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B 7502 : 2016
5.3.2 性能の測定方法
5.3.2.1 測定面の平面度
測定面の平面度の測定方法は,表14による。
表14−測定面の平面度の測定方法
種類 測定方法 図 測定用具
外側マイク 測定面にオプチカルフラット又は JIS B 7430に規
ロメータ, オプチカルパラレルを密着させ,白 定する1級若し
歯厚マイク 色光による赤色干渉しまの数を読み くは2級のオプ
ロメータ, 取る。 チカルフラッ
マイクロメ なお,赤色干渉しまの1本は,0.3 ト又はJIS B
ータヘッド μmとして換算する。 オプチカルフラット 7431に規定す
又は る1級のオプチ
オプチカルパラレル カルパラレル
――――― [JIS B 7502 pdf 21] ―――――
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B 7502 : 2016
5.3.2.2 測定面の平行度
測定面の平行度の測定方法は,表15による。
表15−測定面の平行度の測定方法
種類 測定方法 図 測定用具
外側マイク 方法1 JIS B 7431に規
ロメータ オプチカルパラレル又はオプチカル 定する1級のオ
パラレルとブロックゲージとを組み合 プチカルパラ
わせたものをアンビルの測定面に密着 レル,JIS B
させる(干渉しまは1色又は閉曲線が 7506に規定す
オプチカルパラレル
現れる程度)。マイクロメータの定圧装 る0級若しくは
置を使用して白色光によるスピンドル 1級のブロック
の測定面の赤色干渉しまの数を読み取 ゲージ又はこ
ブロックゲージ
り,平行度とする。スピンドルの整数 れらと同等以
回転の位置だけでなく回転数の端数が 上のゲージ
数分の1回転の倍数となるような複数
箇所について,順次測定を行って得ら
オプチカルパラレル
れた値の最大値を求めることが望まし
い。最大測定長が175 mmを超える場
合は,方法2で測定してもよい。
方法2 JIS B 7506に規
ブロックゲージを両測定面の中央に 定する0級若し
挟み,マイクロメータの定圧装置を使 くは1級のブロ
用してその指示値を読み取る。次にブ ブロックゲージ ックゲージ又
ロックゲージを測定面の四隅に位置す はこれらと同
るように順次挟み,それぞれの指示値 等以上のゲー
を読み取り,その最大差を求める。 ジ
又は,アンビル測定面の中央に最小
測定長相当のブロックゲージを密着さ
せた状態で,そのブロックゲージとス
ピンドル測定面との間に別のブロック
ゲージを,測定面の中央及び四隅に位 測定面
置するように順次挟み,それぞれの指 ×印は測定位置を示す
示値を読み取り,その最大差を求める。
歯厚マイク 任意の長さのブロックゲージを測定 JIS B 7506に規
約 2mm
ロメータ 面の四隅に位置するように順次挟み, 定する0級若し
マイクロメータの定圧装置を使用して くは1級のブロ
それぞれの指示値を読み取り,その最 ックゲージ又
大差を求める。 はこれと同等
又は,アンビル測定面の中央に最小 以上のゲージ
測定長相当のブロックゲージを密着さ
せた状態で,そのブロックゲージとス
ピンドル測定面との間に別のブロック
ブロックゲージ 測定面
ゲージを,測定面の四隅に位置するよ
うに順次挟み,それぞれの指示値を読 ×印は測定位置を示す
み取り,その最大差を求める。
――――― [JIS B 7502 pdf 22] ―――――
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B 7502 : 2016
5.3.2.3 スピンドルの送り誤差
スピンドルの送り誤差の測定方法は,表16による。
表16−スピンドルの送り誤差の測定方法
種類 測定方法 図 測定用具
外側マイク まず,最小測定長相当位置でスピ アンビル保持具 球面アンビル,
ロメータ, ンドルの測定面の中心と球面アンビ ブロックゲージ アンビル保持
内側マイク ルの中心とが接触するようにアンビ 具,JIS B 7506
ロメータ, ル保持具をフレーム(胴体)に固定 に規定する0級
歯厚マイク し,測定力をかけて基点合わせを行 若しくは1級の
ロメータ う。 ブロックゲー
球面アンビル
次に,スピンドル測定面と球面ア ジ又はこれら
ンビルとの間に順次長さの異なるブ 外側マイクロメータの例 と同等以上の
ロックゲージを挟み,測定力をかけ ゲージ
て指示値を読み取る。 マイクロメータブロックゲージ
得られたマイクロメータの指示値
とブロックゲージの寸法との差のう
ち,最大値と最小値との差を求める。
最大測定長が150 mm以下の外側
マイクロメータの場合は,全測定面
接触誤差(表9)のうち最大値と最小 アンビル保持具 球面アンビル
値との差を求めてもよい。 内側マイクロメータの例
マイクロメ 表9の手順で得られた各測定長にお − −
ータヘッド ける全測定面接触誤差のうちの最大
値と最小値との差を求める。
――――― [JIS B 7502 pdf 23] ―――――
22
B 7502 : 2016
5.3.2.4 測定力及び測定力のばらつき
5.3.2.4.1 測定力
測定力の測定方法は,表17による。
表17−測定力の測定方法
種類 測定方法 図 測定用具
外側マイク ロードセル又ははかりを使用す 感度0.2 N以下
ロメータ, る。 のロードセル
歯厚マイク ロードセルを使用する場合,スピ 若しくは目量
ロメータ, ンドルの中心軸にロードセルの中心 ロードセル 20 g以下の上
マイクロメ が位置するように配置する。 皿ばね式指示
ータヘッド はかりを使用する場合,はかりの ばかり又はこ
荷重点とスピンドルの測定面中心と れらと同等の
の間に鋼球を挟み,スピンドルの軸 ブロックゲージ 測定器
が鉛直になり,かつ,はかりの指示
値がゼロになるように両者を配置す
る。
ブロックゲージ
その後,定圧装置を使用して,ロ
ードセル又ははかりの指示値の最大
値を読み取る。
この手順を5回繰り返し,その平
均値を求める。 鋼球
5.3.2.4.2 測定力のばらつき
測定力のばらつきの測定方法は,表18による。
表18−測定力のばらつきの測定方法
種類 測定方法 図 測定用具
外側マイク 表17と同じ
5.3.2.4.1の手順によって求めた測定 表17と同じ
ロメータ, 力の最大値と最小値との差を測定力
歯厚マイク のばらつきとする。
ロメータ,
マイクロメ
ータヘッド
――――― [JIS B 7502 pdf 24] ―――――
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B 7502 : 2016
5.3.2.5 フレームのたわみ
フレームのたわみの測定方法は,表19による。
表19−フレームのたわみの測定方法
種類 測定方法 図 測定用具
外側マイク マイクロメータのアンビル側を下 基点調整用基
ロメータ, にし,スピンドルの軸を鉛直に保ち 準棒又はこれ
歯厚マイク 固定する。 と同等以上の
ロメータ 定圧装置を使用して任意の長さの 基準棒
ブロックゲージ又は基点調整用基準
棒を両測定面で挟み,指示値を読み おもり
取る。 ブロックゲージ
次に,アンビル側フレームに50 N 又は基点調整用
相当の荷重(5 kgのおもりをつる 基準棒
す。)を加え,定圧装置を使用し,ブ
ロックゲージ又は基点調整用基準棒
を挟み,指示値を読み取る。
両者の読みの差から10 N当たりの
フレームのたわみ量を求める。
――――― [JIS B 7502 pdf 25] ―――――
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JIS B 7502:2016の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 3611:2010(MOD)
JIS B 7502:2016の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 7502:2016の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
- JISB0642:2010
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―測定器の一般的な概念及び要求事項
- JISB0680:2007
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品の幾何特性仕様及び検証に用いる標準温度
- JISB7430:1977
- オプチカルフラット
- JISB7431:1977
- オプチカルパラレル
- JISB7506:2004
- ブロックゲージ
- JISB7536:1982
- 電気マイクロメータ
- JISB7538:1992
- オートコリメータ
- JISC0920:2003
- 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
- JISZ8103:2019
- 計測用語