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C 5201-1 : 2011
RT : 基本周波数での供試抵抗器のインピーダンス
U1 : 供試抵抗器両端での基本波電圧
I1は,正弦波とする。
図JB.2−基本周波数での等価回路
E3 : 供試抵抗器の内部で発生する第3高調波成分の起電力
RT3 : 供試抵抗器の第3高調波でのインピーダンス
R3 : 第3高調波での測定器の入力インピーダンス
U3 : 第3高調波用電圧計(V3)の第3高調波電圧指示値
図JB.3−第3高調波での等価回路
JB.5.4 第3高調波減衰の算出
第3高調波減衰(A3)の値は,図JB.3のブロック図に基づき,次のいずれかの方法によって算出する。
a) 補正項Δを用いないで算出する方法
RT3
E31 U3
R3
U1 U1 RT3
A3 20 log10 20 log10 20 log10 1
E3 U3 R3
b) 補正項Δを用いて算出する方法
RT3
20 log101
R3
U1 U1
A3 20 log10 20 log10
E3 U3
補正項Δは,表JB.1による。
c) 及び補正項Δを用いて算出する方法
――――― [JIS C 5201-1 pdf 71] ―――――
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C 5201-1 : 2011
RT3
20 log101
R3
D 20 log10U1
U1
A3 20 log10 D 20 log10 U3
E3
D及び補正項Δは,表JB.1による。
JB.5.5 測定回路に対する要求事項
JB.5.5.1 測定周波数
測定のために抵抗器に印加する基本周波数は10 kHzとし,非直線性の大きさを測定する第3高調波の周
波数は,30 kHzとする。
JB.5.5.2 電力増幅器(A1)
電力増幅器は,出力が供試抵抗器に最低1 Wの電力が供給できるものとする。
JB.5.5.3 低域波通過ろ波器(LP)
基本周波数の第3高調波に対し−110 dB以下の減衰特性をもつろ波器とする。
JB.5.5.4 整合変成器(MT)
第3高調波に対し,入力インピーダンスが10 Ω,100 Ω,1 kΩ,10 kΩ及び100 kΩとなるような切替え
端子をもち,磁気に対し十分な遮蔽が施されている変成器とする。
JB.5.5.5 高域波通過ろ波器(HP)
基本周波数に対し少なくとも−60 dB以下の減衰特性をもつろ波器とする。
JB.5.5.6 第3高調波帯域通過ろ波器(BP)
第3高調波(30 kHz)に対し±5 kHzずれた周波数で−90 dB以下の減衰特性をもつろ波器とする。
JB.5.5.7 電圧計に対する確度
基本波用電圧計(10 kHz)の確度は,フルスケールで±5 %以内,第3高調波電圧計(30 kHz)の確度は,
フルスケールで10 %以下とする。
JB.5.5.8 その他
その他の要求事項を,次に示す。
a) 測定系の第3高調波電圧の発生 測定系での第3高調波電圧の発生は,高調波電圧を発生しない試料
の場合には(オープン状態でもよい)0.25 Wを印加したとき,第3高調波減衰の値が,全インピーダ
ンス範囲にわたって140 dB以上とする。
b) 測定系の雑音レベル 測定系の雑音レベルは,1 kHzのレンジで0.2 μV以下とする。具体的には次の
測定で確認する。
1) 雑音の10 kHz成分(10 kHz電圧計で測定する。)
整合比を1にした状態で,測定端子を開放状態にし,10 kHz電圧レンジを最小レンジ(100 mV)
に合わせ,出力電圧を0 Vに調整した段階で,10 kHz電圧計の指示を見る。この場合には,指示の
振れを検知できなければよい。
2) 雑音の30 kHz成分(30 kHz電圧計で測定する。)
整合比を1にした状態で,測定端子を開放状態にし,10 kHz電圧レンジを最小レンジ(100 mV)
に合わせ,出力電圧を0 Vに調整した段階で,30 kHz電圧計の指示を見る。この場合には,30 kHz
電圧計の指示が0.2 μV以下であることとする。
c) 強磁性体に対する配慮 強磁性体は,高調波ひずみを生じるので次の対策を施す。
――――― [JIS C 5201-1 pdf 72] ―――――
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C 5201-1 : 2011
1) 測定部の周辺に磁気防止対策を施す。
2) P及びBPの,ろ波器インダクタには磁性材料のコアを使用しない。
d) 測定系確認用標準試料 測定系をチェックするために,第3高調波減衰が既知である標準試料を試験
装置に備え付けておく。
JB.5.6 測定の状態
測定時の周囲状態は,規定がない限り4.2に規定する標準状態とする。
JB.6 測定手順
a) 供試抵抗器を取り付け,試験信号印加スイッチSを閉じる(図JB.1参照)。
b) 供試抵抗器(RT)に対し,第3高調波での測定器の入力インピーダンス(R3)が0.3倍3倍になる
ように,整合変成器(MT)を設定する。
c) 基本波電圧(U1)を表JB.1から選定する。ただし,供試抵抗器の定格電力が制限される場合及び試験
装置に制限のある場合には,基本波電圧(U1)をそれ以下の適正な値に調整する。
d) 選定した基本波電圧(U1)の値を印加する。印加した基本波電圧(U1)の値を基本波用電圧計(V1)
で読み取る。
e) 第3高調波電圧(U3)を第3高調波用電圧計(V3)で読み取る。
f) 試験信号印加スイッチ(S)を開放し,供試抵抗器を取り外す。
g) 基本波用電圧計(V1)で読み取った基本波電圧(U1)の値と,第3高調波用電圧計(V3)が指示する
第3高調波電圧(U3)の値からJB.5.4の算出方法によって第3高調波減衰を求める。
注記1 より高い電圧での評価
より高い電圧を用いて第3高調波電圧を評価する場合には,次の式によって算出する。
n
U1
E3 E'3
U'1
ここに, E'3 : 実際の基本波電圧(U'1)での測定された第3高調波起電力
E3 : 基本波電圧(U1)に相当する第3高調波起電力
n : 1.53.5(抵抗器の品種による値)
注記2 第3高調波指数(THI)
抵抗器の非直線性を表すため,次の式で定義される第3高調波指数(Third harmonic
index)を用いることもできる。
E3
THI 20 log10 n
(dB)
U1
ここに, E3 : 基本波電圧(U1)に相当する第3高調波起電力(μV)
U1 : 基本波電圧(V)
n : 1.53.5(抵抗器の品種による値)
注記3 第3高調波ひずみ率(THD)
抵抗器の非直線性を表すため,次の式で定義される第3高調波ひずみ率(Third harmonic
distortion)を用いることもできる。
E
THD 20 log10U3 (dB)
1
ここに,E3 : 基本波電圧(U1)に相当する第3高調波起電力(μV)
U1 : 基本波電圧(V)
――――― [JIS C 5201-1 pdf 73] ―――――
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C 5201-1 : 2011
表JB.1−基本波電圧及び補正項
――――― [JIS C 5201-1 pdf 74] ―――――
71
C 5201-1 : 2011
表JB.1−基本波電圧及び補正項(続き)
――――― [JIS C 5201-1 pdf 75] ―――――
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JIS C 5201-1:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-1:2008(MOD)
JIS C 5201-1:2011の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-1:2011の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0806:1995
- 電子部品のテーピング(表面実装部品)
- JISC5005-2:2010
- 品質評価システム―第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
- JISC5062:2008
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
- JISC60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-69:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-69部:試験―試験Te/Tc:電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法(平衡法)
- JISC60068-2-82:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-82部:試験―試験XW1:電気・電子部品のウィスカ試験方法
- JISC60068-2-82:2021
- 環境試験方法―電気・電子―第2-82部:試験―試験Xw1:電気・電子部品のウィスカ試験方法
- JISC61340-3-1:2010
- 静電気―第3-1部:静電気の影響をシミュレーションする方法―人体モデル(HBM)の静電気放電試験波形
- JISZ8115:2019
- ディペンダビリティ(総合信頼性)用語
- JISZ8203:1964
- 単位記号
- JISZ8203:2000
- 国際単位系(SI)及びその使い方