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C 2565-1992
21 1
J b 2
c b 1
L2
2 1 a
J0 b
Q2 1 c
(pdf 一覧ページ番号 )
Q0 0 2 1
J1 b
c b2 1
L2
2 1 a(a h)
J0 b
c
2 1
ここに, L (13)
1 1 1 1 1
a J1 b N0 a J0 a N1 b
c c c c c
懿 空洞の半径 (mm)
h : 空洞の高さ (mm)
b : 試料の半径 (mm)
c : 真空中の光速 (3×1011mm/s)
f0 : 試料を挿入しない場合の共振周波数 (Hz)
試料を挿入しない場合の共振角周波数 (rad/s)
f1 : 試料を挿入した場合の空洞の共振周波数 (Hz)
試料を挿入した場合の空洞の共振角周波数 (rad/s)
替 試料を挿入した場合と試料を挿入しない場合の空洞の共振
周波数の変化分 (Hz)
Q0 : 試料を挿入しない場合の空洞のQの測定値
Q1 : 試料を挿入した場合の空洞のQの測定値
Q2 : 測定試料と同じ 攀 懿 攀 0(無損失)の試料を挿入した
と想定した場合の空洞のQ
f 数として計算したものを図4に示す。
懿 hの条件のもとで式(12)を
0f
例 試料を挿入しない場合,共振器の共振周波数が10GHzのとき,共振器及び磁心の寸法を次のよう
に定めると,算出できる。
2a 22.16 mm
2b 4.1 mm
h a mm
d 5.4 mm
t 5.0 mm
攀 び 攀 式(14),(15),(16)及び図4を用いて算出する。
3
1( 7.3 10 ) (14)
f 1452.
.0780
f0 f
1 2
f0
1 (15)
f
1 .317
f0
――――― [JIS C 2565 pdf 6] ―――――
7
C 2565-1992
1 1 724. 1
2 2
1 2 (16)
Q1 Q2 f f 1 .054 10
1 1 .317
f0 f0
f Q2
0f
図4 と Q0 の関係
5.3 複素透磁率
5.3.1 測定試料 試料の形状は,直径1.0mm以下の棒状とする。ただし,損失が極めて小さい材料につ
いては,厚さが0.3mmを超えない薄板状とする[図5(1)及び図5(2)参照]。
5.3.2 測定条件 測定条件は,次による。
(1) 測定は,透過形方形TE102姿態共振器を使用する(図5参照)。共振器は8.212.4GHzに共振周波数を
もち,負荷Qが2 000以上のものとする。
(2) 試料は,共振器の側壁の中央にあけた一対の穴[図5(1)参照]又はスリット[図5(2)参照]を通して
取り付ける。
(3) 共振器の形状は,図5(1)及び図5(2)参照。
――――― [JIS C 2565 pdf 7] ―――――
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C 2565-1992
(4) 測定周波数は,910GHzとする。
5.3.3 測定 測定は,次による。
(1) 測定回路 5.2.3(1)による。
(2) 測定手順 5.2.3(2)による。
(3) 算出 複素透磁率 j は,式(17)及び式(18)によって算出する。
2
f1 f0 V
2
( )1 (17)
f1 L V
2
1 1 V
2 (18)
Q1 Q0 L2 V
ここに, f0 : 試料を挿入しない場合の共振器の共振周波数 (Hz)
f1 : 試料を挿入した場合の共振器の共振周波数 (Hz)
Q0 : 試料を挿入しない場合の共振器のQの測定値
Q1 : 試料を挿入した場合の共振器のQの測定値
f0に対応する自由空間波長 (mm)
L : 共振器の長さ (mm)
囿 共振器内で試料の占める体積 (mm3)
V : 共振器の容積 (mm3)
――――― [JIS C 2565 pdf 8] ―――――
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C 2565-1992
図5 測定試料及び共振器
5.4 磁気共鳴半値幅及び実効9係数
備考 磁気共鳴半値幅 び実効g係数geffの測定は,400A/m以上の磁気共鳴半値幅をもつ材質の
ものについて適用する。
5.4.1 測定試料 測定試料は,次による。
(1) 形状 試料の形状は,薄円板状又は球状とする。
(2) 寸法 薄円板状試料の場合,試料の直径Dと厚さtとの比は30以上 (D/t≧30) であり,かつ,ストリ
ップライン共振器の中心導体の幅Wと試料の直径Dとの比は3以上 (W/D≧3) とする。
球状試料の場合,図6に示される限界より小さい直径の試料とする。真球度は1001以下とする。
――――― [JIS C 2565 pdf 9] ―――――
10
C 2565-1992
図6 試料寸法限界曲線
5.4.2 測定条件 測定条件は,次による。
(1) 測定周波数 測定周波数は,次のとおりとする。
0.3GHz,1.0GHz,3.0GHz,10.0GHz及び30.0GHz
(2) 共振器 0.3GHz及び1.0GHzでは,両端開放のストリップライン形共振器を使用し,中心に薄円板状
試料を配置して測定する(図7参照)。
3.0GHz以上では方形TE10nモード(nは偶数)透過形共振器を用い,その中心に,球状試料を配置
して測定する(図8参照)。
10.0GHzではTE106モード透過形共振器を用いる。3.0GHz,10.0GHz及び30.0GHzでは,試料と共
振器の体積比がほぼ同一となるように設計された共振器を使用することが望ましい。
5.4.3 測定 測定は,次による。
(1) 測定回路 測定回路は,図3とする。
なお,電磁石は精密調整する。
(2) 測定手順 安定化発振器Aの周波数を共振器の共振周波数の近くで変化し,検出器Hの読みが最大と
なる点に固定する。このときの周波数f0を周波数計Bで読み取る。0.1dB程度の確度をもつ精密級可
変抵抗減衰器Fを所定の値 愀 dB) に設定し,可変抵抗減衰器Cを変化させて検出器Hの読みを基準
値A0に調整する。
次に,試料を共振器に挿入して磁界を印加し,検出器Hの読みが最小になる点の磁界(共鳴磁界
H0)を測定する。磁界はH0に固定し,精密級可変抵抗減衰器Fを,検出器Hの読みが再びA0になる
1 侮
ように調整し,そのときの読みを 愀 dB) とする。a0とarとから式(19)によって
2
( 0 r)
20 log 220 log(10 20 1)(dB) (19)
21 0
1 殊 定し,磁界を変化して検出器Hの読みがA0になる二つの磁界H1,
精密級可変抵抗減衰器Fを 2
H2を測定する。このとき共振器の共振周波数がずれた場合には,微細調整棒(図7及び図8参照)を
調節して共振周波数を合わせ,常に共振状態に保つこととする。
(3) 算出 測定したf0,H1,H2及びH0から, 潟 20)によって,球状試料のgeffは式(21)によって,ま
た,板状試料のgeffは式(22)によってそれぞれ算出する。
H H1 H2 ただし, H1 H2 (20)
――――― [JIS C 2565 pdf 10] ―――――
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JIS C 2565:1992の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 2565:1992の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7725:2010
- ビッカース硬さ試験―試験機の検証及び校正
- JISB7725:2020
- ビッカース硬さ試験―試験機の検証及び校正
- JISC2501:1955
- ケイ素鋼板
- JISC2501:2019
- 永久磁石試験方法
- JISC3202:2014
- エナメル線
- JISZ2244:2009
- ビッカース硬さ試験―試験方法
- JISZ8703:1983
- 試験場所の標準状態