JIS C 5260-4:2000 電子機器用可変抵抗器―第４部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器 | ページ 2

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                                                                                  C 5260-4 : 2000
                                      図1 外形図及び寸法
  図面には,次の事項を規定する。
− 操作軸及び取付ねじの寸法。これらは外形図で示すか,又はJIS C 5260-1附属書2を引用して示す。
− 位置決め装置
− 全機械的操作範囲
− 有効電気的操作範囲
− 寸法及び端子の位置
− JIS C 5260-1の4.4.2[寸法(ゲージ法)]によって測定する寸法
− 可変抵抗器を的確に表すためのその他の寸法
  すべての寸法は,ミリメートル (mm) で示す。
  可変抵抗器がプリント配線板用として設計されていない場合には,そのことを個別規格の中に明記する。

1.4.2 取付け

 個別規格には,耐電圧及び絶縁抵抗の試験に適用する取付方法並びに振動(正弦波)及び
バンプ(又は衝撃)の試験に適用する取付方法を規定する。可変抵抗器は,通常の状態で取り付ける。可
変抵抗器の設計上,特別な取付具が必要な場合には,個別規格にその取付具を規定する。この取付具は,
耐電圧及び絶縁抵抗の試験並びに振動(正弦波)及びバンプ(又は衝撃)の試験に使用する。試験中に寄
生振動がないように取り付ける。

1.4.3 形

1.4.4 抵抗変化特性

 抵抗変化特性は,2.1.5による。

1.4.5 定格及び特性

 定格及び特性は,次の事項を含めてこの規格の関連する項目による。

1.4.5.1 定格抵抗値の範囲

 定格抵抗値の範囲は,2.2.1による。定格抵抗値の推奨値は,JIS C 5063に規
定するEシリーズ及び/又は1,2,5シリーズとする。
    備考 IECQの場合は,IECQの品質認証制度によって認定された個別規格の製品と,この規格の定
          格抵抗値の範囲が異なる場合には,次の記述を追加する。
            “各形状に有効な抵抗値範囲は,品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。”

1.4.5.2 バンプ及び衝撃

 バンプ及び衝撃の試験は,そのどちらの試験を適用するかを個別規格に規定す
る。

1.4.6 表示

 個別規格には,可変抵抗器本体及び包装への表示内容を規定する。
  なお,この規格の1.5と相違する点があれば,それらを明記する。

1.4.7 発注時の情報

 個別規格には,発注時に次の事項を明確に示すか,又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性(直線形以外の場合)
c) 個別規格の番号及び版に関する情報並びに形状に関する事項
d) 形状の情報で分からないときは,操作軸及び取付ねじの寸法。

1.4.8 追加情報(非検査目的)

 個別規格には,内容をよく理解させるために回路図,軽減曲線,図面及
び備考による情報を含めてもよい。この情報は,検査する必要はない。

1.5 表示

――――― [JIS C 5260-4 pdf 6] ―――――

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C 5260-4 : 2000

1.5.1 一般事項

 可変抵抗器に表示する内容は,次の項目から選択するか,JIS C 5260-1の附属書1によ
ってもよい。表示の優先順位は,記載の順とする。
a) 定格抵抗値
b) 定格抵抗値の許容差
c) 抵抗変化特性(直線形以外の場合)
d) 定格電力
e) 引用する個別規格及び形状
f)  製造年月又は製造年週
g) 操作軸及び取付ねじの詳細[上記のe)に含まれない場合] この場合コード化してもよい。
h) 製造業者名又はその商標

1.5.2

  可変抵抗器には,少なくとも1.5.1のa)及びb)を表示し,その他の項目をできるだけ多く明りょう
に表示する。可変抵抗器に表示する項目は,重複を避ける。

1.5.3

  可変抵抗器の包装には,1.5.1のすべての内容を表示する。

1.5.4

  表示項目を追加する場合は,混乱しないようにする。
                            第2章 推奨定格,特性及び試験の厳しさ

2. 推奨定格,特性及び試験の厳しさ

2.1 推奨特性

 個別規格に規定する値は,次の中から選択することが望ましい。

2.1.1 推奨耐候性カテゴリ

 この規格に含まれる可変抵抗器は,JIS C 0010の附属書Aに規定する一般
原則に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。
  カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選択する。
    カテゴリ下限温度 : −65℃,−55℃,−40℃,−25℃及び−10℃
    カテゴリ上限温度 : +70℃,+85℃,+l00℃,+125℃,+155℃,+175℃及び+200℃
    高温高湿(定常)の試験期間 : 4日間,10日間,21日間及び56日間
  低温(耐寒性)及び高温(耐熱性)試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度
である。ある品種の可変抵抗器は,その構造のため,これらの温度がJIS C 00試験規格群に規定する二つ
の推奨温度と一致しないことがある。この場合には,可変抵抗器の実用温度範囲内の最も近い推奨温度を
その厳しさとして選択する。

2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性

 この品種の可変抵抗器には,抵抗温度係数又は抵抗温度特性の測
定は適用しない。

2.1.3 抵抗値又は出力電圧比変化の限界

 表1に各試験での抵抗値変化又は出力電圧比変化の推奨限界
を示す。
    備考 表1の項目番号は,JIS C 5260-1による。

――――― [JIS C 5260-4 pdf 7] ―――――

                                                                                              5
                                                                                  C 5260-4 : 2000
                                       表1 安定性クラス
          4.38 一連耐候性      4.30 端子強度                           4.35 振動(正弦波)(適
                                                   4.22 操作軸の押し及び
                                                      引張り              用する場合,備考
                                                                          2.参照)
          4.39 高温高湿(定常)4.33 はんだ耐熱性   4.34 温度変化
      安                       4.34 温度変化
      定  4.40 機械的耐久性    4.35 振動(正弦波)
      性  4.43.1 室温での電気的4.36 バンプ
      ク     耐久性
      ラ                      4.37 衝撃
          4.43.3 カテゴリ上限温
      ス     度での電気的耐久
      %      性
          4.43 70℃以外での電気
             的耐久性
                                                           Uab                  Uab
          端子aとcとの間の   刀                                               
                                                           Uac                  Uac
                                                   (備考1.参照)      (備考1.参照)
      10     ± (10%R+0.5圀     ± (5%R+0.1圀           ±5%                ±5%
       5     ± ( 5%R+0.1圀     ± (2%R+0.1圀           ±2%                ±5%
       3     ± ( 3%R+0.1圀     ± (1%R+0.05圀          ±1%                ±3%
                          Uab
                            は,全印加電圧に対する百分率で表す。
     備考1. 出力電圧比変化  U
                           ac
         2. 操作軸固定機構付可変抵抗器に対しては,出力電圧比変化率は2%とする。
     参考 表中の   到    抵抗値変化を表す。
            表中の%Rは,定格抵抗値に対する百分率である。
            原国際規格では,   刀一到    載されているが,  到    りであり訂正した。

2.1.4 絶縁抵抗

 絶縁抵抗は,1G    坎   上とする。ただし,耐湿性試験後は,100M  坎  上とする。

2.1.5 抵抗変化特性

 抵抗変化特性の推奨測定位置及び出力電圧比を次に示す。
                     抵抗変化特性  有効電気的操作範囲の割合  出力電圧比
                                           %                      %
                                                                Uab
                                                                Uac
                    B(直線的特性)        50±            R>22     4060
                                                           R≦22     3565
                    参考 原国際規格IEC 60393-4では,直線的特性を記号“A”と規定
                         しているが,JISの関連規格及び個別規格では,従来から上記
                         の記号“B”を使用していて,取引上の混乱を避けるためJIS C
                         5260-1と同様に記号“B”とした。

2.2 推奨定格値

 個別規格に規定する値は,次の各項の中から選択することが望ましい。

2.2.1 定格抵抗値

 JIS C 5260-1の2.3.2(定格抵抗値の推奨値)による。

2.2.2 定格抵抗値の許容差

 定格抵抗値の許容差の推奨値は,次による。
        ±20%,±10%及び±5%

2.2.3 定格電力

 70℃での定格電力の推奨値は,次による。
        10W,16W,25W,40W,50W,63W,80W,100W,125W,160W,250W,315W,400W,500W,
        630W,800W及び1 000W
  70℃を超える温度での電力の軽減値は,次の曲線による(図2参照)。

――――― [JIS C 5260-4 pdf 8] ―――――

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C 5260-4 : 2000
                                    図2 定格電力の軽減曲線
  上記の軽減曲線に示す推奨動作領域の全部が含まれている場合には,より広い動作領域を個別規格に規
定してもよい。この場合には,個別規格に70℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし,曲線
上の折れ点を試験によって確認しなければならない(図3参照)。
                             図3 動作領域が広げられた軽減曲線の例

2.2.4 素子最高電圧(最高使用電圧)

 素子最高電圧の推奨値は,次による。
        160V,250V,400V,630V,1 000V及び1 600V(直流又は交流実効値)

2.2.5 アイソレーション電圧

 アイソレーション電圧は,丸めて10V単位の値とし,個別規格に規定す
る。アイソレーション電圧の値は,次による。
        大気圧下 : 最高使用電圧の1.42倍以上
        参考 JIS C 5260-1に合わせて変更した。
        減圧下 : 8kPa,大気圧下でのアイソレーション電圧の2/3倍
        参考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。

2.3 推奨する試験の厳しさ

 個別規格に規定する試験の厳しさは,次の中から選択することが望ましい。

2.3.1 乾燥

 JIS C 5260-1の4.3(乾燥)の手順Iによる。

2.3.2 振動(正弦波)

 JIS C 5260-1の4.35[振動(正弦波)]及び次の条件を適用する。
         振動数範囲        : 次のどれかとする。
                          10Hz55Hz又は
                          10Hz500Hz

――――― [JIS C 5260-4 pdf 9] ―――――

                                                                                              7
                                                                                  C 5260-4 : 2000
         振幅              : 0.75mm又は加速度98m/s2(いずれかゆるい方)
         掃引耐久試験      : 総試験時間 : 6h
  適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2参照)。

2.3.3 バンプ

 JIS C 5260-1の4.36(バンプ)及び次の条件を適用する。
    参考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
  適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2参照)。

2.3.4 衝撃

 JIS C 5260-1の4.37(衝撃)及び次の条件を適用する。
        パルス波形 : 正弦半波
        ピーク加速度 : 500m/s2
        参考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0041に合わせて変更した。
        作用時間 : 11 ms
        厳しさ : 試料の方向当たり3連続。各方向ごとに別の試料を用いる。
  適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2参照)。
                                     第3章 品質評価手順

3. 品質評価手順

3.1 構造的に類似な可変抵抗器

 構造的に類似な可変抵抗器とは,抵抗値が異なっていても,同一又は
類似な工程及び材料で製造され,同一の形状,構造であり,同一又は類似の操作軸及び取付ねじをもつ可
変抵抗器とする。

3.2 品質認証

 品質認証試験の手順は,JIS C 5260-1の3.4(品質認証手順)による。
  ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験の計画は,この規格の3.3による。定数抜取の
計画を用いた手順は,次の3.2.1及び3.2.2による。

3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証

 定数抜取手順は,JIS C 5260-1の3.4.2のb)による。試料は,認
証を得ようとする抵抗値範囲を代表できるものとする。これは,個別規格に規定している全範囲でなくて
もよい。
  試料は,認証を得ようとする定格抵抗値の最高値及び最低値をもつ試料で構成する。臨界抵抗値が認証
を受けようとする範囲の中にある場合には,その試料も含める。同様に,認証を受けようとする最も狭い
許容差の異なる抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は,製造業者の
管理責任者が提案する。IECQの場合は,国内監督検査機関 (NSI) の承認を必要とする。
  予備の試料は,次の場合に使用する。
a) 群“0”で許容不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個。
b) 製造業者の責任でない事故による不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個。
      品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には,追加した試験群に必要な試料数を群“0”に追
    加する。

3.2.2 試験

 個別規格に規定する可変抵抗器の認証のために,表2に規定する一連の試験を必要とする。
各群の試験は,記載の順で行う。
  全試料について,群“0”の試験を行い,その後にその他の群に分割する。

――――― [JIS C 5260-4 pdf 10] ―――――

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