8
C 6802 : 2014 (IEC 60825-1 : 2014)
放射のレベルを5.3 a)によって測定したものであって,運転中に,該当する波長及び放出持続時間[4.3 e)
参照]に対するクラス1のAELを超えるレーザ照射を人体に被ばくさせること(被ばく放出,3.2参照)
のない400 nm700 nmの波長範囲にある全てのレーザ製品。
注記1 C.3(クラス分け体系の限界)も参照。
注記2 クラス1Mレーザ製品の出力は,望遠鏡,双眼鏡のような望遠光学系を用いて観察する場合
は,潜在的に危険である。
注記3 製品のクラス分けの決定に必要な試験は,運転中の試験に限られるので,組込形レーザ製品
の場合,製品によっては,アクセスパネルのインタロックが解除されたとき,又は製品が開
かれたか若しくは分解されたとき,その製品のクラスのAELを超えたレーザ放射が,保守
(6.2.1参照)又はサービス中に,被ばく状態になり得る。
3.21
クラス2レーザ製品(Class 2 laser product)
運転中に,該当する波長及び放出持続時間[5.3 c)参照]に対するクラス2のAELを超えるレーザ放射
を人体に被ばくさせること(被ばく放出,3.2参照)のない400 nm700 nmの波長範囲にある全てのレー
ザ製品。
注記1 C.3(クラス分け体系の限界)も参照。
注記2 製品のクラス分けの決定に必要な試験は,運転中の試験に限られるので,組込形レーザ製品
の場合,製品によっては,アクセスパネルのインタロックが解除されたとき,又は製品が開
かれたか若しくは分解されたとき,その製品のクラスのAELを超えた放射が,保守(6.2.1
参照)又はサービス中に,被ばく状態になり得る。
3.22
クラス2Mレーザ製品(Class 2M laser product)
放射のレベルを5.3 c)によって測定したものであって,運転中に,該当する波長及び放出持続時間[4.3 e)
参照]に対するクラス2のAELを超えるレーザ放射を人体に被ばくさせること(被ばく放出,3.2参照)
のない400 nm700 nmの波長範囲にある全てのレーザ製品。
注記1 C.3(クラス分け体系の限界)も参照。
注記2 クラス2Mレーザ製品の出力は,望遠鏡,双眼鏡のような望遠光学系を用いて観察する場合
は,潜在的に危険である。
注記3 製品のクラス分けの決定に必要な試験は,運転中の試験に限られるので,組込形レーザ製品
の場合,製品によっては,アクセスパネルのインタロックが解除されたとき,又は製品が開
かれたか若しくは分解されたとき,その製品のクラスのAELを超えた放射が,保守(6.2.1
参照)又はサービス中に,被ばく状態になり得る。
3.23
クラス3R及びクラス3Bレーザ製品(Class 3R and Class 3B laser products)
運転中に,クラス1及びクラス2の被ばく放出限界を超えるレーザ放射を人体に被ばくさせ得る(被ば
く放出,3.2参照)が,該当する放出持続時間及び波長に対し,それぞれクラス3R及びクラス3BのAEL
を超えるレーザ放射を人体に被ばくさせることのない全てのレーザ製品[5.3 d)及び5.3 e)参照]。
注記1 C.3(クラス分け体系の限界)も参照。
注記2 クラス1M及びクラス2Mレーザ製品は,それらの光学的特性に依存して,クラス3RのAEL
を超える出力をもつことがある。
――――― [JIS C 6802 pdf 11] ―――――
9
C 6802 : 2014 (IEC 60825-1 : 2014)
注記3 製品のクラス分けの決定に必要な試験は,運転中の試験に限られるので,組込形レーザ製品
の場合,製品によっては,アクセスパネルのインタロックが解除されたとき,又は製品が開
かれたか若しくは分解されたとき,その製品のクラスのAELを超えた放射が,サービス中に
被ばく状態になり得る。
3.24
クラス4レーザ製品(Class 4 laser product)
クラス3BのAELを超えるレーザ放射を人体に被ばくさせ得る(被ばく放出,3.2参照)全てのレーザ製
品[5.3 f)参照]。
注記 C.3(クラス分け体系の限界)も参照。
3.25
副次放射(collateral radiation)
レーザ運転の結果として,又はその物理的要件によって,レーザ製品から放出されるレーザ放射以外の
180 nm1 mmの波長範囲にある全ての電磁放射。
3.26
平行ビーム(collimated beam)
微小な発散角又は集束角をもった放射ビーム。
3.27
接触モード(contact mode)
ビーム出射部が意図した目標と密接に接触しているレーザ製品の使用法。
注記1 ビーム出射部は“物理的な”接触をする必要はない。例えば,適切な技術的制御手段が施さ
れる場合,意図した目標への接近でもよい。
注記2 この定義は,クラス1Cに分類される製品に関連する。
3.28
連続波,CW(continuous wave)
0.25秒以上の持続時間の連続出力が得られるレーザ。
注記 この規格では,0.25秒以上の持続時間のレーザをCWレーザとみなす。
3.29
規定ビーム光路(defined beam path)
レーザ製品内での意図されたレーザビーム光路。
3.30
実演用レーザ製品(demonstration laser product)
ライトショー,催し物,広告,展示又は美術的構成を意図して,企画,設計及び製造した全てのレーザ
製品。
注記 用語“実演用レーザ製品”は,実演用に利用できるものであっても,他の用途を意図して設計
されたレーザ製品には用いない。
3.31
拡散反射(diffuse reflection)
表面又は媒質によって種々の方向に散乱されたビームの空間分布の変化。
注記 完全な拡散器は,入射方向と反射方向との間の相関を完全になくす。
(JIS Z 8113のIEV 845-04-47を修正)
――――― [JIS C 6802 pdf 12] ―――――
10
C 6802 : 2014 (IEC 60825-1 : 2014)
3.32
組込形レーザ製品(embedded laser product)
被ばく放出を制限するような技術的手段によって,組み込まれているレーザの本来の能力よりも低いク
ラスに割り当てられたレーザ製品。
注記 組込形レーザ製品に組み込まれているレーザ製品は,内蔵レーザ製品又は内蔵レーザシステム
と呼ぶ。
3.33
放出持続時間(emission duration)
レーザ製品の運転,保守又はサービスの結果として生じるレーザ放射を人体に被ばくさせ得るパルス,
パルス列又は連続放出の持続時間。
注記 単一のパルスの場合,放出持続時間は,パルスの立ち上がり半値点と立ち下がり半値点との間
の時間幅である。連続パルス列(又は主パルス列中のサブパルス群)の場合は,最初のパルス
の立ち上がり半値点と最後のパルスの立ち下がり半値点との間の時間幅である。
3.34
迷走レーザ放射(errant laser radiation)
規定ビーム光路から逸脱しているレーザ放射。
注記 このような放射には,ビーム光路部品からの不要な反射,及びミスアライメント又は損傷した
部品からの逸脱放射を含む。
3.35
露光時間(exposure time,exposure duration)
人体に照射されるレーザ放射のパルス,パルス列又は連続放出の持続時間。
注記 単一パルスの持続時間は,パルスの立ち上がり半値点とパルスの立ち下がり半値点との間の時
間幅である。パルス列(又はパルス列のサブパルス列部分)の持続時間は,最初のパルスの立
ち上がり半値点と最後のパルスの立ち下がり半値点との間の時間幅である。
3.36
分散光源観察(extended source viewing)
100 mm又はそれ以上の距離で観察したとき,アパーレント光源が目に対して張る角が最小視角(αmin)
を超える観察条件。
注記1 この規格では,網膜熱損傷の危険を考慮して,二つの分散光源観察条件を考えている。すな
わち,中光源及び大光源である。これらは,αminとαmaxとの間の視角αをもったアパーレン
ト光源(中光源)とαmaxよりも大きい視角αをもったアパーレント光源(大光源)とを区別
する場合に用いる(3.82も参照)。
注記2 補正係数C6[4.3 c)及び表9]が1より大きくなる例としては,幾つかの拡散させたレーザ光
源,拡散反射及び幾つかのレーザダイオードアレイの観察がある。
3.37
アイセーフ(eye safe)
クラス1のAELよりも小さい被ばく放出,又は与えられた露光時間に対する目へのMPEよりも小さい
露光。
注記1 この用語は,ある広告資料の中で,網膜障害領域と比較して,1 400 nmを超える波長範囲の
露光限界の方がより高いということに基づいて1 400 nmを超える波長範囲のレーザ放射に間
――――― [JIS C 6802 pdf 13] ―――――
11
C 6802 : 2014 (IEC 60825-1 : 2014)
違って使用されている。用語“アイセーフレーザ”は,クラス1レーザ製品について記述す
るためだけに使用される。クラス1をアイセーフと呼ぶことができても,それが可視の放射
である場合,ビームを直視すれば,まばゆさの“せん(閃)光盲”のような短期の視覚障害
及び残像現象を生じる可能性がある。
注記2 十分な出力パワーを備えたレーザは,波長によらず損傷を引き起こす可能性があるので,
1 400 nm以上であるという出力波長だけに基づいて,レーザの記述に用語“アイセーフレー
ザ”を使用することはできない。
3.38
フェールセーフ(fail safe)
部品の故障が危険性を増加させないような設計上の考慮。
注記 故障モードでは,システムは動作不能となるか又は危険性がなくなる。
3.39
フェールセーフセーフティインタロック(fail safe safety interlock)
故障モードでも,インタロックの目的を無効にしないインタロック。
注記1 フェールセーフセーフティインタロックとは,次に例示するようなインタロックである。
− 丁番の付いているカバーの場合,カバーを開くと直ちに強制駆動によってオフの位置とな
り,カバーを閉じるまでは強制的にオフの位置を保持するインタロック。
− 着脱可能なカバーの場合,カバーを取り外す前には強制駆動によってオフの位置となり,
分離しているカバーを閉じる位置にロックするまでは強制的にオフの位置を保持するイン
タロック。
注記2 この規格の目的を達成するフェールセーフセーフティインタロックでは,インタロックがオ
フの位置にあるとき,ビームを終端するか,又は出力を要求されたレベルに減少させる。電
気的,電子的及び/又はプログラム可能なコンポーネントを使用する場合,JIS C 0508規格
群又はISO 13849規格群をインタロックの信頼性評価に使用してもよい。
3.40
人体の被ばく状態(human access)
人体の被ばく状態は,次のいずれかによる。
a) レーザ製品によって放出されるレーザ放射に人体が遭遇する可能性,すなわち,保護きょう体の外側
で放射が遮られ得る可能性。
b) 直径100 mm長さ100 mmの円筒形プローブがクラス3B及びそれ以下のレーザ放射レベルを遮る可能
性。
c) 人の手又は腕がクラス3Bを超えた放射レベルを遮る可能性。
d) 保護きょう体内のクラス3B又はクラス4と等価なレーザ放射レベルに対して,製品の保護きょう体
のいずれかの開口を通して,単一の導入された平たんな表面によって,製品の内部から直接反射され
る危険なレーザ放射に,人体のいずれかの部分が被ばくする可能性。
注記 “歩行”立入りを提供するレーザ製品については,人体の被ばく状態の決定に対して保護き
ょう体の内部及び外部の両方の放射を考えることが必要である。保護きょう体の内部におけ
る人体の被ばく状態は,自動検知システムのような技術的制御によって防止することができ
る。
――――― [JIS C 6802 pdf 14] ―――――
12
C 6802 : 2014 (IEC 60825-1 : 2014)
3.41
積分放射輝度,Lt(integrated radiance)
与えられた露光時間にわたっての放射輝度積分量。放出の単位立体角当たりで放射面の単位面積当たり
の放射エネルギーとして表す。
注記1 国際非電離放射線防護委員会(International Commission on Non-Ionizing Radiation Protection:
ICNIRP)ガイドラインでは,この量は輝度線量(radiance dose)及び記号Dとしても引用さ
れる。
注記2 SI : ジュール毎平方メートル毎ステラジアン(Jm−2sr−1)
3.42
ビーム内観察(intrabeam viewing)
目が,例えば,拡散反射の観察とは異なり,直接又は鏡面反射のレーザビームにさらされる場合の全て
の観察状態。
3.43
放射照度,E(irradiance)
素面に入射する放射束dΦを,その素面の面積dAで除した値。放射照度は,次の式によって求められる。
dΦ
E
dA
注記 SI : ワット毎平方メートル(Wm−2)
3.44
レーザ(laser)
主に誘導放出を制御することによって,180 nm1 mmの波長範囲での電磁放射を発生又は増幅するこ
とができるデバイス。
(JIS Z 8113のIEV 845-04-39を修正)
3.45
レーザ管理区域(laser controlled area)
放射の危険から保護する目的で,区域内への立入り及び区域内での活動が管理及び監督下におかれる領
域。
3.46
レーザエネルギー源(laser energy source)
電子,イオン又は分子の励起用エネルギーを供給するためにレーザと結合して用いることを意図したデ
バイス。
注記 商用電源,電池のような一般エネルギー源は,レーザエネルギー源には含めない。
3.47
レーザ危険区域(laser hazard area)
目及び/又は皮膚の露光がそれぞれの最大許容露光量(MPE)値を超過する区域。公称眼障害区域(3.64)
参照。
注記 曖昧さを回避するために,危険区域が目又は皮膚のいずれのMPEに基づいているかの情報を
加えることが望ましい。
3.48
レーザ製品(laser product)
――――― [JIS C 6802 pdf 15] ―――――
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JIS C 6802:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60825-1:2014(IDT)
JIS C 6802:2014の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
- 13 : 環境.健康予防.安全 > 13.110 : 機械の安全
JIS C 6802:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1010-1:2019
- 測定用,制御用及び試験室用電気機器の安全性―第1部:一般要求事項
- JISC6065:2016
- オーディオ,ビデオ及び類似の電子機器―安全性要求事項
- JISC6803:2013
- レーザ製品の安全―光ファイバ通信システムの安全
- JISC6804:2008
- レーザ製品の安全―情報伝送のための光無線通信システムの安全
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISC7550:2011
- ランプ及びランプシステムの光生物学的安全性
- JIST15004-2:2013
- 眼光学機器―基本的要求事項及びその試験方法―第2部:光ハザードからの保護
- JISZ8113:1998
- 照明用語