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JISC2570-1:2024の概要
JIS C 2570-1:2024の規格概要
閲覧 情報
この規格は,半導体特性をもつ遷移金属酸化物によって作られる直熱形の負温度係数サーミスタについて適用する。この規格は,品質評価又はその他の目的のため,品種別通則及び個別規格で用いる,用語,検査手順及び試験方法について規定する。
JISC2570-1:2024 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C 2570-1:2024
- 規格名称
- 直熱形NTCサーミスタ－第1部：品目別通則
- 規格名称英語訳
- Directly heated negative temperature coefficient thermistors-Part 1:Generic specification
- 規格の状態
- 有効
- 公示の種類
- 改正
- 公示の種類に関する説明（改正）
- 主務大臣が当該JISを年月の経過に伴って改めることが必要と認めたとき、改正されます。
- 規格番号の西暦年（コロン(：)の後ろの年）は、改正された年になります。
- JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
- 制定年月日
- 2006年01月20日
- 最新改正日：確認日
- 2024年08月20日（改正）
- 主務大臣
- 経済産業
- JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。
- 改訂:履歴
- 2006-01-20 制定日, 2015-11-20 改正日, 2020-06-22 確認日, 2024-08-20 改正日
- JIS 閲覧情報
- C2570-1, JIS C 2570-1
- 引用JIS規格
- C60062, C60068-1:2016, C60068-2-1, C60068-2-11, C60068-2-17, C60068-2-2, C60068-2-20, C60068-2-21:2023, C60068-2-27:2011, C60068-2-31, C60068-2-38, C60068-2-45:1995, C60068-2-52, C60068-2-58, C60068-2-6, C60068-2-69, C60068-2-78, C6484
- 対応国際規格
- IEC 60539-1:2022(MOD)
- 同等性に関する説明 (MOD)
- MOD: modified（修正）
- 許容される技術的差異がはっきりと明示され、かつ、説明されている場合、地域又は国家規格は国際規格から修正されている。
- この場合、地域又は国家規格は国際規格の構成を反映し、その構成の変更は両規格の内容が容易に比較できる限り許容される。
- 修正規格は一致対応の場合に許容される変更も含む。「逆も同様の原理」があてはまらない。
- 引用国際規格
- IEC 60068-2-14,IEC 60294,IEC 60717
- 国際規格分類
ICS
- 31.040.30
- 正誤票・訂正票
- -
- JISハンドブック
- -
- ページ
- JIS C 2570-1:2024 PDF [72ページ]
JISC2570-1:2024 改訂 履歴 一覧
JISC2570-1:2024 関連規格と引用規格一覧
- JIS C 6484:2005
- プリント配線板用銅張積層板―耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂
- JIS C 60062:2019
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JIS C 60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第１部：通則及び指針
- JIS C 60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第２－１部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：Ａ）
- JIS C 60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：Ｂ）
- JIS C 60068-2-5:2022
- 環境試験方法―電気・電子―第２－５部：地上レベルでの疑似日射並びに日射試験及び耐候性試験の指針（試験記号：S）
- JIS C 60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６部：正弦波振動試験方法（試験記号：Ｆｃ）
- JIS C 60068-2-11:1989
- 環境試験方法（電気・電子）塩水噴霧試験方法
- JIS C 60068-2-11:1989
- 環境試験方法（電気・電子）塩水噴霧試験方法
- JIS C 60068-2-11:2023
- 環境試験方法―電気・電子―第２－１１部：塩水噴霧試験方法（試験記号：Ｋａ）
- JIS C 60068-2-11:2023
- 環境試験方法―電気・電子―第２－１１部：塩水噴霧試験方法（試験記号：Ｋａ）
- JIS C 60068-2-13:1989
- 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法
- JIS C 60068-2-13:2023
- 環境試験方法―電気・電子―第２－１３部：減圧試験方法（試験記号：Ｍ）
- JIS C 60068-2-14:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第２－１４部：温度変化試験方法（試験記号：Ｎ）
- JIS C 60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止（気密性）試験方法
- JIS C 60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止（気密性）試験方法
- JIS C 60068-2-18:2007
- 環境試験方法―電気・電子―第２－１８部：耐水性試験及び指針
- JIS C 60068-2-18:2021
- 環境試験方法―電気・電子―第２－１８部：耐水性試験及び指針（試験記号：Ｒ）
- JIS C 60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２０部：試験―試験Ｔ―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JIS C 60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２０部：試験―試験Ｔ―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JIS C 60068-2-20:2022
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２０部：試験―試験Ｔａ及びＴｂ―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JIS C 60068-2-20:2022
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２０部：試験―試験Ｔａ及びＴｂ―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JIS C 60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２１部：試験―試験Ｕ：端子強度試験方法
- JIS C 60068-2-21:2023
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２１部：試験―試験Ｕ：端子強度試験及び部品本体の耐久性試験方法
- JIS C 60068-2-21:2023
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２１部：試験―試験Ｕ：端子強度試験及び部品本体の耐久性試験方法
- JIS C 60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２７部：衝撃試験方法（試験記号：Ｅａ）
- JIS C 60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第２－２７部：衝撃試験方法（試験記号：Ｅａ）
- JIS C 60068-2-31:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第２－３１部：落下試験及び転倒試験方法（試験記号：Ｅｃ）
- JIS C 60068-2-38:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第２－３８部：温湿度組合せ（サイクル）試験方法（試験記号：Ｚ／ＡＤ）
- JIS C 60068-2-38:2023
- 環境試験方法―電気・電子―第２－３８部：温湿度組合せサイクル試験（試験記号：Ｚ／ＡＤ）
- JIS C 60068-2-45:1995
- 環境試験方法―電気・電子―耐溶剤性（洗浄溶剤浸せき）試験方法
- JIS C 60068-2-52:2020
- 環境試験方法―電気・電子―第２－５２部：塩水噴霧サイクル試験方法（塩化ナトリウム水溶液）（試験記号：Ｋｂ）
- JIS C 60068-2-58:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第２－５８部：表面実装部品（ＳＭＤ）のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
- JIS C 60068-2-60:2018
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６０部：混合ガス流腐食試験（試験記号：Ｋｅ）
- JIS C 60068-2-61:1996
- 環境試験方法―電気・電子―一連耐候性試験
- JIS C 60068-2-64:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６４部：広帯域ランダム振動試験方法及び指針（試験記号：Ｆｈ）
- JIS C 60068-2-64:2023
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６４部：広帯域ランダム振動試験方法及び指針（試験記号：Ｆｈ）
- JIS C 60068-2-65:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６５部：音響振動（試験記号：Ｆｇ）
- JIS C 60068-2-66:2001
- 環境試験方法―電気・電子―高温高湿，定常（不飽和加圧水蒸気）
- JIS C 60068-2-67:2001
- 環境試験方法―電気・電子―基本的に構成部品を対象とした高温高湿，定常状態の促進試験
- JIS C 60068-2-68:2002
- 環境試験方法―電気・電子―砂じん（塵）試験
- JIS C 60068-2-69:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６９部：試験―試験Ｔｅ／Ｔｃ：電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法（平衡法）
- JIS C 60068-2-69:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第２－６９部：試験―試験Ｔｅ／Ｔｃ：電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法（平衡法）
- JIS C 60068-2-78:2015
- 環境試験方法―電気・電子―第２－７８部：高温高湿（定常）試験方法（試験記号：Ｃａｂ）
- JIS C 60068-2-58:2016/AMENDMENT 1:2020
- 環境試験方法―電気・電子―第２−５８部：表面実装部品（ＳＭＤ）のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法（追補１）
- JIS C 60068-2-67:2001/AMENDMENT 1:2023
- 環境試験方法―電気・電子―基本的に構成部品を対象とした高温高湿，定常状態の促進試験（追補１）
- JIS C 60068-2-69:2019/AMENDMENT 1:2021
- 環境試験方法―電気・電子―第２−６９部：試験―試験Ｔｅ／Ｔｃ：電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法（平衡法）（追補１）
- JIS C 60068-2-69:2019/AMENDMENT 1:2021
- 環境試験方法―電気・電子―第２−６９部：試験―試験Ｔｅ／Ｔｃ：電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法（平衡法）（追補１）
JISC2570-1:2024 対応 国際規格 一覧
- IEC 60539-1:2022
JISC2570-1:2024 引用 国際規格 一覧
- IEC 60068-2-14
- IEC 60294
- IEC 60717