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JISC5160-1:2024の概要
JIS C 5160-1:2024の規格概要
閲覧 情報
この規格は,電気及び電子機器用の主に直流用途の固定電気二重層コンデンサに適用する。この規格は,電子部品の品質評価又はその他の目的において,品種別通則,ブランク個別規格及び個別規格で用いる標準用語,検査手順及び試験方法について規定する。
JISC5160-1:2024 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C 5160-1:2024
- 規格名称
- 電気及び電子機器用固定電気二重層コンデンサ－第１部：品目別通則
- 規格名称英語訳
- Fixed electric double-layer capacitors for use in electric and electronic equipment-Part 1:Generic specification
- 規格の状態
- 有効
- 公示の種類
- 改正
- 公示の種類に関する説明（改正）
- 主務大臣が当該JISを年月の経過に伴って改めることが必要と認めたとき、改正されます。
- 規格番号の西暦年（コロン(：)の後ろの年）は、改正された年になります。
- JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
- 制定年月日
- 2009年07月20日
- 最新改正日：確認日
- 2024年08月20日（改正）
- 主務大臣
- 経済産業
- JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。
- 改訂:履歴
- 2009-07-20 制定日, 2014-10-20 確認日, 2018-02-20 改正日, 2022-06-20 確認日, 2024-08-20 改正日
- JIS 閲覧情報
- C5160-1, JIS C 5160-1
- 引用JIS規格
- C5005-2, C60062, C60063, C60068-1:2016, C60068-2-14, C60068-2-1:2010, C60068-2-20, C60068-2-21, C60068-2-2:2010, C60068-2-45:1995, C60068-2-58, C60068-2-6, C60068-2-69, C60068-2-78, C60695-11-5
- 対応国際規格
- IEC 62391-1:2022(IDT)
- 同等性に関する説明 (IDT)
- IDT: identical（一致）
- 以下の場合、地域又は国家規格は国際規格と一致している。
- a) 地域又は国家規格が、技術的内容、構成及び文言において一致している。又は、
- b) 地域又は国家規格が、ISO/IEC GUIDE 21-1:2005の4.2節に規定した最小限の編集上の変更はあるが、技術的内容において一致している。「逆も同様の原理」があてはまる。
- 引用国際規格
- IEC 60294,IEC 60717
- 国際規格分類
ICS
- 31.060.10
- 正誤票・訂正票
- -
- JISハンドブック
- -
- ページ
- JIS C 5160-1:2024 PDF [58ページ]
JISC5160-1:2024 改訂 履歴 一覧
JISC5160-1:2024 関連規格と引用規格一覧
- JIS C 5005-2:2010
- 品質評価システム―第２部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）
- JIS C 60062:2019
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JIS C 60063:2018
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JIS C 60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第１部：通則及び指針
- JIS C 60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第２－１部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：Ａ）
- JIS C 60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：Ｂ）
- JIS C 60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６部：正弦波振動試験方法（試験記号：Ｆｃ）
- JIS C 60068-2-14:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第２－１４部：温度変化試験方法（試験記号：Ｎ）
- JIS C 60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２０部：試験―試験Ｔ―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JIS C 60068-2-20:2022
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２０部：試験―試験Ｔａ及びＴｂ―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JIS C 60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２１部：試験―試験Ｕ：端子強度試験方法
- JIS C 60068-2-21:2023
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２１部：試験―試験Ｕ：端子強度試験及び部品本体の耐久性試験方法
- JIS C 60068-2-45:1995
- 環境試験方法―電気・電子―耐溶剤性（洗浄溶剤浸せき）試験方法
- JIS C 60068-2-58:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第２－５８部：表面実装部品（ＳＭＤ）のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
- JIS C 60068-2-60:2018
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６０部：混合ガス流腐食試験（試験記号：Ｋｅ）
- JIS C 60068-2-61:1996
- 環境試験方法―電気・電子―一連耐候性試験
- JIS C 60068-2-64:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６４部：広帯域ランダム振動試験方法及び指針（試験記号：Ｆｈ）
- JIS C 60068-2-64:2023
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６４部：広帯域ランダム振動試験方法及び指針（試験記号：Ｆｈ）
- JIS C 60068-2-65:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６５部：音響振動（試験記号：Ｆｇ）
- JIS C 60068-2-66:2001
- 環境試験方法―電気・電子―高温高湿，定常（不飽和加圧水蒸気）
- JIS C 60068-2-67:2001
- 環境試験方法―電気・電子―基本的に構成部品を対象とした高温高湿，定常状態の促進試験
- JIS C 60068-2-68:2002
- 環境試験方法―電気・電子―砂じん（塵）試験
- JIS C 60068-2-69:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６９部：試験―試験Ｔｅ／Ｔｃ：電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法（平衡法）
- JIS C 60068-2-69:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６９部：試験―試験Ｔｅ／Ｔｃ：電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法（平衡法）
- JIS C 60068-2-78:2015
- 環境試験方法―電気・電子―第２－７８部：高温高湿（定常）試験方法（試験記号：Ｃａｂ）
- JIS C 60695-11-5:2018
- 耐火性試験―電気・電子―第１１－５部：試験炎―ニードルフレーム（注射針バーナ）試験方法―装置，試験炎確認試験装置の配置及び指針
- JIS C 60068-2-58:2016/AMENDMENT 1:2020
- 環境試験方法―電気・電子―第２−５８部：表面実装部品（ＳＭＤ）のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法（追補１）
- JIS C 60068-2-67:2001/AMENDMENT 1:2023
- 環境試験方法―電気・電子―基本的に構成部品を対象とした高温高湿，定常状態の促進試験（追補１）
- JIS C 60068-2-69:2019/AMENDMENT 1:2021
- 環境試験方法―電気・電子―第２−６９部：試験―試験Ｔｅ／Ｔｃ：電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法（平衡法）（追補１）
- JIS C 60068-2-69:2019/AMENDMENT 1:2021
- 環境試験方法―電気・電子―第２−６９部：試験―試験Ｔｅ／Ｔｃ：電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法（平衡法）（追補１）
JISC5160-1:2024 対応 国際規格 一覧
- IEC 62391-1:2022
JISC5160-1:2024 引用 国際規格 一覧
- IEC 60294
- IEC 60717