この規格ページの目次
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C 5910-3 : 2015
附属書B
(規定)
サンプル数
(この附属書は,この規格では規定しない。)
――――― [JIS C 5910-3 pdf 16] ―――――
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C 5910-3 : 2015
附属書JA
(参考)
室温条件下における1×N及び2×N光ブランチングデバイスの挿入損失の
要求性能の参考数値
JA.1 室温条件下における,1×N及び2×N等分岐両方向光ブランチングデバイスの挿入損失の最小限の
要求性能の参考数値
室温条件下における,1×N及び2×N等分岐両方向光ブランチングデバイス(クラスA及びクラスB)
の挿入損失の最小限の要求性能の参考数値は,表JA.1及び表JA.2による。
表JA.1−室温条件下における,1×N及び2×N等分岐両方向光ブランチングデバイスの挿入損失の
最小限の要求性能の参考数値(クラスA)
N 端子構成 : 1×N 端子構成 : 2×N
スペクトルバンド1 スペクトルバンド2 スペクトルバンド1 スペクトルバンド2
挿入損失の最大値 挿入損失の最大値 挿入損失の最大値 挿入損失の最大値
dB dB dB dB
2 3.7 3.8 4.0 4.1
3 5.6 5.7 5.9 6.1
4 6.9 7.1 7.3 7.5
6 8.8 9.0 9.2 9.5
8 10.1 10.4 10.6 10.9
12 12.0 12.3 12.5 12.9
16 13.3 13.7 13.9 14.3
24 15.2 15.6 15.8 16.3
32 16.5 17.0 17.2 17.7
64 19.7 20.3 20.5 21.1
128 22.9 23.6 23.8 24.5
注記 Nは,端子構成1×N又は2×Nの片側の端子群の端子数Nである。
表JA.2−室温条件下における,1×N及び2×N等分岐両方向光ブランチングデバイスの挿入損失の
最小限の要求性能の参考数値(クラスB)
N 端子構成 : 1×N 端子構成 : 2×N
スペクトルバンド1 スペクトルバンド2 スペクトルバンド1 スペクトルバンド2
挿入損失の最大値 挿入損失の最大値 挿入損失の最大値 挿入損失の最大値
dB dB dB dB
2 3.8 3.9 4.1 4.2
3 5.7 5.9 6.1 6.2
4 7.1 7.3 7.5 7.7
6 9.0 9.3 9.5 9.7
8 10.4 10.7 10.9 11.2
12 12.3 12.7 12.9 13.2
16 13.7 14.1 14.3 14.7
24 15.6 16.1 16.3 16.7
32 17.0 17.5 17.7 18.2
――――― [JIS C 5910-3 pdf 17] ―――――
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C 5910-3 : 2015
表JA.2−室温条件下における,1×N及び2×N等分岐両方向光ブランチングデバイスの挿入損失の
最小限の要求性能の参考数値(クラスB)(続き)
N 端子構成 : 1×N 端子構成 : 2×N
スペクトルバンド1 スペクトルバンド2 スペクトルバンド1 スペクトルバンド2
挿入損失の最大値 挿入損失の最大値 挿入損失の最大値 挿入損失の最大値
dB dB dB dB
64 20.3 20.9 21.1 21.7
128 23.6 24.3 24.5 25.2
注記 Nは,端子構成1×N又は2×Nの片側の端子群の端子数Nである。
参考文献 IEC 60875-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Non-wavelength-selective
fibre optic branching devices−Part 1: Generic specification
IEC 61753-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components performance standard−Part
1: General and guidance for performance standards
Recommendation ITU-T G.671,Characteristics of optical components and subsystems, Transmission
characteristics of optical components and subsystems
――――― [JIS C 5910-3 pdf 18] ―――――
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C 5910-3 : 2015
附属書JB
(参考)
JISと対応国際規格との対比表
IEC 61753-031-2:2014,Fibre optic interconnecting devices and passive components
JIS C 5910-3:2015 波長選択性のない光ブランチングデバイス−第3部 : シングル
モード光ファイバピッグテール形1×N及び2×N光ブランチングデバイス −Performance standard−Part 031-2: Non-connectorized single-mode 1×N and 2×N
non-wavelength-selective branching devices for Category C−Controlled environment
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差
国際規格 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
番号
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 の評価
3 用語及 用語及び定義を規 − − 追加 用語及び定義に関する内容を 国際規格の見直し時に提案を行
び定義 定 規定した。 う。
4 定格 定格を規定 − − 追加 製品規格に必須の規定事項 国際規格の見直し時に提案を行
う。
5 光学特 光学特性の試験方 5 JISとほぼ同じ 変更 最大入力光パワー試験におけ 国際規格の見直し時に提案を行
性 法,試験条件及び要 る挿入損失の要求性能(最大 う。
求性能を規定 値)の記述を追加した。
6 環境及 環境及び耐久性に 5 JISとほぼ同じ 変更 耐寒性,耐湿性(定常状態)及び
耐寒性,耐熱性,耐湿性(定常
び耐久性 対する試験方法,試 温度サイクルの試験条件につい
状態),温度サイクル及び耐振
特性 験条件及び要求性 性の試験条件を変更 ては,我が国の環境条件に合わ
能を規定 せ,それ以外の試験条件はIEC
61753-1と整合するように試験条
件を変更した。
また,試験中の挿入損失測定の必
要性を検討し,不要な場合には測
定を行わないこととした。
いずれも,国際規格の見直し時
C5
に,提案を行う。
91
7 試料 試料に関する内容 3 JISとほぼ同じ 変更 箇条番号及び題名の変更並び −
0-
3
を規定 に注記の追加だけを行った。技
: 2
術的な差異はない。
015
5
――――― [JIS C 5910-3 pdf 19] ―――――
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C 5910-3 : 2015
C5
5
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差
国際規格 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
910
番号
-
3
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
: 2
及び題名 の評価
01
8 試験報 試験報告書を規定 4 JISとほぼ同じ 変更 箇条番号の変更だけを行った。 −
5
告書 技術的な差異はない。
9 表示 表示項目を規定 − − 追加 製品規格に必須の規定事項 国際規格の見直し時に,提案を行
う。
10 包装 包装及び保管上の − − 追加 製品規格に必須の規定事項 国際規格の見直し時に,提案を行
注意に関する内容 う。
を規定
11 安全 安全に関する内容 − − 追加 製品規格に必須の規定事項 国際規格の見直し時に,提案を行
を規定 う。
附属書A 挿入損失及び均一 附属書A JISとほぼ同じ 変更 表1の定義式に従い,端子数N 国際規格の見直し時に,提案を行
(参考) 性の要求性能の計 (規定) ごとに計算してまとめている う。
算値 だけであるため,参考とした。
附属書B サンプル数 附属書B サンプル数 削除 対応国際規格の附属書Bに記 IEC 61753-1との整合性を考慮
(規定) (規定) し,サンプル数は規定しない。
載された“サンプル数”を削除
した。
附属書JA 室温条件下におけ − − 追加 室温条件下における1×N及び 国際規格の見直し時に,提案を行
(参考) る挿入損失の要求 2×N光ブランチングデバイス う。
性能の参考数値 の挿入損失の要求性能は参考
情報に変更し,附属書Aから
分離し,附属書JAを追加した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 61753-031-2:2014,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 削除·················· 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加·················· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更·················· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。
JIS C 5910-3:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61753-031-2:2014(MOD)
JIS C 5910-3:2015の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5910-3:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5900:2019
- 光伝送用受動部品通則
- JISC5910-1:2019
- 波長選択性のない光ブランチングデバイス―第1部:通則
- JISC61300-2-1:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-1部:正弦波振動試験
- JISC61300-2-14:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-14部:高光パワー試験
- JISC61300-2-17:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-17:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-18:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-18部:高温試験
- JISC61300-2-19:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験(定常状態)
- JISC61300-2-19:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験―定常状態
- JISC61300-2-22:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-22部:温度サイクル試験
- JISC61300-2-4:2015
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向引張り)
- JISC61300-2-4:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験―軸方向引張り
- JISC61300-2-9:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-9部:衝撃試験
- JISC61300-3-2:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-2部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
- JISC61300-3-20:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-20部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
- JISC61300-3-28:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-28部:過渡損失測定
- JISC61300-3-28:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-28部:過渡損失測定
- JISC61300-3-3:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-3部:挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
- JISC61300-3-6:2011
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-6部:反射減衰量測定
- JISC61300-3-7:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-7部:シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定
- JISC6835:2017
- 石英系シングルモード光ファイバ素線