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C 5954-3 : 2013
a) 送信部,及び供試受信部又は基準受信部(以下,単に“受信部”という。)を,規定の条件で駆動する。
b) 送信部の信号入力端子に,パルスパターン発生器から規定のNRZ符号(マーク率50 %)の入力電気
信号を加える。
c) 送信部の光出力信号を,測定用光ファイバコード及び可変光減衰器を介して,受信部に入力する。
d) 図4の破線の経路で,可変光減衰器を,規定の光パワーが受信部に入力するように,調整する。
e) デジタルオシロスコープなどの波形観測装置を用いて,パルスパターン発生器からの参照入力電気信
号の波形と,受信部からの出力電気信号の波形との,振幅の50 %値の時間差tPLHを測定する(図5参
照)。測定用光ファイバコード,可変光減衰器などの光学的な遅延及び測定系の信号線の遅延は,あら
かじめ校正しておく。出力電気信号にパルス幅ジッタがある場合は,波形の振幅の50 %値の代わりに,
ジッタの最大値で測定する。
f) 伝搬遅延時間tdは,式(3),式(4)又は式(5)によって求める。
送信部・受信部の総合試験の場合
td (3)
max(tPLH , tPHL )
送信部の個別試験の場合
td tdr
max(tPLH , tPHL ) (4)
受信部の個別試験の場合
td tds
max(tPLH , tPHL ) (5)
ここに, max(tPLH, tPHL) : tPLH及びtPHLのうち大きい方の値,等しい場合
はその値
tPLH : 入力電気信号及び出力電気信号のそれぞれの
立ち上がりの振幅の50 %値の時間差
tPHL : 入力電気信号及び出力電気信号のそれぞれの
立ち下がりの振幅の50 %値の時間差
tdr : 基準受信部の伝搬遅延時間
tds : 基準送信部の伝搬遅延時間
g) 総合試験及び供試受信部の個別試験の場合には,可変光減衰器を,供試受信部の受信光入力が最小光
入力から最大光入力までの範囲に調整し,tdを繰り返し測定する。測定の最大値を伝搬遅延時間とす
る。供試送信部の個別試験の場合には供試受信部に代えて基準受信部を,供試受信部の個別試験の場
合には供試送信部に代えて基準送信部を用いる。
入 論理”1”レベル
力
電 振幅の50 %値
気
信
号 論理”0”レベル tPLH tPHL
出 論理”1”レベル
力
電 振幅の50 %値
気
信
号 論理”0”レベル
図5−伝搬遅延時間
――――― [JIS C 5954-3 pdf 16] ―――――
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7.5.4 個別性能規格に規定する事項
個別性能規格に規定する事項は,次による。
a) 動作温度
b) 基準受信部の伝搬遅延時間,上昇時間,下降時間,パルス幅ひずみ,パルス幅ジッタ,最大受信光入
力パワー及び最小受信光入力パワー(パルス幅ジッタは,供試送信部のパルス幅ジッタに比べて,十
分小さくする。)
c) 基準送信部の伝搬遅延時間,上昇時間,下降時間,パルス幅ひずみ,パルス幅ジッタ,ピーク発振波
長及び送信光出力(パルス幅ジッタは,供試受信部のパルス幅ジッタに比べて,十分小さくする。)
d) 送信部及び受信部の駆動条件(電源電圧)
e) 送信部の入力信号(伝送速度,波形及びPRBS信号の生成多項式)
f) 測定用光ファイバコードの仕様
g) 供試受信部の最大受信光入力パワー及び最小受信光入力パワー
7.6 中心波長及びスペクトル幅
7.6.1 目的
発光ダイオード(LED),SLM-LD,MLM-LDなどの光源,及び光ファイバ通信で使用する送信部の光ス
ペクトルを測定し,中心波長,ピーク発光波長又はピーク発振波長,及びスペクトル幅並びに変調時のス
ペクトル幅(チャープ)を測定する。
7.6.2 中心波長及びスペクトル幅の測定回路
中心波長及びスペクトル幅の測定回路を,図6に示す。
恒温槽
測定用光ファイバコード
パルスパターン 供試送信部 光スペクトラムア
発生器 ナライザ
入力電気信号
A
AA E : 直流電源
E A : 直流電流計
図6−中心波長及びスペクトル幅の測定回路
7.6.3 中心波長及びスペクトル幅の測定方法
中心波長及びスペクトル幅の測定方法は,JIS C 61280-1-3による。
7.6.4 個別性能規格に規定する事項
個別性能規格に規定する事項は,次による。
a) 動作温度
b) 供試送信部の駆動条件(電源電圧)
c) 供試送信部の入力信号(伝送速度,波形及びPRBS信号の生成多項式)
d) 測定用光ファイバコードの仕様
e) 中心波長及びスペクトル幅の測定に使用する方法(N-dBダウン法又はRMS法)
――――― [JIS C 5954-3 pdf 17] ―――――
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7.7 最小受信光入力パワー及び最大受信光入力パワー
7.7.1 目的
受信部のコネクタ入力における,個別性能規格に規定するビット誤り率を満足する最小受信光入力パワ
ーPimin及び最大受信光入力パワーPimaxを測定する。測定時には,端末装置の製造業者が指定した最小及び
最大受信光入力パワーにおいて,保証したビット誤り率が得られることを確認する。
7.7.2 最小受信光入力パワー及び最大受信光入力パワーの測定回路
最小受信光入力パワー及び最大受信光入力パワーの測定回路を,図7に示す。
パルスパター
ン発生器
光パワーメータ
恒温槽 クロック信号
可変光減衰器
基準送信部
A ビット誤り
出力データ
供試受信部 率試験装置
信号
測定用光ファイバコード
光スプリッタ
AA
A
E E : 直流電源 AA
A
A : 直流電流計 E
図7−最小受信光入力パワー及び最大受信光入力パワーの測定回路
7.7.3 最小受信光入力パワー及び最大受信光入力パワーの測定方法
最小受信光入力パワー及び最大受信光入力パワーの測定方法は,JIS C 61280-2-1による。
7.7.4 個別性能規格に規定する事項
個別性能規格に規定する項目は,次による。
a) 動作温度
b) 基準送信部の伝搬遅延時間,上昇時間,下降時間,パルス幅ひずみ,パルス幅ジッタ,ピーク発振波
長及び送信光出力
c) 供試受信部の駆動条件(電源電圧)
d) 基準送信部の入力信号(伝送速度,波形及びPRBS信号の生成多項式)
e) 測定用光ファイバコードの仕様
7.8 ストレスド受信感度
7.8.1 目的
供試受信部の光コネクタ入力における,雑音(ストレス)付加光信号入力に対する最悪条件下での光変
調振幅(OMA)表示のストレスド受信感度を測定する。
注記 この測定は,IEEE 802.3:2008の58.7.11 Stressed receiver conformance testに基づいている。
7.8.2 ストレスド受信感度の測定回路
光変調振幅ストレスド受信感度の測定回路を,図8に示す。
正弦波発生器1によってクロック源を変調し,ジッタを含むクロック信号をパルスパターン発生器に入
力する。パルスパターン発生器の出力信号は,ローパスフィルタ(4次ベッセルトムソンフィルタ)を通
――――― [JIS C 5954-3 pdf 18] ―――――
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した後に正弦波発生器2の出力(正弦波干渉信号)を重畳する。これによって,時間軸のジッタ雑音(ス
トレスド アイ ジッタ)と振幅方向の雑音とが重畳され,実際の伝送時に発生する符号間干渉ペナルティ
の発生を模擬した信号を得る。
正弦波 校正用クロック源
発生器1
FM入力 波形観測装置
(デジタルオシロス
クロック源
コープ)
正弦波ジッタ重畳クロック 基準受信部
ビット誤り率
パルスパターン 試験装置
発生器 出力データ信号
測定用光ファイバコード A
AA
E 出力データ信号
電気/光
+
ローパスフィルタ
(E/O)
変換器
A
AA 供試受信部
クロック
ビット誤り率
試験装置
再生
(4次ベッセルトムソ
可変光減衰器
ンフィルタ)
恒温槽 A
AA 出力クロック信号
正弦波 E : 直流電源
発生器2 E
A : 直流電流計
ストレスコンディショニング部
図8−ストレスド受信感度の測定回路
7.8.3 ストレスド受信感度の測定方法
7.8.3.1 入力テスト光信号の校正
入力テスト光信号の校正は,次による。
a) 図8の破線の経路で,電気/光変換器の出力を,光ファイバコードによって基準受信部へ入力する。
b) 正弦波発生器1,及び正弦波発生器2を停止した状態で,パルスパターン発生器で方形波を発生し,
基準受信部で光信号の光変調振幅ANを測定する。その場合,電気/光変換器の動作条件を調整し,消
光比を規定の値に設定する。
AN P1 P0 (6)
ここに, P1 : 論理“1”レベルの光パワー
P0 : 論理“0”レベルの光パワー
c) パルスパターン発生器で校正用テストパターン信号を発生させる。校正用テストパターン信号は,10
段以上のPRBS信号を用いる。
d) ) の電気信号を電気/光変換器に入力し,光信号を発生させ,図8の破線の経路で,基準受信部に入
力し,図9に示すようなアイパターンを測定する。
e) アイの開口振幅A0を求める。
f) バーティカル アイ クロージャ ペナルティ(VECP)は,式(7)によって求める。
――――― [JIS C 5954-3 pdf 19] ―――――
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AN (7)
VECP 10 log 10
A0
ここに, VECP : バーティカル アイ クロージャ ペナルティ
(dB)
AN : 光変調振幅
A0 : アイの開口振幅
g) このとき,ローパスフィルタによるVECPは,3分の2以上であることを確認する。
h) 正弦波発生器1及び正弦波発生器2を動作させ,クロック源から正弦波クロックジッタを付加したク
ロック信号をパルスパターン発生器に入力する。
i) このときのジッタJ及びVECPの値が個別性能規格に規定する値になるように,正弦波発生器1(正
弦波ジッタ)及び正弦波発生器2(正弦波干渉信号)の周波数及び振幅を調整する。
ここで,正弦波ジッタは,供試受信部の個別性能規格に規定する周波数範囲[表2に規定するクロ
ック再生回路のジッタコーナー周波数(f2)以上の領域]となるように設定する。また,正弦波干渉
信号の周波数は,信号速度Bに対して,B/100B/5で設定する。このとき,正弦波干渉信号周波数と,
正弦波ジッタ,データ伝送周波数及びデータパターンの繰返し周波数とが,倍音の関係にならないよ
うに注意する。
バーティカルアイクロージャ 光変調振幅の近似値AN
(VEC)・ヒストグラム (ヒストグラムの平均値の差)
) ) )
光変調振幅(OMA)
ジッタ・ヒストグラム
J
注記 この図は,IEEEの許可を得て転載している。
IEEE 802.3:2008 Carrier sense multiple access with Collision Detection (CSMA/CD) ccess
Method and Physical Layer Specifications. Copyright 2008 IEEE. All rights reserved
注a) 光変調振幅OMAの定義は,適用する個別性能規格(例えば,100BASE-X,1000BASE-X,
10GBASE-R/Wなど)によって異なるため,個別の性能規定に従うのがよい。
b) 10GBASE-R/WでのANの例。
図9−ストレスドアイジッタJ及びバーティカル アイ クロージャ ペナルティ(VECP)
――――― [JIS C 5954-3 pdf 20] ―――――
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JIS C 5954-3:2013の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5954-3:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1102-1:2007
- 直動式指示電気計器―第1部:定義及び共通する要求事項
- JISC61280-1-3:2017
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第1-3部:中心波長及びスペクトル幅測定
- JISC61280-2-1:2018
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第2-1部:受信感度及びオーバロード測定
- JISC61280-2-2:2017
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第2-2部:光アイパターン,光波形及び消光比測定