JIS C 5910-3:2015 波長選択性のない光ブランチングデバイス―第３部：シングルモード光ファイバピッグテール形１×Ｎ及び２×Ｎ光ブランチングデバイス | ページ 2

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C 5910-3 : 2015

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5900及びJIS C 5910-1による。

4 定格

  シングルモード光ファイバピッグテール形1×N及び2×N光ブランチングデバイスの定格は,表0Aに
よる。
    表0A−シングルモード光ファイバピッグテール形1×N及び2×N光ブランチングデバイスの定格
            項目          記号            条件                     定格値            単位
      使用温度範囲         Ta              −                      060 a)             ℃
      保存温度範囲        Tstg             −                     −4085              ℃
      使用波長範囲        λband           −            スペクトルバンド1            nm
                                                         1 2601 360及び1 4801 625
                                                         スペクトルバンド2
                                                         1 2601 360及び1 4801 660
      最大入射光パワー    Pmax    スペクトルバンド1                 +27             dBm
                                  試験波長 : 1 310 nm±20
                                  nm及び1 550 nm±20 nm
                                  スペクトルバンド2
                                   試験波長 : 1 310 nm±20
                                  nm及び1 625 nm±20 nm
      注a) 図0Aの一定水蒸気量曲線を含む閉曲線で囲まれる領域は,屋内環境条件での使用温度範囲に対す
           る湿度範囲を示す。
                  注a) 温度30 ℃60 ℃の一定水蒸気量曲線は,温度30 ℃,相対湿度
                       85 %と同じ水蒸気量の温度及び湿度を示す。
                             図0A−温度及び湿度を考慮した環境条件

――――― [JIS C 5910-3 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
                                                                                 C 5910-3 : 2015

5 光学特性

  1×N及び2×N光ブランチングデバイスの光学特性の試験方法,試験条件及び要求性能は,表1による。
全ての偏光状態並びに表0Aの定格値で規定する使用温度範囲及び使用波長範囲の入射光に対する光学特
性試験結果の最小値及び最大値が,各項目の要求性能を満足しなければならない。全ての光学特性試験は,
光ファイバピッグテール形の光ブランチングデバイスに対して実施する。
  附属書Aには,参考のため挿入損失及び均一性の光学特性試験の要求性能を定義式から計算した数値を
示す。表A.1及び表A.2は等分岐両方向光ブランチングデバイスの挿入損失及び均一性の要求性能であり,
表A.1はクラスA,表A.2はクラスBの要求性能の数値を示す。表A.3は,不等分岐光ブランチングデバ
イスに対する挿入損失の要求性能の数値を示す。表JA.1及び表JA.2には,クラスA及びクラスBの等分
岐両方向光ブランチングデバイスの室温条件下における挿入損失の最小限の要求性能の参考数値を示す。

――――― [JIS C 5910-3 pdf 7] ―――――

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    C 5910-3 : 2015
                                                                                                                                              C5
                                                                                                                                                  5
                                              表1−1×N及び2×N光ブランチングデバイスの光学特性
                                                                                                                                                 91
       項目      試験方法           試験条件                                                要求性能
                                                                                                                                                   0-
                                                                                                                                                    3
                                                      最小値                                      最大値
                                                                                                                                                      : 2
     挿入損失 挿入損失及び  光源と供試品とを接続する    −                              等分岐光ブランチングデバイス
                                                                                                                                                        01
              反射減衰量の  光ファイバの長さは,2 m以
                                                                                                                                                          5
                                                              端子構成                      1×N                           2×N
              波長依存性測  上とする。無偏光光源を用い        クラス                  A              B              A               B
              定(JIS C     る。                              スペクトルバンド1 0.5+3.3log2N dB 0.5+3.4log2N dB 0.7+3.4log2N dB 0.7+3.5log2N dB
              61300-3-7,方法
                            光源の波長は光ファイバの          スペクトルバンド2 0.5+3.4log2N dB 0.5+3.5log2N dB 0.7+3.5log2N dB 0.7+3.6log2N dB
              A)           遮断波長よりも長くする。                                   不等分岐光ブランチングデバイス
                            不確かさは0.05 dB以下。
                                                              スペクトルバンド1      22−10.5log10P dB,ここでPはその端子の分岐比(百分率)
                            伝達を意図する全ての端子          スペクトルバンド2
                            対の測定を行う。
                            表A.1,表A.2及び表A.3を
                            参照。
     均一性   挿入損失及び  光源と供試品とを接続する    −                              等分岐光ブランチングデバイス
              反射減衰量の  光ファイバの長さは,2 m以         端子構成                      1×N                           2×N
              波長依存性測  上とする。無偏光光源を用い        クラス                  A              B              A               B
              定(JIS C     る。                              スペクトルバンド1 0.1+0.3log2N dB 0.2+0.3log2N dB 0.4+0.4log2N dB 0.5+0.4log2N dB
              61300-3-7,方法
                            光源の波長は光ファイバの          スペクトルバンド2 0.1+0.4log2N dB 0.2+0.4log2N dB 0.4+0.5log2N dB 0.5+0.5log2N dB
              A)           遮断波長よりも長くする。
                            不確かさは0.05 dB以下。
                            伝達を意図する全ての端子
                            対の測定を行う。
                            表A.1及び表A.2を参照。
     偏光依存 光損失の偏光  光源と供試品とを接続する    −                              等分岐光ブランチングデバイス
     性損失   依存性(JIS C 光ファイバの長さは,2 m以         端子構成                      1×N                           2×N
    (PDL)   61300-3-2)   上とする。                               N≦ 4                  0.2 dB                        0.3 dB
                            光源 : LD                              4                            不確かさ : 0.05 dB以下                    N>16                  0.4 dB                        0.5 dB
                            伝達を意図する全ての端子                                   不等分岐光ブランチングデバイス
                            対の測定を行う。                  1×2及び2×2           0.7−0.25log10P dB,ここでPはその端子の分岐比(百分率)

――――― [JIS C 5910-3 pdf 8] ―――――

                                                                                                                                           7
                                                                                                                               C 5910-3 : 2015
                                          表1−1×N及び2×N光ブランチングデバイスの光学特性(続き)
       項目      試験方法                         試験条件                                                要求性能
                                                                                  最小値                        最大値
     ディレク ディレクティビ 光源と供試品とを接続する光ファイバの長さは,2 m以上と55 dB                           −
     ティビテ ティ測定(JIS Cする。
     ィ       61300-3-20)   光源 : LD
                             不確かさ : 1 dB以下
                             伝達を意図する全ての端子対の測定を行う。
                             測定に影響を及ぼさないように,測定に関係のない全てのポ
                             ートには,反射が生じないように無反射終端処理を施す。
     反射減衰 反射減衰量(JIS光源と供試品とを接続する光ファイバの長さは,2 m以上と55 dB                           −
     量(RL) C 61300-3-6,試する。
              験1,OCWR)    光源 : LD
                             不確かさ : 1 dB以下
                             伝達を意図する全ての端子対の測定を行う。
                             測定に影響を及ぼさないように,測定に関係のない全てのポ
                             ートには,反射が生じないように無反射終端処理を施す。
     最大入力 最大入力光パワ 光源と供試品とを接続する光ファイバの長さは,2 m以上と  −    最大入力光パワー : 一端子につき+27 dBm(1回の測定で光
     光パワー ー(JIS C      する。                                                       入射するのは一端子だけ)。
              61300-2-14)   無偏光光源を用いる。                                         試験中の挿入損失は周囲条件下で初期値の±0.5 dB以内と
                             光源の波長は光ファイバの遮断波長よりも長くする。             し,かつ,試験後の挿入損失は初期値の±0.3 dB以内とする。
                             挿入損失測定の不確かさ : 0.05 dB以下                          試験中及び試験前後の挿入損失は,この表に規定する最大値
                             反射減衰量測定の不確かさ : 1 dB以下                           以下とする。
                             試験波長 :                                                    試験中及び試験前後の反射減衰量は,この表に規定する最小
                              スペクトルバンド1 : 1 310 nm±20 nm及び1 550 nm±20 nm       値以上とする。
                              スペクトルバンド2 : 1 310 nm±20 nm及び1 625 nm±20 nm
                             光パワー保持時間 : 各光パワーレベルで30分間
                             挿入損失及び反射減衰量は,試験中及び試験前後に測定する。
                                                                                                                                              C5 910-
                                                                                                                                                    3 : 2015
                                                                                                                                                  5

――――― [JIS C 5910-3 pdf 9] ―――――

8
C 5910-3 : 2015

6 環境及び耐久性特性

  屋内環境条件で使用するための環境及び耐久性特性の試験方法,試験条件及び要求性能は,表2による。
  表2−シングルモード光ファイバピッグテール形1×N及び2×N光ブランチングデバイスの環境及び
                                           耐久性特性
   項目      試験方法              試験条件                            要求性能
 耐寒性    低温試験     温度 : 0 ℃±2 ℃                等分岐及び不等分岐光ブランチングデバイス
          (JIS C       暴露時間 : 96 h                  の試験前後の挿入損失は,表1に規定する最大
           61300-2-17)                                 値以下とする。試験前後の反射減衰量は,表1
                                                        に規定する最小値以上とする。
                        挿入損失及び反射減衰量は,試験前後
                        にJIS C 61300-3-3の方法3に従って測
                        定する。
 耐熱性    高温試験     温度 : 60 ℃±2 ℃               等分岐及び不等分岐光ブランチングデバイス
          (JIS C       暴露時間 : 96 h                  の試験前後の挿入損失は,表1に規定する最大
           61300-2-18)                                 値以下とする。試験前後の反射減衰量は,表1
                                                        に規定する最小値以上とする。
                        挿入損失及び反射減衰量は,試験前後
                        にJIS C 61300-3-3の方法3に従って測
                        定する。
 耐湿性   高温高湿試験  温度 : 30 ℃±2 ℃               等分岐及び不等分岐光ブランチングデバイス
(定常状 (JIS C        相対湿度 : (85±2) %             の試験中及び試験前後の挿入損失は,表1に規
 態)     61300-2-19)  暴露時間 : 96 h                  定する最大値以下とする。
                                                        さらに,等分岐光ブランチングデバイスの試験
                                                        中の挿入損失の変化は,周囲条件下で初期値の
                        挿入損失及び反射減衰量は,試験中及
                                                        ±0.3 dB以内(N≦4の場合),又は周囲条件下
                        び試験前後にJIS C 61300-3-3の方法3
                                                        で初期値の±0.5 dB以内(N>4の場合)とする。
                        に従って測定する。試験中の測定間隔
                        は10 min以内とする。            不等分岐光ブランチングデバイスの試験中の
                                                        挿入損失の変化は,初期値の±0.3 dB以内(P %
                                                        >2 %の場合),又は初期値の±0.5 dB以内(P %
                                                        ≦2 %の場合)とする。
                                                        試験中及び試験前後の反射減衰量は,表1に規
                                                        定する最小値以上とする。
 温度サイ 温度サイクル 高温 : 60 ℃±2 ℃                等分岐及び不等分岐光ブランチングデバイス
 クル     試験         低温 : 0 ℃±2 ℃                 の試験中及び試験前後の挿入損失は,表1に規
         (JIS C       放置時間 : 1 h                    定する最大値以下とする。
          61300-2-22) 温度変化の割合 : 1 ℃/min         さらに,等分岐光ブランチングデバイスの試験
                       サイクル数 : 5                    中の挿入損失の変化は,周囲条件下で初期値の
                                                        ±0.3 dB以内(N≦4の場合),又は周囲条件下
                                                        で初期値の±0.5 dB以内(N>4の場合)とする。
                        挿入損失及び反射減衰量は,試験中及
                        び試験前後にJIS C 61300-3-3の方法3
                                                        不等分岐光ブランチングデバイスの試験中の
                                                        挿入損失の変化は,初期値の±0.3 dB以内(P %
                        に従って測定する。試験中の測定間隔
                        は10 min以内とする。            >2 %の場合),又は初期値の±0.5 dB以内(P %
                                                        ≦2 %の場合)とする。
                                                        試験中及び試験前後の反射減衰量は,表1に規
                                                        定する最小値以上とする。

――――― [JIS C 5910-3 pdf 10] ―――――

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