この規格ページの目次
13
C 5260-3 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総合 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c t
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だ R≧100M 圀
けに適用)(取付方法は備考13.
による。)
連続性 4.5.1による。
始動トルク ...mN・m...mN・m
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ 4.38.10.7による。
に適用)(取付方法は備考13.に
よる。)
群3 D 5 1
4.43.2 70℃での電気的耐久性 試験時間 : 1 000h
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷 :
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.2.6のa)による。
素子抵抗値 圀
△R≦±(...%R+...
− 試料数2個
端子aとbとの間に負荷 :
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.1.6のa)による。
端子aとbとの間の抵抗値 圀
△R≦±(...%R+...
素子抵抗値 圀
△R≦±(...%R+...
− 全試料
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1G 圀
だけに適用)(取付方法は
備考13.による。)
しゅう動雑音
方法B(巻線可変抵抗器に適 R≦...%R
用),△ ...
出力平滑性(非巻線可変抵抗 U≦...%Uac
器だけに適用)
個別規格にある場合,試験時
間を8 000hに延長する。
2 000h,4 000h及び8 000hで
の検査 :
素子抵抗値 圀
△R≦±(...%R+...鰰 報
としてだけ扱う。
群4 ND 5 1
4.4.3 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.4.4 全機械的操作範囲 個別規格の規定による。
4.4.6 有効電気的操作範囲 有効電気的操作角度 最
無効操作角度(反時計方向)
無効操作角度(時計方向)
――――― [JIS C 5260-3 pdf 16] ―――――
14
C 5260-3 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総合 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c t
4.9 抵抗変化特性 (個別規格には,この規格の
2.1.5から選んだ試験条件及び
要求性能を規定する。)
群5 D 5 1
4.39 高温高湿(定常) 1) 4.39.2.1
第1のグループ : 試料数2個
第2のグループ : 試料数2個
第3のグループ : 試料数1個
2) 4.39.2.2
第1のグループ : 試料数3個
第2のグループ : 試料数2個
直流負荷(備考10.による。)
アイソレーション電圧 4.39.4による。
(備考10.及び取付方法は備
考13.による。)
最終測定
外観 4.39.6.1による。
素子抵抗値
△R≦±(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧100M 圀
だけに適用)(取付方法は
備考13.による。)
始動トルク ...mN・m...mN・m
しゅう動雑音 : R≦...%R
方法B(巻線可変抵抗器),
△ ...
出力平滑性(非巻線可変抵抗 U≦...%Uac
器だけに適用)
群6 D 5 1
4.43.3 カテゴリ上限温度での 試験時間 : 1 000h
電気的耐久性 − 試料数3個
(適用する場合,備考7.参照) 端子aとcとの間に負荷
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.3.7のa)による。
素子抵抗値 圀
△R≦±(...%R+...
− 試料数2個
端子aとbとの間に負荷
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.3.7のa)による。
端子aとbとの間の抵抗値
△R≦±(...%R+...
素子抵抗値
△R≦±(...%R+...
− 全試料
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧G 圀
だけに適用)(取付方法は
備考13.による。)
――――― [JIS C 5260-3 pdf 17] ―――――
15
C 5260-3 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総合 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c t
群7 ND 5 0
4.14 抵抗温度特性 カテゴリ下限温度/20℃ R
≦...%
(備考12.参照) R
20℃/70℃ R
≦...%
R
20℃/カテゴリ上限温度 R
≦...%
R
群8 D 5 1
4.4.3 70℃以外の温度での電気 (この群は,この規格の2.2.3
的耐久性(適用する場合,備 に規定するものと異なる軽減
考11.参照) 曲線を個別規格で規定する場
合だけに適用する。)
試験時間 : 1 000h
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷 :
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.1.6のa)による。
素子抵抗値 圀
△R≦±(...%R+...
− 試料数2個 (群3と同じ)
端子aとbとの間に負荷 :
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.1.6のa)による。
端子aとbとの間の抵抗値 圀
△R≦±(...%R+...
(群3と同じ)
素子抵抗値 圀
△R≦±(...%R+...
− 全試料
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1G 圀
だけに適用)(取付方法は
備考13.による。)
群9 D 5 1
4.28 ディザ(非巻線可変抵抗 サイクル数 : ...
器だけに適用,備考11.参照) 接続時間 : ...h
外観 4.28.3による。
素子抵抗値 圀
△R≦±(...%R+...
出力平滑性(非巻線可変抵抗器 U≦...%Uac
だけに適用)
注(1) 原国際規格では,温度を表す記号として び いているが,JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0025に
合わせてTA及びTBに変更した。
(2) IS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて修正した。
注(3) IS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて修正した。
備考3. 可変抵抗器が,試験を適用できない設計となっている場合は,その試験は,個別規格で適用しない。
――――― [JIS C 5260-3 pdf 18] ―――――
16
C 5260-3 : 2000
4. 封止の試験は,可変抵抗器が封止構造をもっている場合に適用する。
種類Aの封止試験 (4.31.1) 及び種類Bの封止試験 (4.31.2.1) は,操作軸とパネルとが封止された可変抵
抗器に対し1回行う。
5. 適用できない場合は,操作軸の軸方向がた (4.26) を実施する。
6. 適用できる場合は,半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
7. バンプ試験及び衝撃試験は,いずれか一方を選択する。いずれの試験を適用するかを個別規格に規定する。
8. この試験は,耐候性カテゴリが25/−/−,40/−/−,55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適用する。
9. この試験は,4.38.5.1に規定された事項に追加して,耐候性カテゴリが65/−/−の可変抵抗器に適用する。
10. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験ではいずれかを選択する。いずれの試験を適用するかを個別規
格に規定する。
11. “群8”又は“群9”のいずれかを適用する場合は,“群0”の試料数を5個増やす。
12. 4.14.2のd)及びf)に規定の温度は,カテゴリ上限温度100℃の可変抵抗器にも適用する。
13. 取付方法は,JIS C 5260-1の4.12(耐電圧)及び4.13(絶縁抵抗)の該当する方法によるほか,次による。
a) 本体で取り付けるように設計されているものは,JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは,本体で取り付けるあな(孔)があっても,端子でプリ
ント配線板に取り付けて試験する。
3.3 品質確認検査
3.3.1 検査ロットの構成
検査ロットは,構造的に類似な可変抵抗器(3.1参照)で構成し,次による。
a) 群A及び群B:製造された抵抗値を代表するものとする。
b) 群C : 1) 試料は,13週にわたって集める。
2) 試料は,期間中に製造した抵抗値範囲を代表するものとする。
c) 群D : 群Cと同じとする。ただし,試料は,検査対象期間の最後の13週から集める。
抜き取った試料は,高抵抗値,低抵抗値及び臨界抵抗値の釣合いが十分にとれているものとする。
備考 “低抵抗値”は,現在認証された最低抵抗値の2000 %以内とする。
0 %以内とする。
“高抵抗値”は,現在認証された最高抵抗値の 30
0 %以内とする。
“臨界抵抗値”は,計算値の 20
3.3.2 試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブ
ランク個別規格JIS C 5260-3-1の第2章(検査要求事項)の表2に示す。
3.3.3 評価水準
ブランク個別規格及び個別規格に規定する評価水準は,次の表4.1及び表4.2の中から
選択することが望ましい。
表4.1 評価水準及びロットごとの品質確認検査
検査副群 D* E F* G*
** IL AQL IL AQL IL AQL IL AQL
% % % %
A1 I 1.5
A2 I 1.5
A3 S-2 4.0
A4 S-2 1.5
A5 S-2 2.5
B1 − −
IL=検査水準
AQL=合格品質水準
――――― [JIS C 5260-3 pdf 19] ―――――
17
C 5260-3 : 2000
表4.2 評価水準及び定期的品質確認検査
検査副群 D* E F* G*
** p n c p n c p n c p n c
C1 3 5 0
C2 3 5 1
C3 3 5 1
C4 6 5 1
D1 12 5 1
D2 12 5 0
D3 12 5 1
D4 36 5 1
D5 36 5 1
p=周期(月)
n=試料数
c=合格判定個数
注* 評価水準D,F及びGは,検討中。
** 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の第2章(検査要求事項)に規
定する。
3.4 長期保管後の出荷
検査水準をS-2に緩めてJIS C 5260-1の3.5.2(長期保管後の出荷)の規定を適
用する。
3.5 機械的精度の測定装置
3.5.1 ダイヤル指示計
最小のメモリ分割は,規定の許容差の10%又はそれ以下であり,25 下の測
定の場合には,1 み取れるものでなければならない。
指示計の誤差補正を行わない場合は,指針の全可動鯛の1/3以上の範囲にわたって使用してはならない。
もしダイヤル指示計をピポット形の測定子とともに使用するなら,測定中は,測定子の縦方向の中心線を
被測定物に対して直角に保つか,又は適用できる補正ファクタを使用しなければならない。さらに,測定
子が,可変抵抗器に近接するときは,ダイヤル指示計が損傷しないようにダイヤル指示計の位置を微調整
する機構が備わっていなければならない。
3.5.2 円筒形アダプタ
滑らかな円筒状の表面をもったアダプタで,可変抵抗器の操作軸に取り付けたと
き,規定のがた限度の10%以上の偏心度が加わってはならない。
3.5.3 可変抵抗器の取付装置
この装置は,可変抵抗器の操作軸が自由に動けるようにしたまま,試料を,
通常の実装方法で保持する。
3.5.4 可変抵抗器の操作軸保持装置
この装置は,可変抵抗器本体が自由に動けるようにしたまま試料を
水平又は垂直のいずれかの位置に操作軸を保持する。
関連規格 JIS C 0029 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
JIS C 0042 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
JIS C 5260-3-1 電子機器用可変抵抗器−第3部 : ブランク個別規格 : 回転形精密級可変抵抗器
評価水準E
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指
標型抜取検査方式
――――― [JIS C 5260-3 pdf 20] ―――――
次のページ PDF 21
JIS C 5260-3:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-3:1992(MOD)
JIS C 5260-3:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-3:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-11:1989
- 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
- JISC60068-2-13:1989
- 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
- JISC60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
- JISC60068-2-18:2007
- 環境試験方法―電気・電子―第2-18部:耐水性試験及び指針
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
- JISC60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
- JISC60068-2-28:1993
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐湿性試験 ― 指針
- JISC60068-2-29:1995
- 環境試験方法―電気・電子―バンプ試験方法
- JISC60068-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC60068-2-31:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-31部:落下試験及び転倒試験方法(試験記号:Ec)
- JISC60068-2-32:1995
- 環境試験方法―電気・電子―自然落下試験方法
- JISC60068-2-38:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-38部:温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号:Z/AD)
- JISC60068-2-40:1995
- 環境試験方法―電気・電子―低温・減圧複合試験方法
- JISC60068-2-41:1995
- 環境試験方法―電気・電子―高温・減圧複合試験方法
- JISC60068-2-42:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
- JISC60068-2-43:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の硫化水素試験方法
- JISC60068-2-45:1995
- 環境試験方法―電気・電子―耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
- JISC60068-2-46:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の硫化水素試験―指針
- JISC60068-2-47:2008
- 環境試験方法―電気・電子―第2-47部:動的試験での供試品の取付方法
- JISC60068-2-49:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の二酸化硫黄試験―指針
- JISC60068-2-50:1997
- 環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温/振動(正弦波)複合試験
- JISC60068-2-51:1997
- 環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温/振動(正弦波)複合試験
- JISC60068-2-52:2020
- 環境試験方法―電気・電子―第2-52部:塩水噴霧サイクル試験方法(塩化ナトリウム水溶液)(試験記号:Kb)
- JISC60068-2-53:2014
- 環境試験方法―電気・電子―第2-53部:耐候性(温度・湿度)と動的(振動・衝撃)との複合試験及び指針
- JISC60068-2-54:2009
- 環境試験方法―電気・電子―はんだ付け性試験方法(平衡法)
- JISC60068-2-56:1996
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 機器用耐湿性(定常)試験方法
- JISC60068-2-58:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第2-58部:表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-60:2018
- 環境試験方法―電気・電子―第2-60部:混合ガス流腐食試験(試験記号:Ke)
- JISC60068-2-61:1996
- 環境試験方法―電気・電子―一連耐候性試験
- JISC60068-2-64:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-64部:広帯域ランダム振動試験方法及び指針(試験記号:Fh)
- JISC60068-2-7:1993
- 環境試験方法―電気・電子―加速度(定常)試験方法
- JISC60068-3-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第3-1部:低温(耐寒性)試験及び高温(耐熱性)試験の支援文書及び指針
- JISC60355:1993
- 環境試験方法―電気・電子―大気腐食に対する加速試験―指針
- JISC60695-1-2:1993
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験(電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針―電子部品)
- JISC60695-1-3:1993
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験(電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針―プリセレクションの用い方)
- JISC60695-11-2:2016
- 耐火性試験―電気・電子―第11-2部:試験炎―公称1kW予混炎―試験装置,炎確認試験方法及び指針
- JISC60695-11-2:2020
- 火災危険性試験―電気・電子―第11-2部:試験炎―公称1kW予混炎―試験装置,炎確認試験方法及び指針
- JISC60695-2-11:2016
- 耐火性試験―電気・電子―第2-11部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―最終製品に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWEPT)
- JISC60695-2-12:2013
- 耐火性試験―電気・電子―第2-12部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―材料に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWFI)
- JISC60695-2-13:2013
- 耐火性試験―電気・電子―第2-13部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―材料に対するグローワイヤ着火温度指数(GWIT)
- JISC60695-2-2:2000
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐火性試験 ニードルフレーム(注射針バーナ)試験方法
- JISC60695-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)ヒータによる不完全接続耐火性試験方法
- JISC60695-2-4-0:1995
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験 拡散炎及び予混炎試験方法
- JISC60695-4:2010
- 耐火性試験―電気・電子―第4部―電気・電子製品のための耐火性試験用語
- JISC60695-5-1:2011
- 耐火性試験―電気・電子―第5-1部:燃焼放出物による腐食損傷―一般指針
- JISC60695-5-2:1999
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験:燃焼放出物による腐食損傷の評価―試験方法の選択及び適用の指針
- JISC60695-7-1:2020
- 耐火性試験―電気・電子―第7-1部:火災による毒物危険性を最小にするための指針―一般指針