のみが プラズマ (3.6.32) に入り、大きな液滴は排出またはポンプで廃棄されるようにすることです。

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.3.21]

3.6.42

表示高さ

観測高さ

測定された放射が発生where 放射状プラズマ (3.6.36) 内の位置

注記 1:観察高さは、通常、ロードコイル上の距離 (ミリメートル単位) として与えられます。

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.3.25]

3.6.43

ゼーマン効果

外部磁場の存在による スペクトル線の分割またはシフト (3.6.40)

[出典:PAC, 1996, 68, 2223 (光化学で使用される用語集 (IUPAC 勧告 1996)) オレンジブック 2284]

3.7 干渉に関する定義

3.7.1

バックグラウンド補正

分析波長での強度を、根底にある スペクトル背景による強度に対して補正するプロセス (3.7.19)

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.3.2]

3.7.2

励起干渉

マトリックス干渉(3.7.11) 。 校正(3.4.5) or 試験溶液(3.3.16) の マトリックス(3.3.9)が 血漿(3.6.32)に導入されたとき、血漿(3.6.32) 条件の変化による 感度(3.8.36) の変化として現れる 。

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.3.5]

3.7.3

要素間補正

干渉補正

スペクトル干渉補正技術。他の波長で干渉元素の濃度を測定した後、 検体 (3.3.2) の波長で発光する干渉元素からの発光寄与を、見かけの 検体 (3.3.2) の 発光から差し引く。

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.3.10]

3.7.4

干渉線

近くの スペクトル線 (3.6.40) からの放射は、必要な線の強度の測定を乱す可能性があります。これらの線は干渉線と呼ばれます。

[出典:IUPAC オレンジブック、159]

3.7.5

妨害物質

(電気分析化学において) 測定対象のイオン以外の物質で、サンプル溶液中のその存在がセルの測定起電力に影響を与えるもの

注記 1:干渉物質は、「電極/電気化学」干渉と「化学」干渉の 2 つのクラスに分類されます。最初のクラスの例は次のとおりです。
  • a)測定対象のイオンに対して同様の応答を示し、その存在により一般に測定対象のイオンの活性 (または濃度) が明らかに増加する物質 (例: Ca2+ 電極の場合は Na +)
  • b)電解質が高濃度で存在すると、かなりの液絡電位差が生じたり、活量係数の大幅な低下や初期のドナン排除失敗が生じたりします。化学的干渉として認識されるべき 2 番目のクラスの物質には、以下が含まれます。
  • c)測定対象のイオンと相互作用して、その活性または見かけの濃度を低下させる種。電極は真の活性 (たとえば、Ag+ の測定に存在する CN -) を報告し続けますが、非常に希薄な溶液であってもイオンの活性と濃度の間にはかなりのギャップが発生します。このような状況下では、イオン濃度の測定に問題が生じる可能性があります。
  • d)膜自体と相互作用し、表面をブロックしたり、その化学組成を変化させたりする物質 [つまり、液体またはポリ塩化ビニル (PVC) 膜電極の有機溶媒] は、干渉または電極毒としてグループ化されます。

[出典:PAC, 1994, 66, 2527(イオン選択性電極の命名法に関する勧告 (IUPAC 勧告 1994))]

3.7.6

干渉の軽減

機器条件の変更とは別に、さまざまな種類の干渉によって生じる分析 誤差 (3.8.11) を軽減または排除するために使用される技術

注記 1:現在使用されているものの一部は 3.7.6.1 から 3.7.6.4 に記載されています。

3.7.6.1

参照要素テクニック

分析対象物の測定値 (3.3.2) をwhere 元素の測定値 (3.7.7) と比較する手法

注記 1:この技術は主に非特異的干渉を最小限に抑えるために使用されます。

3.7.6.2

分析物添加技術

スペクトル干渉 (3.7.18) ではなく、特定および非特定の干渉の両方から生じる 誤差 (3.8.11) が最小化されるwhere

3.7.6.3

シミュレーション技術

分析対象のサンプル溶液と量的組成が十分に類似した参照溶液を使用して、参照溶液とサンプル溶液の干渉が同等になるようにするwhere

3.7.6.4

バッファー追加技術

分析物 (3.3.2) の測定の干渉物質濃度の変動に対する感度を低くする目的で、[ 分光化学緩衝液 (3.7.17) と呼ばれる] 添加剤をサンプル溶液と参照溶液の両方に加えるwhere

3.7.7

内部標準化

参照要素

内部標準 (3.4.10) からの信号を使用して マトリックス干渉 (3.7.11) を補正する技術

3.7.8

等圧オーバーラップ

分析物 (3.3.2) イオン間の基本的なスペクトルの重複

注記 1: 2 つの元素が本質的に同じ質量の同位体を持つwhere 、等重重なりが存在します。 36 m/z 未満では等圧干渉がないことが注目に値します。

3.7.9

マスキング試薬

本質的に非反応性の形態に変換することによって遊離金属イオンまたはリガンドの濃度を低下させ、それによって測定を妨げる望ましくない化学反応を防ぐ物質。

3.7.10

マトリックス効果

添加剤を除くすべての付随物による複合干渉

[出典:10.3.4.3, IUPAC オレンジブック:2002]

3.7.11

マトリックス干渉

非スペクトル干渉

校正 (3.4.5)のマトリックス(3.3.9 )と 試験溶液(3.3.16) の間の違いによって引き起こされる非スペクトル性質の干渉

3.7.12

マトリックスマッチング

分析結果に対する マトリックス干渉 (3.7.11) の影響を最小限に抑えるために使用される手法。これには、酸およびその他の主要な溶質の濃度を 試験溶液 (3.3.16) の濃度と一致させる 校正溶液 (3.4.8 ) の調製が含まれます。

[出典:ISO 15202-3:2004, 3.3.16]

3.7.13

熱分解技術

試験サンプルの高温熱分解 (3.3.15) 、またはある化学形態から別の化学形態への変換に使用される技術

注記 1:主に予備濃縮の方法として意図されたものではないが、熱分解技術は、 試験サンプル (3.3.15) の マトリックス (3.3.9) から分析物 ( 3.3.2) を分離するために使用できる。炉熱分解と呼ばれる技術では、測定対象の元素の揮発性種を生成するために必要なガス流(水素、酸素、窒素、塩素など)が、加熱された炉内の 試験サンプル(3.3.15) 上を通過します。 分析物 (3.3.2) は ガス流に乗って炉から出るか、キャリアガスに同伴されます。ガス流中の 分析物 (3.3.2) は、吸収溶液、カーボンまたはその他のフィルター上、または冷たい表面での凝縮によって収集できます。水銀の場合、これは貴金属との融合によっても可能です。次に、分析 対象物 (3.3.2) を加熱することによってトラップから掃き出し、分析用のサンプリング ソースに放出します。 試験サンプル (3.3.15) を試薬と混合して、加熱により揮発し、蒸留により分離される揮発性化合物を生成することもできます。金属サンプルは陽極酸化により溶解できます。この技術は、金属や合金の介在物や卑金属相を酸化および溶解するためにも使用できます。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.9]

3.7.14

自己陶酔

原子 (または分子) から放出される放射エネルギー量子が、同じ放出源内に存在する同じ種類の原子によって吸収されるときに、有限の厚さの放出源で発生する現象

注記 1:吸収されたエネルギーは、通常、エネルギーの衝突伝達によって、あるいは同じまたは他の周波数の放射エネルギーの放出によって消散されます。結果として、光源から放射される スペクトル線 (3.6.40) (またはバンド成分) の観測される放射強度は、同じ数の放射原子を持つ光学的に薄い光源からの放射強度よりも小さくなる可能性があります。自己吸収は、均一かどうかにかかわらず、すべての放出源である程度発生する可能性があります。

[出典:オレンジブック、242 PAC, 1996, 68, 2223 (光化学で使用される用語集 (IUPAC 勧告 1996))]

3.7.15

分光化学添加剤

妨害物質の濃度変化に対する分析要素の測定の感度を低くする目的でサンプルおよび参照サンプルに添加される添加剤

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.1.6]

3.7.15.1

分光化学希釈剤

取り扱いを容易にするため、または望ましくない マトリックス効果を抑制するために、サンプルの嵩を増やすためにサンプルに添加される物質 (3.7.10)

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.1.6]

3.7.15.2

分光化学キャリア

サンプル材料の蒸気をソースの励起領域に輸送するのに役立つガスを発生させる添加剤

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.1.6]

3.7.16

溶質揮発干渉

併用物質の存在下または非存在下で 分析物(3.3.2) の揮発が不完全な場合の、乾燥エアロゾル粒子の揮発速度の変化による干渉

注記 1:これらの干渉は、空気アセチレン炎中で Mg と Al が MgAl2O4 を形成する場合のように、 分析物 (3.3.2) と干渉剤が異なる熱安定性の新しい相を形成する場合には特異的であるか、Ag が ThO2 中に分散している場合のように、 分析物 (3.3.2) が単に大過剰の干渉剤中に分散している場合には非特異的である可能性があります。溶質の揮発による干渉は必ずしも信号を抑制するわけではありません。固体エアロゾル粒子の爆発的な崩壊とその結果としての増強を引き起こす化合物による影響もこのグループに属します。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.3]

3.7.17

分光化学バッファー

干渉物質の濃度変化に対する分析要素の測定の感度を低くすることを目的とした緩衝液

注記 1:分光化学緩衝剤として機能する添加剤は、3.7.17.1 から 3.7.17.6 に記載されている。

3.7.17.1

サプレッサー

干渉物質による発光、吸収、または光散乱を低減し、スペクトル干渉を除去または低下させる添加剤

3.7.17.2

リリーサー

干渉物質と優先的に化合物を形成することにより 、溶質揮発の干渉 (3.7.16) を軽減し、 検体 (3.3.2) の反応や干渉物質が熱的に安定な化合物に入るのを防ぐ添加剤

3.7.17.3

イオン化バッファー

火炎ガス中の自由電子濃度を増加させ、イオン化の程度を抑制して安定化させるために添加される添加剤

3.7.17.4

揮発性の

より揮発性の化合物を形成することによって、またはすべての 分析物 (3.3.2) 粒子の総表面積を増加させることによって、揮発する割合を増加させる添加剤 [例: 爆発性の崩壊または高揮発性マトリックス(3.3.9) への分析物(3.3.2) の分散による]

3.7.17.5

揮発分除去剤

揮発性、またはその一部の成分の揮発性を下げるためにサンプルに追加される物質

注記 1:典型的な揮発分除去剤は炭素であり、タングステンまたはホウ素の分析に使用すると耐火性炭化物が生成されます。

3.7.17.6

飽和器

干渉曲線の飽和プラトーに達するのに十分な高濃度で干渉物質をサンプル溶液に添加します。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.3]

3.7.18

スペクトル干渉

分析対象物 (3.3.2) によって放出または吸収された放射線と、機器によって検出された他の放射線との不完全な分離

注記 1:スペクトル干渉は通常、モノクロメータのスペクトル帯域幅に大きく依存します。スペクトル干渉が発生する可能性があります。
  • a) 炎発光分光分析法 (FES) (3.5.7) では、以下のとおりです。
    • 付随物によって放出される放射線[スペクトル連続体、分子バンド、または原子線( 干渉線(3.7.4) と呼ばれる)スペクトル干渉は、検出器に到達する迷走放射線や散乱放射線、スペクトル ゴースト、または炎の背景に対する付随物質の間接的な影響からも発生する可能性があります。
  • b)フレーム原子吸光分析法 (FAAS) (3.5.6) および/またはフレーム原子蛍光分析法 (FAFS) において、以下による:

    • 付随物質の分子または原子線の重なりによる放射線の吸収または蛍光。
    • モノクロメーターによって送信または受信される付随物質の熱放射。
    • 放射線源が変調されていない場合、光検出器は迷走放射線として検出される。
    • 付随物によって形成される不揮発粒子による線源放射線の散乱。
    • 炎の中での空白の背景の吸収または散乱に対する付随物質の間接的な影響。
    • 特に連続光源を使用する場合、モノクロメータのスペクトル帯域幅内で、分析線に加えて、対応する放射線が光源によってたまたま放射された場合の外来線の吸収および/または蛍光。

注記 2:誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP-OES) におけるスペクトル干渉は、分析信号または信号の バックグラウンド補正 (3.7.1) 点のいずれかで発生します。高濃度元素のライン放射からの迷光。別の元素からの スペクトル線 (3.6.40) の重なり。または分子バンドスペクトルの未解決の重複。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.3]

3.7.19

スペクトル背景

分析物 (3.3.2) および重複する線が存在しない場合に、分析物 (3.3.2) の線の波長またはエネルギーで測定される強度

[出典:ASTM E135:2021]

3.7.20

スペクトルバックグラウンド補正

スペクトルバックグラウンド (3.7.19) たとえば、弱く広い吸収帯を持つ不純物の存在から生じるサンプルの吸光度。これは、 分析物 (3.3.2) の 吸光度からグラフまたは代数的方法によって減算することで求められます。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.5.2.3]

3.7.21

滴定エラー

滴定剤の量の差、またはそれに対応する滴定される物質の量の差。次の式で表されます: (終点値) - (当量点値)

[出典:IUPAC オレンジブック:2002]

3.7.22

気相干渉

気相中で 解離(3.7.23) 、イオン化または励起された 分析物(3.3.2) の割合の変化

注記 1:後者は自由原子イオンの形成も含むため、(「解離」ではなく)「原子化」という言葉はここでは適切ではありません。これらの干渉は、それぞれ解離、イオン化、 励起干渉と呼ばれます (3.7.2) 。付随物が火炎温度を変化させると、 励起干渉 (3.7.2) が 発生する可能性があります。実験的には、これらの干渉は 、分析物 (3.3.2) を吸引するためにツイン ネブライザー (3.6.30) が使用され、別々に干渉する場合でも発生するため、容易に認識できます。このタイプの干渉はすべて特定のものです。

[出典:IUPAC オレンジブック: 2002, 10.3.4.3]

3.7.23

解離した

気相中の遊離分子からの自由な中性原子から形成される

3.8 手法の特徴

3.8.1

正確さ

測定の精度

測定精度

測定量の測定量値 (3.4.16.2) と測定量の 真の量値 (3.8.45) の間の一致の近さ

注記 1: 「測定精度」という概念は量ではなく、数値が与えられるものではありません。 測定誤差が小さいほど、測定はより正確であると言われます (3.8.11) 。

注記 2: 「測定精度」という用語は 測定の真度 (3.8.46) に使用すべきではなく、「 測定精度 (3.8.22) 」という用語は「測定精度」に使用すべきではありませんが、これらの概念は両方とも関連しています。

注記 3: 「測定精度」は、測定対象に起因する測定量値間の一致の近さとして理解される場合があります。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.13]

3.8.2

算術平均

平均


一連の観測値の合計を次の式で計算された観測値の数で割った値。
どこ
x ii = 1, 2, 3 ... n のパラメータの個別の値です。
n観測値の数です。

注記 1:すべての合計は 1 からn までとられます。算術平均は、母平均の不偏推定値です。つまり、

[出典:PAC, 1994, 66, 595 (化学分析結果の表示に関する命名法 (IUPAC 勧告 1994))]

3.8.3

バックグラウンド相当濃度

BEC

バックグラウンド信号と同じ強度の 分析物 (3.3.2) 信号を生成するのに必要な元素濃度

[出典:ISO 11885:2007, 3.3]

3.8.4

研究室間の標準偏差

異なる研究室で同じ方法を使用して同じ材料で得られた結果の 標準偏差 (3.8.42)

[出典:ASTM E135:2021]

3.8.5

バイアス

測定バイアス

系統的な測定誤差の推定 (3.8.44)

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.18]

3.8.6

信頼レベル

信頼係数

信頼区間または統計的適用範囲に関連付けられた確率の値 (1 − α )

注 1: (1 − α ) は、多くの場合パーセンテージで表されます。

注記 2:場合によっては、信頼レベルは状況のニーズによって決まります。他のすべてのインスタンスでは、1- を使用します。 =0.95 を推奨します。

3.8.7

管理図

管理限界を含むチャート。その測定基準に関してプロセスを誘導するために、一連のサンプルの何らかの統計的測定値が特定の順序でプロットされています。

注記 1:特定の順序は、通常、時間またはサンプル番号の順序に基づいています。

注記 2:管理図は、測定値が最終的な製品またはサービスの特性と相関するプロセス変数である場合に最も効果的に機能します。

[出典:ISO 3534‑2:2006, 2.3.1, 修正済み]

3.8.7.1

シューハート管理図

ランダムな原因によるプロットされた測定値の変動と特殊な原因による変動を区別することを主な目的としたシューハート管理限界を含む 管理図 (3.8.7)

注記 1:これは、プロセスを評価するための属性 (例えば、不適合比率) を使用するグラフである場合もあれば、プロセスを評価するための変数 (例えば、平均や範囲) を使用するグラフである場合もあります。例は次のとおりです。
  • a) X 棒グラフ — 変数の平均値を制御するためにサンプル平均がプロットされます。
  • b) Rチャート — 変数の変動性を制御するためにサンプル範囲がプロットされます。
  • c)チャート — サンプル 標準偏差 (3.8.42) は、変数の変動性を制御するためにプロットされます。
  • d) s 2チャート — 変数の変動性を制御するために標本分散がプロットされます。
  • e) C チャート — 不良品の数 (バッチごと、日ごと、機械ごとなど) がプロットされます。

[出典:ISO 3534‑2:2006, 2.3.2, 修正 — エントリに注記 1 を追加。]

3.8.8

制御材料

内部 品質管理 (3.8.26) の目的で使用され、試験材料に使用されたものと同じまたは同じ測定手順の一部が適用された材料。

注記 1:注記 1: 参考物質 (3.4.14) を 対照物質として使用できます。理想的な対照物質は認証されたものです。

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 18.6.1]

3.8.9

自由度

観測システムの仕様内で任意に割り当てることができる値の数を示す統計量。

注記 1:n 測定値と 1 つの推定パラメーター (平均) を使用した単純な複製の場合、 v = n -より一般的には、多変数計算の場合、自由度の数は観測値の数から近似パラメータの数を引いたものに等しくなります。

[出典:PAC, 1994, 66, 595 (化学分析結果の表示に関する命名法 (IUPAC 勧告 1994))]

3.8.10

偏差

d i

観測値と、それが属する集合の 算術平均 (3.8.2) との差。次の式で計算されます。

どこ
x iは観測値です。
集合の算術平均です。

[出典:PAC, 1994, 66, 595 (化学分析結果の表示に関する命名法 (IUPAC 勧告 1994))]

3.8.11

エラー

測定誤差

測定誤差

測定数量値 (3.4.16.2) から 基準数量値 (3.4.16.1) を引いた値

注記 1: 「測定誤差」の概念は、両方の場合に使用できます。
  • a)参照すべき単一の基準数量値がある場合。これは、無視できる 測定不確かさ (3.8.20) をもつ測定数量値を使用した測定標準を用いて 校正 (3.4.5) が行われた場合、または従来の数量値が与えられた場合に発生します。この場合、測定誤差は既知です。
  • b)測定量が固有の 真の量値 (3.8.45) または無視できる範囲の真の量値のセットによって表されると想定されている場合。この場合、測定誤差は不明です。

注記 2:測定誤差を製造上の誤差や間違いと混同してはならない。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.16]

3.8.12

楽器のバイアス

反復表示の 平均 (3.8.2) から 基準数量値 (3.4.16.1) を差し引いたもの

[出典:JCGM 200:2012, 4.20]

3.8.13

研究室内比較

所定の条件に従って、同じ実験室内で同一または類似の項目についての測定または試験の組織、実施および評価

[出典:ISO/IEC 17025:2017, 3.4]

3.8.14

中精度測定条件

中精度条件

同じ測定手順、同じ場所、長期間にわたる同じまたは類似の物体での反復測定を含む一連の条件のうちの測定条件ですが、変更を伴う他の条件が含まれる場合があります。

注記 1: 変更には、新しい 校正 (3.4.5) 、校正者、オペレーター、および測定システムが含まれる場合があります。

注記 2:条件の仕様には、実用的な範囲で、変更された条件と変更されていない条件を含める必要があります。

注記 3:化学では、この概念を表すために「連続測定精度条件」が使用されることがあります。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.22]

3.8.15

中程度の測定精度

中精度

一連の中間精度測定条件下での 測定精度 (3.8.22)

注記 1:関連する統計用語は ISO 5725-3 に記載されています。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.23]

3.8.16

検出限界

LOD

検出限界

DL

所定の測定手順によって得られる 測定量値 (3.4.16.2) で、材料中に成分が存在しないと誤って主張する確率がβである場合、その存在を誤って主張する確率αが与えられます。

注記 1: IUPAC は、 αβのデフォルト値を 0.05 に等しいと推奨しています。

注記 2: 「検出限界」に対して「 感度 (3.8.36) 」という用語を使用することは推奨されません。

注記 3:検出限界は次のように計算されるものとする。

X s 3秒

どこ
Xは検出限界です。
sは、試薬ブランク溶液の少なくとも 3 回の測定の異常値のない結果の 標準偏差 (3.8.42) です。

[出典: ISO/IEC Guide 99:2007, 4.18, 修正 — エントリの注 2 を削除、エントリの新しい注 3 を追加。]

2017/8/3

定量限界

定量限界

LOQ

所定の 信頼水準 (3.8.6) で定量化できる 分析対象物 (3.3.2) の最小量

注記 1:定量限界は、ブランク測定の 標準偏差 (3.8.42) の 10 倍として計算できます。

注記 2: LOQ 値は 、分析対象物の定量的測定 (3.3.2) を正確に行うためのしきい値として使用できます。

[出典:ISO 18158:2016, 2.4.3.5]

18/8/3

直線性

測定結果(信号)と測定対象成分の量(濃度)との直線関係

[出典:ISO 11885:2007, 3.9]

2019/8/3

長期安定性

長期間にわたる 標準物質 (3.4.14) 特性の 安定性 (3.8.39)

[出典: ISO Guide 30:2015, 2.1.17]

2020年8月3日

測定の不確かさ

測定の不確かさ

不確実性

使用された情報に基づいて、測定量に起因する 数量値 (3.4.16) の分散を特徴付ける非負のパラメーター

注記 1:測定の不確かさには、定義上の不確かさだけでなく、測定標準の補正や割り当てられた数量値に関連する成分などの系統的な影響から生じる成分も含まれます。場合によっては、推定された系統的効果が補正されず、代わりに関連する測定の不確実性成分が組み込まれることがあります。

注記 2:パラメータは、たとえば、標準測定不確かさと呼ばれる 標準偏差 (3.8.42) (またはその指定倍数)、または指定されたカバレッジ確率を持つ区間の半幅とすることができます。

注記 3: 測定には、一般に多くの要素である不確実性が含まれます。これらの一部は、一連の測定からの数量値の統計的分布から測定の不確かさのType A 評価によって評価でき、 標準偏差によって特徴付けることができます (3.8.42) 。測定の不確かさのType B 評価によって評価できる他の成分も、経験または他の情報に基づく確率密度関数から評価される 標準偏差 (3.8.42) によって特徴付けることができます。

注記 4:一般に、所定の情報セットについて、測定の不確かさは、測定対象に起因する記載された 数量値 (3.4.16) に関連付けられていると理解されます。この値を変更すると、関連する不確実性が変更されます。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.26]

3.8.21

最小標準偏差

最小の変動条件下で得られた試​​験材料の結果の 標準偏差 (3.8.42)

[出典:ASTM E135:2021]

3.8.22

測定精度

精度

指定された条件下で同じまたは類似の物体について測定を反復することによって得られる、表示または 測定された数量値間の一致の近さ(3.4.16.2)

注記 1:測定精度は、通常、指定された測定条件下での 標準偏差 (3.8.42) 、分散、または変動係数などの不正確さの尺度によって数値的に表されます。

注記 2: 「指定された条件」には、例えば、 測定の再現性条件 (3.8.33.1) 、 測定の中間精度条件 (3.8.14) 、または 測定の再現性条件 (3.8.34.1) が 考えられます (ISO 5725-1:1994 を参照)

注記 3:測定精度は 、測定再現性 (3.8.33) 、 中間測定精度 (3.8.15) 、および 測定再現性 (3.8.34) を定義するために使用されます。

注記 4: 「測定精度」は、測定 精度 (3.8.1) を意味するものとして誤って使用されることがあります。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.15]

3.8.23

外れ値

そのセットの他のメンバーと矛盾する値のセットのメンバー

注記 1: ISO 5725-2 は 、真性 (3.8.46) および 精度 (3.8.22) 実験における外れ値を特定するために使用される統計検定と有意水準を指定しています。

[出典:ISO 5725-1:1994, 3.21]

3.8.24

測光直線性

測光システムの検出器に入射する放射パワーとシステムによって提供される測定可能な量との間に線形関係を生み出す測光システムの能力

注記 1:単純な検出器と増幅器の組み合わせの場合、その関係は、入射放射パワーとメーターの針または記録ペンのたわみとの間に正比例する。

[出典:ASTM E131:2010]

3.8.25

品質保証

品質要件が満たされるという確信を与えることに重点を置いた品質管理の一部

[出典:ISO 9000:2015, 3.3.6]

3.8.26

品質管理

品質要件を満たすことに重点を置いた品質管理の一環

[出典:ISO 9000:2015, 3.3.7]

3.8.27

ランダムな測定誤差

測定のランダム誤差

ランダムエラー

測定誤差 (3.8.11) の成分で、反復測定で予測不可能な方法で変化するもの。

注記 1:ランダム測定誤差の 基準量値 (3.4.16.1) は、 同じ測定量の無限の反復測定から得られる平均である。

注記 2:一連の反復測定のランダムな測定誤差は、一般にゼロであると想定される期待値とその分散によって要約できる分布を形成します。

注記 3:ランダム測定誤差は、測定誤差から系統的測定誤差を引いた値に等しい。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.19]

3.8.28

ランダムな変動

ランダムエラー (3.8.27) による 分析の 精度 (3.8.22) の制限

注記 1:非常に大きな吸光度または非常に小さな吸光度を測定する場合、ランダムな変動による不確実性が特に大きくなります。吸光度測定でより高い 精度 (3.8.22) を得るには、吸光度が 0.1 ~ 1.0 の範囲になるようにサンプル濃度またはセルの経路長を調整する必要があります。理論上の最小 誤差 (3.8.11) は、熱雑音が制限されている検出器、たとえば光電管またはフォトダイオードを備えた 分光計 (3.5.22) の場合、最高 精度 ( 3.8.22) の吸光度で約 0.43, ショットノイズが制限されている検出器、たとえば光電子 増倍管 (3.6.31) を備えた分光計 (3.5.22) の場合、約 0.86 で発生します。

[出典:IUPAC オレンジブック:2002, 10.3.5.2.8]

3.8.29

回帰分析

予測の組み合わせX に関して従属変数Y のセットをモデル化するための統計的手法の使用

注記 1:多重線形回帰 (MLR) や部分最小二乗法 (PLS) などの手法が含まれます。

[出典:PAC, 1997, 69, 1137 (計算による薬物設計で使用される用語集 (IUPAC 勧告 1997))]

3.8.30

相対標準偏差

s r

標準偏差 (3.8.42) を系列の平均で割った値は、次のように計算されます。

どこ
s分散の正の平方根です
は系列の平均です

注 1:正規分布の 標準偏差 (3.8.42) を表すシグマ ( σ ) と ' s ' は、シグマ ( σ ) が無限の測定値から導出される理想化された母集団 標準偏差 (3.8.42) を意味するのに対し、' s ' は有限数から導出される標本 標準偏差 (3.8.42) を表すというだけです。

[出典:PAC, 1994, 66, 595 (化学分析の結果の表示のための命名法 (IUPAC 勧告 1994)) オレンジブック]

3.8.31

相対検出限界

原子分率、モル分率または重量分率で与えられる、分析される物質の量に対する マトリックス (3.3.9) 内で検出可能な物質の最小量 (3σ 基準)

注記 1:多くの場合、誤って「感度」(3.8.36) と呼ばれます。

[出典:PAC, 1979, 51, 2243 (微量分析法の一般的側面 - IV. 表面分析技術の命名法、標準手順および実験データの報告に関する推奨事項)]

3.8.32

相対標準測定の不確かさ

標準測定の不確かさを 測定数量値の絶対値で割った値 (3.4.16.2)

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.32]

3.8.33

再現性

測定再現性

一連の測定再現性条件下での 測定精度 (3.8.22)

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.21]

3.8.33.1

測定の再現性条件

再現性条件

同じ測定手順、同じオペレータ、同じ測定システム、同じ動作条件、同じ場所を含む一連の条件のうちの測定条件であり、同じまたは類似の対象物で短期間に測定を反復するもの

注記 1:化学では、この概念を表すために「連続測定精度条件」という表現が使用されることがあります。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.20]

3.8.33.2

再現性の限界

r

再現性条件 (3.8.33.1) で得られた 2 つのテスト結果間の絶対差が 95% の確率で期待できる値以下であると予想されます。

[出典:ISO 5725-1:1994, 3.16]

3.8.33.3

再現性標準偏差

再現性条件 (3.8.33.1) で得られたテスト結果または測定結果の 標準偏差 (3.8.42 )

注記 1:これは 、再現性条件 (3.8.33.1) の下でのテストまたは測定結果の分布の分散の尺度です。

注記 2: 同様に、「再現性分散」および「再現性変動係数」 は、再現性条件下での試験または測定結果のばらつきの尺度として定義および使用できます (3.8.33.1) 。

[出典:ISO 3534‑2:2006, 3.3.7]

3.8.33.4

再現性相対標準偏差

r

母集団の平均に対するばらつきの程度を示すために使用される尺度

注記 1: 相対標準偏差 (RSD) (3.8.30) は、 定量的研究における 精度 (3.8.22) の有用な尺度であり、 再現性条件 (3.8.33.1) での 精度 (3.8.22) を反映します。 RSD は変動係数とも呼ばれます。

3.8.34

再現性

測定再現性

測定の再現性条件下での 測定精度 (3.8.22)

注記 1:関連する統計用語は ISO 5725-1:1994 および ISO 5725-2:2019 に記載されています。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.25]

3.8.34.1

再現性測定条件

再現性の条件

さまざまな場所、オペレーター、測定システムを含む一連の条件のうちの測定条件、および同じまたは類似の物体での反復測定

注記 1:測定システムが異なれば、使用する測定手順も異なります。

注記 2: 仕様書では、実用的な範囲で変更された条件と変更されていない条件を示す必要があります。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.24]

3.8.34.2

再現性の限界

R

再現性条件 (3.8.34.1) で得られた 2 つのテスト結果間の絶対差が 95% の確率で期待できる値以下であると予想されます。

[出典:ISO 5725-1:1994, 3.20]

3.8.34.3

再現性標準偏差

再現性条件 (3.8.34.1) で得られたテスト結果または測定結果の 標準偏差 (3.8.42 )

注記 1:これは 、再現性条件下でのテストまたは測定結果の分布のばらつきの尺度です (3.8.34.1) 。

注記 2: 同様に、「再現性分散」および「再現性変動係数」 は、再現性条件下での試験または測定結果のばらつきの尺度として定義および使用できます (3.8.34.1) 。

[出典:ISO 3534‑2:2006, 3.3.12]

3.8.35

解決

対応する表示に知覚可能な変化を引き起こす、測定される量の最小の変化

注記 1:解像度は、ノイズ (内部または外部) や摩擦などに依存します。また、測定される量の値に依存することもあります。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 4.14]

3.8.36

感度

検量線 (3.4.7 ) の傾き (3.8.41)

注記 1:曲線が直線ではなく曲線である場合、当然のことながら、感度は 分析物 (3.3.2) の濃度または量の関数になります。

注記 2:感度が固有の性能特性である場合、感度はスケール係数ではなく、化学測定プロセスのみに依存する必要があります。

[出典:PAC, 1995, 67, 1699 (検出および定量能力を含む分析方法の評価における命名法 (IUPAC 勧告 1995))]

3.8.37

測定システムの感度

測定システムの表示の変化と、それに対応する測定される量の値の変化の商

注記 1:測定システムの感度は、測定される量の値に依存する場合があります。

注記 2:測定される量の値において考慮される変化は 、分解能 (3.8.35) と比較して大きくなければなりません。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 4.12]

3.8.38

選択性

測定システムの選択性

指定された測定手順で使用される測定システムの特性。これにより、各測定対象の値が他の 測定対象または調査対象の現象、物体、または物質の他の量から独立するように、1 つまたは複数の測​​定対象の測定量値 (3.4.16.2) が提供されます。

例 1:

他の指定された電流源による妨害を受けることなく、2 つの指定された化合物によって生成されたイオン電流比を測定する質量分析計を含む測定システムの機能。

例 2:

他の周波数の信号成分または他の信号によって妨害されることなく、特定の周波数の信号成分のパワーを測定する測定システムの機能。

例 3:

必要な信号と不要な信号を区別する受信機の機能。多くの場合、必要な信号の周波数とはわずかに異なる周波数を持ちます。

例 4:

電離放射線測定システムが、随伴放射線の存在下で測定される所定の放射線に応答する能力。

例 5:

地質堆積物からのシリコン中の 28 Si 同位体と 30 Si 同位体の物質存在量を、両者間または 29 Si 同位体間の影響を受けることなく測定する質量分析計の機能。

注記 1:物理学では、測定対象は 1 つだけです。他の量は測定量と同じ種類であり、測定システムへの入力量です。

注記 2:化学では、測定される量には測定対象のシステム内の異なる成分が含まれることがよくあり、これらの量は必ずしも同じ種類であるとは限りません。

注記 3:化学では、測定システムの選択性は、通常、指定された範囲内の濃度で選択された成分の量について得られます。

注記 4:物理学で使用される選択性 (注記 1 を参照) は、化学で使用されることがある特異性に近い概念です。

[出典: ISO/IEC Guide 99: 2007, 4.13, 修正 - 例 5 削除。]

3.8.39

測定器の安定性

安定性

測定器の特性。これにより、その計量学的特性は時間の経過とともに一定に保たれます。

注記 1:安定性はいくつかの方法で定量化できます。

例 1:

計量学的特性が指定された量だけ変化する時間間隔の持続時間の観点から。

例 2:

指定された期間にわたるプロパティの変化に関して。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 4.19]

3.8.40

有効数字

有効な数

特定の精度または特定の精度を維持するために必要な数値、桁

注記 1:研究所は各元素を、関連する材料規格で使用されているのと同じ有効数字で報告しなければならない

注記 2:化学的測定により、元素に対して指定されている有効数よりも多くの有効数が得られた場合、その結果は四捨五入手順に従って四捨五入されるものとする。

3.8.41

スロープ

物理化学的参照法で得られた結果に対する、最適化された機器の読み取り値の最小二乗回帰から確立された単純な線形回帰係数

注記 1:これは 、校正 (3.4.5) 式のパラメータ b です。

3.8.42

標準偏差

s

分散の正の平方根

注記 1:変動係数 (CV) として表すことができます。これは、標準偏差の 100 倍を平均で割って計算され、パーセントで表されます。

[出典:ISO 3534-1:2006, 2.37, 修正 — エントリに注 1 を追加、例を削除。]

3.8.43

定常状態の動作条件

時間とともに変化する測定対象に対しても 、校正(3.4.5) によって確立された関係が有効なままである測定機器または測定システムの動作状態。

[出典:JCGM 200:2012, 4.8]

3.8.44

系統的誤差

系統的な測定誤差

測定の系統誤差

反復測定において一定のままであるか、予測可能な方法で変化する 測定誤差 (3.8.11) の成分。

注記 1:系統的測定誤差の 基準数量値 (3.4.16.1) は、 真の数量値 (3.8.45) 、または無視できる 測定不確かさの測定標準 (3.8.20 ) の測定数量値 (3.4.16.2 ) 、または従来の数量値である。

注記 2:体系的な測定誤差とその原因は、既知の場合もあれば未知の場合もあります。補正を適用して、既知の系統的な測定誤差を補償することができます。

注記 3:系統的な測定誤差は、測定誤差からランダムな測定誤差を引いたものに等しい。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.17]

3.8.45

真の量の値

量の真の値

真の価値

数量の定義と一致する 数量値 (3.4.16)

注記 1:測定を記述するための 誤り (3.8.11) のアプローチでは、真の量の値は一意であり、実際には認識できないと考えられています。 不確実性 (3.8.20) アプローチは、量の定義には本質的に詳細が不完全であるため、単一の真の量値ではなく、定義と一致する一連の真の量値が存在することを認識することです。ただし、この一連の値は原理的にも実際にも認識できません。他のアプローチでは、真の数量値の概念をまったく省略し、測定結果の妥当性を評価するために測定結果の計量学的適合性の概念に依存します。

注記 2:基本定数の特殊な場合には、量は単一の真の量値を持つとみなされる。

注記 3:測定対象に関連する定義上の 不確実性 (3.8.20) が、 測定の不確かさ (3.8.20) の他の成分と比較して無視できるとみなされる場合、その測定対象は「本質的に一意の」真の数量値を持つと考えることができます。これは GUM および関連文書によって採用されているアプローチでありここで, 「真実」という言葉は冗長であると考えられています。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.11]

3.8.46

真実

測定の真偽

測定の正確さ

無限数の反復 測定量値の平均(3.4.16.2) と 基準量値(3.4.16.1) の間の一致の近さ

注記 1:測定の真度は量ではないため数値で表すことはできませんが、一致度の尺度は ISO 5725 シリーズで示されています。

注記 2:測定の真度は 系統的測定誤差 (3.8.44) に反比例しますが、 ランダム測定誤差 (3.8.27) には関係しません。

注記 3:測定精度」(3.8.1) は「測定の真度」に使用してはならない。

[出典:JCGM 200:2012, 2.14]

3.8.47

検証

特定の品目が指定された要件を満たしているという客観的な証拠の提供

例 1:

クレームされた所定の 標準物質(3.4.14) が、質量 10 mg の測定部分に至るまで、関連する 量値(3.4.16) および測定手順に関して均一であることの確認。

例 2:

測定システムの性能特性または法的要件が達成されていることの確認。

例 3:

目標 測定不確かさ (3.8.20) を 満たすことができることの確認。

注記 1:該当する場合、 測定の不確かさ (3.8.20) を考慮する必要があります。

注記 2: 項目には、プロセス、測定手順、材料、化合物、測定システムなどが考えられます。

注記 3: 指定された要件とは、例えば、製造業者の仕様が満たされていることなどが考えられます。

注記 4: VIML [ 53] で定義されている法定計量における検証、および一般に適合性評価における検証は、測定システムの検査およびマーキングおよび/または検証証明書の発行に関係します。

注記 5:検証を 校正 (3.4.5) と混同してはならない。すべての検証が 検証であるわけではありません (3.8.48) 。

注記 6:化学において、関与する実体または活性の同一性を検証するには、その実体または活性の構造または特性の記述が必要である。

[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.45]

3.8.48

検証

客観的な証拠の提供を通じて、特定の使用目的または用途の要件が満たされていることを確認すること。

注記 1:検証に必要な客観的証拠は、テスト、または代替計算の実行や文書のレビューなどの他の形式の決定の結果です。

注記 2: 「検証済み」という語は、対応するステータスを示すために使用されます。

注記 3:検証のための使用条件は、実際のものでも、シミュレートされたものでもよい。

[出典:ISO 9000:2015, 2013 年 8 月 3 日]

3.8.49

実験室内再現性標準偏差

r ラボ

同じ実験室で同じオペレーターが同じ装置を使用して、同じ検査項目について同じ方法で短期間に得られた検査結果の標準偏差。

[出典:ISO 25337:2010, 3.4]

3.8.50

実験室内再現性標準偏差

R アールラボ

同じ実験室で、できれば異なる機器を使用して、同じ検査項目について同じ方法で長期間にわたって得られた検査結果の標準偏差。

[出典:ISO 25337:2010, 3.5]

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44ASTM A941:2018 4鋼、ステンレス鋼、関連合金、および合金鉄に関する標準用語
45EN 1561:2011, 設立。ねずみ鋳鉄
46OIML R 100-1: 2013, 金属汚染物質を測定するための原子吸光分光計システムPart 1: 計量学的および技術的要件
47IUPAC オレンジブック: 2002
48IUPAC 記号および用語マニュアル、パート VII: 分子吸収分光法、紫外および可視光 (UV/VIS) (勧告 1988)
49PAC, 1979, 51, 2243 (微量分析法の一般的側面 - IV. 表面分析技術の命名法、標準手順、および実験データの報告に関する推奨事項)
50PAC, 1980, 52, 2541 (分光化学分析における命名法、記号、単位およびそれらの使用法 - IV X 線発光分光法)
51PAC, 1982, 54, 1533(核分析化学で使用される用語集(暫定))
52PAC, 1986, 58, 1737 (臨床化学における量と単位: 火炎発光および吸収分光分析におけるネブライザーと火炎の特性 (勧告 1986)
53PAC, 1989, 61, 1657 (自動化および機械化された分析の命名法 (勧告 1989))
54PAC, 1990, 62, 1193 (分析化学におけるサンプリングの命名法 (勧告 1990))
55PAC, 1994, 66, 595 (化学分析結果の表示に関する命名法 (IUPAC 勧告 1994))
56PAC, 1995, 67, 1699 (検出および定量能力を含む分析方法の評価における命名法 (IUPAC 勧告 1995)
57PAC, 1996, 68, 2223 (光化学で使用される用語集 (IUPAC 勧告 1996))
58スコーグ・ダグラス、ウェスト・ダグラス・M, ホラー、F・ジェームス (1996)
59McGraw-Hill Dictionary of Scientific & TechnicalTerms, 6E, 2003 年、The McGraw-Hill Companies, Inc.
60https://encyclopedia2.thefreedictionary.com/melt+extraction

3 Terms and definitions

ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:

3.1 General terms related to steel and cast iron

3.1.1

alloy steel

steel (3.1.17) , other than a stainless steel, that conforms to a specification that requires one or more of the following elements, by mass percent, to have a minimum content equal to or greater than: 0,30 for aluminum; 0,000 8 for boron; 0,30 for chromium; 0,30 for cobalt; 0,40 for copper; 0,40 for lead; 1,65 for manganese; 0,08 for molybdenum; 0,30 for nickel; 0,06 for niobium (columbium); 0,60 for silicon; 0,05 for titanium; 0,30 for tungsten (wolfram); 0,10 for vanadium; 0,05 for zirconium; or 0,10 for any other alloying element, except sulphur, phosphorus, carbon, and nitrogen

[SOURCE:ASTM A941:2018]

3.1.2

austenitic steel

steel (3.1.17) where the structure consists of austenite (3.1.3) at ambient temperature

Note 1 to entry: Cast austenitic steels can contain up to about 20 % of ferrite (3.1.8) .

3.1.3

austenite

solid solution of one or more elements in gamma iron (3.1.19)

3.1.4

boriding

thermochemical treatment of a workpiece to enrich the surface of a workpiece with boron

Note 1 to entry: The medium in which boriding takes place should be specified, e.g. pack boriding, paste boriding, etc.

3.1.5

cast/heat analysis

chemical analysis determined by the steel producer as being representative of a specific heat of steel (3.1.17)

Note 1 to entry: Where the analysis reported by the steel producer is not sufficiently complete for conformance with the heat analysis (3.1.5) requirements of the applicable product specification to be fully assessed, the manufacturer can complete the assessment of conformance with such heat analysis (3.1.5) requirements by using a product analysis (3.1.16) for the specified elements that were not reported by the steel producer, provided that product analysis (3.1.16) tolerances are not applied and the heat analysis (3.1.5) is not altered

[SOURCE:ASTM A941:2018]

3.1.6

cast iron

alloy of iron, carbon and silicon where the carbon content is approximately more than 2 %

3.1.7

ductile iron

nodular cast iron

cast iron (3.1.6) that has been treated while molten with an element (usually magnesium or cerium) that spheroidizes the graphite

[SOURCE:ISO 15156-2:2020, 3.5.4]

3.1.8

ferrite

body-centred cubic lattice structure of iron or steel (3.1.17)

3.1.9

forged steel

steel (3.1.17) product obtained by forging and that does not undergo subsequent hot conversion

Note 1 to entry: These products are mainly in the form of circles or squares.

3.1.10

grey cast iron

cast material, mainly iron and carbon based, carbon being present mainly in the form of flake (lamellar) graphite particles

Note 1 to entry: Grey cast iron is also known as flake graphite cast iron, and less commonly as lamellar graphite cast iron.

Note 2 to entry: Graphite form, distribution and size are specified in ISO 945-1.

[SOURCE:EN 1561:2011, 3.1]

3.1.11

killed steel

steel (3.1.17) deoxidized to such a level that essentially no reaction occurred between carbon and oxygen during solidification

[SOURCE:ASTM A941:2018]

3.1.12

malleable iron

white cast iron (3.1.18) that is thermally treated to convert most or all of the cementite to graphite (temper carbon)

[SOURCE:ISO 15156-2:2020, 3.5.3]

3.1.13

martensite

(phase) formed in carbon containing steels (3.1.17) by the cooling of austenite (3.1.3) at such a high rate that carbon atoms do not have time to diffuse out of the crystal structure in large enough quantities to form cementite (Fe3C)

3.1.14

nitriding

case-hardening process in which nitrogen is introduced into the surface of metallic materials (most commonly ferrous alloys)

EXAMPLE:

Liquid nitriding, gas nitriding, ion nitriding and plasma (3.6.32) nitriding.

[SOURCE:ISO 15156-2:2020, 3.11]

3.1.15

non-alloyed steel

steel in which the percentage of each element is less than specific limiting values specified

Note 1 to entry: See Table in ISO 4948-1:1982, 3.1.2.

3.1.16

product analysis

chemical analysis carried out on a sample of the product taken after the final hot rolling operation

3.1.17

steel

ferrous material the principal element of which is iron and the carbon content of which is not more than 2 % of mass

Note 1 to entry: The presence of large quantities of carbide-forming elements can modify the upper limit of the carbon content.

Note 2 to entry: The nomenclature for unalloyed steels suitable for heat treatment and for alloyed steels is given in ISO 4948-1 and ISO 4948-2.

Note 3 to entry: Small amount of alloying elements added to non-alloy steels can cause the product to be defined as a micro-alloy steel.

3.1.18

white cast iron

cast iron (3.1.6) that displays a white fracture surface due to the presence of cementite

[SOURCE:ISO 15156-2:2020, 3.5.2]

3.1.19

gamma iron

pure iron with face-centred cubic lattice structure

3.2 General terms related to preparation of steel and cast iron

3.2.1

grinding

method of preparing a sample of metal for a physical method of analysis in which the surface of the test sample (3.3.15) is abraded using an abrasive wheel

3.2.2

linishing

method of preparing a sample of metal for a physical method of analysis in which the surface of the test sample (3.3.15) is abraded using a flexible rotating disc or continuous belt coated with an abrasive substance

3.2.3

milling

method of preparing sample chips or the surface of a sample for a physical method of analysis in which the surface of the sample is machined using a rotating, multi-edged cutting tool

3.3 General terms related to sample and sampling

3.3.1

aliquot

known amount of a homogeneous material, assumed to be taken with negligible sampling error

Note 1 to entry: The term"aliquot" is usually applied to fluids.

Note 2 to entry: The term"aliquot" is usually used when the fractional part is an exact divisor of the whole; the term"aliquant" has been used when the fractional part is not exact divisor of the whole (e.g. a 15 ml portion is an aliquant of 100 ml).

Note 3 to entry: When a laboratory sample (3.3.7) or a test sample (3.3.15) is"aliquoted" or otherwise subdivided, the portions have been called split samples.

3.3.2

analyte

component of a system to be analysed

[SOURCE:PAC, 1989, 61, 1657 (Nomenclature for automated and mechanised analysis (Recommendations 1989))]

3.3.3

analytical sample

sample prepared from the laboratory sample (3.3.7) and from which analytical portions can be taken

Note 1 to entry: The analytical sample can be subjected to various treatments before an analytical portion is taken.

Note 2 to entry: Where no homogenization or subdivision is necessary, the laboratory sample (3.3.7) , the test sample (3.3.15) , and, if the latter requires no further chemical or physical treatment, the analytical samples are identical. With some homogeneous materials such as waters or oils, the laboratory sample (3.3.7) may be taken directly from a sample unit and, if no further subdivision or homogenization is carried out, the laboratory sample (3.3.7) is the test sample (3.3.15) . Similarly, with atmospheric particulates collected on a filter, the sample unit is the laboratory sample (3.3.7) and, if no further subdivision or homogenization is carried out, also the test sample (3.3.15) .

[SOURCE:ISO 15193:2009, 3.3, modified — Note to entry added.]

3.3.4

consignment

quantity of metal delivered at one time

3.3.5

duplicate samples

replicate samples

multiple (or two) samples taken under comparable conditions

Note 1 to entry: This selection can be accomplished by taking units adjacent in time or space. Although the replicate samples are expected to be identical, often the only thing replicated is the act of taking the physical sample. A duplicate sample is a replicate sample consisting of two portions. The umpire samples usually used to settle a dispute; the replicate sample is usually used to estimate sample variability.

[SOURCE:PAC, 1990, 62, 1193 (Nomenclature for sampling in analytical chemistry (Recommendations 1990))]

3.3.6

increment

quantity of metal obtained by sampling at one time from a consignment (3.3.4)

3.3.7

laboratory sample

sample or subsample(s) (3.3.13) sent to or received by the laboratory

Note 1 to entry: When the laboratory sample is further prepared (reduced) by subdividing, mixing, grinding (3.2.1) , or by combinations of these operations, the result is the test sample (3.3.15) . When no preparation of the laboratory sample is required, the laboratory sample is the test sample (3.3.15) . A test portion (3.3.14) is removed from the test sample (3.3.15) for the performance of the test or for analysis.

Note 2 to entry: The laboratory sample is the final sample from the point of view of sample collection but it is the initial sample from the point of view of the laboratory.

Note 3 to entry: Several laboratory samples can be prepared and sent to different laboratories or to the same laboratory for different purposes. When sent to the same laboratory, the set is generally considered as a single laboratory sample and is documented as a single sample.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 18.3.6, Sampling stages]

3.3.8

lot

quantity of material that is assumed to be a single population for sampling purposes

[SOURCE:PAC, 1990, 62, 1193 (Nomenclature for sampling in analytical chemistry (Recommendations 1990))]

3.3.9

matrix

components of the sample other than the analyte (3.3.2)

Note 1 to entry: to entry. In analysis.

[SOURCE:PAC, 1989, 61, 1657 (Nomenclature for automated and mechanised analysis (Recommendations 1989))]

3.3.10

primary sample

collection of one or more increments (3.3.6) or units initially taken from a population

Note 1 to entry: The portions can be either combined (composited or bulked sample) or kept separate (gross sample). If combined and mixed to homogeneity, it is a blended bulk sample.

Note 2 to entry: The term"bulk sample" is commonly used in the sampling literature as the sample formed by combining increments (3.3.6) . The term"bulk sample" is ambiguous since it could also mean a sample from a bulk lot (3.3.8) and it does not indicate whether the increments (3.3.6) or units are kept separate or combined. Such use should be discouraged because less ambiguous alternative expressions (composite sample, aggregate sample) are available.

Note 3 to entry:"Lot sample" and"batch sample" have also been used for this concept, but they are self-limiting terms.

Note 4 to entry: The use of"primary" in this sense is not meant to imply the necessity for multistage sampling.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 18.3.6, Sampling stages]

3.3.11

representative sample

sample that has the same properties as a defined batch of material and represents the bulk material, within a defined confidence limit

[SOURCE:ISO 14488:2007, 3.7]

3.3.12

specimen

one or more pieces taken from each product in the sample, for the purpose of producing test pieces

[SOURCE:ISO 6361-1:2011, 3.7]

3.3.13

subsample

sample obtained by procedures in which the items of interest are randomly distributed in parts of equal or unequal size

Note 1 to entry: A sub-sample can be any of the following:
  • a) a portion of the sample obtained by selection or division;
  • b) an individual unit of the lot (3.3.8) taken as part of the sample;
  • c) the final unit of multistage sampling.

Note 2 to entry: The term “subsample” is used either in the sense of a “sample of a sample” or as a synonym for “unit”. In practice, the meaning is usually apparent from the context or is defined.

[SOURCE:ISO 11074:2015, 4.1.34]

3.3.14

test portion

part of the test sample, or part of the sample taken from the melt, submitted to analysis, in certain cases, the test portion can be selected from the sample product itself

Note 1 to entry: The following special types of test portions in the form of a solid mass obtained from a probe sample are distinguished
  • disc originating from the sampling of molten metal (from a special sampler or a small ingot), used for OES or XRF
  • test portion in the shape of a small disc, commonly described as a slug, obtained by punching,
  • test portion in the form of a small appendage, commonly described as a lug,
  • test portion in the form of a small-diameter rod, commonly described as a pin, obtained by cutting.

Note 2 to entry: When the test sample is in the form of chips or powder, or when a sample in the form of a solid mass is analysed by a thermal method, the test portion (3.3.14) is obtained by weighing. In the case of a physical method of analysis, the part actually analysed will constitute only a small mass of the test sample. In an optical emission spectrometric method, the mass of metal consumed in an electrical discharge (3.6.14) is about 0,5 mg to 1 mg, in an X-ray fluorescence spectrometric method, the characteristic radiation is produced from a very thin surface layer of the sample.

3.3.15

test sample

sample taken or formed from the laboratory sample (3.3.7) , by a process involving homogenization using physical or mechanical treatments such as grinding (3.2.1) , drilling, milling (3.2.3) or sieving

Note 1 to entry: The test sample is then in a form suitable for subsampling for analytical purposes, for storing for future analysis or for using for test purposes other than analytical.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.9]

3.3.16

test solution

analytical solution

solution prepared by dissolving, with or without reaction, the test portion (3.3.14) in a liquid

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 18.3.6 Sampling stages]

3.3.17

trace element

element having an average concentration of less than about 100 parts per million atoms (ppm) or less than 0,01 % by weight

[SOURCE:PAC, 1979, 51, 2243 (General aspects of trace analytical methods - IV. Recommendations for nomenclature, standard procedures and reporting of experimental data for surface analysis techniques)]

3.4 General terms related to analytical standards

3.4.1

blank test solution

solution that contains all the chemicals except for the element to be determined in the same concentration as required for the preparation of a reference standard solution (3.4.17) of that element

[SOURCE:OIML R 100-1:2013, 3.3.2]

3.4.2

blank reference solution

solution used to set the zero absorbance on the spectrometer (3.5.22) and that normally consists of a pure solvent such as deionized water

[SOURCE:OIML R 100-1:2013, 3.3.1]

3.4.3

blank value

reading or result originating from the matrix (3.3.9) , reagents and any residual bias (3.8.5) in the measurement device or process, which contributes to the value obtained for the quantity in the analytical procedure

[SOURCE:PAC, 1989, 61, 1657 (Nomenclature for automated and mechanised analysis (Recommendations 1989))]

3.4.4

bracketing technique

analytical method consisting of bracketing the measured absorption or machine reading of the sample between two measurements made on calibration solutions (3.4.8) of neighbouring concentrations within the optimum working range

[SOURCE:ISO 6486-2:1999, 3.3]

3.4.5

calibration

operation that, under specified conditions, in a first step, establishes a relation between the quantity values (3.4.16) with measurement uncertainties provided by measurement standards and corresponding indications with associated measurement uncertainties (3.8.20) and, in a second step, uses this information to establish a relation for obtaining a measurement result from an indication

Note 1 to entry: A calibration can be expressed by a statement, calibration function, calibration diagram, calibration curve (3.4.7) , or calibration table. In some cases, it can consist of an additive or multiplicative correction of the indication with associated measurement uncertainty (3.8.20) .

Note 2 to entry: Calibration should not be confused with adjustment of a measuring system, often mistakenly called “self-calibration”, nor with verification (3.8.47) of calibration.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.39]

3.4.6

calibration blank solution

solution prepared in the same way as the calibration solution (3.4.8) but leaving out the analyte (3.3.2) , also called “zero member” of the calibration (3.4.5) series

[SOURCE:ISO 21400:2018, 3.8, modified]

3.4.7

calibration curve

expression of the relation between indication and corresponding measured quantity value (3.4.16.2)

Note 1 to entry: A calibration curve expresses a one-to-one relation that does not supply a measurement result as it bears no information about the measurement uncertainty (3.8.20) .

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 4.31]

3.4.8

calibration solution

solution used to calibrate the instrument, prepared from a stock solution (3.4.21) or a certified standard by adding acids, buffer (3.6.5) , reference element (3.7.7) and salts as needed

[SOURCE:ISO 21400:2018, 3.9]

3.4.9

certified reference material

CRM

reference material (RM) characterized by a metrologically valid procedure for one or more specified properties, accompanied by an RM certificate that provides the value of the specified property, its associated uncertainty (3.8.20) , and a statement of metrological traceability

Note 1 to entry: The concept of value includes a nominal property or a qualitative attribute such as identity or sequence. Uncertainties for such attributes can be expressed as probabilities or levels of confidence.

[SOURCE:ISO Guide 30:2015, 2.1.2, modified —Notes 2, 3 and 4 to entry deleted.]

3.4.10

internal standard

compound added to a sample in a fixed amount that has similar properties (spectral, physical, isobaric etc.) to the target analyte (3.3.2) used to correct for instrument drift (3.6.15) and matrix interference (3.7.11)

[SOURCE:ISO/TS 20593:2017, 3.6, modified]

3.4.11

internal standard line

spectral line (3.6.40) of an internal standard (3.4.10) , to which the radiant energy of an analytical line is compared

[SOURCE:ASTM E135:2021]

3.4.12

matrix solution

synthetic solution consisting of the solvent and containing, if possible, all the constituents of the analytical sample (3.3.3) except the analyte (3.3.2)

3.4.13

primary reference material

primary RM

high purity material of the analyte (3.3.2) , certified for the mass/mole fraction of the analyte (3.3.2) in the material, and which constitutes the realization of the International System of Units (SI) for the analyte (3.3.2) of interest

Note 1 to entry: A primary reference material has its value assigned either directly by a primary RMP or indirectly by determining the impurities of the material by appropriate analytical methods (e.g. mass balance method).

[SOURCE:ISO 17511:2020, 3.35]

3.4.14

reference material

rm

material, sufficiently homogeneous and stable with respect to one or more specified properties, which has been established to be fit for its intended use in a measurement process

Note 1 to entry: RM is a generic term.

Note 2 to entry: Properties can be quantitative or qualitative, e.g. identity of substances or species.

Note 3 to entry: Uses can include the calibration (3.4.5) of a measurement system, assessment of a measurement procedure, assigning values to other materials, and quality control (3.8.26) .

Note 4 to entry: ISO/IEC Guide 99:2007, 5.13 has an analogous definition, but restricts the term “measurement” to apply to quantitative values. However, Note 3 of ISO/IEC Guide 99:2007, 5.13, specifically includes qualitative properties, called “nominal properties”.

[SOURCE:ISO/Guide 30:2015, 2.1.1]

3.4.15

reference method

reference measurement procedure

measurement procedure accepted as providing measurement results fit for their intended use in assessing measurement trueness (3.8.46) of measured quantity values (3.4.16.2) obtained from other measurement procedures for quantities of the same kind, in calibration (3.4.5) , or in characterizing reference materials (3.4.14)

Note 1 to entry: The accuracy (3.8.1) of a reference method must be demonstrated through direct comparison with a definitive method or with a primary Reference Material (3.4.13) .

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.7, modified — New preferred term added, Note to entry added.]

3.4.16

quantity value

number and reference together expressing magnitude of a quantity

[SOURCE:JCGM 200:2012 1.19]

3.4.16.1

reference quantity value

reference value

quantity value (3.4.16) used as a basis for comparison with values of quantities of the same kind

Note 1 to entry: A reference quantity value can be a true quantity value (3.8.45) of a measurand, in which case it is unknown, or a conventional quantity value, in which case it is known.

Note 2 to entry: A reference quantity value with associated measurement uncertainty (3.8.20) is usually provided with reference to:
  • a) a material, e.g. a certified reference material (3.4.9) ;
  • b) a device, e.g. a stabilized laser;
  • c) a reference measurement procedure (3.4.15) ;
  • d) a comparison of measurement standards.

[SOURCE:JCGM 200:2012, 5.18]

3.4.16.2

measured quantity value

value of a measured quantity

measured value

quantity value (3.4.16) representing a measurement result

[SOURCE:JCGM 200:2012, 2.10]

3.4.17

reference standard solution

solution containing an accurately known concentration of a sample element or elements of interest and that is used for testing and calibrating the instrument

[SOURCE:OIML R 100-1:2013, 3.4]

3.4.18

spike

known quantity of determinand that is added to a sample, usually for the purpose of estimating the systematic error (3.8.44) of an analytical system by means of a recovery exercise

Note 1 to entry:"Spiking" is a way of creating a control material (3.8.8) in which a value is assigned by a combination of formulation and analysis. This method is feasible when a test material essentially free of the analyte (3.3.2) is available. After exhaustive analytical checks to ensure the background level is adequately low, the material is spiked with a known amount of analyte (3.3.2) . The reference sample prepared in this way is thus of the same matrix (3.3.9) as the test materials to be analysed and of known analyte (3.3.2) level - the uncertainty (3.8.20) in the assigned concentration is limited only by the possible error (3.8.11) in the unspiked determination. However, it can be difficult to ensure that the speciation, binding and physical form of the added analyte (3.3.2) is the same as that of the native analyte (3.3.2) and that the mixing is adequate.

[SOURCE:ISO 5667-14:2014, 3.7, modified — Note to entry added.]

3.4.19

standardization

process of adjusting instrument output to a previously established calibration (3.4.5) (that is, drift correction (3.6.16) ); the experimental establishment of the concentration of a reagent solution

[SOURCE:ASTM E135: 2021]

3.4.20

standard solution

solution of accurately known concentration of an element, an ion, a compound or a group derived from the substance used for its preparation

Note 1 to entry: Standard solutions are prepared using standard substances in one of several ways. A primary standard is a substance of known high purity, which can be dissolved in a known volume of solvent to give a primary standard solution. If stoichiometry is used to establish the strength of a titrant, it is called a secondary standard solution. The term secondary standard can also be applied to a substance whose active agent contents have been found by comparison against a primary standard.

[SOURCE:ISO 78-2:1999, 3.6, modified — Note to entry added.]

3.4.21

stock solution

solution with accurately known analyte (3.3.2) concentration(s), prepared from pure chemicals such as a primary standard

[SOURCE:ISO 21400:2018, 3.11]

3.4.22

titration curve

plot of a variable related to a relevant concentration (activity) as the ordinate versus some measure of the amount of titrant, usually titration volume (titre), as the abscissa

Note 1 to entry: If the variable is linearly related to concentrations, such as the electrical conductance or the photometric absorbance, the expression"linear titration curve" is used. When a logarithmic expression of the concentration or activity is used, such as the pH, pM, or the electrical potential in mV, the curve is referred to as a logarithmic titration curve.

[SOURCE:IUPAC orange book:2002]

3.4.23

working reference materials

reference materials (3.4.14) used for routine analytical control and traceable to NIST standards and other recognized standards when appropriate standards are available

[SOURCE:ASTM A751:2020, 3.2.6]

3.4.24

working standard solution

solution, prepared by dilution of the stock standard solution(s), that contains the analyte(s) (3.3.2) of interest at a concentration(s) better suited to preparation of calibration solutions (3.4.8) than the concentration(s) of the analyte(s) (3.3.2) in the stock standard solution(s)

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.2.13]

3.5 Definitions of the analysis methods and analytical instrument

3.5.1

atomic absorption spectrometry

AAS

spectroanalytical method for qualitative determination and quantitative evaluation of element concentrations wherein the technique determines these concentrations by measuring the atomic absorption of free atoms

Note 1 to entry: The technique of analysis by AAS falls into two main categories, according to the method of atomization, that is, flame atomic absorption spectrometry (FAAS) (3.5.6) and electrothermal atomic absorption (ETAAS) (3.5.5) [also called graphite furnace atomic absorption spectrometry (GFAAS)].

[SOURCE:ISO 6486-1:2019, 3.2, modified — Note to entry added.]

3.5.2

atomic emission spectrometry

AES

pertaining to emission spectrometry in the ultraviolet, visible, or infrared (3.5.16) wavelength regions of the electromagnetic spectrum

Note 1 to entry: Atomic emission spectroscopy (3.5.26) is considered mainly in the ultraviolet and visible regions of the spectrum, i.e. the optical range, and makes use of different sampling sources that give rise to the different categories of optical emission spectroscopy (OES) (3.5.20) , including flame, plasma (3.6.32) , glow discharge, spark, direct current arc optical emission spectroscopy (3.5.20) .

[SOURCE:ASTM E135:2021, modified — Note to entry added.]

3.5.3

atomic fluorescence spectrometry

AFS

method of determining chemical elements based on the measurement of the re-emission of characteristic electromagnetic radiation by atoms, following the absorption of radiation in the vapour phase

Note 1 to entry: The wavelengths of the absorbed and re-emitted radiation can be identical (atomic resonance fluorescence spectrometry) or different.

3.5.4

chemical vapour generation system

analyte (3.3.2) is separated from the sample matrix (3.3.9) by the generation of gaseous species as a result of a chemical reaction

Note 1 to entry: This technique has received its widest application in atomic absorption spectrometry (AAS) (3.5.1) in the forms of cold vapour AAS (CVAAS) for the determination of mercury and hydride generation AAS (HGAAS) for elements forming gaseous covalent hydrides (As, Bi, Ge, In, Pb, Sb, Se, Sn and Te). Chemical vapour generation is also used in combination with optical emission (3.5.20) and atomic fluorescence spectrometry (3.5.3) .

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.6]

3.5.4.1

cold vapour atomic absorption spectrometry

CVAAS

type of atomic absorption spectrometry (3.5.1) where no vaporisation step is required because the sample is a volatile heavy metal such as mercury, which is a vapour at room temperature

3.5.4.2

hydride generation atomic absorption spectrometry

HGAAS

type of atomic absorption spectrometry (3.5.1) where metal samples such as As, Sb and Se are vaporised by converting them into volatile hydrides

3.5.5

electrothermal atomic absorption spectrometry

ETAAS

type of spectrometry that uses a graphite-coated furnace to vaporize the sample

Note 1 to entry: This technique has largely been developed for use in atomic absorption spectrometry (3.5.1) . It has also been applied in atomic emission (3.5.2) and atomic fluorescence spectrometry (3.5.3) , with appropriate analogous phrases, such as electrothermal atomic emission spectrometry (ETAES) and electrothermal atomic fluorescence spectrometry (ETAFS).

3.5.6

flame atomic absorption spectrometry

measurement of the absorption of electromagnetic radiation, emitted by an element at a determined wavelength, by an absorbent medium (flame) formed of atoms of the same element that are in the ground state

Note 1 to entry: Each element absorbs radiation of specific wavelengths and the intensity of the absorbed radiation is proportional to the concentration of the said element.

[SOURCE:ISO 3750:2006, 3.1]

3.5.7

flame emission spectrometry

FES

chemical analysis method based on the measurement of light in a given range of wavelengths emitted by a sample atomized in a flame according to the Beer-Lambert law

Note 1 to entry: The functions of an analytical flame spectrometer in general are:
  • a) Transformation of the solution to be analyzed into a vapour containing free atoms or molecular compounds of the analyte (3.3.2) in the flame;
  • b) Selection and detection of the optical signal (arising from the analyte (3.3.2) vapour) which carries information on the kind and concentration of the analyte (3.3.2) ;
  • c) Amplification and read-out of the electrical signal.

[SOURCE:ISO 9555-3:1992, 3.1.6, modified — Note to entry added.]

3.5.8

Fourier transform infrared spectrometry

FT-IR spectrometry

form of infrared spectrometry in which an interferogram is obtained; which is then subjected to a Fourier transform to obtain an amplitude-wavenumber (or wave-length) spectrum

Note 1 to entry: The abbreviation FTIR is not recommended.

Note 2 to entry: When FT-IR spectrometers are interfaced with other instruments, a slash should be used to denote the interface; for example, GC/FT-IR; HPLC/FT-IR, and the use of FT-IR should be explicit, that is, FT-IR not IR.

[SOURCE:ASTM E131:2010]

3.5.9

glow discharge spectrometry

GDS

method in which a spectrometer (3.5.22) is used to measure relevant intensities emitted from a glow discharge generated at a surface

Note 1 to entry: This is a general term that encompasses GDOES and GDMS.

[SOURCE:ISO 18115-1:2013, 3.10]

3.5.10

glow discharge optical emission spectrometry

GDOES

method in which an optical emission spectrometer is used to measure the wavelength and intensity of light emitted from a glow discharge (3.6.14) generated at a surface

Note 1 to entry: This method is a spectroscopic method for the quantitative analysis of metals and other non-metallic solids. The metallic samples are used as a cathode in a direct current plasma (3.6.32) . From the surface, the sample is removed in layers by sputtering with argon ions. The removed atoms pass into the plasma (3.6.32) by diffusion. Photons are emitted with excited waves and have characteristic wavelengths that are recorded by means of a downstream spectrometer and subsequently quantified. Glow discharge spectroscopy (3.5.9) is an established method for the characterization of steels (3.1.17) and varnishes.

[SOURCE:ISO 18115-1:2013, 3.9, modified — Note to entry added.]

3.5.11

gravimetry

set of methods used in analytical chemistry for the quantitative determination of an analyte (3.3.2) based on its mass

Note 1 to entry: The four main types of this method of analysis are precipitation, volatilization, electro-analytical and miscellaneous physical method. The methods involve changing the phase of the analyte (3.3.2) to separate it in its pure form from the original mixture and are quantitative measurements.

3.5.12

inductively coupled plasma

ICP

high-temperature discharge (3.6.14) generated in flowing argon by an alternating magnetic field induced by a radio frequency (RF) load coil that surrounds the tube carrying the gas

Note 1 to entry: In inductively coupled plasmas (inductively coupled RF plasmas or inductively coupled argon plasmas), energy transfer to the gas is achieved with the help of an induction coil or inductor (the terms coil, load coil and work coil are discouraged). The frequency at which the source operates should be given, e.g. 27 or 12 MHz, and the gas type should be defined. The plasma (3.6.32) is formed within and/or above a set of refractory tubes arranged coaxially with the induction coil, the whole forming a plasma torch.

[SOURCE:ISO 30011:2010, 3.3.5, modified — Note to entry added.]

3.5.13

inductively coupled plasma optical emission spectrometry

ICP-OES

measurement of the intensity of electromagnetic radiation emitted by the components of a sample when excited by a plasma (3.6.32)

Note 1 to entry: Sample atoms entering the plasma emit light radiation, whose characteristic wavelengths and intensities are used to identify the elements and determine concentrations, respectively. Samples are usually presented to the plasma (3.6.32) in solution form.

[SOURCE:ISO 3815-2:2005, 3.1]

3.5.14

inductively coupled plasma mass spectrometry

ICP-MS

analytical technique comprising a sample introduction system, an inductively coupled plasma (3.5.12) source for ionization of the analytes (3.3.2) , a plasma/vacuum interface and a mass spectrometer comprising an ion focusing, separation and detection system

[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 5.23]

3.5.15

ion-selective electrode

ISE

potentiometric probe, the output potential of which, when measured against a suitable reference electrode, is proportional to the activity of the selected ion in the solution under test

Note 1 to entry: This is an electrochemical sensor, based on a thin selective membrane or film as recognition element and is an electrochemical half-cell equivalent to other half-cells of the zeroth (inert metal in a redox electrolyte), 1st, 2nd and 3rd kinds. These devices are distinct for half-cells that involve electrode redox reactions (electrodes of zeroth, 1st, 2nd and 3rd kinds), although they often contain a second kind electrode as the “inner” or “internal” reference electrode. The potential difference is the response (i.e. that of ISE versus outer reference electrode potentials) as its principal component of the Gibbs energy change associated with permselective mass transfer of ions (e.g. by ion-exchange, solvent extraction or some other mechanism) across a phase boundary. The ISE shall be used in conjunction with a reference electrode (i.e. “outer” or “external” reference electrode) to form a complete electrochemical cell. The measured potential difference s (ISE versus outer reference electrode potentials) are linearly dependent on the logarithm of the activity of a given ion in solution. The expression"ion-specific electrode" is not recommended."Specific" implies that the electrode does not respond to additional ions. Since no electrode is truly specific for one ion,"ion-selective" is recommended as more appropriate."Selective ion-sensitive electrode" is rarely used to describe an ion-selective electrode."Principal" or"primary" ions are those for determination of which an electrode is designed. It is never certain that the ISE is more sensitive to the"principal" ion than to interferences, e.g. nitrate ISEs.

[SOURCE:8.3.2.1, IUPAC orange book:2002]

3.5.16

infrared radiation

IR

infrared

optical radiation for which the wavelengths are longer than those for visible radiation

Note 1 to entry: For infrared radiation, the range between 780 nm and 1 mm is commonly subdivided into
  • IR-A: 780 nm to 1 400 nm,
  • IR-B: 1,4 µm to 3 µm, and
  • IR-C: 3 µm to 1 mm.

Note 2 to entry: The range of infrared emitted by the source and which reaches the lens should be considered in the design of an infrared-absorbing material.

[SOURCE:IEC 60050-845:2020, 845-21-004, modified — Notes to entry delete, new Note 2 to entry added,"infrared" added as a preferred term.]

3.5.16.1

infrared spectroscopy

infrared (3.5.16) vibrational spectra originate in transitions between discrete vibrational energy levels of molecules, energy being absorbed from the incident infrared (3.5.16) beam by these transitions

Note 1 to entry: An absorption band is thus manifested as a reduction in the energy transmitted in the absence of the absorbing substance. The frequency of the absorption band can be related to the atomic masses and force constants of the vibrating molecule.

3.5.17

laser ablation inductively coupled plasma

laser ablation ICP

technique in which a laser beam focuses on the sample surface to erode material and generate fine particles

Note 1 to entry: The ablated particles are then transported to the secondary excitation source of the inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) (3.5.14) instrument for digestion and ionization of the sampled mass. The excited ions in the plasma torch are subsequently introduced to a mass spectrometer detector for both elemental and isotopic analysis.

3.5.18

melt extraction

rapid quenching process in which the molten metal is brought into contact with the periphery of a rotating heat-extracting disk

Note 1 to entry: Quench rates exceed 1,000,000 K per second or process to “solidify rapidly” and extract a ribbon-like alloy product by the insertion of a short segment of a rotating chilled block into a bath of a molten metal alloy.

3.5.19

molecular absorption spectrophotometry

area concerned with the measured absorption of radiation in its passage through a gas, a liquid or a solid

Note 1 to entry: Molecules which absorb photons of energy corresponding to wavelengths in the range 190 nm to about 1000 nm exhibit UV/VIS absorption spectra.

Note 2 to entry: The UV/VIS absorption spectrum of a molecular species is normally represented as a graph of some characteristic for the radiation absorbed as a function of wavelength. The graph is representative for that species, solvent, concentration and temperature.

[SOURCE:IUPAC Manual of Symbols and Terminology, Part Vii: Molecular Absorption Spectroscopy, Ultraviolet And Visible (UV/VIS) (Recommendations 1988)]

3.5.20

optical emission spectrometry

measurement of the intensity of electromagnetic radiation emitted by the components of a sample when excited

Note 1 to entry: Each element emits radiation of well- defined and specific wavelength, whose intensity is linked to its concentration.

[SOURCE:ISO 3815-1:2005, 3.1]

3.5.20.1

arc emission spectrometry

spectrometry (3.5.26) where the sample is electrically conductive and can be used directly as one (or both) of the electrodes (self-electrode)

Note 1 to entry: For electrically non-conductive samples, powders or liquids, the sample is introduced into the different types of discharge (3.6.14) in a sample electrode, generally of graphite or amorphous carbon. The non-sample-carrying electrode is called the counter electrode (3.6.11) and can be of carbon, graphite or metal. Graphite and carbon electrodes differ in their electrical and thermal conductivity. The characteristics and operation of the arc depend on the material and shape of the electrodes and on the analytical gap (arc gap) as well as on the polarity of the sample electrode. If the sample electrode is positive, anodic vaporization takes place. If the sample electrode is negative, cathodic vaporization ensues. If radiation from only a thin layer near the cathode is utilized, the technique is known as the cathode layer arc.

[SOURCE:IUPAC orange book:2002, 10.3.4.1]

3.5.20.2

spark emission spectrometry

spectrometry (3.5.26) where spark sources, because of their relatively high precision (3.8.22) and accuracy (3.8.1) , are suitable sources for the routine analysis of metals, e.g. for production control purposes

Note 1 to entry: Metals can be analysed with the point-to-point configuration using two sample electrodes (self-electrodes) of the same material. The most common technique uses the point-to-plane configuration, i.e. a plane electrode made from the sample material with a pointed counter electrode (3.6.11) made from another material, which does not contain the analytical elements. Various types of samples can be analysed in the form of solutions with the help of supporting electrodes (e.g. copper spark and graphite spark supporting electrode techniques), carrier electrodes, rotating disc or rotating platform electrodes, vacuum cup or porous cup electrodes.

[SOURCE:IUPAC orange book:2002, 10.3.4.2]

3.5.21

potentiometry

measure of the potential difference between an indicator electrode and a reference electrode (or another indicator electrode) in solution, while the current is held at zero, because no faradaic current flows, the potential is usually controlled by the thermodynamic properties of the system

Note 1 to entry: The expressions “zero current potentiometry” and “null-current potentiometry” are not recommended. No special terminology is recommended for measurements of pH and similar quantities.

[SOURCE:IUPAC orange book:2002, 8.5]

3.5.22

spectrometer

spectral apparatus for measuring the intensity of one or more spectral bands as a function of a spectral variable

3.5.23

sequential spectrometer

spectrometer (3.5.22) that enables the intensity of several spectral bands of radiation to be measured one after the other in time, i.e. sequentially

[SOURCE:IUPAC orange book:2002, 10.3.2.1.2]

3.5.24

simultaneous spectrometer

spectrometer (3.5.22) with more than one detector that enables the intensities of several spectral bands to be measured at the same time

[SOURCE:IUPAC orange book:2002, 10.3.2.1.2]

3.5.25

spectrochemical analysis

process in which a sample is submitted to a procedure in which its constituents emit or absorb radiation

Note 1 to entry: Radiation is generated by radiation sources. The element sought or determined in a sample is the analyte (3.3.2) . It is characterized by a specific absorption or emission that is related to its quantity or concentration in the sample.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.2]

3.5.26

spectroscopy

study of physical systems by the electromagnetic radiation with which they interact or that they produce

Note 1 to entry: In certain types of optical spectroscopy, the radiation originates from an external source and is modified by the system, whereas in other types, the radiation originates within the system itself.

[SOURCE:PAC, 1986, 58, 1737 (Quantities and units in clinical chemistry: Nebulizer and flame properties in flame emission and absorption spectrometry (Recommendations 1986))]

3.5.27

spectrophotometer

optical instrument that measures spectral transmittance or reflectance

Note 1 to entry: This instrument consists of an optical source, a monochromator, a sample chamber, an optical detector, a signal processor, a data processor and an interface

3.5.28

thermal conductometry

measurement of a sample gas is a method of determining the gas concentrations of binary mixtures by utilizing the difference of thermal conductivities between two gas components

Note 1 to entry: Current, traditional katharometer technologies not only measure the thermal conductivity but also the thermal mass of the gas thus causing distortion to the measurement.

3.5.29

titration

quantitative chemical analysis to determine the concentration of an identified analyte (3.3.2)

Note 1 to entry: Process of determining the quantity of a substance: A, by adding measured increments (3.3.6) of substance B, with which it reacts (almost always as a standardized solution called the titrant, but also by electrolytic generation, as in coulometric titration) with provision for some means of recognizing (indicating) the point, the end point at which essentially all of A has reacted.

3.5.30

X-ray fluorescence

emission of characteristic X-radiation by an atom as a result of the interaction of electromagnetic radiation with its orbital electrons

[SOURCE:PAC, 1994, 66, 2513 (Nomenclature for radioanalytical chemistry (IUPAC Recommendations 1994))]

3.5.31

X-ray fluorescence analysis

method of analysis based on the measurement of the energies and intensities of characteristic X-radiation emitted by a test portion (3.3.14) during irradiation with X-rays of wavelength shorter than their characteristic wavelengths

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 16]

3.5.31.1

energy dispersive X-ray fluorescence analysis

method of X-ray fluorescence analysis (3.5.31) where element specificity is obtained by measuring the energy spectrum of the induced X-radiation

[SOURCE:PAC, 1982, 54, 1533 (Glossary of terms used in nuclear analytical chemistry (Provisional))]

3.6 Definitions relating to characteristics and properties of the equipment

3.6.1

absorption path length

length of the radiation path through the absorbing medium equal to the cell path length, l, in the case of single-pass cells at normal incidence of radiation

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002]

3.6.2

absorbance matching

procedure where the concentration of a known analyte (3.3.2) is determined by diluting the sample with solvent until the absorbance matches the absorbance of a known concentration of the analyte (3.3.2) in the reference cell

Note 1 to entry: This method is particularly useful if the Beer-Lambert law does not hold.

[SOURCE:IUPAC orange book:2002, 10.3.5.2.7]

3.6.3

axial plasma

end-on plasma

plasma (3.6.32) that is viewed end-on by the optical detection system

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.3.1]

3.6.4

background radiation

radiation from any source other than the one it is desired to detect or measure

[SOURCE:PAC, 1994, 66, 2513 (Nomenclature for radioanalytical chemistry (IUPAC Recommendations 1994)) Orange Book]

3.6.5

buffer

substance that tends to minimize the effects of one or more elements on the emission of other elements

[SOURCE:ASTM E135:2021, modified — Note 1 to entry added.]

3.6.6

characteristic concentration

characteristic mass

concentration or mass of an element that produces a change from the blank test solution (3.4.1) of 0,004 4 absorbance units (1 % absorption) at the wavelength of the absorption line employed

[SOURCE:OIML R 100-1:2013]

3.6.7

characteristic line

line used for the measurement of analyte (3.3.2) concentration by flame atomic emission, absorption or fluorescence in the vapour phase

Note 1 to entry: Characteristic lines include resonance and other lines.

3.6.8

charge-coupled device detector

CCD

type of solid state detector technology for converting photons into an electrical signal

Note 1 to entry: Typically applied to inductively coupled plasma-optical emission spectroscopy (ICP-OES).

3.6.9

charge-injection device detector

CID

type of solid state detector technology for converting photons into an electrical signal

Note 1 to entry: Typically applied to inductively coupled plasma-optical emission spectroscopy (ICP-OES).

3.6.10

collimator

device made from radiation absorbent material such as lead or tungsten, designed to limit and define the direction and area of the radiation beam

[SOURCE:ISO 5576:1997, 2.21]

3.6.11

counter electrode

auxiliary electrode

electrode commonly used in applied polarization to balance the current passing to the working electrode

Note 1 to entry: It is usually made from a non-corroding material.

[SOURCE:ISO 8044:2020, 7.1.39]

3.6.12

direct-injection burner

combines the function of nebulizer (3.6.30) and burner

Note 1 to entry: Here, oxidant and fuel emerge from separate ports and are mixed above the burner orifices to produce a turbulent flame. Most commonly, the oxidant is also used for aspirating and nebulizing the sample. However, when the fuel is used for this purpose, the expression"reversed direct-injection burner" is applied. In each case, the mist droplets enter the flame directly, without passing through a spray chamber (3.6.41) .

Note 2 to entry: The expression"total-consumption burner", which is often used, is not recommended.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.3]

3.6.13

D2-lamp

hydrogen (discharge) lamp filled with dideuterium in place of dihydrogen

Note 1 to entry: This substitution increases the intensity 3‐to 5‐fold for the same power consumption and extends the upper limit of the continuum further into the visible range.

3.6.14

discharge

triggered capacitor

series of electrical discharges from capacitors initiated by a separate means and extinguished when the voltage across the analytical gap falls to a value that no longer is sufficient to maintain it

[SOURCE:ASTM E135:2021]

3.6.15

drift

slow change of a metrological characteristic of a measuring instrument

3.6.16

drift correction

process of adjusting for a translational shift or a rotational shift, or both, in an instrument calibration (3.4.5)

[SOURCE:ASTM E135:2021]

3.6.17

efficiency of nebulization

ɛn

ratio of the amount of analyte (3.3.2) entering the flame to the amount of analyte (3.3.2) aspirated

Note 1 to entry: The quantity, ɛn, is not related to the amount of solvent but to the amount of analyte (3.3.2) . Its value cannot be determined unambiguously by simply comparing the volume of solution drained per second from the spray chamber (3.6.41) with the aspiration rate. Correction is usually made for the difference in analyte (3.3.2) concentration in the drained and aspirated solutions respectively, due to the partial evaporation of solvent from the mist droplets deposited on the walls. The quantity, ɛn is not merely characteristic of the operation of the nebulizer (3.6.30) but of the nebulizer-burner system as a whole.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.3]

3.6.18

electrothermal atomizer

device that is heated to the temperature required for analyte (3.3.2) atomization, by the passage of electrical current through its body

Note 1 to entry: This technique has largely been developed for use in atomic absorption spectrometry (3.5.1) . It has also been applied in atomic emission (3.5.2) and atomic fluorescence spectrometry (3.5.3) . See electrothermal atomic absorption spectrometry (3.5.5) .

[SOURCE:IUPAC orange book:2002, 10.3.4.5]

3.6.19

electrodeless discharge lamp

EDL

glass tube filled with an excitable substance and sealed under a reduced pressure or a noble gas, a high frequency electromagnetic field (radio frequency or MW, 300 MHz to 3 000 MHz) can trigger gas discharge (3.6.14) causing the emission of electromagnetic radiation

Note 1 to entry: This phenomenon has been studied for many years and was already well understood in the 1960s. EDL is usually characterized by a higher emission intensity than that of the hollow cathode lamps (3.6.24) , a lower contamination due to the absence of the electrodes, and a longer lifetime. EDLs operate due to free electrons in the fill that are accelerated by the MW field energy. They collide with the gas atoms and ionize them to release more electrons (the “avalanche” effect). The energetic electrons collide with the heavy-atom particles present in the plasma (3.6.32) , thus exciting them from the ground state to higher energy levels. The excitation energy (3.6.20) is then released as the electromagnetic radiation with the spectral characteristics according to the composition of the fill.

3.6.20

excitation energy

minimum energy required to bring a system to a specified higher energy level

[SOURCE:IUPAC Orange Book, 223]

3.6.21

fuel-lean flame

burning of fuel with an excess of air in an internal combustion engine

Note 1 to entry: In lean-burn engines the air, fuel ratio can be as lean as 65:1 (by mass)

3.6.22

fuel-rich flame

mixture of fuel and air, in which the fuel content is greater than that of a stoichiometric mixture

Note 1 to entry: to promote the atomization of elements that readily form oxides in the vapour phase in the flame, a fuel-rich flame is often chosen ここで, reducing conditions favour the dissociation of metal oxides

3.6.23

high voltage sparks

self-ignited spark discharge (3.6.14) characterized by an initial capacitor voltage exceeding the breakdown voltage of the analytical gap or of the control gap

Note 1 to entry: Typical capacitor voltages range from 10 to 20 kV.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.1.3]

3.6.24

hollow cathode source

hollow cathode lamp

HCL

discharge lamp designed for use as a spectral line (3.6.40) source with atomic absorption (AA) spectrometers (3.5.22)

Note 1 to entry: A single or multi-element hollow cathode lamp is required for each element to be determined using the AA technique.

Note 2 to entry: The key requirement for the hollow cathode lamp is to generate a narrow emission line for the element being determined. The emission line should be of sufficient spectral purity and intensity to achieve a good calibration (3.4.5) (preferably linear) with low noise.

3.6.25

infrared detector

sensor that converts absorbed infrared radiation (3.5.16) into an electrical signal

Note 1 to entry: The two main types of detectors are thermal and photonic (photodetectors).

[SOURCE:ISO 10878:2013, 1.51, modified — Note to entry added.]

3.6.26

instrumental drift

continuous or incremental change over time in indication, due to changes in metrological properties of a measuring instrument

Note 1 to entry: Instrumental drift is related neither to a change in a quantity being measured nor to a change of any recognized influence quantity physical interferences.

[SOURCE:JCGM 200:2012, 4.21]

3.6.27

ionization efficiency

ratio of the number of ions formed to the number of electrons, ions, or photons used in an ionization process

[SOURCE:ISO 18115-1:2013, 4.273]

3.6.28

inductively coupled plasma torch

ICP torch

device used to support and introduce sample into an ICP discharge

Note 1 to entry: An ICP torch usually consists of three concentric tubes, the outer two usually made from quartz.

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.3.6]

3.6.29

linear dispersion

derivative, dx/dλ ここで, x is the distance along the spectrum, in the plane of the exit slit, and λ is the wavelength

[SOURCE:ASTM E131:2010]

3.6.30

nebulizer

device for converting a sample solution into a gas-liquid aerosol for atomic absorption, emission, fluorescence, or mass analysis

[SOURCE:ASTM E135:2021]

3.6.30.1

pneumatic nebulizer

nebulizer (3.6.30) that uses high-speed gas flows to create an aerosol from a liquid

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.3.19]

3.6.30.2

ultrasonic nebulizer

nebulizer (3.6.30) in which the aerosol is created by flowing a liquid across a surface that is oscillating at an ultrasonic frequency

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.3.24]

3.6.31

photomultiplier tube

electronic device for amplifying and converting light pulses into measurable electrical signals

Note 1 to entry: Vacuum phototube with additional amplification by electron multiplication. It consists of a photocathode, a series of dynodes, called a dynode chain on which a secondary-electron multiplication process occurs, and an anode. According to the desired response time, transit time, time spread, gain, or low dark current, different types of dynode structures have been developed, e.g. circular cage structure, linear focused structure, venetian blind structure, box and grid structure. Some special dynode structures permit combination with additional electric or magnetic fields. A strip dynode photomultiplier tube consists of a photocathode followed by thin dynode material on an insulating substrate. In a continuous-strip photomultiplier, two strip dynodes are arranged in parallel. A potential applied to the ends of the two strips produces an electric field across the continuous strip dynodes, giving rise to electron multiplication along the dynodes. In a resistance-strip magnetic photomultiplier, a uniform magnetic field is applied to the planes of the strips so that the electrons travel in the crossed electric and magnetic fields. A channel photomultiplier tube photocathode consists of a channel electron multiplier (CEM) system for the photoelectrons and an anode to collect the final electron current. The basic part of the CEM is a tube with a semiconducting inner surface. In general, it is curved in order to inhibit the acceleration of positive ions towards the photocathode. A number of small channels called micro channels can be constructed in arrays for imaging applications.

[SOURCE:PAC, 1995, 67, 1745 (Nomenclature, symbols, units and their usage in spectrochemical analysis-XI. Detection of radiation (IUPAC Recommendations 1995))]

3.6.32

plasma

gas that is at least partly ionized and contains particles of various type, that is, electrons, atoms, ions and molecules

Note 1 to entry: Plasma as a whole is electrically neutral

[SOURCE:IUPAC orange book:2002,10.3.1.1.1]

3.6.33

pre-burn period

time interval after the initiation of a discharge (3.6.14) during which the emitted radiation energy is not recorded for analytical purposes

[SOURCE:ASTM E135:2021]

3.6.34

premix burner

burner in which the fuel gas is mixed with the oxidizing gas before reaching the combustion zone

[SOURCE:ASTM E135:2021]

3.6.35

primary X-rays

emergent beam from the X-ray source

[SOURCE:ASTM E135:2021]

3.6.36

radial plasma

plasma (3.6.32) that is viewed from the side by the optical detection system

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.3.20]

3.6.37

reciprocal linear dispersion

derivative dλ/dx where λ is the wavelength and x is the distance along the spectrum

[SOURCE:ASTM E135:2021]

3.6.38

secondary fluorescence

ionization of the analyte (3.3.2) element in a sample by characteristic radiation from other elements in the sample resulting in an enhancement of the signal measured

[SOURCE:PAC, 1980, 52, 2541 (Nomenclature, symbols, units and their usage in spectrochemical analysis – IV X-ray emission spectroscopy)]

3.6.39

spectral slit width

mechanical width of the exit slit, divided by the linear dispersion (3.6.29) in the exit slit plane spark

[SOURCE:ASTM E131:2010]

3.6.40

spectral line

atomic and ionic spectral lines originate from specified electronic transitions between energy levels of atoms and ions, respectively

Note 1 to entry: In the past, it has been common usage to denote atomic lines as arc lines and ionic lines as spark lines. This usage is now considered to be incorrect. The correct way to indicate that lines are due to atomic or ionic transitions is: Element symbol I wavelength, e.g. Cu I 324,7 nm; and Element symbol II wavelength, e.g. Cu II 213,6 nm. Similarly, for higher states of ionization, the type of line is represented by III, IV, etc.

[SOURCE:IUPAC orange Book, 118]

3.6.41

spray chamber

device, placed between a nebulizer (3.6.30) and an inductively coupled plasma (ICP) torch (3.6.28) , whose function is to separate out aerosol droplets according to their size, so that only very fine droplets pass into the plasma (3.6.32) and large droplets are drained or pumped to waste

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.3.21]

3.6.42

viewing height

observation height

position in a radial plasma (3.6.36) from where the emission measured originates

Note 1 to entry: The viewing height is generally given as the distance, in millimetres, above the load coil.

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.3.25]

3.6.43

zeeman effect

splitting or shift of spectral lines (3.6.40) due to the presence of an external magnetic field

[SOURCE:PAC, 1996, 68, 2223 (Glossary of terms used in photochemistry (IUPAC Recommendations 1996)) 2284 Orange Book]

3.7 Definitions relating to interference

3.7.1

background correction

process of correcting the intensity at an analytical wavelength for the intensity due to the underlying spectral background (3.7.19)

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.3.2]

3.7.2

excitation interference

matrix interference (3.7.11) that manifests itself as a change in sensitivity (3.8.36) due to a change in plasma (3.6.32) conditions when the matrix (3.3.9) of a calibration (3.4.5) or test solution (3.3.16) is introduced into the plasma (3.6.32)

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.3.5]

3.7.3

inter-element correction

interference correction

spectral interference correction technique in which emission contributions from interfering elements that emit at the analyte (3.3.2) wavelength are subtracted from the apparent analyte (3.3.2) emission after measuring the interfering element concentrations at other wavelengths

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.3.10]

3.7.4

interfering lines

radiation from nearby spectral lines (3.6.40) may perturb the measurement of the intensity of the line wanted, these lines are termed interfering lines

[SOURCE:IUPAC Orange Book, 159]

3.7.5

interfering substance

(in electroanalytical chemistry) substance, other than the ion being measured, whose presence in the sample solution affects the measured emf of a cell

Note 1 to entry: Interfering substances fall into two classes: 'electrode/electrochemical' interferences and 'chemical' interferences. Examples of the first class include:
  • a) Those substances which give a similar response to the ion being measured and whose presence generally results in an apparent increase in the activity (or concentration) of the ion to be determined (e.g. Na +for the Ca2+ electrode).
  • b) Electrolytes present at a high concentration that give rise to appreciable liquid junction potential differences or results in a significant activity coefficient decrease, or incipient Donnan exclusion failure. The second class of substances that should be recognized as chemical interferences includes:
  • c) Species that interact with the ion being measured so as to decrease its activity or apparent concentration. The electrode continues to report the true activity (e.g. CN −present in the measurement of Ag+), but a considerable gap will occur between the activity and concentration of the ions even in very dilute solutions. Under these circumstances the determination of ionic concentration may be problematic.
  • d) Substances interacting with the membrane itself, blocking the surface or changing its chemical composition [i.e. organic solvents for the liquid or poly(vinyl chloride) (PVC) membrane electrodes] are grouped as interferences or electrode poisons.

[SOURCE:PAC, 1994, 66, 2527(Recommendations for nomenclature of ion-selective electrodes (IUPAC Recommendations 1994))]

3.7.6

interference reduction

techniques used to reduce or eliminate analytical errors (3.8.11) resulting from various types of interferences apart from changing the instrumental conditions

Note 1 to entry: Some of those in current use are given in 3.7.6.1 to 3.7.6.4.

3.7.6.1

reference-element technique

technique where the measure of the analyte (3.3.2) is compared with the measure of a reference element (3.7.7)

Note 1 to entry: This technique is used mainly for minimizing nonspecific interferences.

3.7.6.2

analyte addition technique

technique where errors (3.8.11) arising from both specific and non-specific interferences, but not from spectral interferences (3.7.18) , are minimized

3.7.6.3

simulation technique

technique where reference solutions sufficiently similar in quantitative composition to the sample solutions to be analysed are used so that the interferences in the reference and sample solution are equivalent

3.7.6.4

buffer-addition technique

technique where an additive [called a spectrochemical buffer (3.7.17) ] is added to both the sample and reference solutions for the purpose of making the measure of the analyte (3.3.2) less sensitive to variations in interferent concentration

3.7.7

internal standardization

reference element

technique that uses the signal from an internal standard (3.4.10) to correct for matrix interferences (3.7.11)

3.7.8

isobaric overlap

basic spectral overlap between analyte (3.3.2) ions

Note 1 to entry: An isobaric overlap exists where two elements have isotopes of essentially the same mass. It is notable that there are no isobaric interferences below 36 m/z.

3.7.9

masking reagent

substance that decreases the concentration of a free metal ion or ligand by conversion into an essentially unreactive form, thus preventing undesirable chemical reactions that would interfere with the determination

3.7.10

matrix effect

composite interference due to all the concomitants, except for the additives

[SOURCE:10.3.4.3, IUPAC orange book:2002]

3.7.11

matrix interference

non-spectral interference

interference of a non-spectral nature caused by a difference between the matrix (3.3.9) of the calibration (3.4.5) and test solutions (3.3.16)

3.7.12

matrix-matching

technique used to minimize the effect of matrix interferences (3.7.11) on analytical results, involving the preparation of calibration solutions (3.4.8) in which the concentrations of acids and other major solutes are matched with those in the test solutions (3.3.16)

[SOURCE:ISO 15202-3:2004, 3.3.16]

3.7.13

pyrolytic techniques

techniques used for the high-temperature thermal decomposition of a test sample (3.3.15) or for its conversion from one chemical form to another

Note 1 to entry: Although not primarily intended as a method of pre-concentration, pyrolytic techniques can be used to separate the analyte (3.3.2) or analytes from the matrix (3.3.9) of the test sample (3.3.15) . In a technique called furnace pyrolysis, a flowing stream of gas (hydrogen, oxygen, nitrogen, chlorine, etc.) required to produce volatile species of the elements being determined, is passed over the test sample (3.3.15) in a heated furnace. The analytes (3.3.2) leave the furnace in the gas stream or are entrained by a carrier gas. The analytes (3.3.2) in the gas stream can be collected in an absorbing solution, on a carbon or other filter or by condensation on a cool surface. In the case of mercury, this can also be done by amalgamation with a noble metal. The analytes (3.3.2) can then be swept and released from the trap, by heating, into a sampling source for analysis. The test sample (3.3.15) can also be mixed with a reagent to produce a volatile compound which is volatilized by heating and separated by distillation. Metallic samples can be dissolved by anodic oxidation. This technique can also be used to oxidize and dissolve inclusions or base metal phases from metals and alloys.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.9]

3.7.14

self-absorption

event that occurs in emission sources of finite thickness when radiant energy quanta emitted by atoms (or molecules) are absorbed by atoms of the same kind present in the same source

Note 1 to entry: The absorbed energy is usually dissipated by collisional transfer of energy or through emission of radiant energy of the same or other frequencies. In consequence, the observed radiant intensity of a spectral line (3.6.40) (or band component) emitted by a source can be less than the radiant intensity would be from an optically thin source having the same number of emitting atoms. Self-absorption can occur in all emitting sources to some degree, whether they are homogeneous or not.

[SOURCE:Orange Book, 242 PAC, 1996, 68, 2223 (Glossary of terms used in photochemistry (IUPAC Recommendations 1996))]

3.7.15

spectrochemical additive

additive that is added to samples and reference samples with the intention of making the measure of the analytical element less sensitive to changes in concentration of an interferent

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.1.6]

3.7.15.1

spectrochemical diluent

substance added to the sample to increase its bulk for ease of handling or for the suppression of undesirable matrix effects (3.7.10)

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.1.6]

3.7.15.2

spectrochemical carrier

additive that gives rise to a gas that can help to transport the vapour of the sample material into the excitation region of the source

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.1.6]

3.7.16

solute-volatilization interference

interference that is due to changes in the volatilization rate of the dry aerosol particles in the case when volatilization of the analyte (3.3.2) is incomplete in the presence and/or absence of the concomitant

Note 1 to entry: These interferences can either be specific, if the analyte (3.3.2) and interferent form a new phase of different thermostability, as when Mg and Al form MgAl2O4 in an air-acetylene flame, or non-specific, if the analyte (3.3.2) is simply dispersed in a large excess of the interferent, as when Ag is dispersed in ThO2. Solute volatilization interferences do not necessarily depress the signal. Effects due to compounds causing explosive disintegration of the solid aerosol particles and consequent enhancement also belong to this group.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.3]

3.7.17

spectrochemical buffer

buffer with the intention of making the measure of the analytical element less sensitive to changes in concentration of an interferent

Note 1 to entry: Additives that can serve as spectrochemical buffers are given in 3.7.17.1 to 3.7.17.6.

3.7.17.1

suppressor

additive that reduces emission, absorption or light scattering by an interferent, thus removing or lowering spectral interference

3.7.17.2

releaser

additive that reduces solute-volatilization interferences (3.7.16) by forming a compound preferentially with the interferent, thus preventing the reaction of the analyte (3.3.2) or interferent from entering a thermally stable compound

3.7.17.3

ionization buffer

additive that are added to increase the free-electron concentration in the flame gases, thus repressing and stabilizing the degree of ionization

3.7.17.4

volatilizer

additive that increase the fraction volatilized, either by forming more volatile compounds or by increasing the total surface area of all analyte (3.3.2) particles [e.g. by explosive disintegration or by dispersal of the analyte (3.3.2) in a highly volatile matrix (3.3.9)]

3.7.17.5

devolatilizer

material added to a sample to reduce its volatilization, or that of some component of it

Note 1 to entry: A typical devolatilizer is carbon, which gives rise to refractory carbides when used in the analysis of tungsten or boron.

3.7.17.6

saturator

interferent added in sufficiently high concentration to the sample solution to reach the saturation plateau of the interference curve

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.3]

3.7.18

spectral interference

incomplete isolation of the radiation emitted or absorbed by the analyte (3.3.2) from other radiation detected by the instrument

Note 1 to entry: Spectral interferences are usually strongly dependent on the spectral bandwidth of the monochromator. Spectral interferences can arise:
  • a) In flame emission spectrometry (FES ) (3.5.7) from the following:
    • radiation [spectral continuum, molecular bands, or atomic lines (called interfering lines (3.7.4) )] emitted by the concomitants. Spectral interference can also arise from stray or scattered radiation or spectral ghosts that reach the detector or from the indirect effect of the concomitants on flame background.
  • b) In flame atomic absorption spectrometry (FAAS) (3.5.6) and/or flame atomic fluorescence spectrometry (FAFS) by the following:

    • absorption or fluorescence of radiation by overlapping molecular or atomic lines of concomitants;
    • thermal emission of concomitants transmitted by the monochromator or received;
    • the photodetector as stray radiation, when the radiation source is not modulated;
    • scattering of source radiation by non-volatilized particles formed by the concomitants;
    • the indirect effect of the concomitants on the blank background absorption or scattering in the flame;
    • foreign line absorption and/or fluorescence if the corresponding radiation happens to be emitted by the light source, in addition to the analysis line, within the spectral bandwidth of the monochromator, particularly when a continuum source is used.

Note 2 to entry: Spectral interferences on inductively coupled plasma-optical emission spectroscopy (ICP-OES) occur either on the analytic signal or on the background correction (3.7.1) points for the signal; stray light from the line emission of high concentration elements; overlap of a spectral line (3.6.40) from another elements; or unresolved overlap of molecular band spectra.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.3]

3.7.19

spectral background

intensity that would be measured at the wavelength or energy of the analyte (3.3.2) line if the analyte (3.3.2) and overlapping lines were not present

[SOURCE:ASTM E135:2021]

3.7.20

spectral background correction

spectral background (3.7.19) absorbance of a sample arising, for example, from the presence of an impurity with a weak, broad absorption band, which can be made by subtracting it from the analyte (3.3.2) absorbance by graphical or algebraic methods

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.5.2.3]

3.7.21

titration error

difference in the amount of titrant, or the corresponding difference in the amount of substance being titrated, represented by the expression: (End-point value) - (Equivalent-point value)

[SOURCE:IUPAC orange book:2002]

3.7.22

vapour-phase interferences

change in the fraction of analyte (3.3.2) dissociated (3.7.23) , ionized or excited in the gaseous phase

Note 1 to entry: The word"atomized" (instead than"dissociated") is not appropriate here because the latter also covers the formation of free atomic ions. These interferences can be called dissociation, ionization, and excitation interferences (3.7.2) , respectively. An excitation interference (3.7.2) can occur when the concomitant alters the flame temperature. Experimentally these interferences can be easily recognized because they take place even when twin nebulizers (3.6.30) are used for aspirating the analyte (3.3.2) and interferent separately. All interferences of this type are specific.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 10.3.4.3]

3.7.23

dissociated

formed of free neutral atoms from free molecules in the gaseous phase

3.8 Characteristics of methods

3.8.1

accuracy

accuracy of measurement

measurement accuracy

closeness of agreement between a measured quantity value (3.4.16.2) and a true quantity value (3.8.45) of a measurand

Note 1 to entry: The concept"measurement accuracy" is not a quantity and is not given a numerical quantity value. A measurement is said to be more accurate when it offers a smaller measurement error (3.8.11) .

Note 2 to entry: The term"measurement accuracy" should not be used for measurement trueness (3.8.46) and the term" measurement precision (3.8.22) " should not be used for"measurement accuracy", which, however, is related to both these concepts.

Note 3 to entry:"Measurement accuracy" is sometimes under-stood as closeness of agreement between measured quantity values that are being attributed to the measurand.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.13]

3.8.2

arithmetic mean

average


sum of a series of observations divided by the number of observations calculated by the following formula:
where
xiis the individual value of a parameter with i = 1, 2, 3 ... n;
nis the number of observations.

Note 1 to entry: All summations are taken from 1 to n. The arithmetic mean is an unbiased estimate of the population mean, i.e. .

[SOURCE:PAC, 1994, 66, 595 (Nomenclature for the presentation of results of chemical analysis (IUPAC Recommendations 1994))]

3.8.3

background equivalent concentration

BEC

elemental concentration required to produce an analyte (3.3.2) signal with the same intensity as a background signal

[SOURCE:ISO 11885:2007, 3.3]

3.8.4

between-laboratory standard deviation

standard deviation (3.8.42) of results obtained on the same material using the same method in different laboratories

[SOURCE:ASTM E135: 2021]

3.8.5

bias

measurement bias

estimate of a systematic measurement error (3.8.44)

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.18]

3.8.6

confidence level

confidence coefficient

value (1 − α) of the probability associated with a confidence interval or a statistical coverage interval

Note 1 to entry: (1 − α) is often expressed as a percentage.

Note 2 to entry: In some cases, the confidence level is dictated by the needs of the situation. In all other instances, use of 1- =0,95 is recommended.

3.8.7

control chart

chart with control limits on which some statistical measure of a series of samples is plotted in a particular order to steer the process with respect to that measure

Note 1 to entry: The particular order is usually based on time or sample number order.

Note 2 to entry: The control chart operates most effectively when the measure is a process variable that is correlated with an ultimate product or service characteristic.

[SOURCE:ISO 3534‑2:2006, 2.3.1, modified]

3.8.7.1

Shewhart control chart

control chart (3.8.7) with Shewhart control limits intended primarily to distinguish between the variation in the plotted measure due to random causes and that due to special causes

Note 1 to entry: This can be a chart using attributes (for example, proportion nonconforming) for evaluating a process, or it can be a chart using variables (for example, average and range) for evaluating a process. Examples are as follows:
  • a) X-bar chart — the sample means are plotted in order to control the mean value of a variable;
  • b) R chart — the sample ranges are plotted in order to control the variability of a variable;
  • c) s chart — the sample standard deviations (3.8.42) are plotted in order to control the variability of a variable;
  • d) s2 chart — the sample variances are plotted in order to control the variability of a variable;
  • e) C chart — the number of defectives (per batch, per day, per machine, etc.) is plotted.

[SOURCE:ISO 3534‑2:2006, 2.3.2, modified — Note 1 to entry added.]

3.8.8

control material

material used for the purposes of internal quality control (3.8.26) and subjected to the same or part of the same measurement procedure as that used for test materials

Note 1 to entry: Note to 1 entry: Reference materials (3.4.14) can be used as control material, ideal control materials are the certified ones.

[SOURCE:IUPAC orange book: 2002, 18.6.1]

3.8.9

degrees of freedom

statistical quantity indicating the number of values which could be arbitrarily assigned within the specification of a system of observations.

Note 1 to entry: For simple replication, with n measurements and one estimated parameter (the mean), v=n-1. More generally, for multivariable computations, the number of degrees of freedom equals the number of observations minus the number of fitted parameters

[SOURCE:PAC, 1994, 66, 595 (Nomenclature for the presentation of results of chemical analysis (IUPAC Recommendations 1994))]

3.8.10

deviation

di

difference between an observed value and the arithmetic mean (3.8.2) of the set to which it belongs calculated by the following formula:

where
xiis an observed value;
is the arithmetic mean of the set.

[SOURCE:PAC, 1994, 66, 595 (Nomenclature for the presentation of results of chemical analysis (IUPAC Recommendations 1994))]

3.8.11

error

error of measurement

measurement error

measured quantity value (3.4.16.2) minus a reference quantity value (3.4.16.1)

Note 1 to entry: The concept of"measurement error" can be used both
  • a) when there is a single reference quantity value to refer to, which occurs if a calibration (3.4.5) is made by means of a measurement standard with a measured quantity value having a negligible measurement uncertainty (3.8.20) or if a conventional quantity value is given, in which case the measurement error is known, and
  • b) if a measurand is supposed to be represented by a unique true quantity value (3.8.45) or a set of true quantity values of negligible range, in which case the measurement error is not known.

Note 2 to entry: Measurement error should not be confused with production error or mistake.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.16]

3.8.12

instrumental bias

average (3.8.2) of replicate indications minus a reference quantity value (3.4.16.1)

[SOURCE:JCGM 200:2012, 4.20]

3.8.13

intralaboratory comparison

organization, performance and evaluation of measurements or tests on the same or similar items within the same laboratory in accordance with predetermined conditions

[SOURCE:ISO/IEC 17025:2017, 3.4]

3.8.14

intermediate precision condition of measurement

intermediate precision condition

condition of measurement, out of a set of conditions that includes the same measurement procedure, same location, and replicate measurements on the same or similar objects over an extended period of time, but may include other conditions involving changes

Note 1 to entry: The changes can include new calibrations (3.4.5) , calibrators, operators, and measuring systems.

Note 2 to entry: A specification for the conditions should contain the conditions changed and unchanged, to the extent practical.

Note 3 to entry: In chemistry, “inter-serial precision condition of measurement” is sometimes used to designate this concept.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.22]

3.8.15

intermediate measurement precision

intermediate precision

measurement precision (3.8.22) under a set of intermediate precision conditions of measurement

Note 1 to entry: Relevant statistical terms are given in ISO 5725-3.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.23]

3.8.16

limit of detection

LOD

detection limit

DL

measured quantity value (3.4.16.2) , obtained by a given measurement procedure, for which the probability of falsely claiming the absence of a component in a material is β, given a probability α of falsely claiming its presence

Note 1 to entry: IUPAC recommends default values for α and β equal to 0,05.

Note 2 to entry: The term “ sensitivity (3.8.36) ” is discouraged for ‘detection limit’.

Note 3 to entry: The limit of detection shall be calculated as:

XLD = 3s

where
XLDis the limit of detection;
sis the standard deviation (3.8.42) of the outlier-free results of at least 3 measurements of a reagent blank solution).

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 4.18, modified — Note 2 to entry deleted, new Note 3 to entry added.]

3.8.17

limit of quantification

quantification limit

LOQ

lowest amount of an analyte (3.3.2) that is quantifiable with a given confidence level (3.8.6)

Note 1 to entry: The limit of quantification can be calculated as ten times the standard deviation (3.8.42) of blank measurements.

Note 2 to entry: The value LOQ can be used as a threshold value to assure quantitative measurement of an analyte (3.3.2) accurately.

[SOURCE:ISO 18158:2016, 2.4.3.5]

3.8.18

linearity

straight line relationship between the (mean) result of measurement (signal) and the quantity (concentration) of the component to be determined

[SOURCE:ISO 11885:2007, 3.9]

3.8.19

long-term stability

stability (3.8.39) of a reference material (3.4.14) property over an extended period of time

[SOURCE:ISO Guide 30:2015, 2.1.17]

3.8.20

measurement uncertainty

uncertainty of measurement

uncertainty

non-negative parameter characterizing the dispersion of the quantity values (3.4.16) being attributed to a measurand, based on the information used

Note 1 to entry: Measurement uncertainty includes components arising from systematic effects, such as components associated with corrections and the assigned quantity values of measurement standards, as well as the definitional uncertainty. Sometimes estimated systematic effects are not corrected for but, instead, associated measurement uncertainty components are incorporated.

Note 2 to entry: The parameter can be, for example, a standard deviation (3.8.42) called standard measurement uncertainty (or a specified multiple of it), or the half-width of an interval, having a stated coverage probability.

Note 3 to entry: Measurement uncertainty comprises, in general, many components. Some of these can be evaluated by Type A evaluation of measurement uncertainty from the statistical distribution of the quantity values from series of measurements and can be characterized by standard deviations (3.8.42) . The other components, which can be evaluated by Type B evaluation of measurement uncertainty, can also be characterized by standard deviations (3.8.42) , evaluated from probability density functions based on experience or other information.

Note 4 to entry: In general, for a given set of information, it is understood that the measurement uncertainty is associated with a stated quantity value (3.4.16) attributed to the measurand. A modification of this value results in a modification of the associated uncertainty.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99: 2007, 2.26]

3.8.21

minimum standard deviation

standard deviation (3.8.42) of results on a test material obtained under conditions of minimum variability

[SOURCE:ASTM E135:2021]

3.8.22

measurement precision

precision

closeness of agreement between indications or measured quantity values (3.4.16.2) obtained by replicate measurements on the same or similar objects under specified conditions

Note 1 to entry: Measurement precision is usually expressed numerically by measures of imprecision, such as standard deviation (3.8.42) , variance or coefficient of variation under the specified conditions of measurement.

Note 2 to entry: The ‘specified conditions’ can be, for example, repeatability conditions of measurement (3.8.33.1) , intermediate precision conditions of measurement (3.8.14) , or reproducibility conditions of measurement (3.8.34.1) (see ISO 5725-1:1994).

Note 3 to entry: Measurement precision is used to define measurement repeatability (3.8.33) , intermediate measurement precision (3.8.15) , and measurement reproducibility (3.8.34) .

Note 4 to entry: Sometimes “measurement precision” is erroneously used to mean measurement accuracy (3.8.1) .

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.15]

3.8.23

outlier

member of a set of values which is inconsistent with the other members of that set

Note 1 to entry: ISO 5725-2 specifies the statistical tests and the significance level to be used to identify outliers in trueness (3.8.46) and precision (3.8.22) experiments.

[SOURCE:ISO 5725-1:1994, 3.21]

3.8.24

photometric linearity

ability of a photometric system to yield a linear relationship between the radiant power incident on its detector and some measurable quantity provided by the system

Note 1 to entry: In the case of a simple detector-amplifier combination, the relationship is a direct proportionality between incident radiant power and the deflection of a meter needle or recorder pen.

[SOURCE:ASTM E131:2010]

3.8.25

quality assurance

part of quality management focused on providing confidence that quality requirements will be fulfilled

[SOURCE:ISO 9000:2015, 3.3.6]

3.8.26

quality control

part of quality management focused on fulfilling quality requirements

[SOURCE:ISO 9000:2015, 3.3.7]

3.8.27

random measurement error

random error of measurement

random error

component of measurement error (3.8.11) that in replicate measurements varies in an unpredictable manner

Note 1 to entry: A reference quantity value (3.4.16.1) for a random measurement error is the average that would ensue from an infinite number of replicate measurements of the same measurand.

Note 2 to entry: Random measurement errors of a set of replicate measurements form a distribution that can be summarized by its expectation, which is generally assumed to be zero, and its variance.

Note 3 to entry: Random measurement error equals measurement error minus systematic measurement error.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.19]

3.8.28

random fluctuations

random errors (3.8.27) limiting the precision (3.8.22) of analysis

Note 1 to entry: When measuring very large or very small absorbances, uncertainties due to random fluctuations become particularly large. To obtain better precision (3.8.22) in the absorption measurement, it is necessary to adjust the sample concentration or cell path length to bring the absorbance into the range 0,1 to 1,0. The theoretical minimum error (3.8.11) occurs at a best precision (3.8.22) absorbance of about 0,43 for a spectrometer (3.5.22) with a detector that is thermal noise limited, e.g. phototube or photodiode, and of about 0,86 for a spectrometer (3.5.22) with a detector that is shot noise limited, e.g. a photomultiplier (3.6.31) .

[SOURCE:IUPAC orange book:2002, 10.3.5.2.8]

3.8.29

regression analysis

use of statistical methods for modeling a set of dependent variables, Y, in terms of combinations of predictions, X

Note 1 to entry: It includes methods such as multiple linear regression (MLR) and partial least squares (PLS).

[SOURCE:PAC, 1997, 69, 1137 (Glossary of terms used in computational drug design (IUPAC Recommendations 1997))]

3.8.30

relative standard deviation

sr

standard deviation (3.8.42) divided by the mean of the series calculated with the following:

where
sis positive square root of the variance
is the mean of the series

Note 1 to entry: sigma (σ) and 's' as representing the standard deviation (3.8.42) of a normal distribution is simply that sigma (σ) signifies the idealised population standard deviation (3.8.42) derived from an infinite number of measurements, whereas 's' represents the sample standard deviation (3.8.42) derived from a finite number.

[SOURCE:PAC, 1994, 66, 595 (Nomenclature for the presentation of results of chemical analysis (IUPAC Recommendations 1994)) Orange Book]

3.8.31

relative detection limit

smallest amount of material detectable (3σ-criterion) in a matrix (3.3.9) relative to the amount of material analysed, given in atomic, mole or weight fractions

Note 1 to entry: Often incorrectly referred to as"sensitivity" (3.8.36).

[SOURCE:PAC, 1979, 51, 2243 (General aspects of trace analytical methods - IV. Recommendations for nomenclature, standard procedures and reporting of experimental data for surface analysis techniques)]

3.8.32

relative standard measurement uncertainty

standard measurement uncertainty divided by the absolute value of the measured quantity value (3.4.16.2)

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.32]

3.8.33

repeatability

measurement repeatability

measurement precision (3.8.22) under a set of repeatability conditions of measurement

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.21]

3.8.33.1

repeatability condition of measurement

repeatability condition

condition of measurement out of a set of conditions that includes the same measurement procedure, same operators, same measuring system, same operating conditions and same location, and replicate measurements on the same or similar objects over a short period of time

Note 1 to entry: In chemistry, the expression “intra-serial precision condition of measurement” is sometimes used to designate this concept.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.20]

3.8.33.2

repeatability limit

r

value less than or equal to which the absolute difference between two test results obtained under repeatability conditions (3.8.33.1) can be expected to be with probability of 95 %

[SOURCE:ISO 5725-1: 1994, 3.16]

3.8.33.3

repeatability standard deviation

standard deviation (3.8.42) of test results or measurement results obtained under repeatability conditions (3.8.33.1)

Note 1 to entry: It is a measure of the dispersion of the distribution of test or measurement results under repeatability conditions (3.8.33.1) .

Note 2 to entry: Similarly, “repeatability variance” and “repeatability coefficient of variation” can be defined and used as measures of the dispersion of test or measurement results under repeatability conditions (3.8.33.1) .

[SOURCE:ISO 3534‑2:2006, 3.3.7]

3.8.33.4

repeatability relative standard deviation

RSDr

measure used to show the extent of variability in relation to the mean of the population

Note 1 to entry: Relative standard deviation (RSD) (3.8.30) is a useful measure of precision (3.8.22) in quantitative studies and reflects precision (3.8.22) under repeatability conditions (3.8.33.1) . The RSD is also known as coefficient of variation.

3.8.34

reproducibility

measurement reproducibility

measurement precision (3.8.22) under reproducibility conditions of measurement

Note 1 to entry: Relevant statistical terms are given in ISO 5725-1:1994 and ISO 5725-2:2019.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99: 2007, 2.25]

3.8.34.1

reproducibility condition of measurement

reproducibility condition

condition of measurement, out of a set of conditions that includes different locations, operators, measuring systems, and replicate measurements on the same or similar objects

Note 1 to entry: The different measuring systems can use different measurement procedures.

Note 2 to entry: A specification should give the conditions changed and unchanged, to the extent practical.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99: 2007, 2.24]

3.8.34.2

reproducibility limit

R

value less than or equal to which the absolute difference between two test results obtained under reproducibility conditions (3.8.34.1) can be expected to be with probability of 95 %

[SOURCE:ISO 5725-1:1994, 3.20]

3.8.34.3

reproducibility standard deviation

standard deviation (3.8.42) of test results or measurement results obtained under reproducibility conditions (3.8.34.1)

Note 1 to entry: It is a measure of the dispersion of the distribution of test or measurement results under reproducibility conditions (3.8.34.1) .

Note 2 to entry: Similarly, “reproducibility variance” and “reproducibility coefficient of variation” can be defined and used as measures of the dispersion of test or measurement results under reproducibility conditions (3.8.34.1) .

[SOURCE:ISO 3534‑2:2006, 3.3.12]

3.8.35

resolution

smallest change in a quantity being measured that causes a perceptible change in the corresponding indication

Note 1 to entry: Resolution can depend on, for example, noise (internal or external) or friction. It can also depend on the value of a quantity being measured.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99: 2007, 4.14]

3.8.36

sensitivity

slope (3.8.41) of the calibration curve (3.4.7)

Note 1 to entry: If the curve is a curve, rather than a straight line, then of course sensitivity will be a function of analyte (3.3.2) concentration or amount.

Note 2 to entry: If sensitivity is to be a unique performance characteristic, it must depend only on the chemical measurement process, not upon scale factors.

[SOURCE:PAC, 1995, 67, 1699 (Nomenclature in evaluation of analytical methods including detection and quantification capabilities (IUPAC Recommendations 1995))]

3.8.37

sensitivity of a measuring system

quotient of the change in an indication of a measuring system and the corresponding change in a value of a quantity being measured

Note 1 to entry: Sensitivity of a measuring system can depend on the value of the quantity being measured.

Note 2 to entry: The change considered in a value of a quantity being measured must be large compared with the resolution (3.8.35) .

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99: 2007, 4.12]

3.8.38

selectivity

selectivity of a measuring system

property of a measuring system, used with a specified measurement procedure, whereby it provides measured quantity values (3.4.16.2) for one or more measurands such that the values of each measurand are independent of other measurands or other quantities in the phenomenon, body, or substance being investigated

EXAMPLE 1:

Capability of a measuring system including a mass spectrometer to measure the ion current ratio generated by two specified compounds without disturbance by other specified sources of electric current.

EXAMPLE 2:

Capability of a measuring system to measure the power of a signal component at a given frequency without being disturbed by signal components or other signals at other frequencies.

EXAMPLE 3:

Capability of a receiver to discriminate between a wanted signal and unwanted signals, often having frequencies slightly different from the frequency of the wanted signal.

EXAMPLE 4:

Capability of a measuring system for ionizing radiation to respond to a given radiation to be measured in the presence of concomitant radiation.

EXAMPLE 5:

Capability of a mass spectrometer to measure the amount-of-substance abundance of the 28 Si isotope and of the 30 Si isotope in silicon from a geological deposit without influence between the two, or from the 29 Si isotope.

Note 1 to entry: In physics, there is only one measurand; the other quantities are of the same kind as the measurand, and they are input quantities to the measuring system.

Note 2 to entry: In chemistry, the measured quantities often involve different components in the system undergoing measurement and these quantities are not necessarily of the same kind.

Note 3 to entry: In chemistry, selectivity of a measuring system is usually obtained for quantities with selected components in concentrations within stated intervals.

Note 4 to entry: Selectivity as used in physics (see Note 1 to entry) is a concept close to specificity as it is sometimes used in chemistry.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99: 2007, 4.13, modified — EXAMPLE 5 deleted.]

3.8.39

stability of a measuring instrument

stability

property of a measuring instrument, whereby its metrological properties remain constant in time

Note 1 to entry: Stability can be quantified in several ways.

EXAMPLE 1:

In terms of the duration of a time interval over which a metrological property changes by a stated amount.

EXAMPLE 2:

In terms of the change of a property over a stated time interval.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99: 2007, 4.19]

3.8.40

significant digits

significant numbers

in a numeral, digit that is needed to preserve a given accuracy or a given precision

Note 1 to entry: Laboratories shall report each element to the same number of significant numbers as used in the pertinent material specifications

Note 2 to entry: When a chemical determination yields a greater number of significant numbers than is specified for an element, the result shall be rounded in accordance with a rounding procedure.

3.8.41

slope

simple linear regression coefficients as established from a least-squares regression of optimized instrument readings against results as obtained with physico-chemical reference methods

Note 1 to entry: This is the parameter b in the calibration (3.4.5) formula.

3.8.42

standard deviation

s

positive square root of the variance

Note 1 to entry: Can be expressed as a coefficient of variation (CV), which is calculated as 100 times the standard deviation divided by the mean and expressed as a percentage.

[SOURCE:ISO 3534-1:2006, 2.37, modified — Note 1 to entry added, EXAMPLE deleted.]

3.8.43

steady-state operating condition

operating condition of a measuring instrument or measuring system in which the relation established by calibration (3.4.5) remains valid even for a measurand varying with time

[SOURCE:JCGM 200:2012, 4.8]

3.8.44

systematic error

systematic measurement error

systematic error of measurement

component of measurement error (3.8.11) that in replicate measurements remains constant or varies in a predictable manner

Note 1 to entry: A reference quantity value (3.4.16.1) for a systematic measurement error is a true quantity value (3.8.45) , or a measured quantity value (3.4.16.2) of a measurement standard of negligible measurement uncertainty (3.8.20) , or a conventional quantity value.

Note 2 to entry: Systematic measurement error, and its causes, can be known or unknown. A correction can be applied to compensate for a known systematic measurement error.

Note 3 to entry: Systematic measurement error equals measurement error minus random measurement error.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99: 2007, 2.17]

3.8.45

true quantity value

true value of a quantity

true value

quantity value (3.4.16) consistent with the definition of a quantity

Note 1 to entry: In the error (3.8.11) approach to describing measurement, a true quantity value is considered unique and, in practice, unknowable. The uncertainty (3.8.20) approach is to recognize that, owing to the inherently incomplete amount of detail in the definition of a quantity, there is not a single true quantity value but rather a set of true quantity values consistent with the definition. However, this set of values is, in principle and in practice, unknowable. Other approaches dispense altogether with the concept of true quantity value and rely on the concept of metrological compatibility of measurement results for assessing their validity.

Note 2 to entry: In the special case of a fundamental constant, the quantity is considered to have a single true quantity value.

Note 3 to entry: When the definitional uncertainty (3.8.20) associated with the measurand is considered to be negligible compared to the other components of the measurement uncertainty (3.8.20) , the measurand can be considered to have an “essentially unique” true quantity value. This is the approach taken by the GUM and associated documents ここで, the word “true” is considered to be redundant.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99: 2007, 2.11]

3.8.46

trueness

measurement trueness

trueness of measurement

closeness of agreement between the average of an infinite number of replicate measured quantity values (3.4.16.2) and a reference quantity value (3.4.16.1)

Note 1 to entry: Measurement trueness is not a quantity and thus cannot be expressed numerically, but measures for closeness of agreement are given in the ISO 5725 series.

Note 2 to entry: Measurement trueness is inversely related to systematic measurement error (3.8.44) , but is not related to random measurement error (3.8.27) .

Note 3 to entry:"Measurementaccuracy" (3.8.1) should not be used for"measurement trueness".

[SOURCE:JCGM 200:2012, 2.14]

3.8.47

verification

provision of objective evidence that a given item fulfils specified requirements

EXAMPLE 1:

Confirmation that a given reference materials (3.4.14) claimed is homogeneous for the quantity value (3.4.16) and measurement procedure concerned, down to a measurement portion having a mass of 10 mg.

EXAMPLE 2:

Confirmation that performance properties or legal requirements of a measuring system are achieved.

EXAMPLE 3:

Confirmation that a target measurement uncertainty (3.8.20) can be met.

Note 1 to entry: When applicable, measurement uncertainty (3.8.20) should be taken into consideration.

Note 2 to entry: The item can be, e.g. a process, measurement procedure, material, compound, or measuring system.

Note 3 to entry: The specified requirements can be, e.g. that a manufacturer's specifications are met.

Note 4 to entry: Verification in legal metrology, as defined in VIML[53], and in conformity assessment in general, pertains to the examination and marking and/or issuing of a verification certificate for a measuring system.

Note 5 to entry: Verification should not be confused with calibration (3.4.5) . Not every verification is a validation (3.8.48) .

Note 6 to entry: In chemistry, verification of the identity of the entity involved, or of activity, requires a description of the structure or properties of that entity or activity.

[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.45]

3.8.48

validation

confirmation, through the provision of objective evidence, that the requirements for a specific intended use or application have been fulfilled.

Note 1 to entry: The objective evidence needed for a validation is the result of a test or other form of determination such as performing alternative calculations or reviewing documents.

Note 2 to entry: The word “validated” is used to designate the corresponding status.

Note 3 to entry: The use conditions for validation can be real or simulated.

[SOURCE:ISO 9000:2015, 3.8.13]

3.8.49

within-laboratory repeatability standard deviation

srLab

standard deviation of test results obtained with the same method on identical test items in the same laboratory within a short interval of time by the same operator using the same equipment

[SOURCE:ISO 25337:2010, 3.4]

3.8.50

within-laboratory reproducibility standard deviation

sRLab

standard deviation of test results obtained with the same method on identical test items in the same laboratory by different operators, preferably using different equipment, over a longer period of time

[SOURCE:ISO 25337:2010, 3.5]

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