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8.3.4 電圧ディップ及び瞬時停電
これらの制限は,図2の装置電源インタフェース又はポート(F)に適用する。
PLCシステム(リモート入出力局及び非常設の周辺機器を含む。5.6参照。)は,表35に示す電源の瞬
時停電時間においても正常動作を維持しなければならない。
電源の瞬時停電時間が長い場合には,PLCシステムは,正常動作を維持するか又はあらかじめ定めた状
態に移行し,正常動作に復帰するまで明確に規定した動作をしなければならない。
注記1 同じ電源に接続する出力及び応答が速い入力は,電源変動に応答するものもある。
表35−電圧ディップ及び瞬時停電(EMC要求事項)
電源タイプa) 電源条件の厳しさレベルb) 最大瞬時停電時間 UeからUeに対する割合c) 性能判定基準
%
AC PS2 0.5周期d) 0% A
5 s(250/300周期)e) 0% C
0.2 s(10/12周期)e) 40 % C
0.5 s(25/30周期)e) 70 % C
注a) 電圧ディップ及び瞬時停電は,Ueから開始する。
b) PS2は,AC電源供給のPLCシステムに適用する。
c) Ueは,表6の定格電圧値を示す。
d) Fn=50/60 Hzでの任意の位相角(9.12参照)
e) 電源周波数Fn=50/60 Hz
注記2 表35のEMC電圧ディップ及び瞬時停電の限界は,JIS C 61000-6-2の要求から若干異なる。
電圧ディップ及び瞬時停電の要求事項は,この規格の旧版から引き継いだ。さらに,JIS C
61000-6-2では,判定Bと定義しているが,これは,PLCシステムのアプリケーションでは
有用ではない。とりわけ,PLCシステムのアプリケーションでは,0.51周期の瞬時停電で,
判定Aが必要である。実際のPLCシステムでは,工業環境の要求事項は,上記の要求事項
が必要であることが経験的に裏付けられている。
この要求事項は,9.12に従って検証する。
8.4 EMCの試験及び検証に関する要求事項
EMCの試験及び検証は,箇条9に従って製造業者側で実施する。
8.5 EMCに関する情報についての要求事項
EMCに関する情報は,箇条10に従って製造業者側が提供する。
9 電磁両立性(EMC)形式試験及び検証
EMCの形式試験については,表31の性能判定基準による。
9.1 電磁両立性関連試験
PLCシステムの伝導,エミッション及び各々のイミュニティについては,製造業者のガイドラインに従
って試験を行わなければならない。
全てのEMC試験は,正当に定義され,再現可能な方法によって実施しなければならない。
全てのEMC試験は,形式試験である。
ある試験が不適切で不要であるかどうかは,特定の機器の電気的特性及び使用状況を考慮して決定する
――――― [JIS B 3502 pdf 66] ―――――
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ことができる。この場合,試験を行わないという決定及びその根拠を試験報告書に記録しなければならな
い。
9.2 試験環境
EUTは,指定の試験サイト内に設置し,補助装置は,試験環境の影響範囲外に設置しなければならない。
特定の環境では,少なくとも放射体から近距離にある装置は,妨害の影響を受ける可能性があることを想
定することが望ましい。
工業環境では,30 mの距離をとることが望ましい。
全ての入力·出力ケーブルは,モニタリング及び試験のために,通常どおりループバックしてもよい,
及び/又は標準的な負荷を接続しても差し支えない。
一般に,マルチチャネルI/Oの場合,全てのチャネルを調べる代わりに,代表として一つの回路を試験
してもよい。ON/OFF状態及び/又は許容負荷の最大の点数を,試験しなければならない。
9.3 放射妨害の測定
放射妨害の測定は,表36による。
表36−放射エミッションの測定
準拠規格 CISPR 16-2-3
試験条件 CISPR 16-2-3 a) による。
距離及び方法b) 表29参照
取付条件 製造業者の仕様による。
周波数帯域 表29参照
限度値 表29参照
注a) オープンサイトの物理的特性をもたない放射試験サイトで試験してもよい。
CISPR 16-1-4に示すように,CISPR 16-1-4によって測定したサイトの水平·垂直方向の減衰値が
サイトのCIS理論減衰値を基準に±4 dBの誤差の範囲にある場合,周波数帯域30 MHz1 GHzの
放射試験サイトを代わりに用いる。
代替放射試験サイトで有効な結果が得られたことを示すため,この代替放射試験サイトで30 MHz
又は1 GHzの周波数帯域において測定した距離を考慮したうえで有効とする。
このような代替サイトは,有効な結果が得られることを示す根拠を準備しなければならない。
b) 測定距離は,EUT若しくはそのきょう体と試験サイトの測定用受信アンテナとの距離であるか,又
は装置を設置する建物の外壁と試験サイトの測定用受信アンテナとの距離である。
9.4 伝導妨害の測定
伝導妨害の測定は,表37による。
表37−伝導エミッションの測定
準拠規格 CISPR 16-2-1及びCISPR 16-1-2
試験条件 CISPR 16-2-1の7.4.1及びCISPR 16-1-2の4.3による。
適用ポート AC装置電源ポート(F)
取付条件 製造業者の仕様による。
周波数帯域 表29参照
限度値 表29参照
――――― [JIS B 3502 pdf 67] ―――――
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9.5 静電気放電
静電気放電は,表38による。
表38−静電気放電イミュニティ試験
準拠規格 JIS C 61000-4-2
EUT構成 製造業者の仕様による。
初期条件 PFVP(2.5参照)による。
取付条件 製造業者の仕様及びJIS C 61000-4-2の規定による。
適用ポイントの選択 a) ESD試験は,次の対象に適用する。
1) 操作者が触れることができる機器(例えば,HMI,PADT,TE)
2) きょう体のポート
3) 不用意な接触への保護をしていないもので,操作者が触れることが
できる部品(例えば,スイッチ,キーボード,保護·機能接地,モ
ジュール収納体,コネクタを正しく取り付けている通信ポート及び
金属コネクタ。)
b) ESD試験は,コネクタがない通信ポート,I/Oポート又は電源ポート
には適用してはならない。
試験方法 接触放電法 EUT,水平·垂直結合板
気中放電法 EUT
試験の厳しさレベル 表32又は表D.1参照
放電間隔 ≧1 s
1か所当たりの放電回数 EUT(供試品)を大地に放電後10回
試験中の測定及び検証 PFVP(2.5参照)による。
性能判定基準 表32又は表D.1 a) 参照
注a) 試験中に,供試基本PLCシステムに誤動作が1回発生した場合だけ,2回目の10回放電を実施し,
再度誤動作が発生した場合には,不合格とする。
9.6 放射無線周波電磁界-振幅変調
放射無線周波電磁界は,表39による。
表39−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
準拠規格 IEC 61000-4-3
EUT構成 製造業者の仕様による。
初期条件 PFVP(2.5参照)による。
取付条件 EUTは,校正済試験フィールドに設置する。
掃引周波数帯域 表32又は表D.1参照a)
変調 表32又は表D.1参照
試験電磁界の強度 表32又は表D.1 b) 参照
試験中の測定及び検証 PFVP(2.5参照)による。
性能判定基準 表32又は表D.1参照
注a) IEC 61000-4-3の附属書Hも参照。
b) 国際電気通信連合放送周波数帯域,87108 MHz,174230 MHz及び470790 MHzは,電界強度
レベルを3 V/mとする。
――――― [JIS B 3502 pdf 68] ―――――
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9.7 電源周波数磁界
電源周波数磁界は,表40による。
表40−電源周波数磁界イミュニティ試験
準拠規格 JIS C 61000-4-8
EUT構成 製造業者の仕様による。
初期条件 PFVP(2.5参照)による。
取付条件 EUTは,1 m四方の誘導コイルの磁界に置く。
周波数(電源ライン) 表32又は表D.1参照
試験方法 連続磁界にEUTを置く方法。
試験磁界の強度 表32又は表D.1参照
試験中の測定及び検証 PFVP(2.5参照)による。
性能判定基準 表32又は表D.1 a) 参照
注a) CRTの場合,磁界強度が3 A/mより大きいときは,性能判定基準はBである。
9.8 ファストトランジェント・バースト
ファストトランジェント·バーストは,表41による。
表41−ファストトランジェント·バーストイミュニティ試験
準拠規格 JIS C 61000-4-4
EUT構成 製造業者の仕様による。
初期条件 PFVP(2.5参照)による。
取付条件 EUTは,例えば指定の容量性結合によって,入出力配線で受ける
放射電磁妨害の影響を受けないようにしなければならない。
定格電圧時における厳しさのレベル 表33,表34又は表D.2参照
試験時間 1分以上
適用ポート· 50200 pFの容量性結合クランプ
Al,Ar,Be,Bi,E :
方法 通信
C,D : I/O
J : I/O電源
K : 補助電源出力
F : 装置電源 33 nF直接結合
試験中の測定及び検証 PFVP(2.5参照)による。
性能判定基準 表33,表34又は表D.2参照
注記 この試験の繰返し精度は,容量性結合クランプ内の配線数と配線との相対位置に密接に関係する。
――――― [JIS B 3502 pdf 69] ―――――
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9.9 サージ
サージは,表42による。
表42−サージイミュニティ試験
準拠規格 JIS C 61000-4-5
EUT構成 製造業者の仕様による。
初期条件 PFVP(2.5参照)による。
取付条件 製造業者の仕様による。
定格電圧時における厳しさのレベル 表33,表34又は表D.2参照
放電回数 正極,負極のそれぞれで5回
繰返し間隔 1分間に1回以上
適用ポート·方法 容量性接続による結合方法
シールド 圀
シールドと基準接地との間で2
Al,Ar,Be,Bi,E :
通信
C,D : I/O
42
非シールド Al,Ar,Be,Bi,E : 圀一 圀一
通信
C,D : I/O
J : I/O電源
K : 補助電源出力
F : 装置電源 12 圀一 圀一
試験中の測定及び検証 PFVP(2.5参照)による。
性能判定基準 表33,表34又は表D.2参照
9.10 無線周波電磁界伝導妨害
無線周波電磁界伝導妨害は,表43による。
表43−無線周波電磁界伝導妨害イミュニティ試験
準拠規格 JIS C 61000-4-6
EUT構成 製造業者の仕様による。
初期条件 PFVP(2.5参照)による。
取付条件 EUTは,例えば指定の磁気的結合によって,入出力配線で受ける
放射電磁妨害の影響を除去しなければならない。
定格電圧時における厳しさのレベル 表33,表34又は表D.2参照
掃引周波数帯域 150 kHz80 MHz
変調 1 kHzの正弦波によって80 %振幅変調
試験レベル(非変調) 表33,表34又は表D.2参照
適用 Al,Ar,Be,Bi,E : 通信 EUTとクランプ又はCDN(結合·減結合回路網)との間の全て
ポート C,D : I/O のケーブルは,可能な限り短くする(0.3 m以下)。
F : 装置電源 CDN,EM又は電流結合クランプ
J : I/O電源
K : 補助電源出力
試験中の測定及び検証 PFVP(2.5参照)による。
性能判定基準 表33,表34又は表D.2参照
――――― [JIS B 3502 pdf 70] ―――――
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JIS B 3502:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61131-2:2007(MOD)
JIS B 3502:2011の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.240 : 情報技術(IT)の応用 > 35.240.50 : 産業におけるITの応用
- 25 : 生産工学 > 25.040 : 産業オートメーションシステム > 25.040.40 : 工業計測及び制御