JIS K 7142:2014 プラスチック―屈折率の求め方

                                                                                   K 7142 : 2014

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 装置及び試薬・・・・[3]
•  4.1 A法・・・・[3]
•  4.2 B法・・・・[4]
•  5 試験片及び試料・・・・[5]
•  5.1 A法・・・・[5]
•  5.2 B法・・・・[6]
•  5.3 試料及び測定の数・・・・[6]
•  6 状態調節・・・・[6]
•  7 手順・・・・[6]
•  7.1 A法・・・・[6]
•  7.2 B法・・・・[13]
•  8 精度・・・・[14]
•  9 試験報告書・・・・[15]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[16]

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K 7142 : 2014

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,日本プラスチック
工業連盟(JPIF)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改
正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)であ
る。
  これによって,JIS K 7142:2008は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              K 7142 : 2014

プラスチック−屈折率の求め方

Plastics-Determination of refractive index

序文

  この規格は,1999年に第2版として発行されたISO 489を基とし,技術的内容を変更して作成した日本
工業規格である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,次の二つの方法によるプラスチックの屈折率の求め方について規定する。
− A法 : 成形品,キャストシート若しくは押出シート,又はフィルムの屈折率を屈折率計によって測定
    する方法。等方性の透明,半透明,着色又は不透明材料だけでなく異方性材料にも適用できる。この
    方法は高い精確さを要求する場合に用いるのがよい。また,任意の波長における屈折率,主分散及び
    アッベ数の測定にも適用できる。粉体又は粒状の材料には適用できない。
− B法 : 粉体又は粒状の透明材料の屈折率を顕微鏡による液浸法(ベッケ線現象を利用)によって測定
    する方法。色分散による影響を避けるために一般的に単色光を用いる。この方法の精確さはA法とほ
    とんど同じである。等方性の半透明及び着色材料にも適用できるが不透明材料及び異方性材料には適
    用できない。
    注記1 屈折率は,純度及び組成の検査,材料の同定並びに光学部品の設計に使用できる基本的な性
            質である。温度による屈折率の変化は,材料の転移点を示す場合がある。
    注記2 B法の精確さは,熟練測定者が注意深くこの方法を用いる場合は,ほぼA法と同じである。
    注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            ISO 489:1999,Plastics−Determination of refractive index(MOD)
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS K 7100 プラスチック−状態調節及び試験のための標準雰囲気
      注記 対応国際規格 : ISO 291:1997,Plastics−Standard atmospheres for conditioning and testing(MOD)
    JIS Z 8402-1 測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)−第1部 : 一般的な原理及び定義
      注記 対応国際規格 : ISO 5725-1:1994,Accuracy (trueness and precision)   f measurement methods and

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K 7142 : 2014
             results−Part 1: General principles and definitions(IDT)
    JIS Z 8402-2 測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)−第2部 : 標準測定方法の併行精度及
        び再現精度を求めるための基本的方法
      注記 対応国際規格 : ISO 5725-2:1994,Accuracy (trueness and precision)   f measurement methods and
             results−Part 2: Basic method for the determination of repeatability and reproducibility of a standard
             measurement method(IDT)
    JIS Z 8402-3 測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)−第3部 : 標準測定方法の中間精度
      注記 対応国際規格 : ISO 5725-3:1994,Accuracy (trueness and precision)   f measurement methods and
             results−Part 3: Intermediate measures of the precision of a standard measurement method(IDT)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
屈折率
  光が空気中からある物質中に進むとき,その界面で生じる屈折現象における入射角αの正弦と屈折角β
の正弦との比。
  温度と測定波長とを添える表記では,温度を上に,波長を下に添える。波長は記号の場合と数値の場合
とがある。例  nD23
    注記 近年,光学的な基準波長としては,ヘリウムのd線(587.56 nm)が採用されているが,アッベ
          屈折計を用いた屈折率の測定においては,以前よりナトリウムのD線(589 nm)が用いられて
          いる。
3.2
色消し装置
  屈折によって波長分散した光を,ナトリウムスペクトルD線(589 nm)の進む方向に一致するように補
正できるプリズムを含む装置。
3.3
色消しつまみ
  色消し装置を機能させるための回転つまみ。
3.4
白色光源
  規定の電圧で点灯する白熱電球。
3.5
発光ダイオード(LED光源)
  二つの半導体の接触面(pn接合)付近での電子と正孔との再結合によって発生する光を利用する発光素
子。略してLEDともいう。白色又は特定の波長領域の光を発光するものがある。
3.6
干渉フィルタ
  光の波長程度の厚さの透明薄膜で生じる干渉を利用して特定の波長領域の光を透過又は反射させるフィ
ルタ。バンドパスフィルタともいう。

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                                                                                   K 7142 : 2014
3.7
複屈折
  プラスチック,特に延伸したフィルムなどのような異方性のある物質に光を投射したとき,その方向に
よって異なった屈折率を示す現象。
3.8
アッベ数 ν
  屈折率の波長による変化である色分散に関する性質を規定する量。次の式によって表される。
                        νd=(nd−1)/(nF−nC)
                        νe=(ne−1)/(nF'−nC')
                        νD=(nD−1)/(nF−nC)
                      ここに, nd,nF及びnC :  それぞれヘリウムのd線(587.56 nm),水素のF線
                                              (486.13 nm)及びC線(656.27 nm)の波長に対する
                                              屈折率。
                               ne,nF'及びnC' :  それぞれ水銀のe線(546.07 nm),カドミウムのF' 線
                                              (479.99 nm)及びC' 線(643.85 nm)の波長に対する
                                              屈折率。
                               nD,nF及びnC :  それぞれナトリウムのD線(589 nm),水素のF線
                                              (486.13 nm)及びC線(656.27 nm)の波長に対する
                                              屈折率。
    注記 現在,光学的な基準波長は,d線が一般的であるが,アッベ屈折計を用いた屈折率の測定にお
          いては,従来,D線が用いられ,アッベ数もνDが用いられている。d線とD線との波長の差異
          は2 nmなので,屈折率及びアッベ数の差異は僅かである。
3.9
主分散
  F線及びC線の波長に対応する屈折率差nF−nC又はF' 線及びC' 線の波長に対する屈折率差nF'−nC'。
3.10
接触液
  試験片と主プリズム面とを接触させたとき,それらの間に生じる空気の層を取り除き,その両者を密着
させるために用いる液体。中間液ともいう。
3.11
浸液
  粉末状などの試料を浸せき(漬)して,顕微鏡でベッケ線を確認するために用いる液体。

4 装置及び試薬

4.1 A法

4.1.1  屈折計 アッベ屈折計,多波長アッベ屈折計及びこれらと同等の性能をもつ屈折計を用いる。いず
れも屈折率の測定範囲が,1.3001.870の特定範囲で,0.001の精確さをもつものでなければならない。ま
た,試験片及びプリズムのための温度調節装置(4.1.4参照)を備えていなければならない。
  アッベ屈折計及び多波長アッベ屈折計は,校正されていなければならない。校正は,JCSS校正証明付き
の固体屈折率標準などを用いて行う。
    注記 アッベ屈折計及び多波長アッベ屈折計の測定範囲は,機種によって1.300 01.700 0,1.470 0
          1.870 0などがある。

――――― [JIS K 7142 pdf 5] ―――――

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