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C 8159-1 : 2013
附属書F
(参考)
直管LEDランプソケット設計のための情報
F.1 一般事項
直管LEDランプの適切な機能を維持するために,この附属書に記載した情報は,直管LEDランプに適
合するランプソケットを設計する際に考慮することが望ましい。
F.2 用語及び定義
この附属書で用いる主な用語及び定義は,本体によるほか,次による。
F.2.1
通電用ソケット
通電用の口金を装着できるランプソケット。
F.2.2
非通電用ソケット
非通電用の口金を装着できるランプソケット。
F.2.3
両口金可動型GX16t-5口金付(制御装置非内蔵)直管LEDランプソケット
各ソケットのベースが,照明器具に固定されてはいるが,ランプ長のばらつきに対する補正に備えるた
めに接触部が軸方向に動くようにすることによって,必要によっては直管LEDランプの挿入及び取外しも
可能になるように設計したランプソケットの一つ,又は双方の機能をもつ一対のランプソケット。
F.2.4
両口金固定型GX16t-5口金付(制御装置非内蔵)直管LEDランプソケット
固定取付けを意図しており,直管LEDランプの挿入及び取外しができない,又はランプ長のばらつきを
補正するような接触部の軸方向の可動機能がない動きが備わっていないか又は必要のない一対のランプソ
ケット。
F.2.5
両口金可動取付型GX16t-5口金付(制御装置非内蔵)直管LEDランプソケット
接触システム自体には軸方向の可動機能を備えていないが,照明器具の具備する機能によって軸方向の
可動機能が実現できる動きを備えるように指定した方法で照明器具に取り付けることを意図した一対のラ
ンプソケット。
注記 このタイプのランプソケットは,固定取付けに適している場合,又は適していない場合もある。
F.3 一般要求事項
直管LEDランプを用いるためのランプソケット(以下,ランプソケットという。)の一般要求事項は,
JIS C 8121-1の箇条3(一般要求事項)による。
注記 JIS C 8121-1における“ランプ”をこの規格の“直管LEDランプ”に置き換え,JIS C 8121-1
における“ランプソケット”をこの規格の“直管LEDランプ用のランプソケット”に置き換え
る。
――――― [JIS C 8159-1 pdf 26] ―――――
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F.4 ランプソケットの一般試験条件
JIS C 8121-1の箇条4(一般試験条件)によるほか,次による。
両口金可動型直管LEDランプソケット及び両口金固定型直管LEDランプソケットの場合,試料はJIS C
8121-1の図D.2(取付用支持台)に規定する二対の取付板に取り付ける。
一対のランプソケットは,製造業者の取扱説明書に従い,この対のランプソケットに対する最小取付間
隔となるように取り付ける。その他の対は,最大取付間隔に取り付ける。そろいの取付板には,印を付け
る。
F.5 ランプソケットの定格電圧及び定格電流
最大定格電圧は,線間最大電圧によって,リップルのない直流120 Vとする。ただし,対地電圧に対す
る絶縁設計を行う上での最大電圧は交流で実効値300 Vとする。
定格電流の最大値は,0.5 Aとする。
F.6 ランプソケットの表示
通電用ソケットの表示は,JIS C 8121-1の箇条6(表示)によるほか,次による。
“0.5A120Vd.c.”,“0.5A 120VDC”又は“0.5/120d.c.”
注記 非通電用ソケットについては,定格の表示は行わない。
F.7 感電に対する保護
外郭付ランプソケットは,次に記載する通常の使用状態で照明器具に組み込み,配線されたときに,充
電部へ容易に手が触れられない構造でなければならない。
a) 直管LEDランプなしの状態
b) 適合する直管LEDランプが取り付けられた状態
c) 直管LEDランプの取付け及び取外しの際
側面から挿入するソケットの場合は,口金の表面とソケットの受金面の表面とが接触している状態で合
否を判定する。合否は,JIS C 0920の表6(危険な箇所への接近に対する保護の試験に使用する近接プロ
ーブ)の第一特性数字“2”及び付加文字“B”に規定するテストフィンガによって判定する。
ランプソケットは,上記の試験を行う前に,適合する最も不利な寸法の電線を接続し,通常の使用状態
に取り付けておく。外郭のないランプソケットは,照明器具又は密閉箱の中へ適切に取り付けた後,試験
する。それらの機器は,外郭のないランプソケットの基準に従って試験する。
注記1 側面から挿入する通電用ソケットとは,ランプ軸に垂直な方向へ,ランプソケットの差込溝
に口金ピンが入る構造をもつ通電用ソケットである(JIS C 8324の図C.1,図C.2及び図C.3
を参照)。
注記2 更なる情報は,JIS C 8324の図C.4を参照。
F.8 ランプソケットの端子
JIS C 8121-1の箇条8(端子)による。
F.9 ランプソケットの保護接地
JIS C 8121-1の箇条9(保護接地)は適用しない。
――――― [JIS C 8159-1 pdf 27] ―――――
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F.10 構造
F.10.1 ランプソケットの寸法
ランプソケットの寸法は,JIS C 7709-2に適合しなければならない。
適合性は,JIS C 7709-3に規定するゲージ,又はJIS B 7507に規定するノギス又はこれと同等以上の精
度をもつ測定器によって確認する。ゲージによる試験方法及び合否判定は,次による。
a) IS C 8324の図1(蛍光灯ソケット試験用取付けジグ)に規定する取付けジグへ取り付けた後,一対
のランプソケットに対してJIS C 7709-3のGX16t-5受金用“通りゲージ”及び“接触試験ゲージ”を
用いて試験する。
なお,両口金可動取付型直管LEDランプソケット及び上記の取付けジグに取り付けられない設計の
ランプソケットは,6.4に規定するランプ長に対応した間隔で固定して試験する。
b) ランプソケットを試験するとき,“通りゲージ”を挿入するために必要な力は,30 N以下とする。
接触を試験するとき,ゲージは,5 Nの力で順にランプソケットの表面の各方向に押す。
取付けジグの中で試験するとき,この力は,ゲージの垂直位置で達成できる。
c) 2本以上の直管LEDランプとともに使用するランプソケットに対して,ランプ数に一致する追加のお
もりはランプソケットの表面へ置く。
d) 一対で使用するランプソケットの取付間隔は,JIS C 7709-2,又は次の1)3)による。
1) ランプソケットの取付間隔が最小のものに,適合ランプの口金面間距離(表1の寸法A参照)が最
大のものを適用する。
2) ランプソケットの取付間隔が最大のものに,適合ランプの口金面間距離(表1の寸法A参照)が最
小のものを適用する。
3) 試験に使用する直管LEDランプの長さが最大及び最小のものが使用できないときは,試験に用いる
直管LEDランプの口金面間距離(表1の寸法A参照)との差分だけ取付間隔を補正して,試験条
件を同等としてもよい。
製造業者の取扱説明書には,ランプソケットの正確な取付けに必要な全情報を示さなければならない。
F.11 ランプソケットの耐湿性,絶縁抵抗及び耐電圧
JIS C 8121-1の箇条11(耐湿性,絶縁抵抗及び耐電圧)によるほか,次による。ただし,非通電用ソケ
ットには適用しない。
a) 電気用品の技術上の基準を定める省令(省令1項)別表第八を適用するLEDを用いた照明器具に使用
するランプソケットの場合は,別表第八1(3)ヌ(接続器)に適合しなければならない。
b) クラス0I照明器具,クラスI照明器具及びクラスII照明器具のいずれかである場合,照明器具に組み
込み,適合ランプを装着した状態で人が触れるおそれがあるランプソケットの表面の部位は,別表第
八1(2)ツ(ハ)に適合しなければならない。
注記1 人が触れるおそれのある部位は,テストフィンガで触れることができる範囲と解釈する。
注記2 500 V絶縁抵抗計による絶縁抵抗が3 Ω以上あり,かつ,4 V以上の絶縁耐圧試験に適合す
るものは,この要求事項を満たすものと解釈する。
F.12 ランプソケットの機械的強度
JIS C 8121-1の箇条12(機械的強度)による。
――――― [JIS C 8159-1 pdf 28] ―――――
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F.13 ランプソケットのねじ,通電部及び接続
JIS C 8121-1の箇条13(ねじ,通電部及び接続)によるほか,次による。
通電部は,銅,圧延板(冷間圧延状態)で作られた合金では58 %以上の銅を含む合金,圧延板(冷間圧
延状態)以外で作られた合金では50 %以上の銅を含む合金,又はこれらと同等以上の特性をもつ材料でな
ければならない。
F.14 ランプソケットの沿面距離及び空間距離
F.14.1 ランプソケットの充電部と近傍の金属部との距離
充電部と近傍の金属部との間は,相応に空間を空けなければならない。沿面距離及び空間距離は,表F.1
に示す値以上にしなければならない。ただし,この表の距離は,非通電用ソケットには適用しない。
注記 この表の距離は,JIS C 60664-1の過電圧カテゴリIIの分類機器に適応し,普通は非導電性の汚
れが生じるだけでなく,時折結露によって生じる一時的導通が予想されるような汚染度2の汚
れについて想定する。
表F.1−ランプソケットの最小距離−耐インパルスカテゴリII(過電圧カテゴリII)
単位 mm
距離の条件 動作電圧の実効値V
50 150 250 300
a) 異極充電部間
b) 充電部と,カバーをランプソケットに固定するね
じ,若しくはランプソケットa)を支持物に固定する
ねじ,又は装置を含めた外部金属部との間,並びに
充電部とランプソケットに永久的に固定した絶縁
材料の部品の外面との間
− 沿面距離
絶縁材料 PTI b)≧600 0.6 1.2 1.5 1.8
PTI b)<600 1.2 1.6 2.5 3
− 空間距離 0.2 1.2 1.5 1.8
c) 充電部と取付面との間,又は取付けが不十分な金属
カバーがあり,最も不利な状態でb)に適合しない
おそれがある場合には,充電部とカバーとの間
− 空間距離 0.6 1.2 1.5 1.8
注記1 この表の最少距離は,JIS C 60664-1で規定する耐インパルスカテゴリII及び普通は非導電性の汚れ
が生じるだけでなく,時折結露で生じる一時的導通が予想されるような汚染度2の汚れについて規定
する。その他の耐インパルスカテゴリ及びそれを超える汚染度に関する情報は,JIS C 8105-1及びJIS
C 60664-1を参照。
注記2 表に記載した電圧以外の電圧の絶縁距離は,直線補間法を用いる。25 未満の電圧の場合,JIS C 8105-1
の10.2.2(耐電圧試験)で考慮されているため,適用されない。
注記3 この表で示す沿面距離及び空間距離は,絶対的な最小値であることに注意する。
注a) ランプソケットの接触片と受金表面との距離の最小値は1.2 mm,最大値はJIS C 7709-2による。
b) TI(保証トラッキング指数)は,JIS C 2134による。
− 電圧を加えない部分又は接地しない部分の沿面距離の場合,トラッキングが発生しないときは,実
際のPTIの値に関係なく,PTI 600以上の材料に対する値を全ての材料に適用する。
− ほこり又は湿気で悪影響を受けにくい部分の沿面距離に関して,実際のPTIの値に関係なく,PTI
600以上の値を適用する。
――――― [JIS C 8159-1 pdf 29] ―――――
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C 8159-1 : 2013
F.15 ランプソケットの耐久性
JIS C 8121-1の箇条15(耐久性)による。ただし,非通電用ソケットには適用しない。
F.16 ランプソケットの耐熱性及び耐火性
JIS C 8121-1の箇条16(耐熱性及び耐火性)による。
F.17 ランプソケットの過度の残留ストレス(自然割れ)及びさび(錆)に対する抵抗力
JIS C 8121-1の箇条17[過度の残留応力(自然割れ)及びさび(錆)に対する抵抗力]による。
F.18 ランプソケットのリスト
この規格に適合するランプソケットを,表F.2に示す。
表F.2−ランプソケット
JIS C 7709-2における
直管LEDランプ用受金
直管LEDランプ用受金のシート番号
GX16t-5 受金 2-131-2
――――― [JIS C 8159-1 pdf 30] ―――――
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JIS C 8159-1:2013の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
JIS C 8159-1:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7516:2005
- 金属製直尺
- JISB7601:1983
- 上皿天びん
- JISC0920:2003
- 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
- JISC1302:2018
- 絶縁抵抗計
- JISC60695-2-10:2015
- 耐火性試験―電気・電子―第2-10部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―グローワイヤ試験装置及び一般試験方法
- JISC7550:2011
- ランプ及びランプシステムの光生物学的安全性
- JISC7709-1:1997
- 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第1部 口金
- JISC7709-2:1997
- 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第2部 受金
- JISC7709-3:1997
- 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第3部 ゲージ
- JISC8105-1:2017
- 照明器具―第1部:安全性要求事項通則
- JISC8121-1:2019
- ランプソケット類―第1部:一般要求事項及び試験
- JISC8147-1:2017
- ランプ制御装置―第1部:通則及び安全性要求事項
- JISC8154:2015
- 一般照明用LEDモジュール―安全仕様
- JISP0001:1998
- 紙・板紙及びパルプ用語
- JISZ8113:1998
- 照明用語
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式