JIS C 6710:2021 発振器の通則及び試験方法 | ページ 2

                                                                                             3
                                                                                   C 6710 : 2021
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-21,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test
             U: Robustness of terminations and integral mounting devices
    JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気·電子−第2-27部 : 衝撃試験方法(試験記号 : Ea)
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-27,Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test
             Ea and guidance: Shock
    JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気·電子−第2-30部 : 温湿度サイクル(12+12時間サイクル)
        試験方法(試験記号 : Db)
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-30,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test
            Db: Damp heat, cyclic (12h+12h cycle)
    JIS C 60068-2-31 環境試験方法−電気·電子−第2-31部 : 落下試験及び転倒試験方法(試験記号 : 
        Ec)
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-31,Environmental testing−Part 2-31: Tests−Test
            Ec: Rough handling shocks, primarily for equipment-type specimens
    JIS C 60068-2-45 環境試験方法−電気·電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-45,Basic environmental testing procedures−Part
            2-45: Tests−Test XA and guidance: Immersion in cleaning solvents
    JIS C 60068-2-52 環境試験方法−電気·電子−第2-52部 : 塩水噴霧サイクル試験方法(塩化ナトリ
        ウム水溶液)(試験記号 : Kb)
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-52,Environmental testing−Part 2-52: Tests−Test
             Kb: Salt mist, cyclic (sodium chloride solution)
    JIS C 60068-2-58 環境試験方法−電気·電子−第2-58部 : 表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,
        電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-58,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test
             Td: Test methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of
             surface mounting devices (SMD)
    JIS C 60068-2-64 環境試験方法−電気·電子−第2-64部 : 広帯域ランダム振動試験方法及び指針(試
        験記号 : Fh)
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-64,Environmental testing−Part 2-64: Tests−Test
             Fh: Vibration, broadband random and guidance
    JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気·電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法(試験記号 : 
        Cab)
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-2-78,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test
            Cab: Damp heat, steady state
    JIS Z 8000-1 量及び単位−第1部 : 一般
      注記 対応国際規格における引用規格 : ISO 80000-1,Quantities and units−Part 1: General
    IEC 60027 (all parts),Letter symbols to be used in electrical technology
    IEC 60050-561,International electrotechnical vocabulary−Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic
        devices and associated materials for frequency control, selection and detection
    IEC 60068-2-10,Environmental testing−Part 2-10: Tests−Test J and guidance: Mould growth
    IEC 60469,Transitions, pulses and related waveforms−Terms, definitions and algorithms
    IEC 60679-4,Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality−Part 4: Sectional Specification−
        Capability approval
    IEC 60679-5,Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality−Part 5: Sectional specification−

――――― [JIS C 6710 pdf 6] ―――――

           4
C 6710 : 2021
        Qualification approval
    IEC 60748-2,Semiconductor devices−Integrated circuits−Part 2: Digital integrated circuits
    IEC 60749-26,Semiconductor devices−Mechanical and climatic test methods−Part 26: Electrostatic discharge
        (ESD)   ensitivity testing−Human body model (HBM)
    IEC 60749-27,Semiconductor devices−Mechanical and climatic test methods−Part 27: Electrostatic discharge
        (ESD)   ensitivity testing−Machine model (MM)
    IEC TR 61000-4-1,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-1: Testing and measurement techniques−
        Overview of IEC 61000-4 series
    IEC 61340-5-1,Electrostatics−Part 5-1: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena−
        General requirements

3 用語及び定義

3.1 一般的事項

  単位,図記号,文字記号及び用語は,できる限り次の規格から引用する。
  JIS C 0617-2
  JIS C 0617-3
  JIS C 0617-4
  JIS Z 8000-1
  IEC 60027
  IEC 60050-561
  IEC 60469

3.2 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.2.1
パッケージ水晶発振器,SPXO(simple packaged crystal oscillator,SPXO)
  温度制御又は温度補償をしていない水晶発振器
  注釈1 発振器の周波数温度特性は,水晶振動子に依存する。
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-03-30)
3.2.2
電圧制御水晶発振器,VCXO(voltage controlled crystal oscillator,VCXO)
  外部からの制御電圧によって,出力周波数を可変又は変調できる水晶発振器
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-03-41)
3.2.3
温度補償水晶発振器,TCXO(temperature compensated crystal oscillator,TCXO)
  温度補償回路を付加して,周囲温度の変化による周波数の変動を少なくなるようにした水晶発振器
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-03-36)
3.2.4
恒温槽付水晶発振器,OCXO(oven controlled crystal oscillator,OCXO)

――――― [JIS C 6710 pdf 7] ―――――

                                                                                             5
                                                                                   C 6710 : 2021
  少なくとも,水晶振動子が温度制御されている水晶発振器
  注釈1 恒温槽付水晶発振器の動作は,動作温度全域にわたり発振周波数が一定に保たれるため,発振
          周波数は,水晶振動子の温度特性に依存しない。
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-03-19の一部を修正している。)
3.2.5
MEMS発振器(MEMS oscillator)
  MEMS(micro electro mechanical system)による主周波数制御素子を共振子とする発振器
3.2.6
電圧制御MEMS発振器(voltage controlled MEMS oscillator)
  外部からの制御電圧によって,出力周波数を可変又は変調できるMEMS発振器
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-03-41の一部を修正している。)
3.2.7
デジタルインタフェース水晶発振器,DIXO(digital interfaced crystal oscillator,DIXO)
  外部デジタル信号のアプリケーションによって周波数及び機能を制御することができる発振器
  注釈1 例えば,TCXOではDI-TCXOとして,OCXOではDI-OCXOとして組み合わされる。
3.2.8
スペクトル拡散水晶発振器,SSXO(spread spectrum crystal oscillator,SSXO)
  振動周波数を変調することによって周波数スペクトルの最大値を減少させる水晶発振器
3.2.9
弾性表面波,SAW(surface acoustic wave,SAW)
  弾性基材の表面に沿って伝搬する弾性波
  注釈1 振幅は基材の深さとともに指数関数的に減衰する。
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-01-86)
3.2.10
SAW共振子,弾性表面波共振子,SAWR(surface acoustic wave resonator,SAW resonator,SAWR)
  SAWの多重反射を利用した共振子
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-01-87の一部を修正している。)
3.2.10.1
1ポートSAW共振子(one-port SAW resonator)
  1対の端子をもつSAW共振子
  注釈1 図1 a)参照。
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-01-57の一部を修正している。)
3.2.10.2
2ポートSAW共振子(two-port SAW resonator)
  入出力ポートをもつSAW共振子
  注釈1 図1 b)参照。
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-01-94の一部を修正している。)

――――― [JIS C 6710 pdf 8] ―――――

           6
C 6710 : 2021
                              a) 開口アレイをもつ1ポートSAW共振器
                              b) 短絡アレイをもつ2ポートSAW共振器
 記号説明
   〇― : 入出力ポート
                                  図1−SAW共振子の基本構成
3.2.11
SAW発振器,弾性表面波発振器(SAW oscillator)
  SAW共振子を主周波数制御要素とする発振器
3.2.12
パッケージSAW発振器,SPSO(simple packaged SAW oscillator,SPSO)
  温度制御又は温度補償をしていないSAW発振器
  注釈1  発振器の周波数温度特性は,SAW共振子に依存する。
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-03-30の一部を修正している。)
3.2.13
電圧制御SAW発振器,VCSO(voltage controlled SAW oscillator,VCSO)
  外部からの制御電圧によって,出力周波数を可変又は変調できるSAW発振器
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-03-41の一部を修正している。)
3.2.14
温度補償SAW発振器,TCSO(temperature compensated SAW oscillator,TCSO)
  温度補償回路を付加して,周囲温度の変化による周波数の変動を少なくなるようにしたSAW発振器
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-03-36の一部を修正している。)

――――― [JIS C 6710 pdf 9] ―――――

                                                                                             7
                                                                                   C 6710 : 2021
3.2.15
公称周波数(nominal frequency)
  発振器の出力周波数の公称値
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-02-31の一部を修正している。)
3.2.16
周波数許容偏差(frequency tolerance)
  規定の状態で発振器が動作しているときの発振周波数と規定公称周波数との最大許容偏差
  注釈1 周波数偏差は,規定の電気的,機械的及び環境的要因別に定められることが多い。この取扱い
          を適用する場合には,規定変動値の範囲と同様にその他の動作パラメータの値も規定する。そ
          のときの周波数偏差は,次による。
          − 規定温度範囲全域にわたる動作によって生じる規定基準温度の周波数からの周波数偏差。
              その他の条件は一定に保つ。
          − 規定電源電圧変化を与えることによって生じる規定基準電圧の周波数からの周波数偏差。
              その他の条件は一定に保つ。
          − 周波数エージングによって生じる初期周波数からの周波数偏差。その他の条件は一定に保
              つ。
          − 規定範囲の負荷インピーダンス変化を与えることによって生じる規定基準負荷条件の周波
              数からの周波数偏差。その他の条件は一定に保つ。
            必要に応じて,動作パラメータの数種類又は全てを組み合わせることによって,規定使用保
          証期間中の総合周波数許容偏差として規定してもよい。
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-01-33の一部を修正している。)
3.2.17
オフセット周波数(frequency offset)
  発振器の規定公称周波数に加える正又は負の周波数差
  注釈1 オフセット周波数は,規定の動作条件範囲全体での周波数偏差を最小にするために,ある特定
          の動作条件で発振周波数を調整する場合に用いる。
  注釈2 全温度範囲で,公称周波数からの周波数偏差を最小にするため,オフセット周波数を基準温度
          での調整に対して規定してもよい(図2参照)。
  (出典 : IEC 60050-561:2014の561-03-09)

――――― [JIS C 6710 pdf 10] ―――――

次のページ PDF 11