JIS Z 4343:2015 体内放射能測定装置―γ線放出核種（エネルギー１００ｋｅＶ以上３　０００ｋｅＶ以下） | ページ 7

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    Z 4343 : 2015
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                                                                                                                                                  2
     (I)   JISの規定                      (II)  (III)国際規格の規定                                                (V)   JISと国際規格との技術的差
                                                                        (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
                                                                                                                                                 3
                                       国際                             の評価及びその内容                      異の理由及び今後の対策
                                                                                                                                                  43
                                       規格
                                                                                                                                                     : 2
      箇条番号          内容                  箇条         内容         箇条ごと        技術的差異の内容
                                       番号
                                                                                                                                                      0
      及び題名                                番号                      の評価
                                                                                                                                                        15
     7 試験     7.2.13 安定性試験            9.4.12 24時間連続,1時間間 追加     24時間連続,1時間間隔で測定及び技術的な差異はない。
     (続き)   24時間連続,1時間間隔               隔で測定及び記録を行         記録を行うが,連続の試験が困難な
                で測定及び記録を行う                う。                         場合は1時間以上の間隔で24回以
                が,1時間以上の間隔で                                            上の測定としてもよい。
                24回以上の測定としても
                よい。
                7.2.15 静電気放電イミュ      9.5.2.1 分割試験の規定なし。 追加   大きさ等の理由で装置全体での試 技術的な差異はない。
                ニティ特性試験                                                   験が困難な場合は,検出部・計測部
                装置が大きい場合は分割                                           等に限定して試験してもよいこと
                しての試験でもよい。                                             を追加。
                7.2.16 放射無線周波電磁      9.5.2.2 分割試験の規定なし。 追加   大きさ等の理由で装置全体での試 技術的な差異はない。
                界イミュニティ特性試験                                           験が困難な場合は,検出部・計測部
                装置が大きい場合は分割                                           等に限定して試験してもよいこと
                しての試験でもよい。                                             を追加。
                7.2.17 サージ及びリング                                 追加
                                             9.5.2.3 分割試験及び値を取る        大きさ等の理由で装置全体での試 技術的な差異はない。
                波イミュニティ特性試験              手順の規定なし。             験が困難な場合は,検出部・計測部
                装置が大きい場合は分割                                           等に限定して試験してもよいこと
                しての試験でもよい。                                             を追加。ファントム等を設置して測
                値を取る手順を明記。                                             定を行い,値を得る手順を追加。
                7.2.18無線周波電磁界に                                  追加
                                             9.5.2.4 分割試験及び値を取る        大きさ等の理由で装置全体での試 技術的な差異はない。
                よって誘導する伝導妨害              手順の規定なし。             験が困難な場合は,検出部・計測部
                に対するイミュニティ特                                           等に限定して試験してもよいこと
                性試験                                                           を追加。ファントム等を設置して測
                装置が大きい場合は分割                                           定を行い,値を得る手順を追加。
                しての試験でもよい。
                値を取る手順を明記。
                7.2.19 温度特性試験          9.5.3.2 用いる線源の核種とし
                                                                        変更     100500 keV,5001 500 keV及び   国内では228Th線源の入手は困難
                照射するγ線をエネルギ              て228Thを規定。              1 5003 000 keVのピークを用いる なため。技術的な差異はない。
                ー範囲で規定                                                     旨規定。

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                                                                                                                                          29
                                                                                                                                 Z 4343 : 2015
     (I)   JISの規定                      (II)  (III)国際規格の規定                                                (V)   JISと国際規格との技術的差
                                                                        (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
                                       国際                             の評価及びその内容                      異の理由及び今後の対策
                                       規格
      箇条番号          内容                  箇条         内容         箇条ごと        技術的差異の内容
                                       番号
      及び題名                                番号                      の評価
     7 試験     7.2.20 湿度特性試験          9.5.4  分割試験及び値を取る追加     大きさ等の理由で装置全体での試 技術的な差異はない。
     (続き)   装置が大きい場合は分割              手順の規定なし。             験が困難な場合は,検出部・計測部
                しての試験でもよい。                                             等に限定して試験してもよいこと
                値を取る手順を明記。                                             を追加。ファントム等を設置して測
                                                                                 定を行い,値を得る手順を追加。
                7.2.21 外部磁界特性試験      9.5.5  分割試験の規定なし。 追加    大きさ等の理由で装置全体での試 技術的な差異はない。
                装置が大きい場合は分割                                           験が困難な場合は,検出部・計測部
                しての試験でもよい。                                             等に限定して試験してもよいこと
                                                                                 を追加。
                7.2.22 耐温度衝撃試験        B.2.1.3 分割試験の規定なし。 追加   大きさ等の理由で装置全体での試 技術的な差異はない。
                装置が大きい場合は分割                                           験が困難な場合は,検出部・計測部
                しての試験でもよい。                                             等に限定して試験してもよいこと
                                                                                 を追加。
                7.2.23 保管温度試験          B.2.2.1 分割試験の規定なし。 追加   大きさ等の理由で装置全体での試 技術的な差異はない。
                装置が大きい場合は分割                                           験が困難な場合は,検出部・計測部
                しての試験でもよい。                                             等に限定して試験してもよいこと
                                                                                 を追加。
     8 検査     8.1 一般                     3      品質検査,形式検査及変更     JISでは一般的に形式検査と受渡検技術的な差異はない。
                形式検査及び受渡検査を              びルーチン検査の用語         査とするため変更した。
                規定。形式検査は設計段              を定義。
                階で一つ以上の装置に対
                して行う。
                8.2 形式検査                 −             −          追加     JISで規定した項目を記載した。  技術的な差異はない。
                試験項目を規定
                8.3 受渡検査                 −             −          追加     単体ごとの性能の明示が望ましい 技術的な差異はない。
                相対基準誤差,積分非直                                           項目を追加した。
                線性等を実施が望ましい
                                                                                                                                              Z4
                項目として規定。
                                                                                                                                                 34
     9 表示     表示する事項を規定           −             −          追加     表示が必要なため               技術的な差異はない。
                                                                                                                                                   3 : 2
                                                                                                                                                      0 15
                                                                                                                                                  2

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    30
    Z 4343 : 2015
                                                                                                                                              Z4
                                                                                                                                                  2
     (I)   JISの規定                      (II)  (III)国際規格の規定                                                (V)   JISと国際規格との技術的差
                                                                        (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
                                                                                                                                                 3
                                       国際                             の評価及びその内容                      異の理由及び今後の対策
                                                                                                                                                  43
                                       規格
                                                                                                                                                     : 2
      箇条番号          内容                  箇条         内容         箇条ごと        技術的差異の内容
                                       番号
                                                                                                                                                      0
      及び題名                                番号                      の評価
                                                                                                                                                        15
     10 検査報  形式検査報告書は使用者       10.1   使用者の求めに応じ形追加     国内での実情に合わせ受渡検査報 技術的な差異はない。
     告書       の求めに応じて提供す                式検査報告書を提供す         告書を追加。
                る。受渡検査報告書は装              る。
                置ごとに作成し提供す
                る。
     11 取扱説  記載することが望ましい       10.2   証明書として記載すべ変更     国内での実情に合わせ書類名称を 技術的な差異はない。
     明書       項目を規定。                        き項目を規定。               変更。
     JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 61582:2004,MOD
     注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
            − 削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
            − 追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
            − 変更  国際規格の規定内容を変更している。
     注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
            − MOD  国際規格を修正している。