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B 7502 : 2016
表8−全測定面接触による指示値の最大許容誤差JMPE
単位 μm
測定範囲(mm) マイクロメータヘッド
外側マイクロメータ 内側マイクロメータ 歯厚マイクロメータ
0 25 ±2 ±4 ±2
−
25 50
50 75 ±4 ±6
75 100 ±3
100 125 ±5 ±7
125 150
150 175 ±4 ±6 ±8
175 200
200 225
225 250 ±5 ±9
250 275 ±7 −
275 300
300 325 ±6
325 350
350 375 ±8
375 400 ±7
−
400 425
425 450 ±9
450 475 ±8
475 500
この表以外の測定範囲をもつマイクロメータのJMPEは,受渡当事者間の協定による。
b) 全測定面接触誤差の測定方法 全測定面接触誤差の試験は,次による。
1) 全測定面接触誤差は,ブロックゲージなどの機器を使用して測定する。
2) マイクロメータのスピンドルが回転式の場合,ねじピッチの整数倍の位置及びその中間の位置でス
ピンドルの測定が可能となるように,次のブロックゲージの寸法が望ましい。
なお,最小測定長がゼロ以外の場合は,最小測定長に相当する寸法をこれらに加算したブロック
ゲージの寸法が望ましい。
2.5 mm,5.1 mm,7.7 mm,10.3 mm,12.9 mm,15.0 mm,17.6 mm,20.2 mm,22.8 mm及び25.0 mm
これらの寸法のブロックゲージを使用して測定を行う場合,スピンドルの様々な回転角における
指示誤差を求めることができる。
3) 大形のマイクロメータの場合,測定ヘッド部単体の測定(スピンドルの送り誤差の測定)を行えば,
測定力による本体への影響を考慮して,ブロックゲージを使用してマイクロメータの最小測定長及
び最大測定長の測定で十分である。
注記 指示誤差曲線は,マイクロメータの性能を最も簡単に評価する方法であり,測定結果を有効
に証明することができる。指示誤差曲線の例を附属書Aに示す。
――――― [JIS B 7502 pdf 16] ―――――
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B 7502 : 2016
4) 全測定面接触誤差の測定方法は,表9による。
表9−全測定面接触誤差の測定方法
種類 測定方法 図 測定用具
外側マイク マイクロメータの最小測定長で定圧 JIS B 7506に規
ロメータ 装置を使用して基点合わせを行った 定する0級若し
後,選定した長さの各ブロックゲー くは1級のブロ
ジを測定面間に挟み,定圧装置を使 ックゲージ又
用してマイクロメータの指示値から はこれと同等
ブロックゲージの寸法を減じて求め ブロックゲージ 以上のゲージ
る。
内側マイク 方法1 ホルダ JIS B 7506に規
ロメータ マイクロメータの最小測定長と同 定する0級若し
平形ジョウ(A形)
じ呼び寸法のブロックゲージに二つ くは1級のブロ
の平形ジョウ(A形)を密着してブ ックゲージ又
ロックゲージホルダで固定する。そ はこれと同等
の2面間の距離をマイクロメータで ブロックゲージ以上のゲージ
マイクロメータ
測定してマイクロメータの基点合わ
せを行い,次に選定した長さの各ブ
ロックゲージを使用して測定し,マ
イクロメータの指示値からブロック
ゲージの寸法を減じて求める。
平形ジョウ(A形)
方法2 JIS B 7536に規
電気マイクロメータ
マイクロメータの最小測定長と同 定する目量1
じ呼び寸法のブロックゲージで測長 ブロック μm以下,器差
器の基点合わせを行った後,マイク ゲージ マイクロメータ ±0.5 μmの電
ロメータの基点合わせを行う。その 気マイクロメ
後マイクロメータの目盛を任意の指 ータ又はこれ
示値に合わせてクランプし,測長器 と同等以上の
で測定する。そのときの測長器の指 精度をもつ測
示値に最小測定長を加えた寸法を計 長器
算し,マイクロメータの指示値から
その寸法を減じて求める。
歯厚マイク マイクロメータの最小測定長で定圧 JIS B 7506に規
ロメータ 装置を使用して基点合わせを行った 定する0級若し
後,選定した長さの各ブロックゲー ブロックゲージ
くは1級のブロ
ジを測定面間(図の位置)に挟み, ックゲージ又
定圧装置を使用してマイクロメータ はこれと同等
の指示値からブロックゲージの寸法 以上のゲージ
を減じて求める。
――――― [JIS B 7502 pdf 17] ―――――
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B 7502 : 2016
表9−全測定面接触誤差の測定方法(続き)
種類 測定方法 図 測定用具
マイクロメ 方法1 ブロック マイクロメータ JIS B 7506に規
ータヘッド マイクロメータの最小測定長で基 鋼球 ゲージ ヘッド 定する0級若し
点合わせを行った後,測定面と鋼球 くは1級のブロ
との間に選定した長さの各ブロック ックゲージ又
ゲージを挟み,マイクロメータヘッ はこれと同等
ドの指示値からブロックゲージの寸 以上のゲージ
法を減じて求める。
方法2 目量1 μm以下
マイクロメータヘッドのスピンド 指示誤差±1
ルの送り量を,測長器で測る。 μm以下の測長
器
5.2.2.3 繰返し精密度R(最大許容誤差RMPE)
繰返し精密度は,同じ測定条件下で外側マイクロメータ及びマイクロメータヘッドは全測定面接触
(3.5.1)させ,また,歯厚マイクロメータ及び内側マイクロメータは部分測定面接触(3.5.2)させ,同じ
測定量を連続測定したときの指示の繰返し性とする。
繰返し精密度は,任意の寸法(測定範囲内の位置)のブロックゲージなどを用いて測定する。
注記 製造業者は,使用者からの要求によって,繰返し精密度の詳細を提供する場合がある。
5.2.2.4 部分測定面接触誤差E(最大許容誤差EMPE)
部分測定面接触誤差は,外側マイクロメータ及び歯厚マイクロメータに適用する。測定面の任意の位置
で部分測定面接触(3.5.2)する測定を,同じ測定量について異なる位置で行う。スピンドルが回転式の場
合,ねじピッチの整数倍及びその中間の測定量を用いることが望ましい。
実用的には,部分測定面接触誤差の測定は,測定面の平面度及び測定面の平行度の測定とする。
――――― [JIS B 7502 pdf 18] ―――――
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B 7502 : 2016
5.3 性能
5.3.1 マイクロメータの性能
5.3.1.1 外側マイクロメータ
外側マイクロメータの性能は,5.3.2.15.3.2.3及び5.3.2.5によって測定したとき,表10による。
表10−外側マイクロメータの性能
単位 μm
測定範囲 測定面の 測定面の スピンドルの 10 N当たりの
(mm) 平面度 平行度 送り誤差 フレームのたわみ
0 25 0.6 2 3 2
25 50
50 75 3
75 100 3
100 125 4
125 150 5
150 175 6
175 200 4
200 225 7
225 250 8
250 275
275 300 5 9
300 325 1 10
325 350
350 375 11
375 400 6 12
400 425
425 450 13
450 475 14
475 500 7 15
この表以外の測定範囲をもつマイクロメータの性能は,受渡当事者間の協定による。
――――― [JIS B 7502 pdf 19] ―――――
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B 7502 : 2016
5.3.1.2 内側マイクロメータ
内側マイクロメータの性能は,5.3.2.3によって測定したとき,表11による。
表11−内側マイクロメータの性能
単位 μm
測定範囲(mm) スピンドルの送り誤差
500以下 3
この表以外の測定範囲をもつマイクロメータの性能は,受渡当
事者間の協定による。
5.3.1.3 歯厚マイクロメータ
歯厚マイクロメータの性能は,5.3.2.15.3.2.3及び5.3.2.5によって測定したとき,表12による。
表12−歯厚マイクロメータの性能
単位 μm
測定範囲 測定面の 測定面の スピンドルの 10 N当たりの
(mm) 平面度 平行度 送り誤差 フレームのたわみ
0 25 1 4 3 2
25 50
50 75 6 3
75 100
100 125 1.3 7 4
125 150 5
150 175 8 6
175 200
200 225 1.6 7
225 250 9 8
250 275
275 300 9
この表以外の測定範囲をもつマイクロメータの性能は,受渡当事者間の協定
による。
5.3.1.4 マイクロメータヘッド
マイクロメータヘッドの性能は,5.3.2.1,5.3.2.3及び5.3.2.6によって測定したとき,表13による。
表13−マイクロメータヘッドの性能
単位 μm
測定範囲 測定面の スピンドルの スピンドルの軸線に対する
(mm) 平面度 送り誤差 測定面の直角度
025 2 3 2
この表以外の測定範囲をもつマイクロメータの性能は,受渡当事者
間の協定による。
――――― [JIS B 7502 pdf 20] ―――――
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JIS B 7502:2016の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 3611:2010(MOD)
JIS B 7502:2016の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 7502:2016の関連規格と引用規格一覧
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- 規格名称
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- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
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- 製品の幾何特性仕様(GPS)―測定器の一般的な概念及び要求事項
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- JISB7506:2004
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