この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序章
この国際規格は、Geometrical Product Specification (GPS) 規格であり、一般的な GPS 規格と見なされます (ISO/TR 14638 を参照)これは、粗さプロファイル、うねりプロファイル、およびプライマリ プロファイルの一連の規格のチェーン リンク 5 に影響を与えます。
この規格と他の規格および GPS マトリックス モデルとの関係の詳細については、附属書 C を参照してください。
ISO 3274:1975 に準拠したプロファイル メーター用のフィルターは、2 つのアナログ RC フィルターの直列接続として実現されました。これにより、プロファイルの遷移でかなりの位相シフトが発生し、非対称プロファイルの歪みが発生しました。パラメータRaとRzに対するこの歪みの影響は、ISO 4288:1985 に準拠したサンプリング長 (カットオフ波長) が使用されている場合、通常は無視できます。したがって、ISO 3274:1975 に準拠したアナログ機器または 2RC フィルターを使用する機器をRaおよびRzの評価に使用することができます (附属書 A を参照)ただし、その他のパラメータについては、歪みが関連しています。
Introduction
This International Standard is a Geometrical Product Specification (GPS) standard and is to be regarded as a General GPS standard (see ISO/TR 14638). It influences chain link 5 of the chain of standards for roughness profile, waviness profile and primary profile.
For more detailed information of the relation of this standard to other standards and the GPS matrix model, see annex C.
Filters for profile meters according to ISO 3274:1975 were realized as a series connection of two analog RC filters. This led to considerable phase shifts in the transition of the profile and therefore to asymmetrical profile distortions. The influence of this distortion on the parameters Ra and Rz are normally negligible if the sampling lengths (cut-off wavelength) according to ISO 4288:1985 are used. Therefore, analog instruments according to ISO 3274:1975 or instruments using 2RC filters may be used for assessment of Ra and Rz (see annex A). However, for other parameters the distortion is relevant.