JIS C 5910-3:2015 波長選択性のない光ブランチングデバイス―第３部：シングルモード光ファイバピッグテール形１×Ｎ及び２×Ｎ光ブランチングデバイス

                                                                                 C 5910-3 : 2015

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[4]
•  4 定格・・・・[4]
•  5 光学特性・・・・[5]
•  6 環境及び耐久性特性・・・・[8]
•  7 試料・・・・[10]
•  8 試験報告書・・・・[10]
•  9 表示・・・・[10]
•  10 包装・・・・[11]
•  11 安全・・・・[11]
•  附属書A(参考)1×N及び2×N光ブランチングデバイスの挿入損失及び均一性の要求性能の計算値・・・・[12]
•  附属書B(規定)サンプル数・・・・[14]
•  附属書JA(参考)室温条件下における1×N及び2×N光ブランチングデバイスの挿入損失の要求性能の参考数値・・・・[15]
•  附属書JB(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[17]

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C 5910-3 : 2015

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5910の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5910-1 第1部 : 通則
    JIS C 5910-3 第3部 : シングルモード光ファイバピッグテール形1×N及び2×N光ブランチングデ
        バイス

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 5910-3 : 2015

波長選択性のない光ブランチングデバイス−第3部 : シングルモード光ファイバピッグテール形1×N及び2×N光ブランチングデバイス

Non-wavelength-selective fiber optic branching devices-Part 3: Non-connectorized single-mode 1×N and 2×Nnon-wavelength-selective branching devices

序文

  この規格は,2014年に第1版として発行されたIEC 61753-031-2を基とし,JIS C 5910-1(波長選択性の
ない光ブランチングデバイス−第1部 : 通則)において,“個別仕様書で定める。”としていた光ブランチ
ングデバイスの“光学的特性”,及び“環境及び耐久性に対する性能”に関して,技術的内容を変更して作
成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JBに示す。また,附属書JAは対応国際規格にはない事項であ
る。

1 適用範囲

  この規格は,屋内環境条件で光ファイバによる光伝送に使用する波長選択性のない光ブランチングデバ
イスの定格,光ブランチングデバイスが最低限満足するのがよい光学特性,並びに環境及び耐久性特性に
ついて規定する。
  この規格で規定する要求事項は,主としてPON(Passive Optical Network)用途で使用する等分岐両方向
シングルモード光ファイバピッグテール形1×N及び2×N光ブランチングデバイスに適用する(1×N又
は2×Nは,端子構成を示す。)。等分岐光ブランチングデバイスについては,挿入損失と均一性とに関す
るA及びBの2種類のクラスを適用する。クラスAは上位クラスであって,例えばextended reach PONの
ような,より限定的な用途向けの要求性能を意図している。クラスBは標準クラスであって,一般のPON
用途向けの要求性能を意図している。この規格では,不等分岐両方向シングルモード光ファイバピッグテ
ール形光ブランチングデバイスについても適用範囲に含むが,一般的に最もよく用いる1×2及び2×2の
デバイスの要求性能だけに限定して規定する。
    注記1 この規格では,光ブランチングデバイスは,波長選択性のないものだけを扱う。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61753-031-2:2014,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Performance
                standard−Part 031-2: Non-connectorized single-mode 1×N and 2×N non-wavelength-selective
                branching devices for Category C−Controlled environment(MOD)

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C 5910-3 : 2015
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5900 光伝送用受動部品通則
    JIS C 5910-1 波長選択性のない光ブランチングデバイス−第1部 : 通則
    JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線
      注記 対応国際規格 : IEC 60793-2-50:2012,Optical fibres−Part 2-50: Product specifications−Sectional
             specification for class B single-mode fibres(MOD)
    JIS C 61300-2-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-1部 : 正弦
        波振動試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 2-1: Tests−Vibration (sinusoidal)(MOD)
    JIS C 61300-2-4 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-4部 : 光フ
        ァイバクランプ強度試験(軸方向引張り)
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-4,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 2-4: Tests−Fibre/cable retention(IDT)
    JIS C 61300-2-9 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-9部 : 衝撃
        試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-9,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 2-9: Tests−Shock(MOD)
    JIS C 61300-2-14 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-14部 : 光
        パワー損傷のしきい値試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-14,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 2-14: Tests−High optical power(MOD)
    JIS C 61300-2-17 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-17部 : 低
        温試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-17,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 2-17: Tests−Cold(MOD)
    JIS C 61300-2-18 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-18部 : 高
        温試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-18,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 2-18: Tests−Dry heat−High temperature endurance
             (IDT)
    JIS C 61300-2-19 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-19部 : 高
        温高湿試験(定常状態)
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-19,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 2-19: Tests−Damp heat (steady state)(MOD)

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                                                                                 C 5910-3 : 2015
    JIS C 61300-2-22 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-22部 : 温
        度サイクル試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-22,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 2-22: Tests−Change of temperature(IDT)
    JIS C 61300-3-2 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-2部 : シン
        グルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-2:2009,Fibre optic interconnecting devices and passive components
             −Basic test and measurement procedures−Part 3-2: Examination and measurements−Polarization
             dependent loss in a single-mode fibre optic device(MOD)
    JIS C 61300-3-3 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-3部 : 挿入
        損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-3:2009,Fibre optic interconnecting devices and passive components
             −Basic test and measurement procedures−Part 3-3: Examinations and measurements−Active
             monitoring of changes in attenuation and return loss(MOD)
    JIS C 61300-3-6 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-6部 : 反射
        減衰量測定
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-6:2008,Fibre optic interconnecting devices and passive components
             −Basic test and measurement procedures−Part 3-6: Examinations and measurements−Return loss
             (MOD)
    JIS C 61300-3-7 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-7部 : シン
        グルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-7:2009,Fibre optic interconnecting devices and passive components
             −Basic test and measurement procedures−Part 3-7: Examinations and measurements−Wavelength
             dependence of attenuation and return loss of single mode components(MOD)
    JIS C 61300-3-20 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-20部 : 波
        長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-20,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 3-20: Examinations and measurements−Directivity of
             fibre optic branching devices(IDT)
    JIS C 61300-3-28 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-28部 : 過
        渡損失測定
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-28,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 3-28: Examinations and measurements−Transient loss
             (IDT)
    IEC 61300-2-42,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
        procedures−Part 2-42: Tests−Static side load for strain relief
    IEC 61300-2-44,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
        procedures−Part 2-44: Tests−Flexing of the strain relief of fibre optic devices

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