C5
1
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差異
4
9
国際規格 ごとの評価及びその内容 の理由及び今後の対策
42 : 2
番号
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
01
及び題名 の評価
0
3 用語及 3.8しきい値光出力 IEC 3 対応するISO規格を参 追加 IEC規格にない定義を追加し 国内外で一般的に広く使用されて
び定義 3.15遠視野像リプル60747-5-4 照。 た。 おり,商習慣上必要。IECに提案
3.18発光点位置精度IEC を行う。
3.20偏光比 60747-5-2
3.21干渉パターン強
度比
3.29モニタ用フォト
ダイオード端子間
容量
3.31モニタ用フォト
ダイオード測定周
波数
3.19非点隔差 − − ISO 11146シリーズを参 追加 ISO 11146シリーズでは,二次国内外で一般的に広く使用されて
照 のモーメントを基準としてい おり,商習慣上必要。
るが,実用的観点から,半値幅
を基準とした定義に変更した。
IEC 3 中心波長,発散角,1/e2-
削除 左記の項目を削除した。 この用途では一般的に使用されて
60747-5-4 強度での発散角幅,1/e2- いない,又は選択肢として一般的に
IEC 強度での近視野像幅,レ 使用されている他のものがある。
60747-5-2 ーザの容量,レーザのイ
ンダクタンス及びS11パ
ラメータ並びにモニタ用
フォトダイオードのスイ
ッチング時間
4 分類及 使用するデバイス IEC 4.1 使用するデバイスの材 追加 波長帯及び用途を追加した。 国内外で一般的に広く使用されて
び外形 の結晶材料,波長 60747-5-4 4.2 料,構造,パッケージ構 おり,商習慣上必要。IECに提案
帯,素子構造,パッ 4.3 造,外形及び電極接続に を行う。
C5
ケージ構造,用途,IEC 9.1 ついて規定。
9
外形及び電極接続
4
60747-5-2 9.2
2 : 2
について規定。 9.3
01
1
0
4
――――― [JIS C 5942 pdf 16] ―――――
C5
1
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差異
5
9
国際規格 ごとの評価及びその内容 の理由及び今後の対策
42 : 2
番号
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
01
及び題名 の評価
0
5 性能及 しきい値光出力 IEC 4.4 IEC規格に記載なし 追加 関連するISO規格があるもの 国内外で一般的に広く使用されて
び試験 遠視野像リプル 60747-5-4 4.5 はこれを参照した。 おり,商習慣上必要。IECに提案
発光点位置精度 4.6 を行う。
偏光比
干渉パターン強度
比
モニタ用フォトダ IEC 9.1
イオード端子間容 60747-5-2 9.2
量 9.3
環境及び耐久性に − − − 追加 JISでは,環境及び耐久性に対国内外で一般的に広く使用されて
対する性能及び試 おり,商習慣上必要。IECに提案
する性能及び試験を明示した。
験 を行う。
IEC 4.4 中心波長,発散角,1/e2-
削除 左記の項目を削除した。 この用途では一般的に使用されて
60747-5-4 4.5 強度での発散角幅,1/e2- いない,又は選択肢として一般的に
4.6 強度での近視野像幅,レ 使用されている他のものがある。
ーザの容量,レーザのイ
IEC 9.1 ンダクタンス及びS11パ
60747-5-2 9.2 ラメータ並びにモニタ用
9.3 フォトダイオードのスイ
ッチング時間
6 レーザ レーザの安全基準 − − − 追加 JISでは,レーザの安全性を明国内外で一般的に広く使用されて
の安全性 のクラスを示すよ 示した。 おり,商習慣上必要。IECに提案
うに規定。 を行う。
8 表示 表示項目を規定。 − − − 追加 JISでは,表示に関して明示し国内外で一般的に広く使用されて
た。 おり,商習慣上必要。IECに提案
を行う。
9 取扱い 取扱いに関する注 − − − 追加 JISでは,取扱い上の注意事項国内外で一般的に広く使用されて
C5
上の注意 意事項を規定して を明示した。 おり,商習慣上必要。IECに提案
94
事項 いる。 を行う。
2 : 201
1
0
5
――――― [JIS C 5942 pdf 17] ―――――
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1
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差異
6
9
国際規格 ごとの評価及びその内容 の理由及び今後の対策
42 : 2
番号
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
01
及び題名 の評価
0
− − IEC 3 発光ダイオード 削除 再生用及び記録用には使用し 必要に応じて別のJISとして制定
60747-5-2 4 赤外発光ダイオード 削除 ないため。 予定。
6 フォトトランジスタ 削除
7 フォトカプラ及び光カプ削除
ラ
8 電気ショック保護用フォ削除
トカプラ
附属書B 入出力安全試験 削除
(規定)
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : (IEC 60747-5-4:2006,IEC 60747-5-2:1997,Amd.1:2002,MOD)
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 削除·················· 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加·················· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更·················· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。
C5 942 : 201
1
0
6
JIS C 5942:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60747-5-2:1997(MOD)
- IEC 60747-5-4:2006(MOD)
JIS C 5942:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.01 : 光ファイバシステム一般
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
JIS C 5942:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC5943:2010
- 再生用及び記録用半導体レーザ測定方法
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-11:1989
- 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
- JISC60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
- JISC60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
- JISC60068-2-32:1995
- 環境試験方法―電気・電子―自然落下試験方法
- JISC60068-2-38:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-38部:温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号:Z/AD)
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-7:1993
- 環境試験方法―電気・電子―加速度(定常)試験方法
- JISC60068-2-78:2015
- 環境試験方法―電気・電子―第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記号:Cab)
- JISC6802:2014
- レーザ製品の安全基準