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C 5260-4 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総合 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c t
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だけ R≧1G 圀
に適用)(取付方法は,備考8.によ
る。)
群7 D 8 1
4.43 70℃以外の温度での電気的耐(取付方法は,備考9.参照。)
久性(適用する場合,備考7.
参照)
(この群は,この規格の2.2.3に規
定するものと異なる軽減曲線を個
別規格で規定する場合だけに適用
する。)
試験時間 : 1 000h
48h,500h及び1 000hでの検査 :
外観 4.43.1.6のa)による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
(群3と同じ)
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だけ R≧1G 圀
に適用)(取付方法は,備考8.参
照。)
注(1) 原国際規格では,4.21.3と記載されているが,4.21.2の誤りであり訂正した。
注(2) 原国際規格では,温度を表す記号として び いているが,JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0025に合わ
せてTA及びTBに変更した。
注(3) IS C 5260-1で引用のJIS C 0041に合わせて改正した。
(4) IS C 5260-1で引用のJIS C 0029に合わせて改正した。
備考3. 適用できる場合は,半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
4. バンプ試験及び衝撃試験は,いずれか一方を選択する。いずれの試験を適用するかを個別規
格に規定する。
5. この試験は,耐候性カテゴリが25/−/−,40/−/−,55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適
用する。
6. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は,いずれか一方を選択する。いずれの試験を
適用するかを個別規格に規定する。
7. “群6”又は“群7”のいずれかを適用する場合は,“群0”の試料数を8個増やす。“群6”
又は“群7“の両方を適用する場合は,試料を16個増やす。
8. 取付方法は,JIS C 5260-1の4.12(耐電圧)及び4.13(絶縁抵抗)の該当する方法によるほ
か,次による。
a) 本体で取り付けるように設計されているものは,JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは,本体で取り付けるあな(孔)があっても,
端子でプリント配線板に取り付けて試験する。
9. JIS C 5260-1の4.43.1(室温での電気的耐久性)の試験は,可変抵抗器を次の方法で取り付け
る。
――――― [JIS C 5260-4 pdf 16] ―――――
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C 5260-4 : 2000
各供試品は,可変抵抗器の取付ねじ又は操作軸(適切な)に対してすきまのある中心取付
孔をもつ厚さ4mmの鋼板に取り付ける。鋼板は,可変抵抗器の本体径の4倍又は300mmの
正方形で,どちらか小さい方とする。
感温プローブは,試験中取付ねじ又は操作軸の取付孔(適切な)の上に直接に置く。温度
は,試験中いかなる場合もカテゴリ上限温度を超えてはならない。
3.3 品質確認検査
3.3.1 検査ロットの構成
検査ロットは,構造的に類似な可変抵抗器(3.1参照)で構成し,次による。
a) 群A及び群B:製造された抵抗値を代表するものとする。
b) 群C : 1) 試料は,13週にわたって集める。
2) 試料は,期間中に製造した抵抗値範囲を代表するものとする。
c) 群D : 群Cと同じとする。ただし,試料は,検査対象期間の最後の13週から集める。
抜き取った試料は,最高抵抗値,最低抵抗値及び臨界抵抗値の釣り合いが十分にとれているものとする。
3.3.2 試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブ
ランク個別規格JIS C 5260-4-1及びJIS C 5260-4-2の第2章(検査の要求事項)の表2に示す。
3.3.3 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,次の表3.1及び表3.2の中から選択すること
が望ましい。
表3.1 評価水準及びロットごとの品質確認検査
検査副群 D* E F G*
** IL AQL IL AQL IL AQL IL AQL
% % % %
A1 II 4.0 S-3 4.0
A2 II 1.0 S-3 1.5
A3 S-2 4.0 S-3 2.5
A4 S-2 4.0 − −
B1 S-2 1.5 S-2 1.5
B2 S-2 1.5 S-2 2.5
IL=検査水準
AQL=合格品質水準
表3.2 評価水準及び定期的品質確認検査
検査副群 D* E F G*
** p n c p n c p n c p n c
C1 3 5 1 3 5 1
C2 3 6 1 6 8 1
C3 3 5 1 12 5 1
C4 3 5 1 12 5 1
D1 12 5 1 12 5 1
D2 12 5 1 12 5 1
D3 36 5 1 24 8 2
p=周期(月)
n=試料数
c=合格判定個数
注* 評価水準D,F及びGは,検討中。
** 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の第2章(検査要求事項)に規
定する。
――――― [JIS C 5260-4 pdf 17] ―――――
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C 5260-4 : 2000
3.4 長期保管後の出荷
検査水準をS-2に緩めてJIS C 5260-1の3.5.2(長期保管後の出荷)の規定を適
用し,保管期間を2年とする。
関連規格 JIS C 0029 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
JIS C 0042 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
JIS C 5260-4-1 電子機器用可変抵抗器−第4部 : ブランク個別規格 : 単回転電力形可変抵抗器
評価水準 E
JIS C 5260-4-2 電子機器用可変抵抗器−第4部 : ブランク個別規格 : 単回転電力形可変抵抗器
評価水準 F
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指
標型抜取検査方式
――――― [JIS C 5260-4 pdf 18] ―――――
C5
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附属書(参考) JISと対応する国際規格との対比表
60-
4: 20
電子機器用可変抵抗器−第4部 : 品種別通則 : 単回転電力JIS C 5260-4 : 2000 IEC 60393-4 : 1992 電子機器用可変抵抗器−第4部 : 品種別通則 : 単回転電力形可変抵抗器
00
形可変抵抗器
対比項目(I) JISの規定内容 (III)国際規格の規定内容
(II)国際規格番号 (IV) JISと国際規格との相違点(V) JISと国際規格との整合が困難な
規定項目 理由及び今後の対策
(1)適用範囲 IEC 60393-4
電子機器用可変抵抗器について規 JISと同等。 IDT
定
(2)一般事項 IEC 60393-4
Eシリーズ及び1,2,5シリーズ Eシリーズとする。 MOD/ 理由 : 市場で多く使用されている。
IECの規定値以外に市場で
1.4.5.1定格抵抗値の範囲 とする。 追加 多く使用されている1,2, 今後の対策 : 改正提案予定
5シリーズを追加。
(3)推奨定格,特性及び試験の厳 IEC 60393-4
しさ
2.1.5抵抗変化特性 直線的特性記号 : 記号“B” 記号“A”を“B”に変更
直線的特性記号 : 記号“A” MOD/ 改正提案予定
変更
2.2.5アイソレーション電圧
電圧倍率 : 1.42倍 電圧倍率 : 1.5倍 MOD/ 1.5倍を1.42倍に変更 理由 : IEC 60393群の品種別通則に
変更 不統一があり1.42倍に統一した。
今後の対策 : 改正提案予定
2.3.3バンプ 減圧下 : 8kPa 減圧下 : 8.5kPa MOD/ 8.5kPaを8kPaに変更 理由 : IEC 60115-1及びIEC 60384-1
変更 が改訂され,また引用しているJIS
ピーク加速度 : 400m/s2又は ピーク加速度 : 390m/s2MOD/ 390m/s2を400m/s2に も改正されており,整合させるため
100m/s2 又は 変更 変更 改正内容を採用した。
98m/s2 98m/s2を100m/s2に 今後の対策 : 改正提案予定
変更
2.3.4衝撃 ピーク加速度 : 500m/s2 ピーク加速度 : 490m/s2MOD/ 490m/s2を500m/s2に
変更 変更
(4)品質評価手順 IEC 60393-4 IDT
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : MOD
――――― [JIS C 5260-4 pdf 19] ―――――
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− IDT······技術的差異がない。
− MOD/追加······国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− MOD/変更······国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− MOD······国際規格を修正している。
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――――― [JIS C 5260-4 pdf 20] ―――――
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JIS C 5260-4:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-4:1992(MOD)
JIS C 5260-4:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-4:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC0046:1993
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― スプリングハンマ衝撃試験方法
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-11:1989
- 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
- JISC60068-2-13:1989
- 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
- JISC60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
- JISC60068-2-18:2007
- 環境試験方法―電気・電子―第2-18部:耐水性試験及び指針
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
- JISC60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
- JISC60068-2-28:1993
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐湿性試験 ― 指針
- JISC60068-2-29:1995
- 環境試験方法―電気・電子―バンプ試験方法
- JISC60068-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC60068-2-31:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-31部:落下試験及び転倒試験方法(試験記号:Ec)
- JISC60068-2-32:1995
- 環境試験方法―電気・電子―自然落下試験方法
- JISC60068-2-38:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-38部:温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号:Z/AD)
- JISC60068-2-40:1995
- 環境試験方法―電気・電子―低温・減圧複合試験方法
- JISC60068-2-41:1995
- 環境試験方法―電気・電子―高温・減圧複合試験方法
- JISC60068-2-42:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
- JISC60068-2-43:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の硫化水素試験方法
- JISC60068-2-45:1995
- 環境試験方法―電気・電子―耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
- JISC60068-2-46:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の硫化水素試験―指針
- JISC60068-2-47:2008
- 環境試験方法―電気・電子―第2-47部:動的試験での供試品の取付方法
- JISC60068-2-49:1993
- 環境試験方法―電気・電子―接点及び接続部の二酸化硫黄試験―指針
- JISC60068-2-50:1997
- 環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温/振動(正弦波)複合試験
- JISC60068-2-51:1997
- 環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温/振動(正弦波)複合試験
- JISC60068-2-52:2020
- 環境試験方法―電気・電子―第2-52部:塩水噴霧サイクル試験方法(塩化ナトリウム水溶液)(試験記号:Kb)
- JISC60068-2-53:2014
- 環境試験方法―電気・電子―第2-53部:耐候性(温度・湿度)と動的(振動・衝撃)との複合試験及び指針
- JISC60068-2-54:2009
- 環境試験方法―電気・電子―はんだ付け性試験方法(平衡法)
- JISC60068-2-56:1996
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 機器用耐湿性(定常)試験方法
- JISC60068-2-58:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第2-58部:表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-60:2018
- 環境試験方法―電気・電子―第2-60部:混合ガス流腐食試験(試験記号:Ke)
- JISC60068-2-61:1996
- 環境試験方法―電気・電子―一連耐候性試験
- JISC60068-2-64:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-64部:広帯域ランダム振動試験方法及び指針(試験記号:Fh)
- JISC60068-2-7:1993
- 環境試験方法―電気・電子―加速度(定常)試験方法
- JISC60068-3-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第3-1部:低温(耐寒性)試験及び高温(耐熱性)試験の支援文書及び指針
- JISC60355:1993
- 環境試験方法―電気・電子―大気腐食に対する加速試験―指針
- JISC60695-1-2:1993
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験(電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針―電子部品)
- JISC60695-1-3:1993
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験(電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針―プリセレクションの用い方)
- JISC60695-11-2:2016
- 耐火性試験―電気・電子―第11-2部:試験炎―公称1kW予混炎―試験装置,炎確認試験方法及び指針
- JISC60695-11-2:2020
- 火災危険性試験―電気・電子―第11-2部:試験炎―公称1kW予混炎―試験装置,炎確認試験方法及び指針
- JISC60695-11-3:1997
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐火性試験 公称500W試験用炎及び指針
- JISC60695-11-3:2014
- 耐火性試験―電気・電子―第11-3部:試験炎―公称500W炎―試験装置及び炎確認試験方法
- JISC60695-2-11:2016
- 耐火性試験―電気・電子―第2-11部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―最終製品に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWEPT)
- JISC60695-2-12:2013
- 耐火性試験―電気・電子―第2-12部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―材料に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWFI)
- JISC60695-2-13:2013
- 耐火性試験―電気・電子―第2-13部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―材料に対するグローワイヤ着火温度指数(GWIT)
- JISC60695-2-2:2000
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐火性試験 ニードルフレーム(注射針バーナ)試験方法
- JISC60695-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)ヒータによる不完全接続耐火性試験方法
- JISC60695-2-4-0:1995
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験 拡散炎及び予混炎試験方法
- JISC60695-4:2010
- 耐火性試験―電気・電子―第4部―電気・電子製品のための耐火性試験用語
- JISC60695-5-1:2011
- 耐火性試験―電気・電子―第5-1部:燃焼放出物による腐食損傷―一般指針
- JISC60695-5-2:1999
- 環境試験方法―電気・電子―耐火性試験:燃焼放出物による腐食損傷の評価―試験方法の選択及び適用の指針