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C 8159-1 : 2013
注記1 口金及びランプ本体の絵は,形状によって変えてもよい。
注記2 見やすくするために×印の大きさ及び太さを変えてもよい。
図C.1−図記号
――――― [JIS C 8159-1 pdf 21] ―――――
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C 8159-1 : 2013
附属書D
(規定)
検査
D.1 一般事項
この附属書は,検査について規定する。
検査の種類は,次のD.2D.4とする。
D.2 設計試作時検査
設計試作時検査は,直管LEDランプの構造,使用材料などの主要な設計変更をする場合に行う。検査項
目,サンプル数及び合格判定基準は,表D.1による。
a) 検査項目 検査は,次の項目について行う。
1) 表示
2) 直管LEDランプの口金の構造
3) 直管LEDランプの構造
4) 直管LEDランプの質量
5) 直管LEDランプの寸法
6) 感電に対する保護
7) 絶縁抵抗及び耐電圧
8) 口金表面の温度上昇
9) 耐熱性
10) 耐燃焼性
11) じんあい,固形物及び水気の侵入
12) 沿面距離及び空間距離
13) 故障状態における安全性
14) 異常状態における安全性
15) 長期使用における安全性
16) 光生物学的安全性
17) 直管LEDランプの表面温度
b) 検査方法 検査は,抜取で実施し,サンプル数及び合格判定個数は,表D.1による。
D.3 形式検査
形式検査は,次による。
a) 検査項目 検査は,次の項目について行う。
1) 表示
2) 口金の構造
3) 感電に対する保護
b) 検査方法 検査は,抜取で実施し,サンプル数及び合格判定個数は,表D.1による。
――――― [JIS C 8159-1 pdf 22] ―――――
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C 8159-1 : 2013
D.4 受渡検査
受渡検査は,要求があったときに限り抜取で行い,次による。
a) 検査項目 検査項目は,口金の構造,絶縁抵抗及び耐電圧について行う。
b) 検査方法 検査は,抜取で実施し,サンプル数及び合格判定個数は,受渡当事者間で協定する。また,
AQL(合格品質水準)指標型抜取検査方式を用いる場合は,JIS Z 9015-1による。
受渡試験では,絶縁抵抗試験に続いて耐電圧試験を行う。
なお,耐電圧試験の試験条件は,表4に規定する試験電圧の120 %の電圧を1秒間加えてもよい。また,
受渡検査における絶縁抵抗及び耐電圧の測定条件は,受渡当事者間の合意があれば,常温常湿としてもよ
い。
表D.1−サンプル数,合格判定個数及び要求事項
検査項目 サンプル数 合格判定個数a) 要求事項
個 個
表示 5 0 箇条5による
直管LEDランプの口金の構造 6.1による
直管LEDランプの構造 6.2による
直管LEDランプの質量 6.3による
10 0
直管LEDランプの寸法 6.4による
感電に対する保護 箇条7による
絶縁抵抗及び耐電圧 箇条8による
口金表面の温度上昇 箇条9による
耐熱性 箇条10による
耐燃焼性 箇条11による
じんあい,固形物及び水気の侵入 箇条12による
沿面距離及び空間距離 箇条13による
5 0
故障状態における安全性 箇条14による
異常状態における安全性 箇条15による
長期使用における安全性 箇条16による
光生物学的安全性 箇条17による
直管LEDランプの表面温度 箇条18による
注a) 合格判定個数は,許容できる不合格個数を表す。
――――― [JIS C 8159-1 pdf 23] ―――――
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C 8159-1 : 2013
附属書E
(参考)
直管LEDランプ制御装置設計のための情報
E.1 一般事項
直管LEDランプの適切な機能を守るために,この附属書に記載された情報は,直管LEDランプに適合
する制御装置を設計する際に考慮することが望ましい。
注記 この附属書は,JIS C 8147-2-13に規定する内容を例示するものである。
E.2 一般的要求事項
直管LEDランプ制御装置は,E.4及びE.5に示す要求事項に加え,JIS C 8147-2-13に適合しなければな
らない。
JIS C 8147-2-13における“LEDモジュール”は,この規格の“直管LEDランプ”を含み,JIS C 8147-1
における“ランプ”は,この規格の“直管LEDランプ”を含むと解釈する。
E.3 用語及び定義
この附属書で用いる主な用語及び定義は,本体によるほか,次による。
E.3.1
GX16t-5口金付(制御装置非内蔵)直管LEDランプ用制御装置
電源と一つ以上のGX16t-5口金付直管LEDランプとの間に挿入したユニットで,直管LEDランプに定
電流を供給するもの。このユニットは,一つ以上の分離した構成部品から成り,調光,力率改善及び無線
妨害を抑制するための機能を含む。
E.3.2
制御装置の動作電圧
直管LEDランプを制御装置に接続した状態で, 定格入力電圧で動作させたとき,過渡的なものは除き,
無負荷状態又は通常動作中に絶縁物に生じる最大実効値電圧。
E.4 制御装置の出力周波数及び光出力
直管LEDランプを制御装置に接続し,定格入力電圧で動作させて,直管LEDランプが安定した後の,
定格点灯時の出力周波数及び光出力は,直管LEDランプのちらつき(フリッカ)抑制のため,次の条件の
いずれかを満足するものでなければならない。
a) 光出力に欠落部(光出力のピーク値の5 %以下の部分)がなく,繰返し周波数が100 Hz以上とする。
b) 光出力の繰返し周波数が,500 Hz以上とする。
E.5 電気的危険に対する保護
E.5.1 一般事項
制御装置の動作電圧は,直管LEDランプ用の口金,ソケットなどの表面における,装着時の過渡電流の
抑制及び沿面放電(部分放電を含む。)の防止のために,過度的なものは除き,E.5.1及びE.5.2を満足し
なければならない。
――――― [JIS C 8159-1 pdf 24] ―――――
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C 8159-1 : 2013
E.5.2 無負荷状態
E.5.2.1 要求事項
無負荷状態における制御装置の出力端子と接地との間の電圧及び出力端子間電圧のピーク値は,次を満
足しなければならない。
a) 出力端子と接地との間の電圧は,実効値で300 V以下とする。
b) 出力端子間電圧のピーク値は,次の1)及び2)の値以下とする。
1) 直管LEDランプ用ソケットの最大定格電圧の値
注記 直管LEDランプ用ソケットの最大定格電圧の値は,F.5に記載されている。
2) 表E.1の値
表E.1−無負荷状態における出力端子間電圧
ランプ長の区分 出力端子間電圧
mm V
580 22.5
1 198 45.0
E.5.2.2 試験方法
制御装置を定格入力電圧で動作させて,無負荷状態(直管LEDランプを接続しない状態)で,制御装置
の出力端子と接地との間の電圧及び出力端子間電圧を測定する。ただし,制御装置が複数の出力回路で構
成されている場合には,直管LEDランプを接続する対となる出力端子を順に開放状態にし,最終的に全て
開放状態にしなければならない。
E.5.3 過負荷状態,通常状態及び短絡状態
E.5.3.1 要求事項
過負荷状態,通常状態及び短絡状態における制御装置の出力端子と接地との間の電圧及び出力端子間電
圧のピーク値は,次を満足しなければならない。
a) 出力端子と接地間との間の電圧は,実効値で300 V以下とする。
b) 出力端子間電圧のピーク値は,直管LEDランプ用ソケットの最大定格電圧値以下とする。
E.5.3.2 試験方法
制御装置を定格入力電圧で動作させて,次の状態で,制御装置の出力端子と接地との間の電圧及び出力
端子間電圧をそれぞれ測定する。
a) 過負荷状態 制御装置が設計の対象としている直管LEDランプを,2灯直列に出力端子に接続する。
注記 直管LEDランプの代わりに,インピーダンスを設計値の2倍とした負荷装置を接続してもよ
い。
b) 通常状態 制御装置が設計の対象としている直管LEDランプを,出力端子に接続する。
c) 短絡状態 制御装置の出力端子を短絡する。ただし,制御装置が複数の出力回路で構成されている場
合には,直管LEDランプを接続する対となる出力端子を順に短絡状態にし,最終的に全て短絡状態に
しなければならない。
――――― [JIS C 8159-1 pdf 25] ―――――
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JIS C 8159-1:2013の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
JIS C 8159-1:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7516:2005
- 金属製直尺
- JISB7601:1983
- 上皿天びん
- JISC0920:2003
- 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
- JISC1302:2018
- 絶縁抵抗計
- JISC60695-2-10:2015
- 耐火性試験―電気・電子―第2-10部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―グローワイヤ試験装置及び一般試験方法
- JISC7550:2011
- ランプ及びランプシステムの光生物学的安全性
- JISC7709-1:1997
- 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第1部 口金
- JISC7709-2:1997
- 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第2部 受金
- JISC7709-3:1997
- 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第3部 ゲージ
- JISC8105-1:2017
- 照明器具―第1部:安全性要求事項通則
- JISC8121-1:2019
- ランプソケット類―第1部:一般要求事項及び試験
- JISC8147-1:2017
- ランプ制御装置―第1部:通則及び安全性要求事項
- JISC8154:2015
- 一般照明用LEDモジュール―安全仕様
- JISP0001:1998
- 紙・板紙及びパルプ用語
- JISZ8113:1998
- 照明用語
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式