この規格ページの目次
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C 8201-4-2 : 2010
b) 制御器又はスタータが適合しなければならない次の条件
− 動作及び挙動
− 耐電圧性能
− 該当する場合,それらのエンクロージャの保護等級
− 構造
c) これらの条件に適合することを確認する,試験項目及び試験方法
d) 装置又は製造業者発行の資料で表示しなければならない情報
注記1 我が国の配電電圧は,関係法規において,低圧は交流600 V以下と規定している。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60947-4-2:2007,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 4-2: Contactors and
motor-starters−AC semiconductor motor controllers and starters(MOD)
なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
ことを示す。
2 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS B 3502 プログラマブルコントローラ−装置への要求事項及び試験
注記 対応国際規格 : IEC 61131-2:2003,Programmable controllers−Part 2: Equipment requirements and
tests(MOD)
JIS C 8201-1:2007 低圧開閉装置及び制御装置−第1部 : 通則
注記 対応国際規格 : IEC 60947-1:2004,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules
(MOD)
JIS C 8201-5(すべての部)低圧開閉装置及び制御装置−第5部 : 制御回路機器及び開閉素子
注記 対応国際規格 : IEC 60947-5 (all parts),Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5(IDT)
JIS C 8269-1 低電圧ヒューズ−第1部 : 一般要求事項
注記 対応国際規格 : IEC 60269-1:1986,Low-voltage fuses−Part 1: General requirements並びに
Amendment 1 (1994) 及びAmendment 2 (1995)(IDT)
JIS C 60050-161 EMCに関するIEV用語
注記 対応国際規格 : IEC 60050-161:1990,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 161:
Electromagnetic compatibility(IDT)
JIS C 60664(すべての部) 低圧系統内機器の絶縁協調
注記 対応国際規格 : IEC 60664 (all parts),Insulation coordination for equipment within low-voltage
systems(IDT)
JIS C 61000-3-2 電磁両立性−第3-2部 : 限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が
20 A以下の機器)
注記 対応国際規格 : IEC 61000-3-2:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2: Limits−
Limits for harmonic current emissions (equipment input current 16 A per phase)(MOD)
JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4部 : 試験及び測定技術−第2節 : 静電気放電イミュニティ試験
――――― [JIS C 8201-4-2 pdf 6] ―――――
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C 8201-4-2 : 2010
注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-2:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and
measurement techniques−Section 2: Electrostatic discharge immunity test並びにAmendment 1
(1998) 及びAmendment 2 (2000)(IDT)
JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-3:2006,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test(IDT)
JIS C 61000-4-4 電磁両立性−第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バー
ストイミュニティ試験
注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-4:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and
measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test(IDT)
JIS C 61000-4-5 電磁両立性−第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-5:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and
measurement techniques−Surge immunity test(IDT)
JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導
妨害に対するイミュニティ
注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-6:2003,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and
measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields及
びAmendment 1 (2004)(MOD)
JIS C 61000-4-11 電磁両立性−第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧
変動に対するイミュニティ試験
注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-11,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing and
measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
(IDT)
IEC 60034-1:2004,Rotating electrical machines−Part 1: Rating and performance
IEC 60146 (all parts),Semiconductor convertors
IEC 60255 (all parts),Measuring relays and protection equipment
IEC 60410,Sampling plans and procedures for inspection by attributes
IEC 60417,Graphical symbols for use on equipment
IEC/TR 61000-2-1,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2: Environment−Section 1: Description of
the environment−Electromagnetic environment for low-frequency conducted disturbances and signalling
in public power supply systems
CISPR 11,Industrial, scientific and medical equipment−Radio-frequency disturbance characteristics−Limits
and methods of measurement
CISPR 14-1,Electromagnetic compatibility−Requirements for household appliances, electric tools and similar
apparatus−Part 1: Emission
3 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 8201-1の箇条2(用語及び定義)によるほか,次による。
定義の五十音順の索引
インヒビット時間(Inhibit time) 3.1.26
――――― [JIS C 8201-4-2 pdf 7] ―――――
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C 8201-4-2 : 2010
運転制御(Controlled running) 3.1.7
O動作(O operation) 3.1.31
オフ時間(OFF-time) 3.1.28
オフ状態(OFF-state) 3.1.12
オフ状態漏れ電流(OFF-state leakage current) 3.1.13
オン時間(ON-time) 3.1.27
オン状態(ON-state) 3.1.9
開路位置(Open position) 3.1.2.3
加速制御(Controlled acceleration) 3.1.5
過渡(トランジェント)[Transient (adjective and noun)] 3.2.6
過負荷電流波形(Overload current profile) 3.1.17
完全オン状態[Full-on (state of controllers)] 3.1.10
欠相検出機能付き過負荷リレー又は引外し装置(Phase loss sensitive overload relay or release) 3.1.21
減速制御(Controlled deceleration) 3.1.6
交流半導体モータ制御器(AC semiconductor motor controller) 3.1.1.1
最小負荷電流(Minimum load current) 3.1.11
CO動作(CO operation) 3.1.30
ジャム検出機能付き電子式過負荷リレー(Jam sensitive electronic overload relay) 3.1.25
推定拘束ロータ電流(Prospective locked rotor current) 3.1.8
ストール検出機能付き電子式過負荷リレー(Stall sensitive electronic overload relay) 3.1.24
(制御器の)動作[Operation (of a controller)] 3.1.14
(制御器の)動作サイクル[Operating cycle (of a controller)] 3.1.15
3.1.19
(制御器又はスタータの)引外し動作[Tripping operation (of a controller or starter)]
定格インデックス(Rating index) 3.1.18
電圧サージ(Voltage surge) 3.2.8
電磁エミッション(Electromagnetic emission) 3.2.2
電磁妨害(Electromagnetic disturbance) 3.2.3
電磁両立性(EMC)(Electromagnetic compatibility) 3.2.1
電流制限機能(Current-limit function) 3.1.3
動作能力(Operating capability) 3.1.16
トリップフリーの制御器又はスタータ(Trip-free controller or starter) 3.1.20
バイパス制御器(Bypassed controller) 3.1.29
ハイブリッドモータ制御器又はハイブリッドモータスタータ,フォームHxA(ここに,x=1,2又は3)
[Hybrid motor controllers or starters, form HxA (where x=1, 2 or 3)] 3.1.2.1
ハイブリッドモータ制御器又はハイブリッドモータスタータ,フォームHxB(ここに,x=1,2又は3)
[Hybrid motor controllers or starters, form HxB (where x=1, 2 or 3)] 3.1.2.2
バースト(パルス又は振動の)[Burst (of pulses or oscillations)] 3.2.7
半導体じか入れ(DOL)モータ制御器(フォーム3)
[Semiconductor direct-on-line (DOL) otor controller (form 3)] 3.1.1.1.3
半導体ソフト始動モータ制御器(フォーム2)
――――― [JIS C 8201-4-2 pdf 8] ―――――
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C 8201-4-2 : 2010
[Semiconductor soft-start motor controller (form 2)] 3.1.1.1.2
半導体モータスタータ(フォーム1,フォーム2及びフォーム3)
[Semiconductor motor starter (form 1, form 2, form 3)] 3.1.1.2
半導体モータ制御器(フォーム1)[Semiconductor motor controller (form 1)] 3.1.1.1.1
負荷制御(Manoeuvre) 3.1.4
不足電圧リレー又は引外し装置(Under-voltage relay or release) 3.1.23
不足電流リレー又は引外し装置(Under-current relay or release) 3.1.22
無線周波障害(RFI)[Radio frequency interference, RFI (abbreviation)] 3.2.5
無線(周波)妨害[Radio (frequency) isturbance] 3.2.4
3.1 交流半導体モータ制御器に関する定義
3.1.1 交流半導体モータ制御器及びスタータ(図1参照)
3.1.1.1
交流半導体モータ制御器(AC semiconductor motor controller)
交流モータの始動機能及びオフ状態を供給する半導体開閉機器(JIS C 8201-1の2.2.3参照)。
注記1 オフ状態の半導体モータ制御器は,危険なレベルの漏れ電流(3.1.13参照)が流れているた
め,負荷端子は,常に充電状態にあると考えることが望ましい。
注記2 電流がゼロ点を通過する回路において,そのゼロ点に続く電流を閉路しなければ,遮断して
いることと等しい。
3.1.1.1.1
半導体モータ制御器(フォーム1)[Semiconductor motor controller (form 1)]
製造業者が指定したすべての始動方法をもち,交流モータの負荷制御,加速制御,運転又は減速制御の
すべての組合せをもつ交流半導体モータ制御器。完全オン状態があってもよい。
3.1.1.1.2
半導体ソフト始動モータ制御器(フォーム2)[Semiconductor soft-start motor controller (form 2)]
始動機能が加速制御を含む電圧及び/又は電流徐昇に限定し,追加の制御機能が完全オン状態になるこ
とに限定した交流半導体モータ制御器。
3.1.1.1.3
半導体じか入れ(DOL)モータ制御器(フォーム3)[Semiconductor direct-on-line (DOL) otor controller (form
3)]
全電圧を印加する非徐昇始動方法だけに限定し,追加の負荷制御が完全オン状態になることに限定した
交流半導体モータ制御器。
3.1.1.2
半導体モータスタータ(フォーム1,フォーム2及びフォーム3)[Semiconductor motor starter (form 1, form
2, form 3)]
適切な過負荷保護を備えユニット化した交流半導体モータ制御器。
――――― [JIS C 8201-4-2 pdf 9] ―――――
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C 8201-4-2 : 2010
機器 回路構成例
半導体モータ制御器
(フォーム1,2,3)
L T
Ue Uc
半導体モータスタータ
(フォーム1,2,3)
L T
Ue Uc
ハイブリッドモータ制御器
フォームHxA a) L T
(ここに,x=1,2又は3) Ue Uc2
Uc1
ハイブリッドモータ制御器
フォームHxB b)
L T
(ここに,x=1,2又は3) Ue
Uc1
バイパス制御器
並列機械式接点
L T
半導体制御器(フォーム1,2,3)
バイパスハイブリッドモー
タ制御器c) 並列機械式接点
ハイブリッドモータ制御器
L 直列機械式接点 半導体制御器 T
(フォームHxA,HxB)
ハイブリッドモータスター フォームH1A又はH1B フォームH2A又はH2B フォームH3A又はH3B
タ モータ過負荷保護付き モータ過負荷保護付き モータ過負荷保護付き
注a) 制御器及び直列機械式開閉機器に対する二つの独立した制御。
b) 直列機械式開閉機器に対するただ一つの制御。
c) ほかの構成では,試験は,製造業者と使用者との合意によって行ってもよい。
図1−半導体モータ制御器の構成
――――― [JIS C 8201-4-2 pdf 10] ―――――
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JIS C 8201-4-2:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60947-4-2:2007(MOD)
JIS C 8201-4-2:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 29 : 電気工学 > 29.130 : 開閉装置及び制御装置 > 29.130.20 : 低電圧開閉用及び制御装置
JIS C 8201-4-2:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB3502:2011
- プログラマブルコントローラ―装置への要求事項及び試験
- JISB3502:2021
- 工業プロセス測定及び制御プログラマブルコントローラ―装置への要求事項及び試験
- JISC60050-161:1997
- EMCに関するIEV用語
- JISC61000-3-2:2019
- 電磁両立性―第3-2部:限度値―高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20A以下の機器)
- JISC61000-4-11:2008
- 電磁両立性―第4-11部:試験及び測定技術―電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
- JISC61000-4-2:2012
- 電磁両立性―第4-2部:試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験
- JISC61000-4-3:2012
- 電磁両立性―第4-3部:試験及び測定技術―放射無線周波電磁界イミュニティ試験
- JISC61000-4-4:2015
- 電磁両立性―第4-4部:試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験
- JISC61000-4-5:2018
- 電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
- JISC61000-4-6:2017
- 電磁両立性―第4-6部:試験及び測定技術―無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ
- JISC8269-1:2016
- 低電圧ヒューズ―第1部:通則