JIS C 8159-1:2013 一般照明用ＧＸ１６ｔ－５口金付直管ＬＥＤランプ―第１部：安全仕様 | ページ 3

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C 8159-1 : 2013
  製造業者等は,構成部品が安全性を損なわないように動作することを確認しなければならない。例えば,
部品の関連規格に適合していることを示すことによって,構成部品が安全性を損なわないように動作する
ことを確認してもよい。

16 長期使用における安全性

  直管LEDランプは,19.13によって試験したとき,長期使用中に安全を損なう可能性のある,内部への
ほこりの侵入が起こらない構造でなければならない。

17 光生物学的安全性

  光生物学的安全性の評価(リスクグループの分類)は,19.14によって試験したとき,次の事項を満足し
なければならない。
a)   IS C 7550の4.3(ランプの区分)は一般照明用ランプとする。
b)   IS C 7550の5.1(目及び皮膚に対する紫外放射傷害の実効放射照度及び露光許容時間)及び5.2(目
    に対する近紫外放射傷害の放射照度及び露光許容時間)のリスクグループが,免除グループとする。
c)   IS C 7550の5.3(青色光による網膜傷害の実効放射輝度及び露光許容時間)又は5.4(小形光源の青
    色光による網膜傷害の実効放射照度及び露光許容時間)のリスクグループが,免除グループ又はリス
    クグループ1とする。

18 直管LEDランプの表面温度

  直管LEDランプの各部の表面温度は,19.15によって試験したとき,いずれの箇所においても75 ℃以
下とする。

19 試験方法

19.1 一般

  試験の一般的事項は,次による。
a) いかなる試験においても直管LEDランプを分解してはならない。
b) ある試験において,試験に使用した直管LEDランプが,定常的な状態(発火,発煙及び可燃性のガス
    放出がない。)で故障した場合は,試験に使用した直管LEDランプを交換して試験する。
c) 直管LEDランプの全ての形式に対して,通常,全ての試験項目による試験を行う。ただし,同じLED
    パッケージを使用している製品については,その製品グループから選定した機種などを代表機種とし
    て試験を行ってもよい。
d) 試験に用いる試料は, その製品の定格値に沿った特性をもつものとする。
e) 合否の判定基準は,表D.1による。
f)  試験は,特に規定がない場合,1030 ℃の周囲温度で行う。

19.2 表示の試験

  表示の試験は,次による。
a) 表示の判読性(読みやすさ) 表示の読みやすさは,目視によって確認する。
b) 表示の耐久性(消えにくさ) 表示の消えにくさは,水でぬらした滑らかな布で15秒間(1秒1往復
    程度の速さ)軽く拭き,その後乾かしてから,へキサンでぬらした布で更に15秒間軽く拭いた後,表
    示が読めるかを確認する。

――――― [JIS C 8159-1 pdf 11] ―――――

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                                                                                 C 8159-1 : 2013

19.3 構造,質量及び寸法に関する試験

19.3.1 直管LEDランプの口金の構造
19.3.1.1 一般事項
  直管LEDランプの口金の構造は,JIS C 7709-3によるゲージを用い,JIS C 7709-1に規定する方法で試
験を行う。
19.3.1.2 口金の接着強度
  直管LEDランプの口金胴部と本体との間に,ゼロから表3に規定する値まで,徐々に(おおよそ0.5
1.0 Nm/秒)ねじりモーメントを加える。
  試験は,JIS C 7709-2に規定する受金によって,口金を固定して行う。
                                  表3−口金接着強度の試験条件
                                                    単位 Nm
                                     口金    ねじりモーメント
                                   GX16t-5         1.0
19.3.1.3 口金の給電端子の極性
  直管LEDランプは,口金の口金ピン間に,直流の定格電流(350 mAなど)を印加する。その後,口金
の二つの給電端子を逆接続して,直流の定格電流(350 mAなど)を印加する。いずれの場合も,正常に点
灯することを目視で確認する。
19.3.2 直管LEDランプの構造
  直管LEDランプの構造は,JIS C 8154の箇条15(構造)を満足しているか,目視で確認する。また,
直管LEDランプの強度については,次によって試験する。
a) 直管LEDランプの周囲温度を50 K変化させたときの口金面間距離を測定する。
b) 直管LEDランプの両端を固定し,中央部の自重によるたわみを測定する。
19.3.3 直管LEDランプの質量
  直管LEDランプの質量は,JIS B 7601に規定する上皿天びん又はこれと同等以上の測定器具によって,
測定する。
19.3.4 直管LEDランプの寸法
  直管LEDランプの寸法は,JIS B 7516に規定する金属製直尺又はこれと同等以上の測定具によって測定
する。

19.4 感電に対する保護試験(テストフィンガ試験)

  感電に対する保護試験は,JIS C 0920の表6(危険な箇所への接近に対する保護の試験に使用する近接
プローブ)の第一特性数字“2”及び付加文字“B”に規定するテストフィンガを用い,通電用の口金にお
ける表面からの導体突出部を除く,通電用の口金の充電部に触れるか否かを試験する。必要に応じて,テ
ストフィンガを10 Nの力で押し付けて試験する。

19.5 絶縁抵抗試験及び耐電圧試験

19.5.1 絶縁抵抗試験
  直管LEDランプは,周囲温度を2030 ℃の任意の値で±1 ℃以内に維持し,相対湿度9195 %の高
湿雰囲気中で48時間,放置する。その後,この高湿雰囲気中において,通電用の口金の通電部と直管LED
ランプの可触部分を包んだ金属はく(箔)との間に,約500 Vの直流電圧を1分間印加した後,JIS C 1302

――――― [JIS C 8159-1 pdf 12] ―――――

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に規定する絶縁抵抗計を用いて絶縁抵抗値を測定する。
19.5.2 耐電圧試験
  絶縁抵抗試験後,直ちに19.5.1の高湿雰囲気中で,同じ部分に,表4に規定する試験電圧を1分間印加
する。
  通電用の口金の通電部と直管LEDランプの可触部分を包んだ金属はく(箔)との間に加える電圧は,最
初は表4に規定する試験電圧の半分以下とし,徐々に,試験電圧まで上昇させる。この試験の間,通電用
の口金の異極コンタクト(2ピン)の間は短絡する。
                                      表4−耐電圧試験条件
                                                                                     単位 V
                                            試験電圧                   金属はく(箔)で
            通電用の口金
                                        [実効値(r.m.s.)]               覆う位置
             GX16t-5(A)                      3 200 a)              直管LEDランプの可触部分
    注a) 3 200の値は,JIS C 8105-1の表10.2(耐電圧)に規定する4U+2 000(U : 動作電圧)のUに,300を
         適用した値である。

19.6 口金表面の温度上昇試験

  直管LEDランプの口金表面の温度上昇試験は,附属書Aによる。

19.7 耐熱性試験

19.7.1 絶縁物の耐熱性試験(ボールプレッシャ試験)
  直管LEDランプの感電保護のための絶縁材及び充電部を保持している絶縁部品の耐熱性試験は,次によ
る。
a) 試験は,19.6で求めた口金表面の温度上昇値に,25±5 Kを加えた温度の恒温槽内で行う。ただし,
    導電部を所定の位置に保持する部品の試験温度は,125 ℃以上とする。その他の部品については,80 ℃
    とする。
b) 試験は,いずれの部品も上面が水平になるように置き,部品が恒温槽内温度になじむまで10分間槽内
    に放置後,部品表面を直径5 mmの鋼球で垂直に20 Nの力で押圧する。この試験は,JIS C 8105-1の
    図10(ボールプレッシャ装置)に規定する装置を用いる。必要がある場合,試験中に鋼球が押圧して
    いる表面が曲がらないように部品を保持する。
c) 部品形状がこの試験に適切でない場合は,試料として適切な部分を切り取って行う。試料は,2.5 mm
    以上の厚みがなければならないが,満足しない場合は2枚以上を重ねて試料とする。
d) 試験を開始してから1時間後に鋼球を試料から取り外し,おおむね室温まで冷やすために10秒間冷水
    中に浸す。
e) 痕跡の直径を測定する。
      なお,表面が曲がり,かつ,くぼ(窪)みがだ(楕)円形の場合には,短径を測定する。また,痕
    跡の境界が不明瞭な場合には,痕跡の深さ(p)を測定して,次の式を用いて直径(φ)を算出する。
                         =2 p5(  p)
                      ここに,          p :  痕跡の深さ(mm)
                                       φ :  痕跡の直径(mm)

――――― [JIS C 8159-1 pdf 13] ―――――

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19.7.2 口金の耐熱性試験
  両方の口金の耐熱性試験は,次による。
a) 対象となる口金を恒温槽の中において125±5 ℃の温度で168時間放置する。
b) 目視で確認できる口金ピンの緩み,亀裂,膨張又は収縮の有無を確認する。
c) 19.3.1によって,口金の寸法を確認する。
d) 19.5.1によって,絶縁抵抗試験を実施する。
e) 19.5.2によって,耐電圧試験を実施する。

19.8 耐燃焼性試験(グローワイヤ試験)

  直管LEDランプの耐燃焼性試験は,次による。
a) 試験を行うために直管LEDランプの一部分を取り除くことが必要な場合は,試験条件が通常の使用状
    態と著しく異なることがないように,十分配慮しなければならない。
b) グローワイヤの温度は,650 ℃とする。試験開始前1分間以上,グローワイヤの温度及び加熱電流を
    一定にしておく。この間,熱放射が試料に影響を及ぼさないように配慮しなければならない。
c) グローワイヤの先端温度は,被覆した細い線径の熱電対を用いて測定する。熱電対の構造及び構成は,
    JIS C 60695-2-10による。
d) 試料は,保持具に鉛直に取り付け,1 Nの力でグローワイヤの先端を押し付ける。
      なお,押し付ける部位は,試料の上端から15 mm以上離れた場所が望ましい。
e) 試料へのグローワイヤの侵入は,機械的に7 mmに制限する。
f)  グローワイヤの先端を1 Nの力で押し付け始めてから30秒間後に,試料をグローワイヤの先端から引
    き離す。
    注記 試料が小さすぎてe)のように試験できない場合,30 mm角で厚さが試料の最小厚さに等しい同
          じ材質の別の試料を用いてもよい。
    警告 この試験を実施するときは,次の危険に対し,試験員の安全及び健康に配慮する。
          − 爆発又は火災
          − 煙及び毒性生成物の吸入
          − 毒性残留物

19.9 じんあい,固形物及び水気の侵入に対する試験

  (検討中)

19.10 沿面距離及び空間距離試験

  口金に金属シェルをもつ場合,ピン又はコンタクトと口金の金属シェルとの間の最小沿面距離は,最も
沿面距離の短い位置で測定する。また,口金以外の沿面距離は,JIS C 8105-1の第11章(沿面距離及び空
間距離)によって測定する。

19.11 故障状態における安全性試験

  故障状態における安全性試験は,次による。
a) 常温で電源を投入し,かつ,入力電圧を調整して,入力電力を定格の150 %に達するまで増加させる
    (この状態を過入力状態という。)。この過入力状態で,温度が安定状態に達するまで放置する。ただ
    し,入力電力が保護装置又は保護回路によって制限される場合は,制限された限界値まで増加させる
    (サージアブソーバーなどをもつものは,試験中サージアブソーバーを直管LEDランプから取り外し
    て試験を行うことができる。)。

――――― [JIS C 8159-1 pdf 14] ―――――

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b) 安定状態に達するまでの時間を含み,過入力状態で15分間以上,試験を継続する。
c) 試験後,19.5.1によって,絶縁抵抗試験を実施する。

19.12 異常状態における安全性試験

  異常状態における安全性試験は,スイッチ操作で異常状態となるように,製造業者等が作成した試験用
の直管LEDランプを用いて行う。試験用の直管LEDランプの入力電流を定格値の90110 %の間の任意
の値に設定して,室温で直管LEDランプが安定するまで点灯する。その後,スイッチ操作によって異常状
態にした上で,連続8時間通電する。
  その後,炎,煙又は可燃性のガスの発生の有無を確認する。可燃性のガスの発生の有無を確認するには,
高周波火花発生器を用いる。
  試験は,次の事項を考慮して実施する。
a) 製造業者等は,外部のスイッチを操作することで特定の異常状態になるような特別の試験用の直管
    LEDランプを提出しなければならない。
b) 短絡状態が発生しない部品などは短絡してはならない。同様に,開放状態が発生しない部品などは開
    放してはならない。

19.13 長期使用における安全性試験

  長期使用における安全性試験は,内部へのほこりの侵入が起こりそうな部位をJIS B 7516に規定する金
属製直尺又はこれと同等以上の測定具によって測定する。

19.14 光生物学的安全性試験

  光生物学的安全性の試験は,JIS C 7550によって試験する。

19.15 直管LEDランプの表面温度試験

  直管LEDランプの表面温度の試験は,定格ランプ電流を加え,各部の温度上昇がほぼ一定となったとき
の各部の温度を測定する。

20 検査

  検査は,附属書Dによる。

――――― [JIS C 8159-1 pdf 15] ―――――

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