JIS X 7779:2012 音響―情報技術装置から放射される空気伝搬騒音の測定 | ページ 9

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X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
                      ここに,      Lp,side,i :  側面上のi番目のマイクロホンの経路又はマイクロホン
                                             の位置で測定した周波数バンドの時間平均音圧レベル
                                             (単位はデシベル)
  上面のマイクロホンは,面積の等しくない部分面積Sjに関連づけられており,上面の半径方向に沿って
等間隔に配置されている。j番目の部分面積の外径はRj = jR / Ntopとし,上部のマイクロホンについては次
のとおりとする。
                                               Rj  Rj 1
                        j >1に対して, rj Rj 1           (B.8A)
                                                  2
                        j = 1に対して, r1R1 2  (B.8B)
  上面上の空間・時間平均音圧レベル,Lp, topは,次のとおりとする。
                                          Ntop
                                       1         1.0Lp, top, j
                               10 log10
                         Lp, top             Sj10       dB  (B.9)
                                      Stopj1
                      ここに,      Lp,top,i :  側面上のj番目のマイクロホン経路又はj番目のマイク
                                             ロホンの位置で測定した周波数バンドの時間平均音圧
                                             レベル(dB)
                                             2    2
                        j >1に対して, Sj π Rj Rj 1  (B.10A)
                                             2
                        j = 1に対して, S1πR1  (B.10B)
  図B.2に,垂直な側面に対して5本,上面に4本のマイクロホンを配した円筒マイクロホン配列の例を
示す。
B.2.4 円筒測定表面上での空間・時間平均音圧レベルの計算
  試験対象機器の選択された作動モードに対する,円筒測定表面上での空間・時間平均音圧レベルは,次
のように与えられる。
                                    1       Lp, top   Lp, side
                         Lp  10 log10  Stop 10   Sside 10    dB  (B.11)
                                    S
  ここにS = Stop              椀   L,p 
                                      top
                                             さらに,
                                             Lp, side 及び   は,式(B.9)及び式(B.7)でそれぞれ与えられる。
    注記1 量 Lは,ISO
                p       3744における量   L と同等である。すなわち,この量とは,表面時間平均
                                          ,p (ST)
            音圧レベルの計算に先立ち,暗騒音及び試験環境に対して,後続の過程において補正される
            ものである。
    注記2 円筒測定表面に関する詳細については,参考文献 [11],[12] 及び [13] に示す。

――――― [JIS X 7779 pdf 41] ―――――

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                  4
                  3
                  2
                  1
                                            11     10
  16        側面のマイクロホン経路
  79        上面のマイクロホン経路
  10        基準箱
  11        反射面
           円筒に対する基準距離
  d1,d2,d3
  h         円筒の高さ
  l1,l2,l3基準箱の寸法
  R         円筒の半径
        図B.1−例1 側面のマイクロホン6本及び上面のマイクロホン3本によって構成される
            円筒状の移動マイクロホン経路をもつ円筒測定表面及び円筒マイクロホン配列

――――― [JIS X 7779 pdf 42] ―――――

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X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
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                                   3                                     2
                                                                                          h5
                                                                                           /   h/5
                                                                                h
                 5
                                                                                      5
                 /
                                                                                      /
              5h
                                                                                     h
                 5h 5
                    /
             4.
                         5
                 .
                                                                                 5
                         /
                                                                                 /
                      5h
                3
                                                                                h
                            5
                      .
                         5h /
                     2
                                                                            5
                                                                            /
                         .
                                                                           h
                        1
                             0
                             05h
                              .
                              5R
                              .  5
                                 /
                                 4
                                 /
                                                                                          /4
                            4
                                                                                      4R R
                         5R /
                     5R 4
                        /
                         .
                     4
                                                                                      /
                     /
                                                                                      4
                        1
                     .
                                                                                    R/
                  5R
                                                                                 4R
                    2
                                                                                R
                 3.
                                                                           R/4  R/
  1 マイクロホン移動装置の回転軸
  2 円筒の対応面積の寸法
  3 マイクロホン移動経路の位置
  h  円筒の高さ
  R 円筒の半径
        図B.2−例2 側面のマイクロホン5本及び上面のマイクロホン4本によって構成される
              円筒状の移動マイクロホン経路をもつ円筒測定表面及びマイクロホン配列

――――― [JIS X 7779 pdf 43] ―――――

                                                                                             41
                                                                    X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
                                          附属書C
                                          (規定)
               特定カテゴリの機器のための設置条件及び作動条件
  この附属書は,その詳細を規定したECMA-74を引用することによって,多くの種類の特定カテゴリの
機器に対する設置及び作動条件を規定する。
  この規格に適合するためには,試験中の機器は,その諸条件を満足しなければならない。適用可能な場
合,ECMA-74に規定する条件は,その機器の平均的な使用条件を代表するものと考えることができる。
これらの条件は,試験対象機器の操作を容易にすると同時に,騒音測定の信頼性を向上させることを視野
に入れて規定されている。
  ECMA-74に規定する全ての要件(同文書中の他の部分及び他の文書への引用を含む。)も,この規格に
適合するための必須要件とする。ただし,ECMA-74でのECMA-108 [5] 及びECMA-109 [6] の引用は,それ
ぞれISO 9295及びJIS X 7778に置き換える。
  ECMA-74に規定されていないカテゴリの機器に対しては,試験報告書に実際に使われた試験条件を記
載するとともに,なぜ,そのような条件としたかの理由付けをしなければならない。試験モード及び製品
の作動がECMA-74によるものである場合,ECMA-74の日付及び版の両方を試験報告書に含めなければ
ならない。

――――― [JIS X 7779 pdf 44] ―――――

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X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
                                          附属書D
                                          (参考)
                         顕著な離散周波数音の特定及び評価
D.1 適用範囲
  この附属書では,騒音放射中に顕著な離散周波数音を含むかどうかを決定するための二つの方法として
Tone-to-Noise Ratio method及びProminence Ratio method(以下,TNR法及びPR法という。)を示す。
  中心周波数100 Hz10 000 Hzの1/3オクターブバンドの範囲内の任意の周波数(すなわち,89.1 Hz以
上,11 220 Hz以下)の離散周波数音を,この附属書の手順によって評価できる。
  試験環境に関する要件(8.3)を全て満足しなければならない。ただし,この附属書においては,暗騒音
補正値K1及び環境補正値K2は適用しない。
    注記1 ある種の情報技術装置は16 kHzのオクターブバンド内に離散周波数音を発することがあり,
            試みとして,その相対的なレベルを定量化するためにこの附属書の手順に従ってtone-to-noise
            ratio及びprominence ratio(以下,TNR及びPRという。)を計算することは可能ではある。
            しかし,そのような高周波の離散周波数音に関し,頼るべき心理音響学的データがないため,
            D.9.5又はD.10.6による顕著な離散周波数音の規準(criteria)を適用することはできない。
  製品からの騒音放射に関する情報をJIS X 7778に従い表示する場合,同規格では,製品の騒音放射中の
顕著な離散周波数音の有無に言及することを任意選択項目としているが,言及するときには,この附属書
に従って決定することとしている。他の規格,又は情報技術装置以外の製品のための試験規程が,顕著な
離散周波数音の有無に関する表示を目的として,この附属書を引用することも考えられる。そのような表
示の場合,その規格又は試験規程内に特に規定がない限り,TNR法又はPR法のどちらを使ってもよい。
    注記2 TNR法は,例えば,強い高調波成分を含むときのように,隣接する臨界帯域内に複数の離散
            周波数音が存在するような場合,より正確なものとなる。PR法は,同じ臨界帯域内に含まれ
            る複数の離散周波数音に対し,より効果的であり,また,そのような状況を扱うのに容易に
            自動化することができる。
D.2 附属書の位置づけ
  この附属書は参考ではあるが,この手順が他の規格又は試験規定によって規定要素として引用された場
合に満足しなければならない要件を含んでいる。そのような要件は,一般に,“しなければならない(原
文においてはshall)”のような命令調の言葉を用いることで識別される。
D.3 心理音響学的な背景
  広帯域騒音(broad-band noise)の中に含まれる離散周波数音(discrete tone)は,その離散周波数音の周
波数を中心とする,臨界帯域(critical band)と呼ばれる比較的狭い周波数帯域の内側に含まれている,そ
の離散周波数音以外の成分によって部分的にマスクされる。臨界帯域の外側の周波数のノイズ成分は,こ
のマスキング効果にほとんど寄与しない。臨界帯域の幅は,周波数の関数として数式で表現することがで
きる(D.8参照)。一般に,離散周波数音は,その周波数を中心とする臨界帯域内に含まれるマスキングノ
イズの音圧レベルに比べて,約4 dB[周波数に依存して2 dB6 dB,参考文献 [14] 参照]低い時点で,
ちょうど聴こえるようになる(just audible)。これを検出のしきい(閾)値(threshold of detectability)と呼

――――― [JIS X 7779 pdf 45] ―――――

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