JIS B 7994:2016 排ガス中の水銀自動計測器

                                                                                   B 7994 : 2016

pdf 目 次

ページ

•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 測定原理・・・・[2]
•  5 測定範囲・・・・[2]
•  6 計測器の性能・・・・[2]
•  7 構成・・・・[3]
•  7.1 構造一般・・・・[3]
•  7.2 計測器・・・・[3]
•  7.3 試料採取部・・・・[4]
•  7.4 分析計・・・・[5]
•  8 性能試験・・・・[5]
•  8.1 試験条件・・・・[5]
•  8.2 試験に用いるガス・・・・[5]
•  8.3 校正・・・・[7]
•  8.4 試験方法・・・・[7]
•  9 試験成績書・・・・[8]
•  10 表示・・・・[8]
•  11 取扱説明書・・・・[9]

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――――― [JIS B 7994 pdf 1] ―――――

B 7994 : 2016

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本電気計測器工業会(JEMIMA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS B 7994 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              B 7994 : 2016

排ガス中の水銀自動計測器

Continuous analyzer for mercury in flue gas

1 適用範囲

  この規格は,固定発生源排ガス中のガス状水銀濃度を連続的に測定するための自動計測器(以下,計測
器という。)について規定する。この規格の測定原理は,排ガス中の水銀化合物を固体還元剤で還元する乾
式還元方式及び原子吸光分析法に基づくものとする。
    注記 還元剤溶液を用いた湿式還元方式に基づく計測器としては,JIS K 0222の7.(連続測定法)を
          参照。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 7551 フロート形面積流量計
    JIS C 1302 絶縁抵抗計
    JIS K 0212 分析化学用語(光学部門)
    JIS K 0215 分析化学用語(分析機器部門)
    JIS K 0222 排ガス中の水銀分析方法
    JIS Z 8103 計測用語

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS K 0212,JIS K 0215及びJIS Z 8103によるほか,次による。
3.1
試料ガス
  排ガスをフィルタなどを通して前処理し,分析計に導入するガス。
3.2
固定発生源排ガス
  工場及び事業所において燃料,その他の物の燃焼に伴って,又は各種製造の工程などから大気へ拡散さ
せるためのダクト又は煙突へ排出するガス。
3.3
ガス状水銀
  ガス状の金属水銀と二価水銀との総和。
3.4
濃度

――――― [JIS B 7994 pdf 3] ―――――

2
B 7994 : 2016
  圧力101.32 kPa,温度273.15 K及び乾燥ガスの条件下におけるガス状物質の濃度。
3.5
ゼロガス
  計測器の最小目盛値を校正するために用いるガス。
3.6
ゼロドリフト
  計測器の最小目盛に対応する指示値のある期間の変動。
3.7
スパンドリフト
  計測器の最大目盛に対応する指示値のある期間の変動。
3.8
設定流量
  計測器の定められた試料ガス,校正ガスなどの流量。
3.9
指示誤差
  中間点ガスを導入したときの指示値とその表示ガス濃度指示値との差の最大目盛に対する百分率。
3.10
応答時間
  計測器の指示値が,試験用ガスを導入してから最終指示値の90 %に相当する値に達するのに要する,応
答遅れ時間(lag time)と立ち上がり時間(rise time)とを合わせた時間。

4 測定原理

  ガス中の水銀化合物を還元部で還元し,原子状水銀成分と合わせて原子吸光分析の原理による分析計で
水銀濃度を連続的に求める。

5 測定範囲

  計測器の測定範囲(以下,レンジという。)は,050 μg/m3から05 mg/m3の間で適切なものを選ぶ。

6 計測器の性能

  計測器は,箇条8によって性能試験を行ったとき,表1の性能を満足しなければならない。

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                                                                                              3
                                                                                   B 7994 : 2016
                                       表1−計測器の性能
                         項目                            性能               試験方法
         繰返し性                              最大目盛値の±2 %              8.4 a)
         ゼロドリフト                          最大目盛値の±2 %              8.4 b)
         スパンドリフト                        最大目盛値の±2 %              8.4 c)
         指示誤差                              最大目盛値の±3 %              8.4 d)
         応答時間                              5分以下                        8.4 e)
                                               最大目盛値の±2 %
         試料ガスの流量変化に対する指示値の安定性                             8.4 f)
         電圧変動に対する安定性                最大目盛値の±2 %              8.4 g)
         耐電圧                                異常を生じてはならない。       8.4 h)
         絶縁抵抗                              5 MΩ以上                      8.4 i)

7 構成

7.1 構造一般

  計測器の構造は,次の各項目に適合していなければならない。
a) 形状が正しく,組立て及び各部の仕上がりが良好で,堅ろうである。
b) 通常の運転状態で危険性がなく,安全で円滑に作動する。
c) 各部は,容易に機械的故障・電気的故障を起こさず,危険性のない構造とする。
d) 結露などによって計測器の作動に支障がない構造とする。
e) 光源,ヒータなどの発熱部に接する部分は,熱による変形及び機能が低下しない構造とする。
f)  保守又は点検時に作業しやすく,危険のない構造でなければならない。
g) 塩化水銀などの水銀化合物の気体は可溶性・吸着性が高いので,還元部までの構成品は水銀化合物が
    吸着しないように接ガス材料及び構造に配慮し,接ガス部に水分が凝縮しないよう加温する。
h) 還元部出口から分析計までの構成品は,接ガス部に水銀が吸着して測定に影響が出ないような接ガス
    材料を用いるのがよい。

7.2 計測器

  計測器は,図1に例を示すように,試料採取部,分析計などから構成する。詳細は,7.3及び7.4に示す。
  なお,排ガス中に含まれる二価水銀をあらかじめ還元して原子蒸気化する還元部は,試料採取部に内蔵
する。

――――― [JIS B 7994 pdf 5] ―――――

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