JIS C 5925-5:2020 光伝送用WDMデバイス―第5部:シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス | ページ 2

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3.3
フラットトップ形通過帯域形状(flat-top passband profile)
通過帯域の損失波長特性が平たん(坦)な形状。
3.4
チャネル周波数範囲(channel frequency range)
ITU-Tグリッド又はカスタム設計によって決まるチャネル中心周波数(fc)の近傍で光信号が通過すると
定められた周波数の範囲(帯域)。この規格では,fc−0.125×Δfからfc+0.125×Δfまでの周波数範囲。

4 定格

  シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの定格は,表1による。
表1−シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの定格
項目及び単位 記号 条件 定格値
使用温度範囲 ℃ Ta − 060 a)
保存温度範囲 ℃ Tstg − −4085
使用波長範囲b) nm λband − 1 2601 360(OバンドWDM用)
1 3601 460(EバンドWDM用)
1 4601 530(SバンドWDM用)
1 5301 565(CバンドWDM用)
1 5651 625(LバンドWDM用)
1 6251 675(UバンドWDM用)
最大入力光パワーc) mW Pmax 試験波長 : 公称波長 300
注a) 図1の一定水蒸気量曲線を含む閉曲線で囲まれる領域は,屋内環境条件での使用温度範囲に対する湿
度範囲を示す。
b) この使用波長範囲はITU-T Recommendation G.Sup39に示されている。この内容は,要求事項ではな
く,推奨値である。実際の使用波長範囲は,製造業者が指定する。
c) 使用波長範囲がCバンドWDM用及びLバンドWDM用の場合に適用する。それ以外の使用波長範囲
の場合は,受渡当事者間の協定による。

――――― [JIS C 5925-5 pdf 6] ―――――

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注a) 温度30 ℃60 ℃の一定水蒸気量曲線は,温度30 ℃かつ相対湿度85 %の条件下と同じ水蒸気量をもつ
温度及び相対湿度を示す。
図1−温度及び湿度を考慮した環境条件

5 光学特性

  シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの光学特性に関する試験方法,
試験条件及び要求性能は,表2及び表3に基づき,光ファイバピッグテール形のデバイスに適用する。コ
ネクタ形部品については,IEC 61753-021-2に規定のコネクタ性能を満足しなければならない。
各チャネルの公称波長は,ITU-T Recommendation G.692及びITU-T Recommendation G.694.1に適合し
なければならない。また,カスタム設計に基づくデバイスついては,受渡当事者間の取決めによる。チャ
ネルを波長間隔で指定するデバイスにおいては,周波数を真空中での波長に換算する。
各項目の要求性能は,表1の定格で規定する使用温度範囲及び使用波長範囲の入力光に対する最小値及
び最大値を,満足しなければならない。
供試品が温度コントローラ付きである場合,コントローラは,製造業者が指定した設定値に設定しなけ
ればならない。

――――― [JIS C 5925-5 pdf 7] ―――――

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表2−ガウス形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
挿入損失 DWDMデバイスの振 ·挿入損失は,チャネル周波数範囲 − チャネル数
幅透過特性測定 にわたる全ての偏光状態に対する N≦24の場合 :
(IEC 61300-3-29) 最大値で定める。 4.3 dB
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。 チャネル数
·使用波長範囲において,測定の不 N>24の場合 :
確かさa) は,0.05 dB以下とする。 4.8 dB
チャネル均一性 DWDMデバイスの振 ·チャネル均一性は,チャネル周波 − チャネル数
幅透過特性測定 数範囲にわたる全ての偏光状態に N≦24の場合 :
(IEC 61300-3-29) 対する最大値で定める。 1.0 dB
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。 チャネル数
·使用波長範囲において,測定の不 N>24の場合 :
確かさa) は,0.05 dB以下とする。 1.5 dB
1 dB帯域幅 DWDMデバイスの振 ·帯域幅は,全ての偏光状態にわた 0.25×Δf −
幅透過特性測定 る最小値で定める。
(IEC 61300-3-29) ·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.01Δf 以下とする。
3 dB帯域幅 DWDMデバイスの振 ·帯域幅は,全ての偏光状態にわた 0.5×Δf −
幅透過特性測定 る最小値で定める。
(IEC 61300-3-29) ·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.01Δf 以下とする。
通過帯域リップ DWDMデバイスの振 ·通過帯域リップルは,チャネル周 − 1.5 dB
ル 幅透過特性測定 波数範囲にわたる挿入損失の最大
(IEC 61300-3-29) 変化で定める。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.05 dB以下とする。
隣接チャネルク DWDMデバイスの振 ·隣接チャネルクロストークは,分 − −25 dB
ロストーク 幅透過特性測定 波器だけに適用する。
(IEC 61300-3-29) ·隣接チャネルクロストークは,全
ての偏光状態及びチャネル周波数
範囲にわたる最大値で定める。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.1 dB以下とする。

――――― [JIS C 5925-5 pdf 8] ―――――

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表2−ガウス形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
非隣接チャネル DWDMデバイスの振 ·非隣接チャネルクロストークは, − −30 dB
クロストーク 幅透過特性測定 分波器だけに適用する。
(IEC 61300-3-29) ·非隣接チャネルクロストークは,
全ての偏光状態及びチャネル周波
数範囲にわたる最大値で定める。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.1 dB以下とする。
トータルチャネ DWDMデバイスの振 ·トータルチャネルクロストーク − チャネル数
ルクロストーク 幅透過特性測定 は,分波器だけに適用する。 N≦40の場合 :
(IEC 61300-3-29) ·トータルチャネルクロストーク −22 dB
は,全ての偏光状態にわたる最大値
で定める。 チャネル数
·供試品の光ファイバピッグテール N>40の場合 :
長は,2.0 m以上とする。 −20 dB
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.1 dB以下とする。
偏光依存性損失 光損失の偏光依存性 ·PDLは,チャネル周波数範囲にわ − 0.4 dB
(PDL) 測定 たる最大値で定める。
(JIS C 61300-3-2)·PDLは,全ての入出力組合せにわ
たり適用する。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.05 dB以下とする。
偏波モード分散 偏波モード分散測定 ·PMDは,チャネル周波数範囲に − 0.5 ps
(PMD) わたる最大値で定める。
(JIS C 61300-3-32に
記載のJME法) ·PMDは,全ての入出力組合せに
わたり適用する。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.05 ps以下とする。
·CDは,チャネル周波数範囲にわ
波長分散(CD) 群遅延,波長分散及び − Δf=100 GHz
位相リップルの測定 たる最大値で定める。 の場合 :
·CDは,全ての入出力組合せにわ
(JIS C 61300-3-38) 20 ps/nm
たり適用する。
·供試品の光ファイバピッグテール Δf=50 GHz
長は,2.0 m以上とする。 の場合 :
·使用波長範囲において,測定の不 60 ps/nm
確かさa) は,1 ps以下とする。

――――― [JIS C 5925-5 pdf 9] ―――――

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C 5925-5 : 2020
表2−ガウス形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
反射減衰量 反射減衰量測定 ·試験に供しない全てのポートは, 40 dB −
(JIS C 61300-3-6)測定に影響を与える反射を避ける
ために,終端する。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,1 dB以下とする。
ディレクティビ 波長選択性のない光 ·試験に供しない全てのポートは, 40 dB −
ティ ブランチングデバイ 測定に影響を与える反射を避ける
スのディレクティビ ために,終端する。
ティ測定 ·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
(JIS C 61300-3-20)
·ディレクティビティは,阻止の関
係にある端子対の全ての組合せに
対して測定する。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,1 dB以下とする。
最大入力光パワ 最大光パワー測定 試験波長 : 公称波長 300 mW
ー (JIS C 61300-2-14) 試験中及び試験前後の挿入損失
光パワー保持時間 : 各光パワーレベ
ルで30 min は,この表に規定する最大値以下
温度 : 30 ℃±2 ℃ とし,かつ,試験前後及び試験中
相対湿度 : (85±2)% の反射減衰量は,この表に規定す
る最小値以上とする。さらに,試
·挿入損失の測定では,使用波長範
囲において,測定の不確かさa) は,
験中及び試験後の挿入損失の変化
0.05 dB以下とする。 は,±0.3 dB以内とする。
·反射減衰量の測定では,使用波長
範囲において,測定の不確かさa)
は,1 dB以下とする。
·受渡当事者間の協定によって,他
の波長における試験を実施しても
よい。
注記 光ファイバピッグテール長を2.0 m以上と規定しているのは,クラッドモード及び高次モードを除去するた
めである。
注a) 測定の不確かさUは,一定の信頼の水準(例えば,95 %)において,測定結果が分布すると期待される区間
(−U,+U)を与える量である。

――――― [JIS C 5925-5 pdf 10] ―――――

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JIS C 5925-5:2020の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61753-081-2:2014(MOD)

JIS C 5925-5:2020の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5925-5:2020の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC5925-1:2016
光伝送用WDMデバイス―第1部:通則
JISC61300-2-1:2012
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-1部:正弦波振動試験
JISC61300-2-14:2020
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-14部:高光パワー試験
JISC61300-2-17:2009
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
JISC61300-2-17:2020
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
JISC61300-2-18:2009
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-18部:高温試験
JISC61300-2-19:2009
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験(定常状態)
JISC61300-2-19:2020
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験―定常状態
JISC61300-2-22:2012
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-22部:温度サイクル試験
JISC61300-2-4:2015
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向引張り)
JISC61300-2-4:2020
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験―軸方向引張り
JISC61300-2-44:2015
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-44部:光ファイバクランプ強度試験―繰返し曲げ
JISC61300-2-9:2012
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-9部:衝撃試験
JISC61300-3-2:2012
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-2部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
JISC61300-3-20:2009
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-20部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
JISC61300-3-32:2013
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-32部:光受動部品の偏波モード分散測定
JISC61300-3-38:2015
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-38部:群遅延,波長分散及び位相リップルの測定
JISC61300-3-6:2011
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-6部:反射減衰量測定
JISC6835:2017
石英系シングルモード光ファイバ素線