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B 8576 : 2016
妨害印加
標準条件下
1 計 2
計 計 器 計
量 量 量 量 器
差 開 差
開 終 E1 終
始 了 始 了 E2
算 算
出 出
1 標準条件下で計量を行ったときの器差E1
2 妨害を印加しながら計量を行ったときの器差E2
図5−試験中の質量表示と標準条件下での表示の間の差
13.6.7 バースト試験
バースト試験は,次による。
a) 試験方法 電気的バースト
b) 試験の目的 電気的バーストが主電源電圧に重畳された条件下で,6.12の規定への適合性を検証する。
c) 参照規格 JIS C 61000-4-4:2007
d) 試験手順の概要 試験は,EUTにバーストを与えることからなる。各スパイクは,5 nsの立ち上がり
時間及び50 nsの半値幅をもっていなければならない。バーストの長さは15 msで,バースト周期(繰
返し時間の間隔)は300 msでなければならない。バーストは,全て同一計量中又は擬似入力による計
量中に,対称モード及び非対称モードで与えられなければならない。
EUTは,使用最小流量(Qmin)から使用最大流量(Qmax)の間の少なくとも1流量(又は擬似流量)
による試験を行い,試験中は作動していなければならない。
e) 試験の厳しさ 試験の厳しさは,クラスB及びクラスCにおいて共通であり,その試験の厳しさは,
次による。
振幅 1 kV(ピーク値)
f) 試験サイクル数 少なくとも10回の正極及び負極1 kVのランダムに変わるバーストを与えなければ
ならない。バーストは,試験を実行するのに必要とする全時間中に適用する。したがって,10回より
も多くのバーストを適用してもよい。
g) 最大許容変化 標準条件下において試験質量に達したときの器差(E1)と妨害を受けながら試験質量
に達したときの器差(E2)との差(E2−E1)が,有意な誤りの値を超えないか,又は計量システムが
有意な誤りを検出し,かつ,それに従って対応するか,のいずれかでなければならない(図5参照)。
13.6.8 静電気放電試験
静電気放電試験は,次による。
a) 試験方法 静電気放電(ESD)
b) 試験の目的 直接及び間接の静電気放電の条件下で,6.12の規定への適合性を検証する。
c) 参照規格 JIS C 61000-4-2:2012
d) 試験手順の概要 150 pFの静電容量を適切な直流電源によって充電する。次に静電容量は,一方の端
子をグランド(きょう体)へ,他の端子を作業者が通常手を触れやすいEUT表面へ330 Ωを介して接
続し,EUTを通して放電される。
試験は,直接印加及び間接印加によって行う。ただし,直接印加にあって接触放電法が適用できな
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い箇所は,気中放電法によって行う。直接放電法において必要であれば,塗装材を貫通させ導電層に
接触させる方法によって行う。
EUTは,使用最小流量(Qmin)から使用最大流量(Qmax)の間の少なくとも1流量(又は擬似流量)
で試験を行い,試験中は作動していなければならない。
e) 試験の厳しさ 試験の厳しさは,次による。
直接印加 接触放電法 : ±6 kV
気中放電法 : ±8 kV
間接印加 : ±6 kV
f) 試験サイクル数 各試験に対し,同一計量中又は擬似入力による計量中に,少なくとも10秒の放電間
隔をもち,少なくとも10回の直接放電を適用しなければならない。間接放電については,水平結合板
上に合計10回の放電を,また,垂直結合板に対し合計10回の放電を与える。
g) 最大許容変化 標準条件下において試験質量に達したときの器差(E1)と妨害を受けながら試験質量
に達したときの器差(E2)との差(E2−E1)が,有意な誤りの値を超えないか,又は計量システムが,
有意な誤りを検出し,かつ,それに従って対応するか,のいずれかでなければならない(図5参照)。
13.6.9 放射電磁界イミュニティ試験
放射電磁界イミュニティ試験は,次による。
なお,この試験は,計量性能に影響を与える部分の試験だけでもよい。
a) 試験方法 電磁場(放射)
b) 試験の目的 電磁場において,6.12の規定への適合性を検証する。
c) 参照規格 JIS C 61000-4-3:2012
d) 試験手順の概要 EUTは,規定する厳しさレベルの電磁場にさらさなければならない。電磁場は,二
つの水平,垂直の直交偏波で発生し,周波数の自動掃引は1.5×10−3 decade/s又はそれ以下の速度で行
わなければならない。
EUTは,使用最小流量(Qmin)から使用最大流量(Qmax)の間の少なくとも1流量(又は擬似流量)
で試験を行い,試験中は作動していなければならない。
e) 試験の厳しさ 試験の厳しさは,クラスB及びクラスCにおいて共通であり,その試験の厳しさは,
表3による。
表3−放射電磁界イミュニティ試験の厳しさ
周波数範囲 26 MHz1 000 MHz
電磁場強度 3 V/m
変調 80 %AM
1 kHz正弦波
f) 最大許容変化 標準条件下において試験質量に達したときの器差(E1)と妨害を受けながら試験質量
に達したときの器差(E2)との差(E2−E1)が,有意な誤りの値を超えないか,又は計量システムが,
有意な誤りを検出し,かつ,それに従って対応するか,のいずれかでなければならない(図5参照)。
14 検査
14.1 検査の種類及び検査項目
計量システムの検査は,型式検査及び受渡検査とし,それぞれ表4の項目について行い,箇条4箇条
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13及び箇条16の規定に適合しなければならない。
14.2 型式検査及び受渡検査
計量システムの検査は,次による。
a) 型式検査 ある型式について,設計上規定された性能全般に関する規定の条項(表4の○印)に適合
しているかどうかを量産開始前に判定する検査のことをいい,型式ごとに必ず行わなければならない。
b) 受渡検査 受渡検査とは,既に型式検査に合格したものと同じ設計・製造による製品の受渡しをする
場合,必要と認められる規格の条項(表4の○印)を満足しているかどうかを判定する検査のことを
いい,器差検査は全数行い,それ以外の検査は,合理的な抜取検査方式を用いてもよい。
また,器差検査の検査場所は製造事業者から出荷した後,計量性能の影響が避けられない場合は,
設置場所で実施しなければならない。
14.3 製造事業者の遵守事項
製造事業者は,次の事項を遵守しなければならない。
− 検査は,自社,二者(受渡当事者間の相手)及び第三者のいずれで実施してもよいが,適合,不適合
の最終判断は,自社で行わなければならない。
− 試験結果及び適合又は不適合の判定結果を示す検査成績書などの検査記録は,少なくとも3年間は保
存しなければならない。附属書Fに試験成績書及び検査成績書の一例を示す。
− 型式検査は,量産を開始する前に14.2 a) に適合していることを確認しなければならない。検査を行
う型式の区分は,計量性能への影響に応じ,製造事業者が決定する。ただし,受渡当事者間で決定す
る場合は,この限りではない。
表4−検査の項目(△は推奨項目)
項目 型式検査 受渡検査 この規格の試験方法の箇条
器差検査 ○a) ○b) 17(附属書A)
構造
(1) 質量表示機構の一般要件 ○ ○ −
(2) 目量 ○ ○ −
(3) 複数の表示装置又は印字装置c) ○ ○ −
(4) 最小許容質量誤差 ○ ○b) −
(5) 測定量 ○ ○ −
(6) 流量 ○ − −
(7) 脱圧量 ○ − −
(8) 周囲条件 △ − −
(9) 定格動作範囲 ○ − −
(10) 最大許容誤差及び最小許容質量誤差に適用される条件 ○ − −
(11) 質量表示機構c) ○ ○ −
(12) 価格表示機構c) ○ ○ −
(13) 検査表示機構c) ○ ○ −
(14) 印字装置c) ○ ○ −
(15) 記憶装置c) ○ ○ −
(16) データ伝送c) ○ ○ −
(17) 質量表示機構のゼロ戻し装置 ○ ○ −
(18) 定量装置c) ○ ○ −
(19) 計量用計算器 ○ ○ −
(20) 電源装置 ○ − −
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表4−検査の項目(△は推奨項目)(続き)
項目 型式検査 受渡検査 この規格の試験方法の箇条
(21) ゼロ流量応答 ○ − −
(22) ポストペイメントc) ○ − −
(23) プリペイメントc) ○ − −
(24) 電池 ○ − −
(25) 計量システムの設置に関する留意事項 ○ − −
(26) 不正行為に対する保護 ○ ○ −
(27) 補助装置 ○ − −
(28) トランスファポイント ○ − −
(29) 分岐配管及びう(迂)回配管 ○ − −
(30) 流量センサと表示装置との間の接続 ○ − −
(31) 調整装置c) ○ ○ −
(32) 補正装置c) ○ ○ −
性能
(1) 計量上の要件
精度 △ − 12.1.3.2
繰返し誤差 △ − 12.1.3.3
最小測定量 ○ − 12.1.3.5
耐久性d) ○ − 12.1.4
(2) 高温(耐熱性) △ − 13.6.2
(3) 低温(耐寒性) △ − 13.6.3
(4) 温湿度サイクル(12+12時間サイクル) △ − 13.6.4
(5) 電圧変化 △ − 13.6.5
(6) 瞬時停電 △ − 13.6.6
(7) バースト △ − 13.6.7
(8) 静電気放電 △ − 13.6.8
(9) 放射電磁界イミュニティe) △ − 13.6.9
表記 ○ ○ −
注a) 製造事業者で計量性能に影響のある部分を組み立てられない場合などは,受渡検査を型式検査としてよい。
b) 必ず現地で実施しなければならない。
c) 機能をもつ計量システムだけ実施する。
d) コリオリ流量計の場合は実施しなくてもよい。
e) 計量性能に影響を与える部品だけの確認でもよい。
15 使用中における計量システムの修理,改造又は部品交換
計量システムの設置後,使用中に計量性能に影響を与える修理,改造又は部品交換など(以下,修理等
という。)を行った場合には,器差検査を行わなければならない。
また,製造事業者は,計量性能に影響を与える修理等及び/又は計量性能に影響を与えない修理等を取
扱説明書などに記載し,計量システムの引渡し時に使用者に説明しなければならない。ここで,取扱説明
書などに規定されている修理等を行う必要性が生じた場合は,製造事業者が計量性能に与える影響を使用
者に提示し,受渡当事者間の協定によって器差検査の実施を判断してもよい。ただし,精度等級の合否に
影響を与えることが明らかな場合は,器差検査は実施しなければならない。
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16 表記
16.1 計量システム
計量システムには,目盛板上又は特殊な銘板上のいずれかに,次の情報を集約して読みやすく,かつ,
容易に消えない方法で表記する。
なお,共通構成要素を使用した単一の計量システム内で,幾つかのメーターが動作するときには,その
メーターそれぞれに要求される表記は,一つの銘板上にまとめて表記してもよい。
a) 製造事業者名又は登録商標
b) 該当する場合には,製造事業者の付けた製品の名称
c) 製造番号
d) 製造年
e) 水素燃料
f) 精度等級
g) 使用最大流量(Qmax)
h) 使用最小流量(Qmin)
i) 最小測定量
j) 最高充圧力
k) プレクール温度
l) 脱圧量
m) 温度換算装置をもつものにあっては,±1.0 %を超えない範囲内で換算することができる水素燃料の温
度範囲
n) 厳しさレベル又は設置場所(13.2のクラスBを選択した場合に限る。)
o) 特定の環境条件が指定されている場合には,使用環境条件(例えば,使用温度範囲)
p) 最新の器差検査実施年月
16.2 一次表示を行う補助装置
一次表示を行う補助装置は,特定の環境条件が指定されている場合には,見やすい箇所に,かつ,容易
に消滅しない方法で,使用環境条件(例えば,使用温度範囲)を表記する。
17 器差検査
器差検査の方法は,附属書Aによる。
18 使用中検査
使用中検査の方法は,附属書Bによる。
19 後続検査
後続検査の方法は,附属書Cによる。
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JIS B 8576:2016の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.30 : 測定機器
JIS B 8576:2016の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7611-1:2005
- 非自動はかり―性能要件及び試験方法―第1部:一般計量器
- JISB7611-2:2015
- 非自動はかり―性能要件及び試験方法―第2部:取引又は証明用
- JISZ8103:2019
- 計測用語