JIS Z 9010:1999 計量値検査のための逐次抜取方式（不適合品パーセント，標準偏差既知）

Z 9010 : 1999 (ISO 8423 : 1991)

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。これによってJIS Z 9010 : 1979は改正され,この規格に置き換えられる。
  今回の改正では,1991年に第1版として発行されたISO 8423を基礎として用いた。
  JIS Z 9010には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定) ISO 3951の1回抜取方式に対応する逐次抜取方式
    附属書B(規定) 逐次抜取方式のパラメータの求め方
    附属書C(規定) OC曲線及び平均サンプルサイズの求め方
    附属書D(参考) 参考文献

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                                                                     Z 9010 : 1999 (ISO 8423 : 1991)

pdf 目次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 総論・・・・[1]
•  1.1 適用範囲・・・・[1]
•  1.2 引用規格・・・・[2]
•  1.3 定義及び記号・・・・[2]
•  1.4 計量値逐次抜取方式の原理・・・・[4]
•  2. 抜取方式の選択・・・・[5]
•  2.1 計量値逐次抜取方式の選択を決めるための因子・・・・[5]
•  2.2 小ロットの検査に対する特別留保・・・・[6]
•  2.3 抜取方式の選定・・・・[7]
•  2.4 実施以前の準備・・・・[8]
•  3. 逐次抜取方式の実施・・・・[14]
•  3.1 抜取方式の指定・・・・[14]
•  3.2 抜取方式の準備・・・・[14]
•  3.3 サンプルの抜取り・・・・[22]
•  3.4 累計余裕値・・・・[22]
•  3.5 合否の判定・・・・[22]
•  3.6 OC曲線及び平均サンプルサイズ・・・・[27]
•  附属書A(規定) ISO 3951の1回抜取方式に対応する逐次抜取方式・・・・[28]
•  附属書B(規定) 逐次抜取方式のパラメータの求め方・・・・[34]
•  附属書C(規定) OC曲線及び平均サンプルサイズの求め方・・・・[36]
•  附属書D(参考) 参考文献・・・・[39]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             Z 9010 : 1999
                                                                             (ISO 8423 : 1991)

計量値検査のための逐次抜取方式(不適合品パーセント,標準偏差既知)

Sequential sampling plans for inspection by variables for percent nonconforming (known standard deviation)

序文

 この規格は,1991年に第1版として発行されたISO 8423, Sequential sampling plans for inspection by
variables for percent nonconforming (known standard deviation) を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更
することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。附属書A中の抜取方式は,原国際規格の改正後追加の予定で
ある。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

1. 総論

1.1 適用範囲

1.1.1  この規格は,離散的アイテム(個数を数えられるもの)の計量値検査のための逐次抜取方式及び抜
取検査手順について規定する。この規格は,JIS Z 9009を補完するものである。この規格の本体中の抜取
方式は,生産者危険点及び消費者危険点を指標としている。
  附属書Aは,JIS Z 9015-1中の抜取システムを補足するためのものであり,合格品質水準 (AQL) を指
標とした逐次抜取方式及び抜取検査手順について規定する。
  この規格の目的は,検査結果の逐次審査のための手順を与えることである。この手順を使用すれば,悪
い品質のロットの不合格という経済的,心理的圧力を通じて,高い合格の確率が得られるような良い品質
のロットの供給という方向へ供給者を誘導することができる。同時に消費者は,悪い品質のロットに対し
ては合格の確率の上限値を規定することによって保護される。
1.1.2  この規格に規定されている抜取方式は,次の条件をすべて満足する場合に使用するように設計され
ている。
a) 検査手順が適用されるのは,離散的アイテムの連続的シリーズのロットで,すべてが同一生産者の同
    一生産工程からのものである。生産者が異なっている場合は,この規格の手順は,各生産者に対して
    個別に適用する。
b) そのアイテムの単一の品質特性値xだけを考える。この特性値は,連続的尺度で測定可能なものとす
    る。複数の特性値が重要な場合は,この規格は適用できない。
c) 生産は,安定しており(ほぼ統計的管理状態にある。),また,品質特性値xは,標準偏差既知であり,
    正規分布又は正規分布にごく近い分布になっている。
d) 契約又は規格で,上側規定限界U,下側規定限界L又はその両方が決まっている。
      上側規定限界U又は下側規定限界Lの片方だけが決まっている場合には,片側規定限界といい,両

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Z 9010 : 1999 (ISO 8423 : 1991)
    方とも決まっている場合には,両側規定限界という。さらに,後者の場合には,各限界に対する危険
    をまとめて考えるか又は個別に考えるかによって,連結式両側規定限界と個別式両側規定限界とに分
    ける(2.3.3参照)。
      品質特性値xの測定値が次の不等式を満足するときには,そのアイテムは不適合品とする。
    − 上側規定限界の場合,x>U
    − 下側規定限界の場合,x    − 両側規定限界の場合,x>U又はx
1.2 引用規格
 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を
構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発行年を付記していない引用規格は,そ
の最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS Z 9015-1 計数値検査のための抜取検査手順 第1部 ロットごとの検査のためのAQL指標型抜
        取検査方式
      備考 ISO/DIS 2859-1.2 : 1997,Sampling procedures for inspection by attributes−Part 1 : Sampling plans
                indexed by acceptable quality level (AQL)   or lot-by-lot inspectionが,この規格と一致してい
                る。
    JIS Z 8101-1 統計−用語と記号−第1部 : 確率及び一般統計用語
      備考 ISO 3534-1 : 1993(1),Statistics−Vocabulary and symbols−Part 1 : Probability and statistical terms
                からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS Z 8101-2 統計−用語と記号−第2部 : 統計的品質管理用語
      備考 ISO 3534-2 : 1993(1),Statistics−Vocabulary and symbols−Part 2 : Statistical quality controlからの
                引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS Z 9009 計数値検査のための逐次抜取方式
      備考 ISO 8422 : 1991,Sequential sampling plans for inspection by attributesが,この規格と一致して
                いる。
    ISO 2854 : 1976 Statistical interpretation of data−Techniques of estimation and tests relating to means and
        variances
    ISO 3951 : 1989 Sampling procedures and charts for inspection by variables for percent nonconforming
1.3 定義及び記号
1.3.1  定義 この規格に対しては,JIS Z 8101-1,JIS Z 8101-2及びISO 3951の定義を適用する。
1.3.1.1                                                       上側規定限界と下側規定限界の両方
         個別式両側規定限界 (separate double specification limits)
が規定されていて,各限界にそれぞれのAQLを規定(又はそれぞれの生産者危険,消費者危険を規定)
する場合に用いる。
    備考1. この用語のISO 3951で与えられた定義に加えて,この規格では上記括弧内の規定内のより広
            い定義が必要である。
    参考 原国際規格にあるこの備考1.の内容は,誤りである。
    注(1)   SO 3534-1及び-2は,原国際規格が発行された時点では未発行であったが,この規格では発行年
          を示した。
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                                                                     Z 9010 : 1999 (ISO 8423 : 1991)
1.3.1.2                                                         上側規定限界と下側規定限界の両
         連結式両側規定限界 (combined double specification limits)
方が規定されていて,両方の限界に対して同じ品質指標(AQL又は生産者危険品質及び消費者危険品質)
が設定されている場合で両方の限界に対する不適合品パーセントを合計したものに適用する(2.3.3参照)。
1.3.1.3  (連結式両側規定限界に対する)限界工程標準偏差 [limiting process standard deviation (for
                                                連結式両側規定限界の場合に逐次抜取検査を適用
combined double specification limits)   ] [LPSD (com.)   ]
できる工程標準偏差の上限。
1.3.1.4  (個別式両側規定限界に対する)最大工程標準偏差 [maximum process standard deviation (for
                                               個別式両側規定限界の場合に合否判定抜取検査を適
separate double specification limits)   ] [MPSD (sep.)   ]
用できる工程標準偏差の上限。
1.3.1.5  累計サンプルサイズ (cumulative sample size) (ncum) ロットからのアイテムの抜取検査を逐次
実施するときに検査した最初のアイテムから最後のアイテムの合計個数。
1.3.1.6                                                         与えられた逐次抜取方式に対して平
         最小審査力品質水準 (least assessable quality level) (LAQ)
均サンプルサイズが最大となるような品質水準。
1.3.1.7  余裕値 (leeway) (y) 一つのアイテムに対する測定値から導かれる量。下側規定限界の場合と両
側規定限界の場合には,余裕値は測定値から下側規定限界を差し引いて求める。上側規定限界の場合には,
余裕値は上側規定限界から測定値を差し引いて求める。
1.3.1.8  累計余裕値 (cumulative leeway) (Y)  ロットからのアイテムの抜取検査を逐次実施するとき,最
初に検査されたアイテムから最後に検査されたアイテムまでの結果までの余裕値の合計。
1.3.1.9                                                                                規定され
         (逐次抜取検査のための)合格判定値 [acceptance value (for sequential sampling)   ] (A)
た抜取方式のパラメータと累計サンプルサイズから導かれる値。累計余裕値を合格判定値と比較して,ロ
ットを合格とするかどうかを判定する。
                                                                                        規定さ
1.3.1.10 (逐次抜取検査のための)不合格判定値 [rejection value (for sequential sampling)   ] (R)
れた抜取方式のパラメータと累計サンプルサイズから導かれる値。累計余裕値を不合格判定値と比較して,
ロットを不合格とするかどうかを判定する。
1.3.2  記号 この規格で用いる記号は,次による。
 A            : 逐次抜取検査の合格判定値
 At           : 累計サンプルサイズの打切り値に対応する合格判定値
 CRQ          : 消費者危険品質(不適合品パーセントで表す。)
 f            : 個別式両側規定限界の場合に,   び(U−L)とともに,合否判定抜取検査の適用の可否を決める係数
               (2.4.3.2参照)
 F            : 標準正規分布関数を示す記号
 g            : 合格判定値及び不合格判定値を決めるために累計サンプルサイズに乗じる係数(合格判定線及び不合
               格判定線の傾き)
 hA           : 合格判定値を決めるために使用する定数(合格判定線の切片)
 hR           : 不合格判定値を決めるために使用する定数(不合格判定線の切片)
 L            : 下側規定限界(パラメータ又は変数の上付添字として使用された場合には,Lに対応することを示す。)
 LAQ          : 最小審査力品質水準(不適合品パーセントで表す。)
 LPSD (com.)  : 連結式両側規定限界に対する限界工程標準偏差
 MPSD (sep.)  : 個別式両側規定限界に対する最大工程標準偏差
 n0           : 対応する一回抜取検査方式のサンプルサイズ
 naV          : 平均サンプルサイズ
 ncum         : 累計サンプルサイズ
 nt           : 累計サンプルサイズの打切り値
 p            : 工程品質水準。(不適合品率で表す。)

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