この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
1 スコープ
この国際規格は、プロファイルと、表面粗さとうねりを測定するための接触 (スタイラス) 機器の一般的な構造を定義し、既存の国際規格を実際のプロファイル評価に適用できるようにします。プロファイル評価に影響を与える機器の特性を指定し、接触 (スタイラス) 機器 (プロファイル メーターとプロファイル レコーダー) の仕様の基本を提供します。
ノート
- 1測定器メーカーが作成する接触 (スタイラス) 測定器の特性を扱うデータシートは準備中であり、校正手順に関する将来の標準に導入される予定です。
- 2うねりカットオフλ f 、先端半径、およびうねりカットオフ比の間の関係は検討中であり、修正としてこの規格に追加されます。
1 Scope
This International Standard defines profiles and the general structure of contact (stylus) instruments for measuring surface roughness and waviness, enabling existing International Standards to be applied to practical profile evaluation. It specifies the properties of the instrument which influence profile evaluation and it provides the basics of the specification of contact (stylus) instruments (profile meter and profile recorder).
NOTES
- 1 A data sheet dealing with characteristics of contact (stylus) instruments to be completed by the instrument makers is under preparation and will be introduced in a future standard on calibration procedures.
- 2 The relationships between the waviness cut-off λf, tip radius and waviness cut-off ratio are under consideration and will be added to this International Standard as an amendment.