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E 5021 : 2020
当事者間で協定する。該当する場合には,使われた原材料のISO 4892-2で規定する試験成績書の提出を必
要とする。
試験は,表13及び7.16によって実施する。
7 試験
7.1 概要
7.1.1 一般
この規格の試験は,形式試験とする。
箇条6の要求事項は,次に示す試験手順に沿って,適切な数量の試料を試験することで一般的には実証
される(ただし,箇条6で素材に関して要求される関連規格の成績書の提出によって試験されたとみなさ
れる一部のコネクタの特性を除く。)。コネクタの最終使用状態に応じて,受渡当事者間で協定するそのよ
うな試験及び関連の要求事項を表13に示す。
7.1.2 事前調整及び準備
全ての試料は,JIS C 5402-1に沿って,試験手順の開始の24時間前に,23 ℃±5 ℃及び相対湿度45 %
75 %に事前に調整する。
製造業者によって他の指定がされない限り,ねじ式締付け具は,IEC 60999-1及びIEC 60999-2に従って,
規定のトルクで締め付ける。
試験計画の中で違った形で指定されない限り,全ての試験は,製造業者の指示に従って,完全に組み立
てられた試料で実施しなければならない。
7.1.3 試験条件
試験計画の中で違った形で指定されない限り,試験は,JIS C 60068-1の標準の大気条件の下で実施する。
試験は,表4の試料の数を使って,各試験グループのために指定された試験手順に沿って実施する。試験
グループごとに,新しい試料を使用する。
表4−試験に必要な試料の数量
試験グループ 試料の数量
グループA : 機械的試験(表5 参照) 1
グループB : 耐用年数(表6 参照) 3
グループC : 温度(表7 参照) 1
グループD : 環境(表8 参照) 1
グループE : 保護等級(表9 参照) 2
グループF : 振動及び衝撃(表10 参照) 1
a)
グループG : 耐液性(表11 参照)
グループH : 遮蔽効果(表12 参照) 1
コネクタの一連の同一設計及び同等のサイズのコネクタシリーズに対しては,試験は,
試験に対して最悪のケースを代表する試料に対してだけ実施してもよい。
注a) 流体のタイプ及び数量は,受渡当事者間の協定による。又は,一つの流体当たり1
試料とする。
試験計画の中で未かん合と規定されない限り,試験の試料は,1対のコネクタ又はフリーコンタクトと
する。
試験が,フリーコンタクト(例えば,圧着コンタクト)で実施する必要があるならば,最小限3個の試
――――― [JIS E 5021 pdf 21] ―――――
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E 5021 : 2020
料を使用する。
ロック機構をもつコンタクトは,ロックするための適正な対応物とともに試験しなければならない。
終端部に対する試験は,試料当たり3個の終端部に対して実施するのが望ましい。
試験のために使われたケーブルは,コンタクトが使用を想定した関連するケーブル仕様(例えば,EN
50264シリーズ,EN 50306シリーズ,EN 50382シリーズ)に適合したものとし,使用された電線又はケ
ーブルは,試験報告書に記載する。
ケーブル終端部の処理は,コンタクトの製造業者の推薦に従って実行する。
試験用サンプルが,互いに(例えば,加熱室の中で)影響しないように気を付ける。
試料が,いずれかの試験グループの複数の試験に不合格ならば,その試料は,この規格に適合していな
いとみなされる。
試料が,試験の一つに不合格ならば,この試験及びその結果に影響した先行試験は,新しい試料で繰り
返さなければならない。その上で,繰返し試験に合格しなければならない。
試験手順全体の実施中に,潤滑又はよりよい試験結果を得るための他の手段を試験面に追加してはなら
ない。ただし,コンタクト上の製造に関わる潤滑剤の残留物は許容される。
7.2 試験計画
試験計画は,表5表12による。
――――― [JIS E 5021 pdf 22] ―――――
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E 5021 : 2020
表5−機械的試験 グループA
1 2 3 4 5 6 7 8
試験 呼称 JIS C 5402 試験 厳しさ又は条件 測定項目 要求事項
段階 又は 規格群 関連 呼称 JIS C 5402
表題 試験番号 箇条 又は 規格群
表題 試験番号
A1 必要に応じてカバーは取り目視 1a,1b 6.2,6.8,6.9,6.15
外す。 及び 寸法は,製造業者の仕
寸法 様を満足する。
検査
A2 表示の 7.5 肉眼 目視 1a 6.2.2による表示。
耐久性 検査
A3 極性 13e 試験力 : 20 N又は挿入力の 6.3,6.8
1.5倍のいずれか大きい方。
目視 1a 機能を損なうような
検査 損傷がない。
A4 インタ 7.6 6.10
ーロッ
ク
A5 終端 6.6
A6 コンタ 15a 試験負荷は,一つのコンタク 6.15
クト保 トの挿入力(かん合)仕様値
目視 1a 正常な操作を阻害す
持力 の3倍又は一つのコンタク 検査 るような軸方向の変
トの挿入力仕様値+50 Nの 位がないものとする。
いずれか小さい方。
最小の試験負荷は,20 N以
上とする。
A7.1 ケーブ 17c 製造業者によって指定され目視 1a 6.14
ルの引 たクランプに適切な最大及検査
張りに び最小な直径のケーブルを
対する 対象とする。
保護 指定のカバーをケーブルア
A7.2 ケーブ 17d ンカーとともに取り付ける。
目視 1a 6.14
ルのね 検査
じれに
対する
保護
A8 機械的 7b 可動形コネクタだけ。 6.15
衝撃力 落下高さ : 750 mm(試料の目視 1a 感電からの保護のた
質量が250 g以下の場合)500
検査 めに使われる部品は
mm(試料の質量が250 gを 破損してはならない。
超える場合) 空間距離及び沿面距
落下回数 : 8(45°刻み,各 離の短縮はあっては
角度1回で1周合計) ならない。
――――― [JIS E 5021 pdf 23] ―――――
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E 5021 : 2020
表6−耐用年数試験 グループB
1 2 3 4 5 6 7 8
試験 呼称 JIS C 試験 厳しさ又は条件 測定項目 要求事項
段階 又は 5402 関連 呼称 JIS C 5402
表題 規格群 箇条 又は 規格群
試験番号 表題 試験番号
B1 初期測 試験電流 : 1 A又は定格電流接触 2a又は2b その後の測定のため
定 測定点 : 終端部の末端 抵抗 の基準値。
試料当たり,最大3コンタ
クトに加え,保護接地コン
タクト(ある場合)。
B2 機械的 9a 7.9 動作回数は,製造業者の仕 6.13
動作 様による。
目視 1a 通常の使用を阻害す
検査 る損傷があってはな
らない。
B3 最終測 試験段階B1と同一条件。 接触 2a又は2b 初期接触抵抗が10
定 抵抗 m以下の場合 :
許容する最大上昇
は,50 %とする。
初期接触抵抗が10
mを超える場合 :
許容する最大上昇
は,5 mとする。
受渡当事者間の協定
によってより高い値
が許容される。
7.12 表8の試験段階D6と同一条 a) イ IEC 62497-1 6.12
a) 件。 ンパル 又は 絶縁破壊又はフラッ
又は ス耐電 JIS C シュオーバがあって
b) 圧 60664-1 はならない。
b) 耐 4a
電圧
表7−温度試験 グループC
1 2 3 4 5 6 7 8
試験 呼称 JIS C 5402 試験 厳しさ又は条件 測定項目 要求事項
段階 又は 規格群 関連 呼称 JIS C 5402
表題 試験番号 箇条 又は 規格群
表題 試験番号
C1 温度上 5a 7.8 かん合された試料 6.18,6.19
昇 仕様の上限温度は超
えてはならない。
――――― [JIS E 5021 pdf 24] ―――――
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E 5021 : 2020
表8−環境試験 グループD
1 2 3 4 5 6 7 8
試験 呼称又は JIS C 5402 試験 厳しさ又は条件 測定項目 要求事項
段階 表題 規格群 関連 呼称 JIS C 5402
試験番号 箇条 又は 規格群
表題 試験番号
D1 初期測定 かん合された試料 接触抵 2a又は2b その後の測定のため
抗
試験電流 : 1 A又は定格電流 の基準値。
測定点 : 終端部の末端a)
試料当たり,最大3か所に
加え,保護接地コンタクト
(ある場合)
D2 低温時 11j 6.18 かん合された試料 6.7
試験温度 : 目視検 1a 通常の使用を阻害す
試料試験の仕様の下限温度査 る損傷があってはな
期間 : 2時間 らない。
D3 乾燥高温 11i 6.18 かん合された試料 6.7
時 試験温度 : 目視検 1a 通常の使用を阻害す
試料試験の仕様の上限温度査 る損傷があってはな
期間 : 7日間 らない。
D4 腐食性混 11g 7.14 試験1−かん合された試料 6.20
合ガス
代案 : 11f 7.14 試験2−かん合された試料 目視検 1a 通常の使用を阻害す
塩水噴霧 査 る損傷があってはな
試験 らない。
D5 最終測定 試験段階D1と同一条件。 接触抵 2a又は2b 初期接触抵抗が10
抗 m以下の場合 :
許容する最大上昇
は,50 %とする。
初期接触抵抗が10
mを超える場合 :
許容する最大上昇
は,5 mとする。
受渡当事者間の協定
によって,より高い
値が許容される。
D6 耐電圧試 7.12 かん合された試料 a) イ IEC 6.12
験 a)又は コンタクト/コンタクト間ンパル 62497-1 絶縁破壊又はフラッ
b) コンタクト/接地間b) ス耐電 :2010の5.3 シュオーバがあって
圧 又はJIS C はならない。
60664-1
表14による試験電圧(イン b) 耐 4a
パルス耐電圧試験又は商用 電圧
周波数耐電圧試験)を適用
する。
注a) 測定点 : 可能な限り終端に近い導体とする。これが不可能な場合は,導体抵抗は再計算する。
b) 非通電金属部品(例えば,固定器具/ハウジング/アクセス可能な表面)の接地。
――――― [JIS E 5021 pdf 25] ―――――
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