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C 5925-5 : 2020
表3−フラットトップ形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
挿入損失 DWDMデバイスの振 ·挿入損失は,チャネル周波数範囲 − チャネル数
幅透過特性測定 にわたる全ての偏光状態に対する N≦24の場合 :
(IEC 61300-3-29) 最大値で定める。 5.5 dB
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。 チャネル数
·使用波長範囲において,測定の不 N>24の場合 :
確かさa) は,0.05 dB以下とする。 6.0 dB
チャネル均一 DWDMデバイスの振 ·チャネル均一性は,チャネル周波 − チャネル数
性 幅透過特性測定 数範囲にわたる全ての偏光状態に N≦24の場合 :
(IEC 61300-3-29) 対する最大値で定める。 1.0 dB
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。 チャネル数
·使用波長範囲において,測定の不 N>24の場合 :
確かさa) は,0.05 dB以下とする。 1.5 dB
1 dB帯域幅 DWDMデバイスの振 ·帯域幅は,全ての偏光状態にわた 0.5×Δf −
幅透過特性測定 る最小値で定める。
(IEC 61300-3-29) ·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.01Δf 以下とする。
3 dB帯域幅 DWDMデバイスの振 ·帯域幅は,全ての偏光状態にわた 0.5×Δf −
幅透過特性測定 る最小値で定める。
(IEC 61300-3-29) ·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.01Δf 以下とする。
通過帯域リッ DWDMデバイスの振 ·通過帯域リップルは,チャネル周 − 0.5 dB
プル 幅透過特性測定 波数範囲にわたる挿入損失の最大
(IEC 61300-3-29) 変化で定める。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.05 dB以下とする。
隣接チャネル DWDMデバイスの振 ·隣接チャネルクロストークは,分 − −25 dB
クロストーク 幅透過特性測定 波器だけに適用する。
(IEC 61300-3-29) ·隣接チャネルクロストークは,全
ての偏光状態及びチャネル周波数
範囲にわたる最大値で定める。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.1 dB以下とする。
――――― [JIS C 5925-5 pdf 11] ―――――
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C 5925-5 : 2020
表3−フラットトップ形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
非隣接チャネ DWDMデバイスの振 ·非隣接チャネルクロストークは, − −30 dB
ルクロストー 幅透過特性測定 分波器だけに適用する。
ク (IEC 61300-3-29) ·非隣接チャネルクロストークは,
全ての偏光状態及びチャネル周波
数範囲にわたる最大値で定める。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.1 dB以下とする。
トータルチャ DWDMデバイスの振 ·トータルチャネルクロストーク − チャネル数
ネルクロスト 幅透過特性測定 は,分波器だけに適用する。 N≦40の場合 :
ーク (IEC 61300-3-29) ·トータルチャネルクロストーク −22 dB
は,全ての偏光状態にわたる最大値
で定める。 チャネル数
·供試品の光ファイバピッグテール N>40の場合 :
長は,2.0 m以上とする。 −20 dB
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.1 dB以下とする。
偏光依存性損 光損失の偏光依存性 ·PDLはチャネル周波数範囲にわた − 0.4 dB
失(PDL) 測定 る最大値で定める。
(JIS C 61300-3-2) ·PDLは全ての入出力組合せにわた
り適用する。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.05 dB以下とする。
偏波モード分 偏波モード分散測定 ·PMDはチャネル周波数範囲にわ − 0.5 ps
散(PMD) たる最大値で定める。
(JIS C 61300-3-32に
記載のJME法) ·PMDは,全ての入出力組合せに
わたり適用する。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,0.05 ps以下とする。
·CDはチャネル周波数範囲にわた
波長分散(CD) 群遅延,波長分散及び − Δf=100 GHz
位相リップルの測定 る最大値で定める。 の場合 :
(JIS C 61300-3-38)·CDは,全ての入出力組合せにわ 40 ps/nm
たり適用する。
·供試品の光ファイバピッグテール Δf=50 GHz
長は,2.0 m以上とする。 の場合 :
·使用波長範囲において,測定の不 100 ps/nm
確かさa) は,1 ps以下とする。
――――― [JIS C 5925-5 pdf 12] ―――――
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C 5925-5 : 2020
表3−フラットトップ形通過帯域形状のシングルモード光ファイバピッグテール形
中規模1×N DWDMデバイスの光学特性試験(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
反射減衰量 反射減衰量測定 ·試験に供しない全てのポートは, 40 dB −
(JIS C 61300-3-6)測定に影響を与える反射を避ける
ために,終端する。
·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,1 dB以下とする。
ディレクティ 波長選択性のない光 ·試験に供しない全てのポートは, 40 dB −
ビティ ブランチングデバイ 測定に影響を与える反射を避ける
スのディレクティビ ために,終端する。
ティ測定 ·供試品の光ファイバピッグテール
長は,2.0 m以上とする。
(JIS C 61300-3-20)
·ディレクティビティは,阻止の関
係にある端子対の全ての組合せに
対して測定する。
·使用波長範囲において,測定の不
確かさa) は,1 dB以下とする。
最大入力光パ 最大光パワー測定 試験波長 : 公称波長 300 mW
ワー (JIS C 61300-2-14) 試験中及び試験前後の挿入損失
光パワー保持時間 : 各光パワーレベ
ルで30 min は,この表に規定する最大値以下
温度 : 30 ℃±2 ℃ とし,かつ,試験前後及び試験中
相対湿度 : (85±2)% の反射減衰量は,この表に規定す
る最小値以上とする。さらに,試
·挿入損失の測定では,使用波長範
囲において,測定の不確かさa) は,
験中及び試験後の挿入損失の変化
0.05 dB以下とする。 は,±0.5 dB以内とする。
·反射減衰量の測定では,使用波長
範囲において,測定の不確かさa)
は,1 dB以下とする。
·受渡当事者間の協定によって,他
の波長における試験を実施しても
よい。
注記 光ファイバピッグテール長を2.0 m以上と規定しているのは,クラッドモード及び高次モードを除去するため
である。
注a) 測定の不確かさUは,一定の信頼の水準(例えば,95 %)において,測定結果が分布すると期待される区間
(−U,+U)を与える量である。
6 耐環境性及び耐久性
屋内環境条件で使用するための耐環境性及び耐久性の試験方法,試験条件及び要求性能は,表4による。
耐環境性試験及び耐久性試験に供する供試品の光ファイバピッグテール長は,2.0 m以上とする。
――――― [JIS C 5925-5 pdf 13] ―――――
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C 5925-5 : 2020
表4−シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイスの耐環境性及び耐久性
項目 試験方法 試験条件 要求性能
耐寒性 低温試験 温度 : 0 ℃±2 ℃ 試験前後の挿入損失及び反
暴露時間 : 96 h
(JIS C 61300-2-17) 射減衰量は,表2又は表3に
挿入損失は,試験前後に測定する。 規定する要求性能を満足す
る。試験後の挿入損失の変化
前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
2 h以上放置する。 は,周囲条件下で±0.5 dB以
内とする。
後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
2 h以上放置する。
耐熱性 高温試験 温度 : 60 ℃±2 ℃ 試験前後の挿入損失及び反
暴露時間 : 96 h
(JIS C 61300-2-18) 射減衰量は,表2又は表3に
挿入損失は,試験前後に測定する。 規定する要求性能を満足す
る。試験後の挿入損失の変化
前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
2 h以上放置する。 は,周囲条件下で±0.5 dB以
内とする。
後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
2 h以上放置する。
耐湿性(定常 高温高湿試験(定常温度 : 30 ℃±2 ℃ 試験前後の挿入損失及び反
状態) 状態) 相対湿度 : (85±2)% 射減衰量は,表2又は表3に
暴露時間 : 96 h
(JIS C 61300-2-19) 規定する要求性能を満足す
挿入損失は,試験中及び試験前後に測定する。
る。試験後及び試験中の挿入
試験中は,1 h以下の間隔で測定する。 損失の変化は,周囲条件下で
±0.5 dB以内とする。
前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
2 h以上放置する。
後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
2 h以上放置する。
温度サイク 温度サイクル試験 高温 : 60 ℃±2 ℃ 試験前後の挿入損失及び反
ル 低温 : 0 ℃±2 ℃
(JIS C 61300-2-22) 射減衰量は,表2又は表3に
高温保持時間 : 1 h 規定する要求性能を満足す
低温保持時間 : 1 h る。試験後及び試験中の挿入
温度変化の割合 : 1 ℃/min 損失の変化は,周囲条件下で
サイクル数 : 5 ±0.5 dB以内とする。
挿入損失は,試験中及び試験前後に測定し,
試験中は,10 min以下の間隔で測定する。
前処理 : 試験前に,供試品は,室温環境中に
2 h以上放置する。
後処理 : 試験後に,供試品は,室温環境中に
2 h以上放置する。
耐振性 正弦波振動試験 振動範囲 : 10 Hz55 Hz 試験前後の挿入損失及び反
掃引速度 : 1 oct/min
(JIS C 61300-2-1) 射減衰量は,表2又は表3に
振動軸 : 直交3軸 規定する要求性能を満足す
掃引サイクル数 : 15回(10 Hzから55 Hzにる。試験後及び試験中の挿入
上げ10 Hzに戻して1サイクルとする。) 損失の変化は,周囲条件下で
振動振幅 : 0.75 mm ±0.5 dB以内とする。
挿入損失は,試験中及び試験前後に測定し,
試験中は10 min以下の間隔で測定する。
実装方法 : 供試品は実装ジグに強固に実装す
る。
――――― [JIS C 5925-5 pdf 14] ―――――
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C 5925-5 : 2020
表4−シングルモード光ファイバピッグテール形
中規模1×N DWDMデバイスの耐環境性及び耐久性(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
光ファイバ 光ファイバコード 引張力 : 光ファイバコードに対して5 N/sの
試験前後の挿入損失及び反
クランプ強 クランプ強度試験 射減衰量は,表2又は表3に
変化率で10 N±1 N。光ファイバ心線に対し
度(軸方向引 (軸方向引張り) て0.5 N/sの変化率で5 N±0.5 N。光ファイバ
規定する要求性能を満足す
張り) 素線に対して0.5 N/sの変化率で2 N±0.2 N。
(JIS C 61300-2-4) る。試験後の挿入損失の変化
は,周囲条件下で±0.5 dB以
引張力を加える位置 : 供試品の端から0.3 m
内とする。
引張力持続時間 : 10 Nの場合120 s。2 N又は
5 Nの場合60 s
挿入損失は,試験前後に測定する。
引張力が軸方向引張りとなるよう,供試品は
試験台にしっかりと固定する。
耐衝撃性 衝撃試験 波形 : 正弦半波 試験前後の挿入損失及び反
ピーク加速度 :
(JIS C 61300-2-9) 射減衰量は,表2又は表3に
5 000 m/s2(質量0.125 kg以下の場合)
規定する要求性能を満足す
2 000 m/s2(質量0.125 kgを超え0.225 kg
る。試験後の挿入損失の変化
以下の場合) は,周囲条件下で±0.5 dB以
500 m/s2(質量0.225 kgを超え1 kg以下
内とする。
の場合)
持続時間 : 1 ms
軸数 : 3軸(互いに直交)
衝撃回数 : 直交する3軸で,1軸当たり2方
向,1方向当たり2回の計12回
挿入損失は,試験前後に測定する。
光ファイバ 光ファイバクラン 荷重c)及び保持時間 : 光ファイバコードの場
試験前後の挿入損失及び反
クランプ強 プ強度試験(横方向 射減衰量は,表2又は表3に
合1 Nで1 h。光ファイバ心線の場合0.2 Nで
度(横方向引 引張り) 5 min。 規定する要求性能を満足す
張り)a) ) (IEC 61300-2-42)力を加える位置 : 供試品の端から0.3 m る。試験後の挿入損失の変化
荷重c)方向 : 互いに直交する2方向 は,周囲条件下で±0.5 dB以
挿入損失は,試験前後に測定する。 内とする。
光ファイバ 光ファイバクラン 荷重c) : 光ファイバコードに対して2 N 試験前後の挿入損失及び反
クランプ強 プ強度試験(繰返し曲げ角度 : ±90° 射減衰量は,表2又は表3に
度(繰返し曲 曲げ) サイクル数 : 30 規定する要求性能を満足す
げ) 挿入損失は,試験前後に測定する。
(JIS C 61300-2-44) る。試験後の挿入損失の変化
は,周囲条件下で±0.5 dB以
内とする。
注a) この試験は,光ファイバコード及び光ファイバ心線ピッグテールを備えたシングルモード光ファイバピッグ
テール形中規模1×N DWDMデバイスに適用する。
b) 光受動部品に接続する光ファイバへの横方向引張力は,部品の設計で許容する互いに直交する2方向に印加
することが望ましい。例えば,光ファイバ取付部よりも外側にベースプレートが張り出した部品の場合,そ
の方向に力を印加しなくてもよい。
c) ここでは,“荷重”は力の意味で用いている。
7 試料
試料は,JIS C 6835のSSMA形シングルモード光ファイバに接続できなければならない。
――――― [JIS C 5925-5 pdf 15] ―――――
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JIS C 5925-5:2020の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61753-081-2:2014(MOD)
JIS C 5925-5:2020の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.10 : 光ファイバ及び光ケーブル
JIS C 5925-5:2020の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5925-1:2016
- 光伝送用WDMデバイス―第1部:通則
- JISC61300-2-1:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-1部:正弦波振動試験
- JISC61300-2-14:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-14部:高光パワー試験
- JISC61300-2-17:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-17:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-18:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-18部:高温試験
- JISC61300-2-19:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験(定常状態)
- JISC61300-2-19:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験―定常状態
- JISC61300-2-22:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-22部:温度サイクル試験
- JISC61300-2-4:2015
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向引張り)
- JISC61300-2-4:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験―軸方向引張り
- JISC61300-2-44:2015
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-44部:光ファイバクランプ強度試験―繰返し曲げ
- JISC61300-2-9:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-9部:衝撃試験
- JISC61300-3-2:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-2部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
- JISC61300-3-20:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-20部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
- JISC61300-3-32:2013
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-32部:光受動部品の偏波モード分散測定
- JISC61300-3-38:2015
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-38部:群遅延,波長分散及び位相リップルの測定
- JISC61300-3-6:2011
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-6部:反射減衰量測定
- JISC6835:2017
- 石英系シングルモード光ファイバ素線