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部分的にだけ,二重·強化絶縁によって保護した装置には,この記号を表示してはならない。
注記 IEC 60417-5172 (2003-02) による記号。
11.15.5 SELV/PELVによって電源を供給する装置
SELV/PELVだけから電源を供給する装置は,装置上に表示するか,及び/又は装置の説明書に記載しな
ければならない。
11.15.6 定格情報
装置には,次の情報を適切に表示しなければならない。ただし,e) 又はf) のいずれかの表示でもよい。
a) 定格電圧又は電圧範囲を,ボルト単位(V)
b) 定格周波数を,ヘルツ単位(Hz)
c) 電源供給システムの種類(AC,DC,AC/DC又はIEC 60417の5032,5031,5033の記号)
d) 単相以上の場合,交流の相数
e) 定格電流を,アンペア単位(A)
f) 入力及び/又は出力の定格電力を,ワット単位(W)又はボルト−アンペア単位(VA)
開放形の装置の場合には,装置上に表示するかマニュアル中に記載しなければならない。
11.16 安全性に対する形式試験及び検証への要求事項
安全性に対する試験及び検証は,箇条12に従って,製造業者が行わなければならない。
11.17 安全性に対する定常試験及び検証への要求事項
安全性に対する定常試験又は等価な検証方法(箇条13参照)は,製造業者が,13.1及び13.3に従って
行わなければならない。
11.17.1 絶縁耐力に対する検証への要求事項
感電に対する保護は,非SELV回路とSELV回路との間,非SELV回路と接触可能な導体部との間,及
び絶縁した非SELV回路間において,検証しなければならない。検証は,次のいずれかの方法で行わなけ
ればならない。
製品に対しての定常試験内の絶縁耐力試験は,13.2に従う。
製品開発工程における検証とは,全ての関連する絶縁材料,製品の空間距離及び沿面距離又は全ての絶
縁した構成要素が,次のいずれかの条件を満たすことを確認することである。
a) 11.12の構成要素に対する要求事項
b) 100 %の絶縁耐力試験
c) 要求する空間距離及び沿面距離を満たしていることの,実測による検証
11.17.2 保護接地の検証における要求事項
製造業者は,13.3に規定する試験に従い,保護接地のインタフェース又はポートと,操作者が接触する
おそれがある接地するべき全ての金属部との間で,保護接地の連続性を検証しなければならない。
11.18 安全性の情報に関する要求事項
安全性の情報は,箇条14に従って製造業者が提供しなければならない。
――――― [JIS B 3502 pdf 91] ―――――
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12 安全性形式試験及び検証
12.1 安全性関連機械的試験及び検証
12.1.1 鋼球衝突耐力試験
鋼球衝突耐力試験は,表58による。
表58−鋼球衝突耐力試験a)
引用規格 JIS C 60950-1
EUT(供試品)の選択 安全超低電圧(SELV)又は保護超低電圧(PELV)を超える電圧が加わる部分もつ閉鎖形装置。
適用除外 ハンドヘルド形装置,ディスプレイ,表示灯及び可動部をもつ記憶装置。
試験方法 図12による。
試験回数 各面につき1回。
最終測定 操作者接触安全性試験(12.1.2及び12.1.3),絶縁耐力試験(12.2.1)
注a) EUT(供試品)は,試験前後において機能する必要はない。
EUT(供試品)に質量500±25 g,直径約50 mmの滑らかな表面の鋼球を衝突させる(図12参照)。EUT
(供試品)の上面への試験は,鉛直方向1 300 mmからEUT(供試品)へ鋼球を自然落下させる。EUT(供
試品)の側面への試験は,鋼球をひもでつるし,振り子として衝突位置から鉛直方向1 300 mmの位置で
放す。
単位 mm
a) 上面 b) 側面
注記 ひもが鉛直になったとき,鋼球がEUT(供試品)に接しなければならない。
図12−鋼球衝突耐力試験
12.1.2 操作者接触安全性試験
操作者接触安全性試験は,表59による。
この試験は,隔離による感電保護の可否の確認を目的とする。閉鎖形機器及び表46の感電保護が必要な
ポートは,評価の対象の一例である。
――――― [JIS B 3502 pdf 92] ―――――
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表59−操作者接触安全性試験
引用規格 JIS C 0920
EUT(供試品)の選択 閉鎖形装置
EUT(供試品)の数 形式ごとに1台
前処理 新品
取付け 製造業者の仕様による。
ドレン抜き孔·通風窓 使用時と同じ状態
可動部品に対する試験 EUT(供試品)が通電及び動作状態のとき実施
感電試験 EUT(供試品)が無通電状態のとき実施
判定 ジョイント試験指(IP2X)及びテストピン(12.1.3)は,全ての危険充電部又は
可動部品(滑らかな回転軸を除く。)に接触してはならない。
その部分が操作者に接触可能かどうか判定できない場合には,12.1.3の定義に従う。特に指定がない場
合には,ジョイント試験指(図C.1)及びテストピン(図C.2)を通じて力を加えない。ある部分が,ジョ
イント試験指若しくはテストピンで触れることができる場合,又は適切な絶縁部で覆わない条件下で触れ
ることができる場合には,その部品は接触可能とみなす。
プラグインモジュールとして受け入れる装置に対して,その装置の開放部から180 mmの深さまでジョ
イント試験指で触れることができない場合(12.1.3),その部分は接触可能とみなさない。また,開口部か
ら180 mm以上の深さにある部分も接触可能とみなさない。
(道具の有無にかかわらず)通常の操作者が意図した操作によって接触の可能性が増す場合,その操作
は,12.1.3の試験前に実施すべきである。その例としては,カバーを取り除く場合,扉を開ける場合,操
作部を調整する場合,消耗品を交換する場合,部品を取り外す場合などがある。
12.1.3 開放部の一般試験(接触可能部分の判定)
ジョイント試験指(図C.1)は,あらゆる可能な位置に触れなければならない。
力を加えることで接触可能となる部分に対し,硬く曲がらないように作ったジョイント試験指は,10 N
の力を加えて,触れなければならない。その力は,硬く曲がらないように作ったジョイント試験指の先端
からEUT(供試品)に作用するので,(EUTの)くさび状部分及びレバー動作部への接触は避ける。試験
は,底面を含む全ての外面に実施しなければならない。
テストピン(図C.3)は,危険な充電部となる部分上の全ての開口部に挿入する。テストピンは,自由
な方向に保持し,100 mmまで突き刺してもよい。11.2.5による単一故障状況下での保護についての追加の
安全測定は,該当する部分がこの試験のときだけ接触可能となるので,単独で実施する必要はない。
テストピン(図C.4)は,ねじ回し,その他工具が必要なプリセット調節部に達するための貫通孔に挿
入する。テストピンは,孔を通し全ての可能な方向を試験する。貫入長さは,きょう体表面から調整器の
軸までの3倍又は100 mmまでのいずれか短い側で,その長さを超えないようにする。
12.1.4 配線曲げの検証
曲げ試験は,導体が単線であるか又は絶縁被覆の厚さが0.8 mm未満であり,操作中及び保全時に曲げ
ることがある配線に適用する。
試験手順は,次による。
電線及びケーブルを,その最大折り曲げ範囲で往復させる。
曲げ回数は,次による。
− 通常使用時に曲げることがある配線は,500回。
――――― [JIS B 3502 pdf 93] ―――――
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− 保全時にだけ曲げることがある配線は,25回。
判定基準は,絶縁耐力試験(12.2.1及び次の絶縁破壊試験)に合格することである。
絶縁破壊試験方法は,供試ケーブルを装置から取り外し,ケーブルの曲げ部に導電性はく(箔)を巻き
付け,表60又は表61で規定する試験電圧を,各しん(心)線とほかのしん線一括との間,及び各しん線
と導電性はく(箔)との間に順次加える。
12.1.5 温度試験
温度は,装置が最大の損失を生み出している状態で測定しなければならない。この損失は,負荷電流,
入力電圧,入力周波数,入出力デューティサイクルなどの幾つかの組合せによる。装置は,PLCシステム
の動作周囲温度(表2)の最大値に等しい周囲試験温度中で,通常使用位置に据え付ける。しかし,装置
の測定温度が,最大定格時の動作温度と実際の試験温度との間の違いによって増加した場合には,装置は,
より低い試験温度環境下に置いてよい。装置は,定常状態で測定しなければならない。試験温度は,換気
する装置の場合は,空気流入面から50 mm以上離れない1点での測定値とし,換気しない装置の場合は,
その垂直中央を通る水平面から50 mm以上離れない1点での測定値とする。試験中の装置の周囲環境は,
試験中の装置でない部分を源とする空気の流れの影響を受けないようにする。
配線は,装置の最大定格電流及び製造業者の指示に従って,必要最小限の長さにすることが望ましい。
絶縁耐力試験(12.2.1)は,温度試験に続いて実施しなければならない。
12.1.6 保護コーティングの試験
試験は,JIS C 60664-3のタイプ1によって行うか,又は認可を受けた試験機関によって適切な安全上の
要求事項の認定を得なければならない。
12.1.7 剛性試験
装置は,硬い支持物に対し確実に固定し,半球状の先端をもつ直径12 mmの硬い棒で30 Nの力を加え
なければならない。棒は,装置使用中に接触可能で破壊時に危険を生じる可能性があるきょう体部分のあ
らゆる箇所を試験しなければならない。非金属きょう体をもつ装置には,周囲温度40 ℃又は4.1.1で規定
する装置の最高動作周囲温度で試験を行わなければならない。
検証は,力を加える試験中及び試験後に12.1.2による。
12.1.8 空間距離及び沿面距離の検証
11.4の空間距離及び沿面距離への要求事項は,可能な限り,実測によって検証しなければならない。製
造業者の仕様(図面など)を,EUT(供試品)の代わりに用いてもよい。
12.1.9 現場配線端子構造の検証
端子は,11.8の要求に従って設計しなければならない。これは,被覆を8 mm又は設置手順で示された
長さだけむ(剥)いたより(撚)線を十分差し込んだ状態で検証しなければならない。
注記 導線がばらけた素線の存在は,製造業者が指示する設置方法の想定外である。
12.2 安全性関連電気試験
基本PLCシステムに接続する試験装置を保護するために,必要な場合には,外部インピーダンス(フィ
ルタ)を設置してもよい。
12.2.1 絶縁耐力検証試験
絶縁耐力試験は,40±2 ℃又は装置の最高定格動作雰囲気温度(条件追加)の温度条件下,相対湿度(92.5
±2.5)%で48時間放置し,前処理したEUTで行う。前処理完了後1時間以内に絶縁耐力試験を実施しな
ければならない。
前処理は,絶縁耐力試験が12.1.1の衝突耐力試験,12.1.5の温度試験など,その他の試験に続けて行う
――――― [JIS B 3502 pdf 94] ―――――
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場合には,必要ではない。
− 交流試験又は直流試験は,表60又は表61で示した試験電圧で実施しなければならない。試験電圧は,
回路の最大の動作電圧に基づく。
− インパルス試験は,空間距離が表49,表50又は表52に満たない場合に限り,実施しなければならな
い。
− 表60又は表61は,11.2で示した絶縁要求事項に基づき選択する。
試験特性は,次による。
− インパルス試験(IEC 60060-1及び次の条件による。)
波形 1.2/50
出力インピーダンス 500 圀 10 %
出力エネルギー 0.5 J±20 %
接続ケーブル長 2 m以下
インパルスの間隔 5 s以上
− 交流試験(IEC 60060-1及び次の条件による。)
試験時間 1分以上
電圧波形 0 Vから開始する(ゼロクロス)
短絡電流 5 mA以下
− 直流試験(IEC 60060-1及び次の条件による。)
試験時間 1分以上
短絡電流 5 mA以下
注記 一般的にフィルタ用コンデンサを用いている箇所(ライン−接地間)は,直流試験を推奨する。
絶縁耐力試験電圧は,次の間で加える。
a) 絶縁した非SELV回路の間
b) 絶縁した非SELV回路とSELV回路との間
c) 絶縁した非SELV回路と接触可能な導電部との間
試験は,図13に示すように,試験回路に接続しているそれぞれのユニット及びモジュールに対して実施
する。モジュールを試験する場合,試験対象以外のモジュールは取り外してもよい。全ての機械式スイッ
チは,“ON”の位置にする。全ての接触可能なきょう体の絶縁部分は,金属はく(箔)で覆わなければな
らない。金属はくは,接触可能な導体部とみなす。
試験中,絶縁箇所に意図しないフラッシオーバ又は絶縁破壊があってはならない(意図したフラッシオ
ーバは,装置に組み込んだサージ抑制素子の正常な動作の一つである。)。
保護素子などの意図した動作は,不合格としない。
――――― [JIS B 3502 pdf 95] ―――――
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JIS B 3502:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61131-2:2007(MOD)
JIS B 3502:2011の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.240 : 情報技術(IT)の応用 > 35.240.50 : 産業におけるITの応用
- 25 : 生産工学 > 25.040 : 産業オートメーションシステム > 25.040.40 : 工業計測及び制御