JIS Z 9009:1999 計数値検査のための逐次抜取方式

Z 9009 : 1999 (ISO 8422 : 1991)

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。これによってJIS Z 9009 : 1962は改正され,この規格に置き換えられる。
  今回の改正では,国際規格に整合させるために,ISO 8422 : 1991を基礎として用いた。
  JIS Z 9009には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定) JIS Z 9015-1の抜取方式に対応する逐次抜取方式
    附属書B(規定) 逐次抜取方式のパラメータの求め方
    附属書C(規定) OC曲線及び平均サンプルサイズの求め方
    附属書D(参考) 参考文献

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                                                                     Z 9009 : 1999 (ISO 8422 : 1991)

pdf 目次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 総論・・・・[1]
•  1.1 適用範囲・・・・[1]
•  1.2 引用規格・・・・[2]
•  1.3 定義及び記号・・・・[2]
•  1.4 計数逐次抜取方式の原理・・・・[4]
•  2. 抜取方式の選択・・・・[4]
•  2.1 逐次,1回,2回及び多回抜取方式の選択・・・・[4]
•  2.2 小ロットの検査に対する特別留保・・・・[5]
•  2.3 抜取方式の選定・・・・[5]
•  2.4 実施以前の準備・・・・[6]
•  3. 逐次抜取方式の実施・・・・[10]
•  3.1 抜取方式の指定・・・・[10]
•  3.2 サンプルの抜取り・・・・[10]
•  3.3 累計カウント・・・・[10]
•  3.4 合否の判定・・・・[10]
•  3.5 OC曲線及び平均サンプルサイズ・・・・[12]
•  3.6 近似の有効性・・・・[12]
•  附属書A(規定) JIS Z 9015-1の抜取方式に対応する逐次抜取方式・・・・[18]
•  附属書B(規定) 逐次抜取方式のパラメータの求め方・・・・[39]
•  附属書C(規定) OC曲線及び平均サンプルサイズの求め方・・・・[41]
•  附属書D(参考) 参考文献・・・・[46]

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――――― [JIS Z 9009 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                            Z 9009 : 1999
                                                                             (ISO 8422 : 1991)

計数値検査のための逐次抜取方式

Sequential sampling plans for inspection by attributes

序文

 この規格は,1991年に第1版として発行されたISO 8422, Sequential sampling plans for inspection by
attributesと1993年に発行されたTechnical Corrigendum 1に従って修正したものを翻訳し,技術的内容及び
規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

1. 総論

1.1 適用範囲

1.1.1  この規格は,離散的アイテム(個数を数えられるもの)の計数値検査のための逐次抜取方式及び抜
取検査手順について規定する。
  この規格の本文中の抜取方式は,生産者危険点及び消費者危険点を指標としている。
  附属書Aは,JIS Z 9015-1中の抜取検査システムを補足するためのものであり,AQL(合格品質水準)
を指標とした逐次抜取方式及び抜取検査手順について規定する。
  この規格の目的は,検査結果の逐次審査のための手順を与えることであって,この手順を使用すれば,
悪い品質のロットの不合格という経済的,心理的圧力を通じて,高い合格の確率が得られるような良い品
質のロットの供給という方向へ供給者を誘導することができる。同時に消費者は,悪い品質のロットに対
しては,合格の確率の上限値を規定することによって保護される。
1.1.2  この規格に設定されている抜取方式は,これらに限定されるものではないが,次のような様々な分
野の検査に適用できる。
  − 最終アイテム
  − 部分品及び原材料
  − 作業(オペレーション)
  − 工程中の資材
  − 保管中の補給品
  − 保全操作
  − データ又は記録
  − 管理手続
  この規格は,個数を数えられるアイテムの計数値抜取検査のための抜取方式を含んでいる。この抜取方
式は,不適合の程度が不適合品率(又は不適合品パーセント)又はアイテム当たり(又は100アイテム当
たり)の不適合数で表される場合に使用できる。

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2
Z 9009 : 1999 (ISO 8422 : 1991)
  この抜取方式は,不適合がランダムに,また,統計的には独立に発生するという仮定に基づいている。
あるアイテム中の一つの不適合の原因が他の不適合をも起こし得るという疑いをもつ十分な理由があるこ
ともある。このような場合には,アイテムを単に適合品と不適合品に分けて考え,複数の不適合数は無視
したほうがよいかもしれない。
  附属書Aに示す抜取方式は,本来同一の生産工程からの連続的シリーズのロットに適用することを意図
としている。この規格の本体の抜取方式は,孤立状態のロットの検査にも使用できる。

1.2 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうちで発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構
成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発行年を付記していない引用規格は,その
最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS Z 9015-0 計数値検査に対する抜取検査手順−第0部 : 抜取検査システム序論
      備考 ISO 2859-0 : 1995, Sampling procedures for inspection by attributes−Part 0 : Introduction to the
                ISO 2859 sampling systemからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査のためのAQL指標型抜
        取検査方式
      備考 ISO/DIS 2859-1.2 : 1997, Sampling procedures for inspection by attributes−Part 1 : Sampling
                schemes indexed by acceptable quality level (AQL)   or lot-by-lot inspectionが,この規格と一
                致している。
    JIS Z 8101-1 統計−用語と記号−第1部 : 確率及び一般統計用語
      備考 ISO 3534-1 : 1993(1), Statistics−Vocabulary and symbols−Part 1 : Probability and general
                statistical termsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS Z 8101-2 統計−用語と記号−第2部 統計的品質管理用語
      備考 ISO 3534-2 : 1993(1), Statistics−Vocabulary and symbols−Part 2 : Statistical quality controlからの
                引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    注(1)   SO 3534-1及びISO 3534-2は,原国際規格が発行された時点では未発行であったが,この規格
          では発行年を示した。

1.3 定義及び記号

1.3.1  定義 この規格で用いる主な用語の定義は,次による。これ以外の用語については,JIS Z 9015-1,
JIS Z 8101-1及びJIS Z 8101-2の定義を適用する。参照を容易にするため,一部の用語はこれらの規格か
ら引用してある。また,他の用語は,再定義又は新規に定義してある。
1.3.1.1 累計カウント (cumulative count) (D)ロットからのアイテムの抜取検査を逐次実施するときに,
検査の間に発見した不適合アイテム(又は不適合)の合計個数であり,検査の最初から最終までのアイテ
ムの結果を含む。
1.3.1.2  累計サンプルサイズ (cumulative sample size) (ncum)ロットからの抜取検査を逐次実施すると
きに検査したアイテムの合計個数であり,検査の最初から最終までのアイテムを含む。
1.3.1.3                                                                                規定され
         (逐次抜取検査のための)合格判定値 [acceptance value (for sequential sampling)   ] (A)
た抜取方式のパラメータと累計サンプルサイズとから導かれる値。累計カウントを合格判定個数と比較し
て,ロットを合格とするかどうかを判定する。
    備考1. 計数値抜取方式では,合格判定値は整数であって合格判定個数という。この規格では,合格
            判定個数の用語を使用する。

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                                                                     Z 9009 : 1999 (ISO 8422 : 1991)
    参考 整数に丸める前の値を合格判定値A,整数に丸めた後の値を合格判定個数Acと使い分けるよう
          に改正される予定である。
1.3.1.4                                                                                  規定さ
         (逐次抜取検査のための)不合格判定値 [rejection value (for sequential sampling)   ] (R)
れた抜取方式のパラメータと累計サンプルサイズとから導かれる値。累計カウントを不合格判定個数と比
較して,ロットを不合格とするかどうかを判定する。
    備考2. 計数値抜取方式では,不合格判定値は整数であって,不合格判定個数という。この規格では,
            不合格判定個数の用語を使用する。
    参考 整数に丸める前の値を不合格判定値R,整数に丸めた後の値を不合格判定個数Reと使い分ける
          ように改正される予定である。
1.3.2  記号 この規格で使用する記号は,次による。
     A0 : 対応する一回抜取検査方式の合格判定個数
      A : 逐次抜取検査の合格判定個数
      At : 合格判定個数の打切り値(累計サンプルサイズの打切り値に対応する合格判定個数)
   CRQ : 消費者危険品質(不適合品率で表す。)
           参考   100アイテム当たりの不適合数で表すこともある。
      D : 累計カウント
      g : 合格判定個数及び不合格判定個数を決めるために累計サンプルサイズに乗じる係数(合格判定線
         及び不合格判定線の傾き)
     hA : 合格判定個数を決めるために使用する定数(合格判定線の切片)
     hR : 不合格判定個数を決めるために使用する定数(不合格判定線の切片)
      n0 : 対応する一回抜取検査方式のサンプルサイズ
     nav : 平均サンプルサイズ
    ncum : 累計サンプルサイズ
      nt : 累計サンプルサイズの打切り値
      p : ロット又は工程の品質水準(不適合品率又はアイテム当たりの不適合数で表す。)
         備考3. 不適合品パーセント又は100アイテム当たりの不適合数に直すには,100倍すればよい。
     pA : 生産者危険品質水準p=pAのとき,Pa=1−          
     pR : 消費者危険品質水準p=pRのとき,Pa=   戰     
      Pa : 合格の確率
    PRQ : 生産者危険品質(不適合品率で表す。)
         参考 100アイテム当たりの不適合数で表すこともある。
      R : 逐次抜取検査の不合格判定個数
      Rt : 累計サンプルサイズの打切り値に対応する不合格判定個数
        懿  生産者危険(2)
        拿  消費者危険(2)
             一般的な品質水準に対するOC曲線の近似値を求めるための補助変数(附属書C.2.2参照)
    注(2)   慓   び  戰     次のような検定をしたとき,それぞれ第1種及び第2種の危険率であると考えてよい。
                帰無仮説    H0 : p=pA    対立仮説   H1 : p=pR
    参考 原国際規格の“対立仮説H1 : p=pR”は誤りであり,“対立仮説H1 : p>pA”が正しい。したがっ
                                   ぱ
          て,より正しく表現すると,           説H0 : p=pA,対立仮説H1 : p>pAの検定をしたときの

――――― [JIS Z 9009 pdf 5] ―――――

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