JIS C 5925-5:2020 光伝送用WDMデバイス―第5部:シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス

JIS C 5925-5:2020 規格概要

この規格 C5925-5は、屋内環境条件で光ファイバを用いた光伝送に使用するシングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの定格,光学特性,耐環境性及び耐久性について規定。

JISC5925-5 規格全文情報

規格番号
JIS C5925-5 
規格名称
光伝送用WDMデバイス―第5部 : シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス
規格名称英語訳
Fiber optic WDM devices -- Part 5:Non-connectorized single-mode fiber optic middle-scale 1xN DWDM devices
制定年月日
2013年11月20日
最新改正日
2020年6月22日
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‐ 
対応国際規格

ISO

IEC 61753-081-2:2014(MOD)
国際規格分類

ICS

33.180.10
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
2013-11-20 制定日, 2018-10-22 確認日, 2020-06-22 改正
                                                                                 C 5925-5 : 2020

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[3]
  •  4 定格・・・・[4]
  •  5 光学特性・・・・[5]
  •  6 耐環境性及び耐久性・・・・[11]
  •  7 試料・・・・[13]
  •  8 試験報告書・・・・[14]
  •  9 表示・・・・[14]
  •  10 包装・・・・[14]
  •  11 安全・・・・[14]
  •  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[15]

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C 5925-5 : 2020

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人
光産業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本
産業規格を改正すべきとの申出があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本
産業規格である。これによって,JIS C 5925-5:2013は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5925の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5925-1 第1部 : 通則
    JIS C 5925-3 シングルモード光ファイバピッグテール形C/LバンドWDMデバイス
    JIS C 5925-4 シングルモード光ファイバピッグテール形980/1 550 nm WWDMデバイス
    JIS C 5925-5 第5部 : シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス

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                                       日本産業規格                             JIS
                                                                           C 5925-5 : 2020

光伝送用WDMデバイス−第5部 : シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス

Fiber optic WDM devices-Part 5: Non-connectorized single-mode fiber optic middle-scale 1xN DWDM devices

序文

  この規格は,2014年に第2版として発行されたIEC 61753-081-2を基に,技術的内容を変更して作成し
た日本産業規格である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,屋内環境条件で光ファイバを用いた光伝送に使用するシングルモード光ファイバピッグテ
ール形中規模1×N DWDMデバイスの定格,光学特性,耐環境性及び耐久性について規定する。
  なお,この規格は,チャネル間隔が50 GHz,100 GHz又は200 GHzのいずれかで,かつ,チャネル数(N)
が16以上64以下のシングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスに対して適用
する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61753-081-2:2014,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Performance
              standard−Part 081-2: Non-connectorized single-mode fibre optic middle-scale 1xN DWDM
              devices for category C−Controlled environments(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5925-1 光伝送用WDMデバイス−第1部 : 通則
      注記 対応国際規格 : IEC 62074-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Fibre
             optic WDM devices−Part 1: Generic specification
    JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線
    JIS C 61300-2-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-1部 : 正弦

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C 5925-5 : 2020
        波振動試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 2-1: Tests−Vibration (sinusoidal)
    JIS C 61300-2-4 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-4部 : 光フ
        ァイバクランプ強度試験(軸方向引張り)
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-4,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 2-4: Tests−Fibre or cable retention
    JIS C 61300-2-9 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-9部 : 衝撃
        試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-9,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 2-9: Tests−Shock
    JIS C 61300-2-14 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-14部 : 高
        光パワー試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-14,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 2-14: Tests−High optical power
    JIS C 61300-2-17 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-17部 : 低
        温試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-17,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 2-17: Tests−Cold
    JIS C 61300-2-18 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-18部 : 高
        温試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-18,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 2-18: Tests−Dry heat−High temperature endurance
    JIS C 61300-2-19 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-19部 : 高
        温高湿試験(定常状態)
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-19,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 2-19: Tests−Damp heat (steady state)
    JIS C 61300-2-22 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-22部 : 温
        度サイクル試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-2-22,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 2-22: Tests−Change of temperature
    JIS C 61300-2-44 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-44部 : 光
        ファイバクランプ強度試験−繰返し曲げ
    JIS C 61300-3-2 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-2部 : シン
        グルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-2,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 3-2: Examination and measurements−Polarization
             dependent loss in a single-mode fibre optic device
    JIS C 61300-3-6 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-6部 : 反射
        減衰量測定

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                                                                                 C 5925-5 : 2020
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-6,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 3-6: Examinations and measurements−Return loss
    JIS C 61300-3-20 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-20部 : 波
        長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-20,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 3-20: Examinations and measurements−Directivity of
             fibre optic branching devices
    JIS C 61300-3-32 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-32部 : 光
        受動部品の偏波モード分散測定
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-32,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 3-32: Examinations and measurements−Polarization
             mode dispersion measurement for passive optical components
    JIS C 61300-3-38 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-38部 : 群
        遅延,波長分散及び位相リップルの測定
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-3-38,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
             Basic test and measurement procedures−Part 3-38: Examinations and measurements−Group delay,
             chromatic dispersion and phase ripple
    IEC 61300-2-42,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
        procedures−Part 2-42: Tests−Static side load for strain relief
    IEC 61300-3-29,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
        procedures−Part 3-29: Examinations and measurements−Spectral transfer characteristics of DWDM
        devices
    IEC 61753-021-2,Fibre optic interconnecting devices and passive components performance standard−Part
        021-2: Grade C/3 single-mode fibre optic connectors for category C−Controlled environment
    ITU-T Recommendation G.Sup39,Optical system design and engineering considerations
    ITU-T Recommendation G.692,Optical interfaces for multichannel systems with optical amplifiers
    ITU-T Recommendation G.694.1,Spectral grids for WDM applications: DWDM frequency grid

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5925-1の箇条3(用語及び定義)によるほか,次による。
3.1
シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス(non-connectorized single-mode
middle scale 1xN DWDM device)
  チャネル間隔(Δf)が50 GHz,100 GHz又は200 GHzのいずれかで,かつ,チャネル数(N)が16以上
64以下の光合分波機能をもつ波長選択ブランチングデバイス。
3.2
ガウス形通過帯域形状(Gaussian passband profile)
  通過帯域の損失波長特性がガウス関数の形状。

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C 5925-5 : 2020
3.3
フラットトップ形通過帯域形状(flat-top passband profile)
  通過帯域の損失波長特性が平たん(坦)な形状。
3.4
チャネル周波数範囲(channel frequency range)
  ITU-Tグリッド又はカスタム設計によって決まるチャネル中心周波数(fc)の近傍で光信号が通過すると
定められた周波数の範囲(帯域)。この規格では,fc−0.125×Δfからfc+0.125×Δfまでの周波数範囲。

4 定格

  シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの定格は,表1による。
         表1−シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの定格
          項目及び単位       記号           条件                       定格値
    使用温度範囲        ℃ Ta                −                        060 a)
    保存温度範囲      ℃ Tstg                −                        −4085
    使用波長範囲b)   nm λband               −           1 2601   360(OバンドWDM用)
                                                          1 3601   460(EバンドWDM用)
                                                          1 4601   530(SバンドWDM用)
                                                          1 5301   565(CバンドWDM用)
                                                          1 5651   625(LバンドWDM用)
                                                          1 6251   675(UバンドWDM用)
    最大入力光パワーc)   mW    Pmax     試験波長 : 公称波長                 300
    注a) 図1の一定水蒸気量曲線を含む閉曲線で囲まれる領域は,屋内環境条件での使用温度範囲に対する湿
         度範囲を示す。
       b) この使用波長範囲はITU-T Recommendation G.Sup39に示されている。この内容は,要求事項ではな
         く,推奨値である。実際の使用波長範囲は,製造業者が指定する。
       c) 使用波長範囲がCバンドWDM用及びLバンドWDM用の場合に適用する。それ以外の使用波長範囲
         の場合は,受渡当事者間の協定による。

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                                                                                 C 5925-5 : 2020
   注a) 温度30 ℃60 ℃の一定水蒸気量曲線は,温度30 ℃かつ相対湿度85 %の条件下と同じ水蒸気量をもつ
        温度及び相対湿度を示す。
                              図1−温度及び湿度を考慮した環境条件

5 光学特性

  シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの光学特性に関する試験方法,
試験条件及び要求性能は,表2及び表3に基づき,光ファイバピッグテール形のデバイスに適用する。コ
ネクタ形部品については,IEC 61753-021-2に規定のコネクタ性能を満足しなければならない。
  各チャネルの公称波長は,ITU-T Recommendation G.692及びITU-T Recommendation G.694.1に適合し
なければならない。また,カスタム設計に基づくデバイスついては,受渡当事者間の取決めによる。チャ
ネルを波長間隔で指定するデバイスにおいては,周波数を真空中での波長に換算する。
  各項目の要求性能は,表1の定格で規定する使用温度範囲及び使用波長範囲の入力光に対する最小値及
び最大値を,満足しなければならない。
  供試品が温度コントローラ付きである場合,コントローラは,製造業者が指定した設定値に設定しなけ
ればならない。

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C 5925-5 : 2020
               表2−ガウス形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
                           中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験
      項目           試験方法                 試験条件                      要求性能
                                                                      最小値        最大値
 挿入損失       DWDMデバイスの振   ・挿入損失は,チャネル周波数範囲     −         チャネル数
                幅透過特性測定     にわたる全ての偏光状態に対する                N≦24の場合 : 
                (IEC 61300-3-29) 最大値で定める。                                  4.3 dB
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。                         チャネル数
                                   ・使用波長範囲において,測定の不              N>24の場合 : 
                                   確かさa) は,0.05 dB以下とする。                  4.8 dB
 チャネル均一性 DWDMデバイスの振   ・チャネル均一性は,チャネル周波     −         チャネル数
                幅透過特性測定     数範囲にわたる全ての偏光状態に                N≦24の場合 : 
                (IEC 61300-3-29) 対する最大値で定める。                            1.0 dB
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。                         チャネル数
                                   ・使用波長範囲において,測定の不              N>24の場合 : 
                                   確かさa) は,0.05 dB以下とする。                  1.5 dB
 1 dB帯域幅     DWDMデバイスの振   ・帯域幅は,全ての偏光状態にわた  0.25×Δf        −
                幅透過特性測定     る最小値で定める。
                (IEC 61300-3-29) ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.01Δf 以下とする。
 3 dB帯域幅     DWDMデバイスの振   ・帯域幅は,全ての偏光状態にわた   0.5×Δf        −
                幅透過特性測定     る最小値で定める。
                (IEC 61300-3-29) ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.01Δf 以下とする。
 通過帯域リップ DWDMデバイスの振   ・通過帯域リップルは,チャネル周     −           1.5 dB
 ル             幅透過特性測定     波数範囲にわたる挿入損失の最大
                (IEC 61300-3-29) 変化で定める。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.05 dB以下とする。
 隣接チャネルク DWDMデバイスの振   ・隣接チャネルクロストークは,分     −          −25 dB
 ロストーク     幅透過特性測定     波器だけに適用する。
                (IEC 61300-3-29) ・隣接チャネルクロストークは,全
                                   ての偏光状態及びチャネル周波数
                                   範囲にわたる最大値で定める。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.1 dB以下とする。

――――― [pdf 7] ―――――

                                                                                 C 5925-5 : 2020
               表2−ガウス形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
                       中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験(続き)
      項目           試験方法                 試験条件                      要求性能
                                                                      最小値        最大値
 非隣接チャネル DWDMデバイスの振   ・非隣接チャネルクロストークは,     −          −30 dB
 クロストーク   幅透過特性測定     分波器だけに適用する。
                (IEC 61300-3-29) ・非隣接チャネルクロストークは,
                                   全ての偏光状態及びチャネル周波
                                   数範囲にわたる最大値で定める。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.1 dB以下とする。
 トータルチャネ DWDMデバイスの振   ・トータルチャネルクロストーク       −         チャネル数
 ルクロストーク 幅透過特性測定     は,分波器だけに適用する。                    N≦40の場合 : 
                (IEC 61300-3-29) ・トータルチャネルクロストーク                   −22 dB
                                   は,全ての偏光状態にわたる最大値
                                   で定める。                                      チャネル数
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール              N>40の場合 : 
                                   長は,2.0 m以上とする。                          −20 dB
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.1 dB以下とする。
 偏光依存性損失 光損失の偏光依存性 ・PDLは,チャネル周波数範囲にわ      −           0.4 dB
 (PDL)        測定               たる最大値で定める。
                (JIS C 61300-3-2)・PDLは,全ての入出力組合せにわ
                                   たり適用する。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.05 dB以下とする。
 偏波モード分散 偏波モード分散測定 ・PMDは,チャネル周波数範囲に        −           0.5 ps
 (PMD)                           わたる最大値で定める。
                (JIS C 61300-3-32に
                記載のJME法)      ・PMDは,全ての入出力組合せに
                                   わたり適用する。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.05 ps以下とする。
                                   ・CDは,チャネル周波数範囲にわ
 波長分散(CD) 群遅延,波長分散及び                                    −        Δf=100 GHz
                位相リップルの測定 たる最大値で定める。                            の場合 : 
                                   ・CDは,全ての入出力組合せにわ
                (JIS C 61300-3-38)                                                20 ps/nm
                                   たり適用する。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール                Δf=50 GHz
                                   長は,2.0 m以上とする。                          の場合 : 
                                   ・使用波長範囲において,測定の不                 60 ps/nm
                                   確かさa) は,1 ps以下とする。

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C 5925-5 : 2020
               表2−ガウス形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
                       中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験(続き)
      項目           試験方法                 試験条件                      要求性能
                                                                      最小値        最大値
 反射減衰量     反射減衰量測定     ・試験に供しない全てのポートは,   40 dB           −
                (JIS C 61300-3-6)測定に影響を与える反射を避ける
                                   ために,終端する。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,1 dB以下とする。
 ディレクティビ 波長選択性のない光 ・試験に供しない全てのポートは,   40 dB           −
 ティ           ブランチングデバイ 測定に影響を与える反射を避ける
                スのディレクティビ ために,終端する。
                ティ測定           ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                (JIS C 61300-3-20)
                                   ・ディレクティビティは,阻止の関
                                   係にある端子対の全ての組合せに
                                   対して測定する。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,1 dB以下とする。
 最大入力光パワ 最大光パワー測定   試験波長 : 公称波長             300 mW
 ー             (JIS C 61300-2-14)                              試験中及び試験前後の挿入損失
                                   光パワー保持時間 : 各光パワーレベ
                                   ルで30 min                     は,この表に規定する最大値以下
                                   温度 : 30 ℃±2 ℃              とし,かつ,試験前後及び試験中
                                   相対湿度 : (85±2)%           の反射減衰量は,この表に規定す
                                                                  る最小値以上とする。さらに,試
                                   ・挿入損失の測定では,使用波長範
                                   囲において,測定の不確かさa) は,
                                                                  験中及び試験後の挿入損失の変化
                                   0.05 dB以下とする。            は,±0.3 dB以内とする。
                                   ・反射減衰量の測定では,使用波長
                                   範囲において,測定の不確かさa)
                                   は,1 dB以下とする。
                                   ・受渡当事者間の協定によって,他
                                   の波長における試験を実施しても
                                   よい。
 注記 光ファイバピッグテール長を2.0 m以上と規定しているのは,クラッドモード及び高次モードを除去するた
      めである。
 注a) 測定の不確かさUは,一定の信頼の水準(例えば,95 %)において,測定結果が分布すると期待される区間
      (−U,+U)を与える量である。

――――― [pdf 9] ―――――

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           表3−フラットトップ形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
                           中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験
      項目           試験方法                 試験条件                      要求性能
                                                                      最小値         最大値
 挿入損失       DWDMデバイスの振   ・挿入損失は,チャネル周波数範囲     −         チャネル数
                幅透過特性測定     にわたる全ての偏光状態に対する                N≦24の場合 : 
                (IEC 61300-3-29) 最大値で定める。                                  5.5 dB
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。                         チャネル数
                                   ・使用波長範囲において,測定の不              N>24の場合 : 
                                   確かさa) は,0.05 dB以下とする。                  6.0 dB
 チャネル均一   DWDMデバイスの振   ・チャネル均一性は,チャネル周波     −         チャネル数
 性             幅透過特性測定     数範囲にわたる全ての偏光状態に                N≦24の場合 : 
                (IEC 61300-3-29) 対する最大値で定める。                            1.0 dB
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。                         チャネル数
                                   ・使用波長範囲において,測定の不              N>24の場合 : 
                                   確かさa) は,0.05 dB以下とする。                  1.5 dB
 1 dB帯域幅     DWDMデバイスの振   ・帯域幅は,全ての偏光状態にわた   0.5×Δf        −
                幅透過特性測定     る最小値で定める。
                (IEC 61300-3-29) ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.01Δf 以下とする。
 3 dB帯域幅     DWDMデバイスの振   ・帯域幅は,全ての偏光状態にわた   0.5×Δf        −
                幅透過特性測定     る最小値で定める。
                (IEC 61300-3-29) ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.01Δf 以下とする。
 通過帯域リッ   DWDMデバイスの振   ・通過帯域リップルは,チャネル周     −           0.5 dB
 プル           幅透過特性測定     波数範囲にわたる挿入損失の最大
                (IEC 61300-3-29) 変化で定める。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.05 dB以下とする。
 隣接チャネル   DWDMデバイスの振   ・隣接チャネルクロストークは,分     −          −25 dB
 クロストーク   幅透過特性測定     波器だけに適用する。
                (IEC 61300-3-29) ・隣接チャネルクロストークは,全
                                   ての偏光状態及びチャネル周波数
                                   範囲にわたる最大値で定める。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.1 dB以下とする。

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C 5925-5 : 2020
           表3−フラットトップ形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
                       中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験(続き)
      項目           試験方法                 試験条件                      要求性能
                                                                      最小値         最大値
 非隣接チャネ   DWDMデバイスの振   ・非隣接チャネルクロストークは,     −          −30 dB
 ルクロストー   幅透過特性測定     分波器だけに適用する。
 ク             (IEC 61300-3-29) ・非隣接チャネルクロストークは,
                                   全ての偏光状態及びチャネル周波
                                   数範囲にわたる最大値で定める。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.1 dB以下とする。
 トータルチャ   DWDMデバイスの振   ・トータルチャネルクロストーク       −         チャネル数
 ネルクロスト   幅透過特性測定     は,分波器だけに適用する。                    N≦40の場合 : 
 ーク           (IEC 61300-3-29) ・トータルチャネルクロストーク                   −22 dB
                                   は,全ての偏光状態にわたる最大値
                                   で定める。                                      チャネル数
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール              N>40の場合 : 
                                   長は,2.0 m以上とする。                          −20 dB
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.1 dB以下とする。
 偏光依存性損   光損失の偏光依存性  ・PDLはチャネル周波数範囲にわた     −           0.4 dB
 失(PDL)      測定                る最大値で定める。
                (JIS C 61300-3-2) ・PDLは全ての入出力組合せにわた
                                    り適用する。
                                    ・供試品の光ファイバピッグテール
                                    長は,2.0 m以上とする。
                                    ・使用波長範囲において,測定の不
                                    確かさa) は,0.05 dB以下とする。
 偏波モード分   偏波モード分散測定 ・PMDはチャネル周波数範囲にわ        −           0.5 ps
 散(PMD)                         たる最大値で定める。
                (JIS C 61300-3-32に
                記載のJME法)      ・PMDは,全ての入出力組合せに
                                   わたり適用する。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,0.05 ps以下とする。
                                   ・CDはチャネル周波数範囲にわた
 波長分散(CD) 群遅延,波長分散及び                                    −        Δf=100 GHz
               位相リップルの測定  る最大値で定める。                              の場合 : 
               (JIS C 61300-3-38)・CDは,全ての入出力組合せにわ                   40 ps/nm
                                   たり適用する。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール                Δf=50 GHz
                                   長は,2.0 m以上とする。                          の場合 : 
                                   ・使用波長範囲において,測定の不                 100 ps/nm
                                   確かさa) は,1 ps以下とする。

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                                                                                 C 5925-5 : 2020
           表3−フラットトップ形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
                       中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験(続き)
      項目           試験方法                 試験条件                      要求性能
                                                                      最小値         最大値
 反射減衰量     反射減衰量測定     ・試験に供しない全てのポートは,   40 dB           −
                (JIS C 61300-3-6)測定に影響を与える反射を避ける
                                   ために,終端する。
                                   ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,1 dB以下とする。
 ディレクティ   波長選択性のない光 ・試験に供しない全てのポートは,   40 dB           −
 ビティ         ブランチングデバイ 測定に影響を与える反射を避ける
                スのディレクティビ ために,終端する。
                ティ測定           ・供試品の光ファイバピッグテール
                                   長は,2.0 m以上とする。
                (JIS C 61300-3-20)
                                   ・ディレクティビティは,阻止の関
                                   係にある端子対の全ての組合せに
                                   対して測定する。
                                   ・使用波長範囲において,測定の不
                                   確かさa) は,1 dB以下とする。
 最大入力光パ   最大光パワー測定    試験波長 : 公称波長            300 mW
 ワー           (JIS C 61300-2-14)                              試験中及び試験前後の挿入損失
                                    光パワー保持時間 : 各光パワーレベ
                                    ルで30 min                    は,この表に規定する最大値以下
                                    温度 : 30 ℃±2 ℃             とし,かつ,試験前後及び試験中
                                    相対湿度 : (85±2)%          の反射減衰量は,この表に規定す
                                                                  る最小値以上とする。さらに,試
                                    ・挿入損失の測定では,使用波長範
                                    囲において,測定の不確かさa) は,
                                                                  験中及び試験後の挿入損失の変化
                                    0.05 dB以下とする。           は,±0.5 dB以内とする。
                                    ・反射減衰量の測定では,使用波長
                                    範囲において,測定の不確かさa)
                                    は,1 dB以下とする。
                                    ・受渡当事者間の協定によって,他
                                    の波長における試験を実施しても
                                    よい。
 注記 光ファイバピッグテール長を2.0 m以上と規定しているのは,クラッドモード及び高次モードを除去するため
      である。
 注a) 測定の不確かさUは,一定の信頼の水準(例えば,95 %)において,測定結果が分布すると期待される区間
      (−U,+U)を与える量である。

6 耐環境性及び耐久性

  屋内環境条件で使用するための耐環境性及び耐久性の試験方法,試験条件及び要求性能は,表4による。
耐環境性試験及び耐久性試験に供する供試品の光ファイバピッグテール長は,2.0 m以上とする。

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C 5925-5 : 2020
  表4−シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの耐環境性及び耐久性
     項目          試験方法                    試験条件                       要求性能
 耐寒性       低温試験          温度 : 0 ℃±2 ℃                      試験前後の挿入損失及び反
                                暴露時間 : 96 h
              (JIS C 61300-2-17)                                    射減衰量は,表2又は表3に
                                挿入損失は,試験前後に測定する。      規定する要求性能を満足す
                                                                      る。試験後の挿入損失の変化
                                前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
                                2 h以上放置する。                     は,周囲条件下で±0.5 dB以
                                                                      内とする。
                                後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
                                2 h以上放置する。
 耐熱性       高温試験          温度 : 60 ℃±2 ℃                     試験前後の挿入損失及び反
                                暴露時間 : 96 h
              (JIS C 61300-2-18)                                    射減衰量は,表2又は表3に
                                挿入損失は,試験前後に測定する。      規定する要求性能を満足す
                                                                      る。試験後の挿入損失の変化
                                前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
                                2 h以上放置する。                     は,周囲条件下で±0.5 dB以
                                                                      内とする。
                                後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
                                2 h以上放置する。
 耐湿性(定常 高温高湿試験(定常温度 : 30 ℃±2 ℃                     試験前後の挿入損失及び反
 状態)       状態)            相対湿度 : (85±2)%                  射減衰量は,表2又は表3に
                                暴露時間 : 96 h
              (JIS C 61300-2-19)                                    規定する要求性能を満足す
                                挿入損失は,試験中及び試験前後に測定する。
                                                                      る。試験後及び試験中の挿入
                                試験中は,1 h以下の間隔で測定する。   損失の変化は,周囲条件下で
                                                                      ±0.5 dB以内とする。
                                前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
                                2 h以上放置する。
                                後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
                                2 h以上放置する。
 温度サイク   温度サイクル試験  高温 : 60 ℃±2 ℃                     試験前後の挿入損失及び反
 ル                             低温 : 0 ℃±2 ℃
              (JIS C 61300-2-22)                                    射減衰量は,表2又は表3に
                                高温保持時間 : 1 h                     規定する要求性能を満足す
                                低温保持時間 : 1 h                     る。試験後及び試験中の挿入
                                温度変化の割合 : 1 ℃/min              損失の変化は,周囲条件下で
                                サイクル数 : 5                         ±0.5 dB以内とする。
                                挿入損失は,試験中及び試験前後に測定し,
                                試験中は,10 min以下の間隔で測定する。
                                前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
                                2 h以上放置する。
                                後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
                                2 h以上放置する。
 耐振性       正弦波振動試験    振動範囲 : 10 Hz55 Hz                  試験前後の挿入損失及び反
                                掃引速度 : 1 oct/min
              (JIS C 61300-2-1)                                     射減衰量は,表2又は表3に
                                振動軸 : 直交3軸                       規定する要求性能を満足す
                                掃引サイクル数 : 15回(10 Hzから55 Hzにる。試験後及び試験中の挿入
                                上げ10 Hzに戻して1サイクルとする。)  損失の変化は,周囲条件下で
                                振動振幅 : 0.75 mm                     ±0.5 dB以内とする。
                                挿入損失は,試験中及び試験前後に測定し,
                                試験中は10 min以下の間隔で測定する。
                                実装方法 : 供試品は実装ジグに強固に実装す
                                る。

――――― [pdf 13] ―――――

                                                                                 C 5925-5 : 2020
                          表4−シングルモード光ファイバピッグテール形
                    中規模1×N DWDMデバイスの耐環境性及び耐久性(続き)
     項目          試験方法                    試験条件                       要求性能
 光ファイバ   光ファイバコード  引張力 : 光ファイバコードに対して5 N/sの
                                                                      試験前後の挿入損失及び反
 クランプ強   クランプ強度試験                                        射減衰量は,表2又は表3に
                                変化率で10 N±1 N。光ファイバ心線に対し
 度(軸方向引 (軸方向引張り)  て0.5 N/sの変化率で5 N±0.5 N。光ファイバ
                                                                      規定する要求性能を満足す
 張り)                         素線に対して0.5 N/sの変化率で2 N±0.2 N。
              (JIS C 61300-2-4)                                     る。試験後の挿入損失の変化
                                                                      は,周囲条件下で±0.5 dB以
                                引張力を加える位置 : 供試品の端から0.3 m
                                                                      内とする。
                                引張力持続時間 : 10 Nの場合120 s。2 N又は
                                5 Nの場合60 s
                                挿入損失は,試験前後に測定する。
                                引張力が軸方向引張りとなるよう,供試品は
                                試験台にしっかりと固定する。
 耐衝撃性     衝撃試験          波形 : 正弦半波                        試験前後の挿入損失及び反
                                ピーク加速度 : 
              (JIS C 61300-2-9)                                     射減衰量は,表2又は表3に
                                     5 000 m/s2(質量0.125 kg以下の場合)
                                                                      規定する要求性能を満足す
                                     2 000 m/s2(質量0.125 kgを超え0.225 kg
                                                                      る。試験後の挿入損失の変化
                                     以下の場合)                     は,周囲条件下で±0.5 dB以
                                     500 m/s2(質量0.225 kgを超え1 kg以下
                                                                      内とする。
                                     の場合)
                                持続時間 : 1 ms
                                軸数 : 3軸(互いに直交)
                                衝撃回数 : 直交する3軸で,1軸当たり2方
                                向,1方向当たり2回の計12回
                                挿入損失は,試験前後に測定する。
 光ファイバ   光ファイバクラン  荷重c)及び保持時間 : 光ファイバコードの場
                                                                      試験前後の挿入損失及び反
 クランプ強   プ強度試験(横方向                                      射減衰量は,表2又は表3に
                                合1 Nで1 h。光ファイバ心線の場合0.2 Nで
 度(横方向引 引張り)          5 min。                               規定する要求性能を満足す
 張り)a)   )  (IEC 61300-2-42)力を加える位置 : 供試品の端から0.3 m   る。試験後の挿入損失の変化
                                荷重c)方向 : 互いに直交する2方向       は,周囲条件下で±0.5 dB以
                                挿入損失は,試験前後に測定する。      内とする。
 光ファイバ   光ファイバクラン  荷重c) : 光ファイバコードに対して2 N   試験前後の挿入損失及び反
 クランプ強   プ強度試験(繰返し曲げ角度 : ±90°                      射減衰量は,表2又は表3に
 度(繰返し曲 曲げ)            サイクル数 : 30                        規定する要求性能を満足す
 げ)                           挿入損失は,試験前後に測定する。
              (JIS C 61300-2-44)                                    る。試験後の挿入損失の変化
                                                                      は,周囲条件下で±0.5 dB以
                                                                      内とする。
 注a) この試験は,光ファイバコード及び光ファイバ心線ピッグテールを備えたシングルモード光ファイバピッグ
      テール形中規模1×N DWDMデバイスに適用する。
    b) 光受動部品に接続する光ファイバへの横方向引張力は,部品の設計で許容する互いに直交する2方向に印加
      することが望ましい。例えば,光ファイバ取付部よりも外側にベースプレートが張り出した部品の場合,そ
      の方向に力を印加しなくてもよい。
    c) ここでは,“荷重”は力の意味で用いている。

7 試料

  試料は,JIS C 6835のSSMA形シングルモード光ファイバに接続できなければならない。

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C 5925-5 : 2020

8 試験報告書

  製造業者又は販売業者は,試験を実施し,合格した証拠として使用者又は購入業者が受入検査に利用す
ることができるように,試験報告書及びそれを裏付けるデータを使用者又は購入業者に提供する。
  試験報告書には,光学特性及び機械的強度特性に対しては試験条件及び性能値を,耐環境性及び耐久性
に対しては試験条件,試料数及び合格判定数を記載する。

9 表示

  シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスには,次の事項を表示する。た
だし,個々の製品に表示することが困難な場合は,包装に表示してもよい。
a) 形名(製造業者の指定による。)
b) 製造業者名又はその略号
c) 製造年月若しくは製造ロット番号,又はそれらの略号
d) チャネル番号識別(識別方法は製造業者の仕様によって指定する。)

10 包装

  包装は,輸送中及び保管中に,振動,衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように
行う。また,短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には,安全管理及び保管環境条件に関する注
意及び要求事項とともに,有効期限を包装に表示する。

11 安全

  光伝送システム又は光伝送装置に用いる場合,出力端子から人体へ影響を及ぼす光の放射があり得る。
そのため,製造業者は,システム設計者及び使用者に対して,安全性に関する十分な情報及び確実な使用
方法を取扱説明書などに明示しなければならない。
参考文献
     IEC 60793-1-42,Optical fibres−Part 1-42: Measurement methods and test procedures−Chromatic dispersion
     IEC 61753-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Performance standard−Part 1:
        General and guidance
     ITU-T Recommendation G.671,Transmission characteristics of optical components and subsystems

JIS C 5925-5:2020の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61753-081-2:2014(MOD)

JIS C 5925-5:2020の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5925-5:2020の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC5925-1:2016
光伝送用WDMデバイス―第1部:通則
JISC61300-2-1:2012
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-1部:正弦波振動試験
JISC61300-2-14:2020
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-14部:高光パワー試験
JISC61300-2-17:2009
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
JISC61300-2-17:2020
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
JISC61300-2-18:2009
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-18部:高温試験
JISC61300-2-19:2009
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験(定常状態)
JISC61300-2-19:2020
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験―定常状態
JISC61300-2-22:2012
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-22部:温度サイクル試験
JISC61300-2-4:2015
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向引張り)
JISC61300-2-4:2020
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験―軸方向引張り
JISC61300-2-44:2015
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-44部:光ファイバクランプ強度試験―繰返し曲げ
JISC61300-2-9:2012
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-9部:衝撃試験
JISC61300-3-2:2012
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-2部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
JISC61300-3-20:2009
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-20部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
JISC61300-3-32:2013
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-32部:光受動部品の偏波モード分散測定
JISC61300-3-38:2015
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-38部:群遅延,波長分散及び位相リップルの測定
JISC61300-3-6:2011
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-6部:反射減衰量測定
JISC6835:2017
石英系シングルモード光ファイバ素線