JIS C 6462:1996 電子機器用可変コンデンサの試験方法 | ページ 3

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                                図3 段間結合静電容量の測定回路
7.3.4  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 測定装置(7.3.1又は7.3.3と異なる場合)
(2) 前処理(7.3.2と異なる場合)
(3) 供試コンデンサの取付け(規定する場合)(4.5参照)
(4) 測定条件(7.3.3参照)
(5) 回転指(角)度又は静電容量(規定する場合)(7.3.3参照)
(6)   ・I法又はE・I法の指定[7.3.3(5)参照]
(7) 測定段間[7.3.3(6)参照]

7.4 誘電正接

7.4.1  装置 装置は,表8に規定の条件で測定できるものとする。
  なお,測定確度は,1×10−4又は規格値の10%のいずれか大きい値以内とする。
  また,装置全般に浮遊容量などによる測定誤差が極力少なくなるように配慮する。
                                表8 誘電正接及びQの測定条件
        測定条件          測定周波数         コンデンサの設定静電容量     測定電圧
                  測定周波数 MHz   許容差 % 静電容量 pF 許容差 %
           1             100         ±10        10        ±10    測定に支障がない程度の
           2              10                     50                低い電圧とする。
           3               1                 最大静電容量   −
7.4.2  前処理 試験に先立って,供試コンデンサを4.1に規定の前処理を行う。
7.4.3  測定 供試コンデンサを個別規格に規定する表8に示す条件によって誘電正接を測定する。
7.4.4  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 測定装置(7.4.1と異なる場合)
(2) 前処理(7.4.2と異なる場合)
(3) 供試コンデンサの取付け(規定する場合)(4.5参照)
(4) 測定条件(7.4.3参照)

7.5 Q

    備考 Qは,誘電正接の逆数であり,測定条件を満足すれば,誘電正接を測定し,その逆数としても
          よい。
7.5.1  装置 装置は,例えば,図4に示すような回路で表8に規定の条件で測定できるものとする。
  なお,測定確度は,規格値の10%以内とする。
  また,装置全般に浮遊容量などによる測定誤差が極力少なくなるように配慮する。

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                                       図4 Qの測定回路
7.5.2  前処理 試験に先立って,供試コンデンサを4.1に規定の前処理を行う。
7.5.3  試験 試験は,(1)によって測定し,(2)によってQの値を算出する。
(1) 測定 測定は,供試コンデンサを個別規格に規定する,表8に示す条件によってQを測定する。
(2) 算出 次の式によってQを算出する。
                             C1  C2 Q1Q2
                        Q
                             C1 Q1  Q2
                      ここに,  C1 :  供試コンデンサを接続しないときの同調コンデンサの静電容
                                      量 (pF)
                                C2 :  供試コンデンサを接続したときの同調コンデンサの静電容量
                                      (pF)
                                Q1 :  供試コンデンサを接続しないときのQの値
                                Q2 :  供試コンデンサを接続したときのQの値
7.5.4  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 測定装置(7.5.1と異なる場合)
(2) 前処理(7.5.2と異なる場合)
(3) 供試コンデンサの取付け(規定する場合)(4.5参照)
(4) 測定条件[7.5.3 (1)参照]

7.6 回転部接触抵

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                                     図5 接触抵抗測定回路
7.6.2  前処理 試験に先立って,供試コンデンサを4.1に規定の前処理を行う。
7.6.3  試験 試験は,(1)によって測定し,(2)によって接触抵抗の値を算出する。
(1) 測定 測定は,図5に示す回路によって行う。供試コンデンサの回転軸と接地端子に測定端子を接続
    し,回転軸を約3秒間に1往復又は1回転の割合で回転させ,電子電圧計の電圧の最大値及び最小値
    を測定する。
      なお,測定電圧は,20mV(直流又は交流のピーク値)を超えない値とし,測定電流の値は,個別規
    格による。交流で測定する場合の周波数は,5002 000Hzの範囲とする。

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(2) 算出 次の式によって接触抵抗R (   圀   ‰侮
                            U
                         R
                             I
                      ここに,   U :  回転軸と接地端子間の電圧 (V)
                                  I :  試験電流 (A)
7.6.4  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 測定装置(7.6.1と異なる場合)
(2) 前処理(7.6.2と異なる場合)
(3) 供試コンデンサの取付け(規定する場合)(4.5参照)
(4) 試験周波数(直流,交流の別)(7.6.3参照)
(5) 測定電流(7.6.3参照)
(6) 測定電圧(7.6.3と異なる場合)

7.7 バックラッシ

7.8 セッティング・ドリフト

7.8.1  装置 装置は,表7に示す条件によって静電容量が測定できるものとする。
  なお,測定確度は,許容差の10%以内とする。
  また,装置全般に浮遊容量などによる測定誤差が極力少なくなるように配慮する。

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7.8.2  前処理 試験に先立って,供試コンデンサを4.1に規定の前処理を行う。
7.8.3  試験 試験は,供試コンデンサを(1)によって測定し,(2)によってセッティング・ドリフトを算出
する。
(1) 測定 測定は,供試コンデンサを1往復又は1回転3秒間程度の割合で5往復又は回転し,回転指度
    50%に固定する。5秒後静電容量を測定し,次の5分間放置した後,再度静電容量を測定する。
      なお,静電容量の測定条件は,表7による。
(2) 算出 次の式によってセッティング・ドリフトNを算出する。
                             C1  C2
                         N
                               C1
                      ここに,    N :  セッティング・ドリフト (%)
                                 C1 :  測定値のうち大きな測定静電容量値 (pF)
                                 C2 :  測定値のうち小さな測定静電容量値 (pF)
7.8.4  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 測定装置(7.8.1と異なる場合)
(2) 前処理(7.8.2と異なる場合)
(3) 供試コンデンサの取付け(規定する場合)(4.5参照)
(4) 測定方法[7.8.3(1)と異なる場合]
(5) 測定周波数[7.8.3(1)参照]
(6) 算出方法[7.8.3(2)と異なる場合]

7.9 静電容量の温度特性及び静電容量のずれ

7.9.1  装置 装置は,次による。
(1) 温度槽 温度槽は,5.3の規定による。
(2) 静電容量測定装置 静電容量測定装置は,表7の条件で測定できるものとする。
(3) 測定確度 測定確度は,許容差の10%以内とする。
      また,装置全般に浮遊容量などによる測定誤差が極力少なくなるように配慮する。
7.9.2  準備 試験に先立って,供試コンデンサを,4.1に規定の前処理を行う。
  なお,供試コンデンサの静電容量を公称最大静電容量に対しタイプAコンデンサは4050%, タイプB
コンデンサ及びタイプCコンデンサは6080%とする。
7.9.3  試験 試験は,供試コンデンサを(1)によって測定し,(2)によって静電容量の温度特性及び静電容
量のずれを算出する。
(1) 測定 供試コンデンサを個別規格に規定する条件で表9に示す温度に表の順序で維持し,それぞれの
    温度で温度安定(熱平衡)に達してから,各段階ごとに個別規格に規定する表7に示す条件で,静電
    容量を測定する。

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