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B 7518 : 2018
部分測定面接触誤差は,測定範囲内の任意の位置の,ベース測定面に沿った異なる位置で,例えばブロ
ックゲージなどの小さな面をもつ標準器を用いて測定する(図10参照)。
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1 デプスゲージ 3
2 精密定盤
3 ブロックゲージ 2
図10−部分測定面接触誤差の測定
部分測定面接触誤差の測定方法は,表6による。
表6−デプスゲージの部分測定面接触誤差の測定方法
項目 測定方法 図 測定用具
部分測定 精密定盤上に置いた呼び デプスゲージ ・JIS B 7506に規定
面接触誤 寸法が等しい2個のブロ する2級のブロッ
差 ックゲージ又はゲージ類 クゲージ又はこれ
の測定面にベース測定面 と同等以上のゲー
を密着させた状態で,本尺 ジ
測定面を精密定盤に当て ・JIS B 7513に規定
たときのデプスゲージの する1級の精密定
読みからゲージ寸法を減 盤
じて測定誤差を求める。
ブロックゲージ 精密定盤
5.3.3 部分測定面接触誤差の繰返し精密度 R(最大許容誤差 RMPE)
部分測定面接触誤差の繰返し精密度は,同一の測定条件下で,測定範囲の任意の位置で行われる,同一
の測定量の連続した測定結果の一致の精密さとする。
部分測定面接触誤差の繰返し精密度は,ベース測定面の任意の位置で,任意の寸法(測定範囲内の位置)
――――― [JIS B 7518 pdf 11] ―――――
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に対して,例えばブロックゲージなどの標準器を用いて測定する。
注記 製造業者又は供給業者は,使用者からの要求によって,繰返し精密度の詳細を提供する場合が
ある。
5.4 性能
5.4.1 デプスゲージの性能
a) ベース測定面の平面度 デプスゲージのベースの測定面の平面度は,5.4.2によって測定したときベー
ス長さ100 mm以下については,0.005 mmとし,ベース長さ100 mmを超えるものについては,0.01 mm
とする。
b) ベース測定面に対する本尺測定面の平行度 デプスゲージのベースの測定面に対する本尺の測定面
の平行度は,5.4.2によって測定したとき0.005 mmとする。
c) ベース測定面と本尺の基準端面との直角度 デプスゲージのベースの測定面と本尺の基準端面との
直角度(mm)は,5.4.2によって測定したとき,次の式によって求められた値以内とする。
L
直角度 .001
1 000
ここに, L : 測定長を表す数値(mm)
――――― [JIS B 7518 pdf 12] ―――――
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5.4.2 性能の測定方法
デプスゲージの性能の測定方法は,表7による。
表7−測定面の平面度,平行度及び直角度の測定方法
項目 測定方法 図 測定用具
ベース測定 a) ベースの測定面と本尺測定面と ・JIS B 7503に規
面の平面度 がほぼ同一平面に調整し,止め 定する0.001
ダイヤルゲージ又は
ねじで固定した後測定装置に取 てこ式ダイヤルゲージ mm目盛ダイ
り付ける。 スタンド ヤルゲージ
測定装置の基準平面
本尺測定面
b) ベース測定面の両端に当てたダ ・JIS B 7533に規
測定装置の ベース測定面
イヤルゲージ又はてこ式ダイヤ クランプ 定する目量
ルゲージの読みが同一になるよ 0.002 mmのて
う傾斜調整を行ってからダイヤ こ式ダイヤル
ルゲージ又はてこ式ダイヤルゲ ゲージ
ージをベース測定面上で前後左 ・測定装置
右に移動して測定する。
c) 得られた最大値と最小値との差
を求める。
ベース測定 a) ダイヤルゲージ又はてこ式ダイ
測定装置の
面に対する ヤルゲージの測定子を本尺の測 測定装置の
デプスゲージ 傾斜調整
本尺測定面 定面に当て,前後左右に移動し 取付台
本尺 止めねじ
の平行度 て測定する。
b) 得られた最大値と最小値との差
を求める。
ベース測定 a) 本尺を精密定盤に垂直に測定装 本尺
・JIS B 7513に規
面と本尺の 置に取り付け,てこ式ダイヤル本尺 定する1級の
てこ式ダイヤルゲージ
基準端面 ベース
基準端面と ゲージの測定子をベースの測定 測定面 精密定盤
の直角度 面上で,本尺の目盛面と平行と ・JIS B 7533に規
なる方向に移動して測定する。 精密定盤 定する目量
b) 得られた最大値と最小値との差 0.002 mmのて
を求める。 こ式ダイヤル
ゲージ
・測定装置
本尺
クランプ ホルダー スタンド
6 製品文書における表示
製品文書における最大許容誤差の表示の記号を,参考として附属書JAに示す。
7 仕様への適合の検証
7.1 一般
仕様への適合及び不適合の検証は,国際的に認められている仕様の範囲と合格の範囲が等しい場合の合
格基準(simple acceptance)を用いる。
注記 国際的に認められている合格基準とは,ISO/TR 14253-6:2012である。
――――― [JIS B 7518 pdf 13] ―――――
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7.2 計測特性及び性能の校正のための標準器
標準器は,国家標準又は国際単位系(SI)に対してトレーサブルな標準器を用いる。
7.3 標準温度
この規格で規定する性能の仕様は,JIS B 0680に規定する標準温度20 ℃における値とする。
8 検査
デプスゲージの検査は,寸法,表示方式,測定面,構造及び機能,硬さ,並びに計測特性及び性能につ
いて行い,4.34.7及び箇条5の規定に適合しなければならない。
9 表示
デプスゲージには,見やすい箇所に,容易に消えることがなく,かつ,品質を損なわない方法で,次の
事項を表示する。
a) アナログ表示の場合 : 目量又は最小読取値,及びそれらの単位記号
デジタル表示の場合 : 表示値の単位記号
b) 最大測定長
c) 製造業者名若しくは供給業者名又はその略号
d) 製造番号(英数字)
――――― [JIS B 7518 pdf 14] ―――――
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附属書A
(参考)
使用上の注意
A.1 温度及び変形要素は,長さ方向への測定値に対する影響をもっている。その影響によって,見込ま
れる最小の不確かさが,デプスゲージの目量,最小表示量又は最小読取値より大きくなる可能性がある。
これは,測定結果を評価するときに考慮する必要がある。不確かさの詳細は,ISO 14253-2による。
A.2 デジタル表示の場合,デプスゲージの電装部品に影響を与える環境要因に注意する。
――――― [JIS B 7518 pdf 15] ―――――
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JIS B 7518:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 13385-2:2011(MOD)
JIS B 7518:2018の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 7518:2018の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0641-1:2020
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品及び測定装置の測定による検査―第1部:仕様に対する合否判定基準
- JISB0642:2010
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―測定器の一般的な概念及び要求事項
- JISB0680:2007
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―製品の幾何特性仕様及び検証に用いる標準温度
- JISB7503:2017
- ダイヤルゲージ
- JISB7506:2004
- ブロックゲージ
- JISB7513:1992
- 精密定盤
- JISB7533:2015
- てこ式ダイヤルゲージ
- JISC0920:2003
- 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
- JISZ8103:2019
- 計測用語