JIS B 3502:2011 プログラマブルコントローラ―装置への要求事項及び試験 | ページ 10

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しなければならない。また,PFVP試験プログラム以外の変更がなく,異常又はいかなる種類の意図しな
い状態があってはならない。
6.4.2.1 緩やかな停止·始動試験
  緩やかな停止·始動試験は,表23及び図8による。
                                 表23−緩やかな停止·始動試験
    引用規格                なし
    EUT(供試品)設定       製造業者の仕様による。
    初期測定                PFVP(2.5参照)による。
    試験方法                図8参照
    初期·最終条件          定格電圧(Ue),定格周波数(Fn),リップルなし
    最低電圧(V)           0(ゼロ)
    最低電圧での放置時間(s)(10±20)%
    サイクル数              3サイクル
    サイクル間隔 t(s)     1    中間測定                PFVP(2.5参照)による。
    停止限界電圧(SDL)     電圧降下中に,PLCシステムが製造業者が定めた停止シーケンス,又はPFVP
                             によらない動作を始める電圧。
    平均SDL(SDLav.)       3サイクル測定したSDLの平均。
    判定                    6.4.2による。
注a) 製造業者の仕様によるか又は10±2 s
                                  図8−緩やかな停止·始動試験

――――― [JIS B 3502 pdf 46] ―――――

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6.4.2.2 供給電源変動試験
  供給電源変動試験は,表24,図9及び図10による。
                                    表24−供給電源変動試験
    引用規格                なし
    EUT(供試品)設定       製造業者の仕様による。
    初期測定                PFVP(2.5参照)による。
    試験方法                高速変動(図9参照)            低速変動(図10参照)
    初期·最終条件          定格最低電圧(Ue min),定格周波数(Fn),リップルなし
    最低電圧(U)     (V) 0                              0.9×SDLav.±10 % a)
    最低電圧での放置時間 (s) 0                            0
    サイクル数              3サイクル                      3サイクル
    試行間の時間間隔 t (s) 1    中間測定                PFVP(2.5参照)による。
    判定                    6.4.2による。
    注a) SDLav.は,緩やかな停止·始動試験(6.4.2.1)の結果による。
                                   図9−高速供給電源変動試験
                                  図10−低速供給電源変動試験

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6.4.2.3 瞬時停電試験
  瞬時停電試験は,表25による。
  対象電源供給端子は,図2のF(装置電源供給端子)とする。
  試験中は,PFVP(2.5参照)を満足しなければならない。
                                      表25−瞬時停電試験
 引用規格               JIS C 61000-4-11                  IEC 61000-4-29
 EUT(供試品)設定      製造業者の仕様による。
 初期測定              PFVP(2.5参照)による。
 供給電圧,電源周波数  Ue min a),Fn                      Ue min a)
                                      交流電源                          直流電源
 継続時間                                                  PS1 : ≧1 ms c)
                         ゼロクロスから開始し0.5サイクルb) c)                PS2 : ≧10 ms c)
 最低電圧(V)                          0                        0              0
 性能判定基準           PLCシステムは,正しく動作を継続しなければならない。
                         機能面又は性能面で損失があってはならない。d)
 サイクル数             20サイクル
 試行間の時間間隔 t (s) 1 中間測定              PFVP(2.5参照)に従って通常の操作が維持できなければならない。e)
 最終判定               PLCシステムは,PFVP(2.5参照)に従って正しく動作を継続しなければならない。
 注a) Ue minは,表6におけるUeの許容範囲内の最小の電圧である。
    b) 製造業者は,任意の位相を選択してもよい。
    c) 製造業者は,この表より長い瞬時停電時間を仕様としてもよい。
    d) これらの基準は,表31の性能判定基準Aと同意である。
    e) 同じ電源に接続している出力又は応答が速い入力は,試験中一時的に影響を受けても,電源回復後は正常動
      作に復帰しなければならない。
6.4.3 装置電源誤接続試験
6.4.3.1 直流電源の逆極性耐力試験(耐力試験)
  逆極性の定格電圧を10秒間加える。その結果,ヒューズ溶断など,製造業者が指定した状態にならなけ
ればならない。
  試験後,PLCシステムは,PFVP(2.5参照)に合格しなければならない。ヒューズなどの保護素子は,
検証前にリセットしてもよい。
6.4.3.2 許容範囲外電圧及び/又は周波数の試験
  通常稼動条件上限(Ue max)を超える電圧範囲,及び/又は通常稼動条件(Fn max及びFn min)の範囲外周
波数に対しては,受渡当事者間の協定による。

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6.4.4 メモリバックアップ要求事項の検証
6.4.4.1 バックアップ期間耐久試験
  バックアップ期間耐久試験は,表26による。
                             表26−メモリバックアップ期間耐久試験
    引用規格            なし
    EUT(供試品)設定   PFVP(2.5参照)による。
    準備時間            製造業者の指定による(十分に充電するために必要な時間)。
    試験方法の選択      試験A又は試験B
    試験方法                         試験A                            試験B
    初期条件                                              メモリバックアップ電源は,十分に充電
                         メモリバックアップ電源は,十分に充電
                         しなければならない。             しなければならない。
                                                           外部供給電源を,接続してはならない。
                         外部供給電源を,接続してはならない。
    温度(℃)          開放形装置 : 55                   一般試験条件(2.6)
                         閉鎖形装置 : 40
    試験時間(h)       300                              1 000
    最終判定            PFVP(2.5参照)によって,PLCシステムが正常であることを確認する。
                         メモリの保持内容が変化していないことを確認する。
6.4.4.2 メモリバックアップ電源の交換方法の検証
  メモリバックアップ電源の交換方法の検証は,表27による。
                            表27−メモリバックアップ電源の交換試験
    引用規格                なし
    EUT(供試品)設定       PFVP(2.5参照)による。
    交換バックアップ電源    製造業者の仕様に従うメモリバックアップ電源
                             (十分に充電しなければならない。)
    最終判定                PFVP(2.5参照)によって,PLCシステムが正常であることを確認する。
                             メモリの保持内容が変化していないことを確認する。
6.4.4.3 その他の要求事項の検証
  メモリバックアップ電源を取り外し,可変電圧電源を接続してメモリバックアップ電源電圧低下のアラ
ームについて試験を行う(5.1.2参照)。

6.5 入出力特性の検証

6.5.1 一般事項
  試験手順の詳細については,特に規定しない。1.2で規定する条件を満たす詳細な試験手順については,
受渡当事者間の協定による。
  試験手順の詳細については,特に規定しないが,各試験項目については,全て実施する。
  特に指定がない限り,全ての試験は,同一入出力チャネルに対し2回行う。
a) 1回目の試験 最低動作周囲温度(表2の5 ℃又はTmin)
b) 2回目の試験 最高動作周囲温度(表2の40 ℃,55 ℃又はTmax)
  アナログ入力モジュール及びデジタル入力モジュールについては,形式ごとに1チャネル試験すればよ

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い。ただし,全形式について試験する。
  マルチチャネル出力モジュールは,全チャネルを試験する。
6.5.2 デジタル入力の検証
6.5.2.1 動作範囲試験
  全ての要求事項に適合することを確認する。
  試験手順は,受渡当事者間の協定による。
6.5.2.2 信号の逆極性耐力試験
  試験手順は,デジタル入力に逆極性信号を10秒間加える。
  判定は,製造業者が指定した状態になった場合,装置は,PFVP(2.5参照)に合格しなければならない。
ヒューズなどの保護素子は,検証実施前にリセットしてもよい。
6.5.2.3 その他の要求事項の検証
  5.2.1及び5.2.1.3のデジタル入出力の要求事項に適合していることを検証しなければならない。
6.5.3 デジタル出力の検証
6.5.3.1 動作範囲試験
  全ての要求事項に適合することを確認する。
  試験手順は,次による。
a) 電流範囲 受渡当事者間の協定による。
b) 電圧降下 受渡当事者間の協定による。
c) 漏れ電流 出力保護素子又は回路を取り除かない。
d) 通常の使用状態における一時的な過負荷 交流出力の場合は,JIS C 8201-5-1のAC-15,直流出力の
    場合はJIS C 8201-5-1のDC-13を適用する。
      交流短絡保護付出力の一時的な過負荷電流値は,通常,定格電流の2倍から20倍となる(5.2.2.2.3
    参照)。

――――― [JIS B 3502 pdf 50] ―――――

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