JIS B 3502:2011 プログラマブルコントローラ―装置への要求事項及び試験 | ページ 20

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        表60−基礎絶縁又は付加絶縁におけるインパルス,電源周波数交流及び直流の試験値a)
         回路の動作電圧b)                       標高02 000 mにおける試験電圧
  V(実効値)(AC),又はV(DC)                           (V)
      基礎絶縁,又は付加絶縁    インパルスのピーク値       AC                   DC
                                  [波形1.2/50      (試験時間1 min以上) (試験時間1 min以上)
            0            50           100           150           300           600  注a) SELV/PELV回路及びユニットについては,試験不要とする。
    b) 装置又は回路の現場配線端子での動作電圧とする。
    c) 正3回及び負3回を,それぞれ1秒間以上の間隔で印加する。
    d) DCの場合は,0    e) DCの場合は,60       表61−二重絶縁又は強化絶縁におけるインパルス,電源周波数交流及び直流の絶縁耐圧a)
         回路の動作電圧b)                       標高02 000 mにおける試験電圧
  V(実効値)(AC),又はV(DC)                           (V)
      二重絶縁,又は強化絶縁    インパルスのピーク値       AC                   DC
                                  [波形1.2/50      (試験時間1 min以上) (試験時間1 min以上)
            0            50           100           150           300           600  注a) SELV/PELV回路及びユニットについては,試験不要とする。
    b) 装置又は回路の現場配線端子での動作電圧とする。
    c) 正3回及び負3回を,それぞれ1秒間以上の間隔で印加する。
    d) DCの場合は,0    e) DCの場合は,60
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   方法a)                         方法b)                        方法c)
  絶縁回路とほかの一括接地した    接触可能な導体部と非SELVの    SELV回路と非SELV回路との
  回路との間の試験                回路との間の試験              間の試験
                                図13−絶縁耐力試験電圧印加方法
12.2.2 保護接地との導通試験
  保護接地との導通試験方法は,次による。
a) 接地していて,人が接触可能な導体部と保護接地端子又は接地接触子との間に,30 Aの定電流を2分
    間以上流す。
b) 試験中は,30 Aになるように電流を維持又は調整する。
c) 12 V以下の電圧を用いる。
d) 電流経路の電圧降下を測定する。測定時,測定プローブの接触抵抗が測定に影響しないように注意す
    る。
  判定基準は,測定値が0.1    地                    
12.2.3 充電エネルギー試験
  装置は,装置電源の外部切断点で装置電源回路に接続したコンデンサの残留電荷による感電の危険がな
いように,設計しなければならない。
  電源を切断するスイッチが存在する可能性を考慮して,装置の検査及び適切な回路図によって適合性を
確認する。
  定格容量0.1                 外部装置電源回路に接続したコンデンサが,次の時定数を超えることがない放
電の手段をもつ場合,装置は適合したとみなす。
− 脱着可能な装置については,1秒
− 固定装置については,10秒

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  関連する時定数は,マイクロファラド(      単位の静電容量及びメガオーム(M        単位の放電抵抗の
積である。静電容量及び抵抗値を求めることが難しい場合は,電圧の減衰の測定を用いてもよい。時定数
に等しい時間で,電圧は,元の値の37 %まで減衰する。
12.2.4 過負荷試験
  スイッチング機器は,表62に示す電流値,電圧値及び力率値をもつ試験回路を開閉しなければならない。
  入時間1秒及び切時間9秒のタイミングからなる入切1回を1サイクルとした,50サイクルを開閉する
ことで試験を完了しなければならない。50サイクルの試験完了後,12.2.5及び必要がある場合,11.11に示
す耐久試験を行わなければならない。
                                    表62−過負荷試験回路値
         使用目的                電流                   電圧                  力率
 交流一般負荷                  定格×1.5                定格                0.750.80
 直流一般負荷                  定格×1.5                定格                   1.0
 交流抵抗負荷                  定格×1.5                定格                   1.0
 直流抵抗負荷                  定格×1.5                定格                   1.0
 交流電磁負荷                   定格a)               定格×1.1 b)            <0.35
 直流電磁負荷                   定格a)               定格×1.1 b)              1.0
 注a) その他特別な規定がない限り,突入電流は,定常値の10倍。
    b) 定格電圧値及び電流値でEUTを設定し,その後で負荷調整をすることなく電圧を10 %まで上昇させる。
  試験の合格·不合格は,装置の電気的,絶縁的及び機械的故障がないことの確認による。
12.2.5 耐久試験
  12.2.4の過負荷試験が完了した後,スイッチング装置は,表63の電流,電圧及び力率をもつ試験回路を
入切させる。入切1回で1サイクルとし,計6 000回行わなければならない。入時間1秒及び切時間9秒
のタイミングとなるサイクルとするが,予備負荷としての最初の1 000サイクルは除く。予備負荷最初の
1 000サイクルは,1秒間に1サイクルとし,最初の1012サイクルは,可能な限り早くその状態にしな
ければならない。
  耐久試験は,汎用又は抵抗用途の半導体出力装置に対して実施する必要はない。
                                     表63−耐久試験回路値
         使用目的                電流                   電圧                  力率
 交流一般負荷                    定格                   定格                0.750.80
 直流一般負荷                    定格                   定格                   1.0
 交流抵抗負荷                    定格                   定格                   1.0
 直流抵抗負荷                    定格                   定格                   1.0
 交流電磁負荷a)                  定格                   定格                 <0.35
 直流電磁負荷a)                  定格                   定格                   1.0
 注a) 試験は,電圧が定格電圧であることを除いては,過負荷試験と同じ。
  試験の合格·不合格は,装置の電気的,絶縁的及び機械的故障がないことの確認による。

12.3 単一故障状態試験

12.3.1 単一故障状態−概要

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  故障状態が,危険な状態に陥る可能性があるか判断するために,装置及びその回路図面を検証しなけれ
ばならない。少なくとも良好な通常状態下で装置が稼動している間に,これらの故障状態を適用しなけれ
ばならない。単一故障状態の幾つかの特殊条件は,12.3.2,12.3.3及び12.3.4に示す。
  装置は,適用された故障の結果による更なる変化が見込まれない時点まで操作する。これは,通常1時
間以内である。1時間後に延焼の危険性,感電又は人への危害を示す徴候が現れた場合には,これらの試
験は,それらの危険状況の一つが発生するまで又は最大4時間続行しなければならない。
  開放形装置に対しては,きょう体を模擬するため装置の1.5倍の大きさの金網かごを用意してもよい。
きょう体又は金網かご及び接地箇所又はむき出しの非充電金属部は,大地へアーク放電しない電源供給回
路の電極に3 Aの高速(ディレイなし)ヒューズを通じて接続しなければならない。
  故障状態は,適切な順番で一度に一つずつ適用しなければならない。複合かつ同時に発生する故障状態
は実施しなくてよい。
  それぞれの故障状態を適用した後,装置は,次のとおりでなければならない。
a) 発炎及び部品の融解がない又は試験中装置の周りに置かれた布製品への着火がない。
b) 接触可能危険充電部を生じない。
c) 3 Aヒューズの溶断がない。
12.3.2 単一故障状態−部品破壊試験
  コンデンサ,ダイオード,その他半導体素子などの個々の部品は,試験中短絡又は開放しなければなら
ない。
  試験を不要とする例外条件は,次による。
− その他部品,回路の一部分が,ほかの部品が開回路状態又は短絡状態とみなした結果によって,重大
    な過負荷になることはないと回路の解析によって判明した場合。
− その故障が,火災又は感電の危険性を増加させるかもしれない部品で,事前に調べられ,装置への適
    用が適切であると認められた部品。
12.3.3 単一故障状態−保護インピーダンス試験
  保護インピーダンスを各部品の組合せで形成する場合には,各部品は短絡又は開放いずれかで,少しで
も厳しい方法を取らなければならない。
  保護インピーダンスが,基礎絶縁と電流制限デバイス又は電圧制限デバイスとの組合せで形成される場
合,基礎絶縁及び電流制限デバイス又は電圧制限デバイスの両方共,単一故障状態を一度に一回適用する。
基礎絶縁は短絡させ,電流制限デバイス又は電圧制限デバイスは,回路短絡又は回路開放のいずれかで,
少しでも厳しい方法を取らなければならない。
12.3.4 単一故障状態−絶縁変圧器試験
  絶縁変圧器の二次巻線は,一度に1巻線分短絡させなければならない。
  変圧器二次側に直結されている電流制限インピーダンス回路又は過電流保護回路は,この試験中接続し
なければならない。

12.4 電力制限回路試験

  出力電圧,最大出力電流及び最大許容電力を次の条件で測定することで,電力制限回路の一致性を確認
する。
a) 出力電圧は,無負荷状態で測定する。
b) 出力電流及び許容電力は,最大電流及び最大電力を個別に生じさせ得る抵抗負荷(短絡回路を含む。)
    を接続し,任意の保護素子を短絡させて60秒間の動作の後に測定する。

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13 安全定常試験

13.1 絶縁耐力試験

  絶縁物の安全性及び/又は遮へい体の安全性は,箇条11の要求事項に従って確認する。絶縁物及び/又
は遮へい体の製造品質は,次の方法のうちの一つによって確認しなければならない。
a) 13.2に従う,製品の定常絶縁耐力試験。
  − この方法を選択した場合には,13.2の試験は,操作者接触可能充電部をもつ装置に対してだけ行わ
      なければならない。
  − その後の製造工程が,これらの試験結果に影響しないと証明できない場合,これら試験は,完全に
      組み立てられたモジュール又は装置に対して行わなければならない。
b) モジュール又は装置に用いられた全ての絶縁部品は,構成要素として全数耐力試験を実施しているこ
    との検証又は11.12の構成要素の要求項目に合致したものとして供給されていることの検証。
      この方法が選択された場合には,次によるものと併せて用いる。
  1) 11.2.2の絶縁耐力の要求に合致する形式試験によって検証したもの。
  2) 製品の設計段階で,11.4の空間距離及び沿面距離に合致すると検証したもの。
  3) 製造された製品との一貫性を保障する,自動化された組立て及び品質管理された製造工程。

13.2 絶縁耐力検証試験

  表64に示す試験電圧は,危険充電部となる端子又は回路と危険充電部ではないほかの装置の回路と接続
する端子を含む全ての接触可能な端子との間に加えなければならない。表64に示す試験項目のうち一つ
を実施しなければならない。
                                   表64−定常絶縁耐力試験a)
          回路の動作電圧b)                       標高02 000 mにおける試験電圧
                                                             (V)
                                  インパルスのピーク値       AC                  DC
   V(実効値)(AC),又はV(DC) [波形1.2/50       (試験時間2 s以上) (試験時間2 s以上)
             0             30             50            100            150            300            600  注a) SELV/PELV回路及びユニットについては,試験不要とする。
    b) 全ての操作者が接触可能な装置又は回路の端子での動作電圧とする。
    c) 正3回及び負3回を,それぞれ1秒間以上の間隔で印加する。
    d) DCの場合は,30    e) DCの場合は,60
13.3 保護接地試験
  保護接地インタフェースと接地することを意図した操作者が接触可能な全ての金属部との間で,簡易導
通試験を行わなければならない。試験は,非SELV/PELVの定格電圧をもつ全てのユニットに対して行わ
なければならない。
  抵抗値は,0.1  地       
――――― [JIS B 3502 pdf 100] ―――――
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