JIS X 7779:2012 音響―情報技術装置から放射される空気伝搬騒音の測定 | ページ 8

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                                          附属書A
                                          (規定)
                                    試験用アクセサリ
A.1 標準試験卓
  標準試験卓の設計図を図A.1として示す。卓の上面は,厚さ0.04 m0.10 mの積層接着木材とし,最小
面積0.5 m2,幅0.70 m0.75 mとする。卓の高さは,0.75 m ± 0.03 mとする。プリンタが底面から給紙で
きるようにするために,卓の上面に切り欠き孔を設けてもよい。ほとんどのプリンタにおいて,切り欠き
孔の寸法は,0.015 m × 0.400 mが実用的であることが分かっている。
                                                                                         単位m
                                                0.75
                 0
                 4
                1
                0
                .
                .
               0
               0
                  1
                                                                             07
                                                                              .5
                  2
  1 脚と添え木とを接着し,ボルト締めする。
  2 防振パッド
                                       図A.1−標準試験卓
A.2 タイピングロボット
    注記 ECMA-74に規定する機器カテゴリ(例えば,タイプライタ)では,キーボード入力を模擬す
          るタイピングロボットの利用を推奨しており,その技術仕様はこの後に規定するものと同じで
          ある。
  タイピングロボットは,この規格に規定するとおりにキーボードを操作させることができるように設計

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X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
されていなければならない。ここに示すロボットは,8本のソレノイドをもち,その各々がキーボードの
選択したキーを操作できるように微調整可能となっている。
  タイピングロボットの要件は,次のとおりとする。
a) ロボットによる騒音は,この規格の暗騒音の要件を満たさなければならない。
b) ソレノイドプランジャのストロークは,その上端位置においてキーの上面から離れていなければなら
    ず,かつ,キーを停止位置まで押し下げることができなければならない。タイプライタを含む多くの
    種類(タイプ)のキーボードにおいて,全ストロークは,6 mm7 mmがよい。
c) 電気入力信号は,作用時間50 msのく(矩)形パルスとし,振幅を調整できる。
d) ソレノイドの特性は,図A.2に示すようにキーを押し下げる間はその力が増加する。これに適した設
    計図を図A.3に示す。
e) プランジャの質量は20 g ± 1 gとし,端面は柔らかなものでなければならない(例えば,密封セルフ
    ォーム,40 Shore A)。
  1回のキー操作は,図A.4に示すとおり,次の3ステップからなる。
a) ホームポジション
      プランジャは,キーの上に柔らかい端面で接し,自重をあずけている。
b) キー入力
      ソレノイドによって駆動されると,プランジャは停止位置(he)に達するまでキーを押し下げる。
    ソレノイドを微調整してプランジャとキーとの隙間が1 mmになるようにするとよい。プランジャの
    上側に適切な目印を付けておけば,この微調整に便利であろう。
c) キーの戻り
      プランジャはキーのばねの力だけによって押し戻される。プランジャが押し戻されてとまる側の終
    端は柔軟性のあるものとし,オーバーシュートは最大0.5 mmでなければならない。その後,ホーム
    ポジションに戻り,キーに接した状態となる。
      注記 この仕様は,参考文献 [7] に記載されたロボットの設計に基づいている。
                                 F
                            単位 N
F   磁気力
h   ストローク高さ
ha ホーム位置
he 停止位置                                                                       h
                                         he                  ha                単位 mm
                  図A.2−ストローク4 mmのプランジャに対するソレノイドの特性

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                                    図A.3−ソレノイドの断面
         6
         4
                                                                            0.5
     a) ステップ1−ホームポジション    b) ステップ2−キー入力     c) ステップ3−キーの戻り
                              図A.4−ソレノイドの動きの各ステップ

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X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
                                          附属書B
                                          (規定)
                                          測定表面
B.1 半球測定表面
  マイクロホンの配置,半球測定表面の形状及びマイクロホンの配列に関する要件は,ISO 3744によるが,
次の追加条件によって補う。
a) 固定のマイクロホンを用いる場合,全ての音源に対し,離散周波数音を発する音源のためのマイクロ
    ホンの位置としてISO 3744に規定するものを用いる。その配列の座標を表B.1として再掲する。
b)   SO 3744に規定する同心円状の移動経路による配置を用いる場合,最低でも10種類の高さを用いる
    のが望ましい。
  これら以外に認められるものとしては,ISO 3745の該当する附属書に記載するものがある。
                表B.1−離散周波数音を発する機器に対するマイクロホンの位置の座標
                           位置        x/r          y/r         z/r
                            1          0.16           0.96      0.22
                            2          0.78           0.60      0.20
                            3          0.78         0.55        0.31
                            4          0.16         0.90        0.41
                            5             0.83      0.32        0.45
                            6             0.83         0.40     0.38
                            7             0.26         0.65     0.71
                            8          0.74            0.07     0.67
                            9             0.26      0.50        0.83
                            10         0.10            0.10     0.99
  この規格では,非常に低いレベルの騒音を発する機器に対しては,(ISO 3744に規定する)特性音源寸
法の2倍以上とすることを条件に,半径が0.5 m以上1 m未満の半球測定表面を用いることを認めている。
半径が1 m未満になると,対象周波数範囲の下限は上昇する。近接音場の影響を最小にするためには(対
象下限周波数の音の一波長の4分の1が必要であるため),半径0.5 mでは,下限周波数がおよそ172 Hz
になる。追加の情報については,参考文献 [8],[9] 及び [10] に示す。
B.2 円筒測定表面
B.2.1 一般事項
  円筒の側面及び上面に沿ってマイクロホンを配置した,円筒測定表面を図B.1に示す。基準箱の底面の
中心と円筒の底面の中心とが一致するように,基準箱を中心にして円筒を配置する。基準箱の寸法l1,l2
及びl3と円筒に対する基準距離d1,d2及びd3とが示されている。この規格では,寸法のラベルは,l1  l2
となるように割り振る。
B.2.2 円筒測定表面の大きさの選択
  マイクロホンの位置は,音源を包む仮想的な円筒面上にあり,この測定表面の総面積Sは,式(B.1)で与
えられる上部の円形面の面積Stopと,式(B.2)で与えられる垂直な側面の面積Ssideとの和に等しい。

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                        Stop = πR2  (B.1)
                        Sside = 2    刀             (B.2)
                      ここに, Rは,円筒の半径であり,次のとおりに与えられる。
                            l1      l2
                         R     d1      d2  (B.3)
                            2       2
                                hは,円筒の高さであり,次のとおりに与えられる。
                        h = l3                      (B.4)
  マイクロホンの配置は,面積の異なる部分面積に関連づけられているため,d3及びd1は共に,試験対象
機械の大きさ,その他の点を考慮に入れて任意に選択することができる。できれば,両者(d3及びd1)を
同じ値,1 mに設定するのが望ましいが,0.5 m未満であってはならない。さらに,d1,d2又はd3のいずれ
かが,他のものの1.5倍を超えてはならない(例えば,d1及びd2に対し,d1  l1    l2場合,この条件を満足
できるであろう。)。d3及びd1が選択されると,h及びRが定義され,d2は,次のとおりになる。
                                l2
                         d2 R       (B.5)
                                2
  l1及びl2が同じで,物理的に大きな機械のような場合,たとえ,前述の拘束条件を満足していたとして
も,移動中,側面のマイクロホンが機械に近すぎるところを通過することがあり得る。このような状況に
おいては,基準箱のどの角からも側面のマイクロホンが0.25 mよりも大きく離れるように半径Rを十分大
きくしなければならない。
B.2.3 円筒測定表面上のマイクロホンの位置の選択
  円筒測定表面上のマイクロホンは,後述のとおり,面積が等しくない部分面積に関連づけられている。
マイクロホンを,連続した軌道(円形の移動経路)に沿って用いることを強く推奨する。しかし,円形の
経路上で標本化を行うために固定のマイクロホンの位置を用いる場合,少なくとも12等分した角度位置
(すなわち,30度かそれよりも狭い間隔)を用いる。このような経路を実現するには,音源を静止させた
ままマイクロホンを回転させても,マイクロホンを静止させたまま音源を回転させても,いずれでもよい。
  次の要件を満足することによって,側面のマイクロホンの数Nside,上面のマイクロホンの位置の数Ntop
及び対応する部分面積が決まる。
a)   side  h / h0(ここに,h0は間隔を0.5 m以下に制限し,垂直方向の標本化を均等にするため0.5 mに設
    定されている。)
b) 少なくとも,Nside 4
c)   top  R / R0(ここに,R0は間隔を0.5 m以下に制限し,円周方向の標本化を均等にするため0.5 mに設
    定されている。)
d) 少なくとも,Ntop 2
  側面のマイクロホンは,等しい部分面積,Siに関連づけられており,ここにSi = Sside / Nsideとし,i番目の
マイクロホンは,床から次の式で与えられるhiの高さにある。
                            (i 1/2)   h
                        hi            (B.6)
                              Nside
  側面上の空間・時間平均音圧レベル L,p side
                                         は,次のとおりとする。
                                           Nside
                                        1      0.1Lp, side, i
                         Lp, side
                               10 log10      10        dB  (B.7)
                                      Nsidei1

――――― [JIS X 7779 pdf 40] ―――――

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